試験・分析・測定

ユーロフィンイーエージー株式会社

住所東京都千代田区西神田3-8-1 千代田ファーストビル東館12F
電話03-4330-3709
最終更新日：
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〇分析事例（分析手法別） 〇分析事例（分析手法別）
・SIMS、TOF-SIMS ・SIMS、TOF-SIMS
・TEM/STEM ・TEM/STEM
・SEM/CL ・SEM/CL
・RBS/HFS ・RBS/HFS
・TXRF ・TXRF
・不純物分析手法 ・不純物分析手法
・組成分析手法 ・組成分析手法
・形態観察/構造解析手法 ・形態観察/構造解析手法
〇分析事例（材料、分野別） 〇分析事例（材料、分野別）
・半導体・エレクトロニクス ・半導体・エレクトロニクス
・金属、合金関連 ・金属、合金関連
・照明・LED・太陽電池 ・照明・LED・太陽電池
・自動車部品関連 ・自動車部品関連
・医療デバイス関連 ・医療デバイス関連
〇分析事例（用途別） 〇分析事例（用途別）
・接着及びボンディング ・接着及びボンディング
・表面の汚れ、化学状態 ・表面の汚れ、化学状態
・材料中の汚染 ・材料中の汚染
・材料組成、材料純度 ・材料組成、材料純度
・材料の結晶性、界面、粒界、欠陥 ・材料の結晶性、界面、粒界、欠陥
・微小異物、パーティクル ・微小異物、パーティクル
・腐食 ・腐食
・深さ方向分析、拡散 ・深さ方向分析、拡散
・不純物濃度分析 ・不純物濃度分析
・マッピング ・マッピング
・表面形態、形状、膜厚 ・表面形態、形状、膜厚
〇その他の分析サービス 〇その他の分析サービス
【事例】気密封止PKGの　　　内部ガス分析 IVA/HR-IVA 【事例】気密封止PKGの　　　内部ガス分析 IVA/HR-IVA
【事例】気密封止PKGの　　　気密性試験 【事例】気密封止PKGの　　　気密性試験
〇分析豆知識 〇分析豆知識
・組成分析手法

・組成分析手法

分析手法別の分析事例を紹介！ 【表面分析受託サービス】 ■組成分析（組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど） ・XPS/ESCA（X線光電子分光分析） ・AES, 300mm Wafer AES（オージェ電子分光分析） ・SEM-EDS（透過型電子顕微鏡） ・XRD (X線回折) ・RBS（ラザフォード後方散乱分析） ・HFS/EDRA（水素前方散乱分析） ・NRA（核反応分析） ・XRR（X線反射率測定）