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Csコレクタ付TEMによる高分解能TEM観察
TEMの球面収差を補正したCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。 本事例では市販のMPUトランジスタ部の高分解能(HR)-TEM観察とEDX元素分布分析を行ったデータを紹介します。3次元的な構造を持つFinFETのような微細な多層構造でも、Csコレクタ付TEMを用いることで素子の構造や元素分布を明瞭に観察することが可能です。
STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます
試料の測定によって得られた結果と、シミュレーションの併用により、結晶構造の評価が可能です。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石において、HAADF-STEMとEDXの測定によって得られた結果と、各々の測定条件を用いたシミュレーション像の比較から結晶構造の考察を行った事例を紹介します。測定結果と計算シミュレーション結果の併用により、結晶構造に対する理解を深めることが可能となります
製品内基板上DRAMのリバースエンジニアリング
代表的なメモリであるDRAMについて製品レベルからTEM観察による素子微細構造解析まで一貫して分析します。 外観観察からレイヤー解析、Slice＆Viewを行うことで構造の全体像を把握し、FIB加工位置をナノレベルで制御し薄片形成後にメモリ部の微細構造をTEM像観察しました。
結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができる電子顕微鏡観察！金属材料全般に適用
『透過型電子顕微鏡（TEM）』は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、 試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や 電子線回折像を得ます。 透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、 電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。 【特長】 ■1,000～1,000,000 倍での観察 ■EDS 分析による超微小領域の元素同定（分析元素：C～U の定性・半定量分析） ■結晶性物質の同定や結晶方位の解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温度によって磁気特性が変化することから、本稿ではin-situ TEMを用いて、加熱に伴う結晶性や元素分布の変化過程をnmレベルで分析した事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．試料と評価方法 ３-１．結晶性の変化 ３-２．結晶配向の解析 ３-３．面内結晶配向の解析 ４．まとめ ５．謝辞 ６．おわりに
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 近年、医薬品の副作用の軽減や有効性の向上を目指し、ドラッグデリバリーシステム（DDS：Drug Delivery System）に着目した研究・開発が進められている。DDSに用いられるキャリアとして、リポソーム、高分子ミセル、無機ナノ粒子といったバイオマテリアルやDrug Conjugates（ADC等）が挙げられる。その中でも当社はリポソームの分析・評価技術の確立に注力しており、難易度が高いTEM（透過型電子顕微鏡）、AFM（原子間力顕微鏡）を中心にリポソームの分析事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．DDSによる基礎技術と各種キャリアの特徴 ３．リポソームの分析・評価事例 ４．おわりに
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 １．はじめに ２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化 ３．DPC-STEM法の適用 ４．おわりに
TEM・STEMの分解能が向上！4本の検出器でEDS分析が可能になるなど性能が大幅に強化
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。 【仕様(抜粋)】 ■加速電圧：200kV、80kV ■TEMインフォメーションリミット：≦0.11nm ■STEM分解能：≦0.14nm ■ドリフト補正フレーム積算(DCFI) ・ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
PE中のCNF(セルロースナノファイバー)分散状態観察事例をご紹介しております！
当社ホームページでは「透過型電子顕微鏡(TEM)によるCNF複合材料の 観察」についてご紹介しております。 高分子の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジーの観察で培った、 染色を含めた超薄切片の作製技術、TEM観察技術を用いることで、樹脂に 複合されたCNF(セルロースナノファイバー)の観察が可能となりました。 PE中のCNF分散状態観察の写真や、拡大写真なども掲載しております。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載写真】 ■PE中のCNF分散状態観察 ・PE/CNF分散状態観察 ・PE/CNF拡大写真 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
発泡体のセル壁内の結晶構造が観察できます！
当社では、形態観察として「透過型電子顕微鏡(TEM)による発泡体の観察」 を行っております。 高分子の結晶構造観察やポリマーアロイのモルフォロジー観察で培った 超薄切片作製の技術を応用かつ向上することにより、発泡体のセル壁内の 結晶構造を観察することが可能。 また、PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績があり、染色技術を組み合わせる ことでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察することができます。 【特長】 ■PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績あり ■染色技術を組み合わせることでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察可能 ■軟質素材の発泡体でも観察可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEBS中の微細構造(ミクロ相分離構造)が観察可能!!
