X線CT装置 - メーカー・企業33社の業務用製品ランキング | イプロスものづくり

更新日：2026年07月08日集計期間:2026年06月10日～2026年07月07日
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X線CT装置のメーカー・企業ランキング

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株式会社アールエフ長野県/医療機器
一般財団法人材料科学技術振興財団　MST 東京都/試験・分析・測定
マイクロトラック・ベル株式会社大阪府/試験・分析・測定
4 東芝ユニファイドテクノロジーズ株式会社東京事業所　検査システム営業部東京都/試験・分析・測定
5 丸文通商株式会社　支店/金沢・富山・福井・松本・長野　　営業所/新潟・甲府　ST/静岡・名古屋石川県/商社・卸売り

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X線CT装置の製品ランキング

更新日：2026年07月08日集計期間:2026年06月10日～2026年07月07日
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高速度X線透視システム『TXMotion』東芝ユニファイドテクノロジーズ株式会社東京事業所　検査システム営業部
純国産　産業用X線CT『NAOMi-CT』シリーズ株式会社アールエフ
島津　Ｘ線ＣＴ装置　InspeXcio7000 丸文通商株式会社　支店/金沢・富山・福井・松本・長野　　営業所/新潟・甲府　ST/静岡・名古屋
4 t-plot法によるMCM-41構造評価(応用編2) マイクロトラック・ベル株式会社
5 【X線透視装置(X線検査装置)活用事例】加熱ユニットBSU-HU 株式会社ビームセンス

X線CT装置の製品一覧

91～93 件を表示／全 93 件

表示件数

断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact VR

『ExFact VR 2.0』は、X線CTなどから得られた断層画像をボリュームレンダリングにより二次元/ 三次元的に可視化する三次元断層画像可視化ソフトウェアです。断面画像と立体画像、付加情報の対応関係が分かり易くレイアウトされた画面構成になっています。 2D/3D 画像を独立に見易く調整し、見たままのイメージで即、レポートとして出力することができます。本ソフトウェアでムービーファイルを作って配布すれば、相手に直感的に試料の二次元/ 三次元的なイメージを伝えることができます。直接的に装置やソフトウェアを使わない、データを見るだけの立場のユーザーのことも考慮されていますので、X線CTなど高額装置の意義を最大限に引き出し、効果の波及が期待できます。【特長】 ■当社の独自技術VR-VR technologyを搭載 ■多彩なレポートを自動的かつ迅速に作る機能が充実 ■オペレータの方々の工数を低減 ■実用本位のユーザーインターフェースとアーキテクチャ ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：日本ビジュアルサイエンス株式会社
価格：応相談

受託解析
画像解析ソフト
画像処理ソフト
X線CT装置

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【文化財調査向け】FF35 CT

2種類のX線管搭載であらゆる文化財の内部構造を可視化

考古学における文化財調査では、貴重な遺物の内部構造を非破壊で詳細に分析することが求められます。文化財の価値を損なうことなく、内部の損傷や製作技術、過去の修復歴などを把握することは、文化財の保護と研究において非常に重要です。《 FF35 CT 》は2種類のX線管を搭載し、多様なニーズに対応することで、文化財の内部構造を詳細に可視化し、これらの課題解決に貢献します。【活用シーン】 ■ 土器や金属器などの内部構造調査 ■ ミイラや木製品の非破壊分析 ■ 修復が必要な箇所の特定【導入の効果】 ■ 文化財を傷つけずに内部構造を可視化 ■ 劣化状況や修復の必要性を正確に把握 ■ 研究の効率化と質の向上

企業：コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社コメット・エクスロン事業部
価格：応相談

X線検査装置
X線CT装置

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【研究機関向け】FF35 CT：材料分析の精度向上

2種類のX線管搭載で、材料分析の幅広いニーズに対応するFF35 CT

研究機関における材料分析では、材料の内部構造を詳細に観察し、その特性を理解することが重要です。特に、新素材の開発や既存材料の性能評価においては、非破壊で内部構造を可視化できる技術が求められます。《 FF35 CT 》は、160 kVナノフォーカスと225 kVマイクロフォーカスのデュアルチューブ構成により、超高分解能から厚物試料まで幅広い対応を1台でカバーします。非破壊で内部構造を詳細に観察することで、破壊解析に進む前に故障原因を特定し、解析のスピードと成功率を向上させます。【活用シーン】 ■ 新素材の研究開発における内部構造の評価 ■ 既存材料の劣化や損傷の分析 ■ 異物混入や欠陥の検出【導入の効果】 ■ 材料内部の微細構造を可視化し、詳細な分析が可能 ■ 非破壊検査により、貴重なサンプルをそのまま評価 ■ 故障原因の早期発見による研究効率の向上