ニューリー・土山の製品・サービス一覧

『微細電極検査装置』は、高分解能ラインカメラを採用し、 拡大鏡で見るよりも正確に、微細電極の傷や汚れを検出します。 気になる箇所だけを検査することもでき、 高精度な検査をスピーディに実現。 また操作がカンタンなため、熟練者の腕に頼らずに 誰が検査しても安定した結果を得られるのも特長です。 【特長】 ■タッチパネル搭載で直感的な操作が可能 ■設定はプリセットから選べ、詳細なパラメータ設定も可能 ■検査結果は画像・ログファイルで残すことが可能 ■多面取り基板にも対応可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

『n＝1 Checker Xシリーズ』は、量産開始前の確認用実装基板を短時間で検査し、 よりスムーズな生産立ち上げを支援するファーストロット用基板チェッカーです。 検査結果は自動的に記録され、品質資料などのデータとして活用が可能。 生産切り替え時のミスを防ぎ、実装ラインの生産性向上に貢献します。 【特長】 ■プローブでチップ抵抗などのインピーダンスを‭自動で計測・判定 ■実装状態を画面上で照合できる目視判定支援機能 ■マウントデータとパーツリストから検査データを自動生成 ■基板サイズによってM版・L版の2タイプから選択可能 ■海外向け対応も可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 基板検査装置

『狭ピッチコネクター接続冶具』は、さまざまなIoT、 ウェアラブル製品の基板の接続に適した製品です。 フレキ・コネクターの交換は半永久的に不要で フレキ誤挿入による再検査、製品破損を防ぐことができます。 コネクターの種類や実装場所など、用途や基板に合わせて オーダーメイドで製作。ただいま『製作事例写真集』を進呈中です。 【特長】 ■0.2mmピッチのフレキコネクターに対応 ■簡単な操作でコネクターと接続 ■コネクター接続の自動化も可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 組立治具
• 加工治具

当社にて、信頼性と業界のリーディングメーカーであるCORELIS社(本社：米国・カリフォルニア)のJTAGテストを導入した事例をご紹介します。 某大手医療電子機器メーカーは、生産技術部門で2008年よりBGA搭載や狭ピッチコネクタ採用基板の不良解析のため、JTAGテストを導入されました。 その結果、高密度なプリント配線基板に対しても、十分な品質確保が可能となりました。 【事例】 ■課題 ・BGA搭載や狭ピッチコネクタ採用基板の不良解析 ■結果 ・BGA搭載基板、狭ピッチコネクタ導入基板の不良箇所をピンレベルで特定 ・プルアップ/プルダウン抵抗器の実装不良箇所も特定、さらに製造品質向上 ・X線検査のテスト自動化で品質を向上 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 基板検査装置

『LV-NAVI』は、小ロット（10枚程度）の実装基板検査に最適な、基板検査 装置です。 ラックにセットした基板を自動で良否の切り分けをすることができ、 検査中はオペレーターが不要なため、人員削減が可能です。 【特長】 ■機種毎のピン治具不要で検査コストダウン ■検査中はオペレーター不要で人員削減 ■簡単検査プログラム作成で検査効率アップ ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 基板検査装置
• その他検査機器・装置

『VPC複合型コネクタ』は、恒温槽での高・低温適応（－55℃～+125℃）で 20,000回挿抜保証のある、車載基板(ECU)向け検査に最適なコネクタです。 当製品は、信号(～10AMP)、電源（～150AMP)、高周波（～40GHz)熱電対、 光ファイバー、エアーを自在に組み合わせることが可能です。 【特長】 ■恒温槽での高・低温適応（－55℃～+125℃） ■20,000回挿抜保証 ■EMI（電磁波干渉対策）対応 ■RoSH対応 ■信号、電源、高周波熱電対、光ファイバー、エアーを組み合わせ可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他コネクタ

『複合インターフェースコネクター』は、開発・試験・検査工程向け設備用 コネクターに最適な、モジュールタイプ角型コネクターです。 コンタクトピン数量に関係なく一定の低挿抜力があり、またコンタクトピンは、 信号用（～10Amp）、電源用（～150Amp）、高周波用（～40GHz）、熱電対、 光ファイバー、空気圧/真空圧用と豊富な種類からカスタマイズ仕様として 導入できます。 【特長】 ■20,000回以上の着脱保証のモジュールタイプ角型コネクター ■最大36通りの誤挿入防止キーピン ■最大17,000コンタクトピン構成によるワンタッチ着脱可能 ■低接触抵抗・大許容電流・低挿抜力・水平挿抜保証 ■耐熱温度-55℃～ +125℃ ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 組立治具
• 加工治具
• その他

