測定装置『SemiScope PLIS-TEC』
拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope
『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において 画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した 各スペクトルを同時に測定することができます。 また、線分をスペクトル化するため、基底面転移のような 位置の特定が難しい欠陥でも、正確にスペクトルを測定することができます。 【特長】 ■スペクトル線分析対応 ■結晶欠陥の研究に ■励起光の密度も、通常のPLスペクトル測定に比べ3桁程度低い ■拡張欠陥においても測定可能 ■位置の特定が難しい欠陥でも、正確にスペクトルを測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社フォトンデザイン
- 価格：応相談
