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株式会社アナリティクイエナ ジャパン

設立平成18年3月31日 (2006年)
住所神奈川県横浜市保土ケ谷区神戸町134 横浜ビジネスパークイーストタワー 11階
電話045-340-5740
  • 特設サイト
  • 公式サイト
最終更新日:2025/08/15
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原子吸光分析装置

原子吸光分析装置

原子吸光分析装置 D2補正原子吸光分析装置  novAA 800シリーズ ゼーマン補正原子吸光分析装置  ZEEnitシリーズ 連続光源原子吸光分析装置  contrAA 800シリーズ

D2補正原子吸光分析装置 novAA 800シリーズ

簡単操作のベーシックなD2補正の原子吸光分析装置

さまざまなオプションにより、高い汎用性・信頼性と高度な自動化を実現した、品質管理などのルーチン測定に最適な装置です。 【特長】 ■8ランプチェンジャーで試料処理能力が向上 ■シングルおよびダブルビームの切り換えが可能 ■D2バックグラウンド補正 ■コード化ランプのためのRFIDツール搭載 ■最高の分析性能のためのスーパーランプパワーサプライ ■グラファイトチューブ内の試料の注入・乾燥を観察できる内蔵カメラ (オプション)

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キセノン連続光源原子吸光分析装置 contrAA 800シリーズ

1本のランプで全ての元素の測定が可能!近接線の影響も視覚的に確認できる革新的な原子吸光分析装置

アナリティクイエナが世界で初めて開発したキセノン連続光源バックグラウンド補正法により、従来の原子吸光分析装置の概念を覆す新しい原子吸光分析装置です。 1本の光源で原子吸光分析に使用する全ての波長範囲をカバーし、フレーム測定ではシーケンシャル測定により測定時間の短縮も可能です。 高分解能光学系により、近接線を視覚的に確認し分離することが可能です。近接線の影響を受けない高精度なバックグラウンド補正機能により、測定結果の精確性が著しく向上しました。 【特徴】 ■高分解能エシェル分光器搭載 (0.002nm/200nm) ■キセノン連続光源/CCD検出で多元素シーケンシャル迅速測定 ■同一元素多波長測定とダイナミックモードによる測定濃度直線領域を拡大 ■原子吸収線のみならず分子吸収線活用で新たな分析能力が拡充 ■2次元、3次元データ表示による詳細なデータ解析 ■固体試料の直接分析が可能 (オプション:固体サンプラー) ■オートサンプラーで高いデータの信頼性と効率化に優れた自動化 ■アナリティクイエナは世界で唯一光学系に10年保証をします。

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ゼーマン補正原子吸光分析装置 ZEEnitシリーズ

第3世代のゼーマン補正により、幅広い濃度のサンプル測定が可能に!

最適な補正を行えるように磁場強度は最大1.0テスラまで可変設定できます。また、従来のゼーマン補正(2フィールドモード; オン、オフ)だけでなく、3フィールドモード(オフ、中、高磁場)が可能になり、測定濃度範囲をmg/Lオーダーまで拡大し、アプリケーション領域が飛躍的に拡充されました。 【特長】 ■8ランプチェンジャーで試料処理能力が向上 ■シングルおよびダブルビームの切り換えが可能 ■D2バックグラウンド補正、第三世代のゼーマンバックグラウンド補正 ■コード化ランプのためのRFIDツール搭載 ■液体試料だけでなく、固体試料の直接測定が可能 ■独自の交差加熱型グラファイトファーネスが理想的な原子化を実現 ■最適な原子化と灰化温度、2フィールド/3フィールドバックグラウンド補正が理想的な測定を実現 ■検量線の直線性領域を拡張する独自の可変磁場3フィールドモード ■グラファイトチューブ内の試料の注入・乾燥を観察できる内蔵カメラ ■最適なフレーム測定を約束するバーナー高さ自動調整機能

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固体試料直接分析用サンプラー SSA600

原子吸光分析のファーネス測定で固体サンプルを直接測定可能に!

時間がかかり、汚染の原因ともなる前処理をせずに、固体サンプルを直接ファーネス測定することができます。 【特徴】 ■固体サンプルの自動直接測定 ■ファーネスへサンプルの自動導入 ■内蔵マイクロ天秤で自動秤量 ■42サンプルまでの自動測定 【直接固体測定の利点】 ■試料がそのまま検体として直接測定 ■試料分解や溶解などによる溶液化が不必要 ■汚染の危険性がない ■高感度 ■使用するサンプルは少量 (μg、mg) ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。

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