『n=1 Checker Yシリーズ』は、量産開始前の確認用実装基板を短時間で 検査し、より早いスムーズな生産立ち上げを支援するファーストロット用 基板チェッカー。 リフロー後の基板検査にも対応し、少量多品種の基板の定数チェックに効力を発揮。 短時間で誤実装を検出し、検査プログラム作成の時間を短縮。検査結果は自動 的に記録され、人為的ミスも低減。実装ラインの生産性向上に貢献します。 【特長】 ■1部品/1リールのインピーダンス測定が可能 ■少量多品種の基板向けインピーダンス測定にも使用可能 ■カメラにて実装状態を照合用の方向性マーク、型式文字などで容易に確認 ■検査用データの自動生成プログラム（TPG） ■日本語、英語、中国語に表示対応 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 基板検査装置

量産開始前の確認用実装基板を短時間で検査し、 実装ライン停止時間を大幅に短縮できます。 生産切り替え時のミスを防止し、実装ラインの生産性向上に貢献します。 検査結果が自動的に記録され、品質資料等各種データとして活用できます。 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 基板検査装置

フレキの交換が半永久的に不要です。 治具コネクターの劣化がなく、コネクター交換が不要です。 手作業での誤挿入による再検査、製品破損もなくなります。 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 組立治具
• 加工治具

見落としのない、安定した検査結果が得られます。 検査結果が画像、ログファイルで残ります。 熟練者に頼らなくてもよくなります。 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

バウンダリスキャンテスト JTAG の特徴は、BGA部分の品質をファンクションで保証すると製品全体の検査時間が増大し、結果、確実にBGAの実装保証が可能となり、不良原因の特定が短時間且つピンレベルで実現可能。

• 基板間コネクタ
• 試験機器・装置
• コネクタ端子台

当社では、試作基板から修理に至るまで、様々な角度からソリューションを提供しております。

• 試作サービス

バージニア パネル インターコネクト ソリューションは、多種多用なI/O構成へのカスタマイズ対応、20,000回以上の挿抜保証、様々な環境下での電気特性保証を実現したコネクター製品です。また、各種計測器と被試験体を様々な機構方式によりワンタッチで簡単に相互接続を実現したコネクター製品です。最大17,000コンタクトピン構成によるワンタッチ挿抜が可能です。

• 試験機器・装置

2本の測定プローブを使って良品基板部品と被検査基板部品との波形を比較することで、回路図面がなくてもチェックが可能なV/Iトレーサです。部品の両端に交流を印加して、その電圧/電流波形から部品の良否を判定します。また、パワーオンせずにチェックするので、連鎖的に部品を壊すことなく、安心してご利用いただけます。

• 試験機器・装置

マイクロコントローラ、シリアルFLASH、FPGA等のISPデバイスは、基板に半田付けする前か後に必ずプログラムを書き込む必要がありますが、基板のインサーキットテストが終了して、パスしたISPデバイスだけに、しかも最大384個までのデバイスに書き込みができるように開発されました。インサーキットテスト用に用意される冶具にコントローラとバッファーを組み込んで使用します。

• 試験機器・装置

●PCベースでバウンダリスキャン・テストパターンを自動生成、検査します。 ●半田ブリッジ、オープン等、ピンレベルの不良解析が可能です（スキャンプラス・ ランナーADOオプション）。 ●検査機能には以下のものがあります。 ・TAP Integrity ・Interconnect ・Buswire ・Cluster ・メモリ、FIFOデバイステスト 技術サポート万全！　治具まで含め全て引き受けられます。

• その他電子部品
• 画像処理機器

一般的なフラッシュメモリのライブラリが準備されており、製造メーカー、デバイス名、パッケージタイプを指定するだけで、ピン番号を入力することなくプログラム書き込みが可能です。また、デバッグ機能により、アドレスをデータパターンをマニュアルで入力でき、入力したデータによってハードウエアの不良を検出します。

• その他計測・記録・測定器

業界最低価格のインサーキットテスタでありながら、デジタル部品のベクターレス機能とJTAGテスト機能を併せ持ち、本格的・大型インサーキットテスタに匹敵するMDA（マニュファクチャリング・デフェクト・アナライザ）。

• 試験機器・装置
• 画像処理機器

実装されたBGA、uBGA、CSP、Flip-Flop等のはんだボール接合部分を目視検査できる、まったく新しい操作性と柔軟性に富んだシステムです。システムは短時間でセットアップでき、手動操作またはスタンド形式の操作によって静止画または動画として目視できます。

• 試験機器・装置

Toneohm 950は、PCB回路短絡発見に決定的な解決策を提供します。Polar社の革新的な技術、VPS（プレーン刺激）法を使用することで、Toneohm 950がOCB短絡の位置へ素早く正確に導いてくれます。装置前面にある方向指示LEDが、オペレータを短絡位置に誘導してくれるのです。

• 試験機器・装置

基板検査用冶具に組み込んで使用する、LEDの色彩と輝度を測定、判定する検査モジュールです。一度に何十個のLEDランプの実装状態が自動的に確認できるので、これまでのヒューマンエラーが解決できます。センサーモジュールの種類は、目的に応じて、電源が不要なローコスト版、4色（青、赤、黄、白）の識別センサーを１つのモジュールとして使用するスマートセンサー、小型で数多くの色彩に対応できるウルトラセンサーの中から選んでいただけます。