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系エラストマーの 微細構造観察を行っております。 スチレン-エチレン/ブテン-スチレンブロック共重合体(SEBS)等のスチレン系 熱可塑性エラストマー中の微細構造(ミクロ相分離構造)をTEMで観察。 その結果、スチレン系エラストマー２種類で微細構造に違いがあることが示され、 これらのエラストマーは樹脂改質材として広く添加使用されており、複合材料中での スチレン系エラストマーの分散状態についても、弊社の電子染色技術によりTEM観察が可能。 その他、ブロック共重合体やグラフト共重合体の微細構造のTEM観察にご興味ある方も ご相談下さい。 【特長】 ■複合材料中でのスチレン系エラストマーの分散状態についても、 電子染色技術によりTEM観察が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察！構造の違いが明確に分かります
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系樹脂(HIPS、ABS)中の 微小分散ゴムの観察を行っております。 耐衝撃性ポリスチレン(HIPS)とアクリロニトリロ・ブタジエン・スチレン (ABS)樹脂中の微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察。 両者のサラミ構造の違いが明確に分かります。 ご用命の際は、お気軽に弊社までお問い合わせください。 【概要】 ■微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察 ■サラミ構造の違いが明確に分かる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
樹脂の結晶構造、分散状態等の観察・評価が可能です！
当社ホームページでは「透過型電子顕微鏡(TEM)による結晶構造、 ポリマーアロイのモルフォロジー観察」についてご紹介しております。 高分子の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジーをTEMを用いて観察する には、超薄切片を作ることが必要です。また電子線透過度に差をつける 為に染色が必要となります。 主な染色剤と染色可能な樹脂を表でご紹介している他、観察例も 掲載しておりますので、ぜひ、ご覧ください。 【掲載内容】 ■主な染色剤と染色可能な樹脂 ■観察例 ・HDPEの結晶構造 ・ポリマーアロイの分散構造観察例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
セルロースナノファイバーボールペンのインク固形分中のCNFを観察！
当社で行った「透過型電子顕微鏡(TEM)によるセルロースナノファイバー (CNF)観察」についてご紹介いたします。 これまで培ってきた樹脂材料の透過型電子顕微鏡(TEM)観察のノウハウを 生かして、市販セルロースナノファイバーボールペンのインク固形分中の CNFを観察。 インク顔料と絡み合ったようにみえる約10nm幅(太さ)のCNFが観察でき、 インクには解繊状況の異なるCNFが混在していることがわかりました。 【観察結果】 ■インク顔料と絡み合ったようにみえる約10nm幅のCNFが観察された ■サブミクロン幅のCNFも観察 ■数nm程度の細いミクロフィブリルが何本も束になって100nm程度の 太さの繊維を形成している ■インクには解繊状況の異なるCNFが混在している ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ブロックPPの分散構造をTEM観察！エラストマーやCNF複合材料なども観察可能
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるブロックポリプロピレンの 分散構造を行っております。 ゴムドメイン内部のEPR成分やPEのラメラ晶が、またPPマトリックスでは ラメラ晶が鮮明に確認することが可能。 ブロックPP単体だけでなく、エラストマーや他樹脂、CNF(セルロースナノ ファイバー)等のフィラー成分を添加した複合材も観察できますので、 お問い合わせ下さい。 ■ゴムドメイン内部のEPR成分やPEのラメラ晶が確認できる ■PPマトリックスではラメラ晶が鮮明に確認できる ■フィラー成分を添加した複合材も観察できる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
