試験・分析・測定

株式会社アナリティクイエナ ジャパン

設立平成18年3月31日 (2006年)
住所神奈川県横浜市保土ケ谷区神戸町134番地　YBPイーストタワー11F
電話045-340-5740
最終更新日：
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原子吸光分析装置 原子吸光分析装置
ICP発光分光分析装置 ICP発光分光分析装置
マイクロウェーブ試料分解装置 マイクロウェーブ試料分解装置
TOC計 TOC計
硫黄・窒素・塩素・炭素分析装置 硫黄・窒素・塩素・炭素分析装置
炭素・硫黄分析装置 炭素・硫黄分析装置
アプリケーション アプリケーション
カスタマーサポート カスタマーサポート
その他の製品 その他の製品
TOC計

TOC計

「有機体炭素分析装置」multi N/C シリーズ

全有機体炭素分析装置（TOC計）　multi N/C 3300

■測定方式：燃焼触媒酸化方式　 ■検出器：ビームフォーカスNDIR検出器　 ■測定項目：TC, IC, TOC, NPOC, POC(オプション), TN(オプション)

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全有機体炭素分析装置（TOC計）multiN/C 4300 UV

■測定方式：湿式紫外線酸化方式　 ■検出器：ビームフォーカスNDIR検出器　 ■測定項目：TC, IC, TOC, NPOC

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全有機体炭素分析装置（TOC計）　multi N/C 2300

■測定方式：燃焼触媒酸化方式　 ■検出器：ビームフォーカスNDIR検出器　 ■測定項目：TC, IC, TOC, NPOC, TN(オプション)

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TOC固体モジュール　HT1300

対応装置 multi N/C 3100, multi N/C 2100S, multi N/C UV HS

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電子機器・リチウムイオン電池に関する分析ソリューション

【アプリケーションと装置】 ■鉱石・原料　-　原子吸光、ICP-OES ■精練・製品　-　TOC計,　ICP-OES ■リサイクル　-　原子吸光、ICP-OES、TOC計　 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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