• 試験機器・装置

CAS-1000-I2Cは、元々フィリップス社によって開発されたデバイス間の基本通信バスのアナライザです。バス構造のスペックのチェック、モニタ、ロッギング、プロトコルの確認等ができます。コントローラは、高速USBインターフェースとなっています。

• 試験機器・装置

量産開始前の確認用実装基板を短時間で検査し、実装不良を検出し、より早い・スムーズな生産立ち上げを支援します。また、生産切り替え時のミスを防止し、実装ラインの生産性向上に貢献します。対応基板サイズは、M版・L版（卓上型）、LL版（据付型）また、特別仕様基板サイズにも対応します。

• 試験機器・装置

レコード針をディスクに降ろすようにプローブを基板のパターンやICリードに当てれば、オシロスコープで波形の観察が簡単に行えます。プローブは当たっている場所・位置に留まったままですから、両手フリーの状態となり、オシロスコープのレンジ合わせ等が感単にできます。ミコプローブを使用すれば、片方の手でプロービングしながらオシロスコープでの波形観察が簡単になります。

• 試験機器・装置

ScanExpress JET（JTAG Emulation Test）の出現で、CPU搭載基板の自動テスト手法ががらりと変わります。テスト対象部品には、JTAG非対応部品やアナログ部品、I/O部品も含まれます。さらに、ターゲットCPU搭載基板に付加回路やファームウエアを追加すること無しに、フルスピード（アットスピード）のファンクションテストが可能になります。 JETによるファンクションテストと通常BST（バウンダリスキャンテスト）を組み合わせれば、テストカバレッジの飛躍的な向上が期待できます。 JETを使用するためには、プログラム開発ステーションと特定CPUテスト実行ソフトウエアが必要になります。

• その他電子部品

Corelis JTAGエミュレータ・デバッガには、Eclipse(Java）ベースのIDE（統合開発環境）とJTAG対応CPUのデバッガソフトウエアの2種類があります。CPU開発・製造各社のCPUに対応しており、特定（ターゲット）のCPUプログラム開発・デバッグ用ソフトです。使用に際しては、PCI、USB等のインターフェース（コントローラ）の指定が必要です。

• その他半導体
• その他計測・記録・測定器

繰り返される音の自動検査が目的で開発された、ヒューマンエラーを解決する検査システムです。どのようなサウンドでも、デジタル化して数値判定するため、音の良否が確実に判定できます。判定用の基準値は良品サウンドを元に、簡単に作成可能です。

• 試験機器・装置

各種ファンクションテスト冶具、インサーキットテスト冶具、インラインタイプ・プレスユニット等を、被検査ターゲット基板の形状とサイズに適応した内容で設計・製造いたします。標準品もありますが、お客様のご要望により、柔軟に対応した特注品の開発・製作も承ります。

• 試験機器・装置

パソコンまたはマイコンを使用して、顧客仕様のファンクションテスタを開発・製造いたします。システムは、制御（電源供給制御、ワーク状態制御）、計測（電圧、電流、周波数等の測定および判定）、通信（コマンド送信、応答チェック）の３つの機能から成り立ちます。また、編集機能により仕様変更・設計変更にも素早く対応します。標準ソフトによって、デバッグも容易になっています。

• 試験機器・装置

表面実装部品（SMD）の定数測定・確認・評価・選別および 基板状のSMD回路インピーダンス測定用に開発されたチェッカー ■□■特徴■□■ ■完全自動レンジでL.C.Rを自動測定 ■金メッキされた精密プローブで微細なSMD（0201サイズまでの）部品を測定 ■インピーダンス（C&D、L&Q）同時表示 ■DC電圧測定（＜8V） ■豊富な測定結果表示 　 Rモード、L+Rモード、L+Qモード、C+Rモード、C+Dモード ■その他機能や詳細については、カタログダウンロード 　 もしくはお問い合わせ下さい。

• 画像処理機器
• 基板検査装置

量産開始前の確認用実装基板を短時間で検査できるチェッカー ■□■特徴■□■ ■狭隣接ピッチで『0402』『0603』の測定を実現 ■短時間に確認用の基盤の実装不良を検出し、より早いスムーズな 　生産立上を支援 ■生産切替時のミスを防止し、実装ラインの生産性向上に貢献 ■人手による確認作業の限界を解決 ■インピーダンス自動検査 ■目視検査支援 ■その他機能や詳細については、カタログダウンロード 　 もしくはお問い合わせ下さい。

• 画像処理機器
• 基板検査装置

エレクトロニクス業界では、「スピード・コストパフォーマンス・コミュニケーション・省力化・独創性と新しい価値創造」へと熾烈な展開が繰り広げられています。 当社は、このような前線において、「お客様と共鳴し合いながら、製品完成度向上にお役に立ちたい」という信念のもと、開発段階から修理に至るまで、当社の事業ドメインである各種実装基板検査装置のご提案、ファンクションテスターの開発、各種フィクスチャーの開発・製造に心血を注ぎ貢献し続けて参りたいと考えております

• 画像処理機器