『OCTシステム』は、近赤外線の後方散乱光の干渉を利用することで 電子顕微鏡や実体顕微鏡とは異なり可視域で透明でなくても生体や試料 を摂取・破壊することなく、内部構造をリアルタイムに可視化する事ができる リアルタイム非破壊光断層測定器です。 OCTシステムは、X線CT、MRI、超音波、共焦点顕微鏡に続く 最先端断層測定器で非接触・非破壊・非侵襲でかつ高速に 測定することが出来ます。 また、3次元撮影も可能です。 【特長】 ■非接触・非破壊・非侵襲 ■高速 ■高文機能 ■広範囲 ■2D・3D断面計測 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他 計測・測定機器

『TSL-570』は、性能・品質を向上させた第7世代スタンダードモデルの 波長可変光源です。 レーザ共振器および制御回路を刷新することで、従来機より高速化、高性能化、高品質化を実現しました。これにより、光通信分野やフォトニクスサイエンスで利用されている光学部品の特性評価だけでなく、フォトニック集積回路テスト、量子フォトニクス、分光法、センサー用など様々なアプリケーションで理想的なツールとなっています。 ■特長 ・高速掃引：200nm/sスイープ ・高波長精度：±2pm (Type P) ・高波長分解能：0.1pm ・高い信号対雑音比：90dB/0.1nm

• その他照明機器

波長可変光源 (TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット（PCU-110）および専用ソフトウェアを組み合わせたSwept Test Systemは、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。 波長可変光源からの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。 ■特長 ・リスケーリングアルゴリズム (高分解能 0.1 pm) ・リアルタイムパワーリファレンス (再現性 0.02 dB) ・光源内蔵の高精度波長モニタ (絶対波長精度 3 pm)

• その他計測・記録・測定器

本製品は、santec波長可変レーザ （TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測, 波長依存損失計測, 近接センシング）を提供する分析装置です。 ■特徴 反射点計測：高い分解能 5 μm 波長依存損失計測：広いダイナミックレンジ 80 dB 近接センシング：ファイバプローブとデバイス間の距離測定

• 光学測定器

本製品ははレーザの発振周波数を安定化するためのレーザサーボコントローラで、弊社波長可変レーザ（TSLシリーズ）の発振周波数を、ユーザ所有の周波数基準器にロックさせることができます。TSLシリーズに最適化された設計となっていることから複雑な調整をすることなく、弊社提供のGUIにより、容易にTSLの発信周波数を安定化できます。ガス吸収セル、Fabry Perot（FP）共振器など、さまざまな周波数基準器に対応しており、また、Pound-Drever-Hall （PDH）法、サイドフリンジロック法などの各種のフィードバック制御においてご使用いただけます。

• サーボ

MPA-100 は最大80チャンネルのモニタが可能なピグテイル型フォトディテクタ・アレイの高集積ラック型モデルです。MPO・MTP多芯コネクタより入力される複数の光パワー信号をモニタします。また、MPA-100を10台積層することで最大800チャンネルのモニタも可能です。使用される波長帯に応じて、850 nm帯用のSiタイプと1260～1610nm帯用のInGaAsタイプの2種類のフォトディテクタを提供可能です。データセンター、ブロードバンド/CATV、光通信などのデータ通信用トランシーバーのテストやモニタリングに。 【こんな方におすすめです】 ・光パワーモニタの価格を安く抑えたい ・今あるラック・スペースを省スペース化したい ・信頼性の高い光インターフェースを実現したい ・大規模チャンネルの光パワーメータを導入したい

• その他電子計測器

SLM-30は、液晶及び放熱構造の最適化により、200W（ワット）クラスのレーザーに対応した、高出力レーザー向け空間光変調器です。小型化と低コスト化を必要とするアプリケー ション向けに、高品質な組み込みモジュールとして設計されました。LCOS-SLMヘッドと駆動回路はフレキシブルケーブルで接続されており、簡単に機器への組み込みが可能です。LCOS-SLMヘッドには冷却性能の高い水冷ヒートシンクを採用しております。 【特徴】 ■対応波長帯 532, 800, 1064 nm帯 ■高出力レーザー向け (200Wクラス) ■機器組み込みが容易な小型モデル、低コスト ■フルHDを超える解像度 (1920×1200画素) ■高い位相分解能 10-bit (1024階調) ■世界最高水準の位相安定性 ~0.003πrad. (Typ.)

• その他光学部品

SLM-20は、産業用アプリケーション向けの空間光変調器です。コンパクトなLCOSヘッドモジュールとドライバボードで構成されており、特にレーザー加工や顕微鏡用途など、正確な波面制御を必要とするシステムに容易に組み込むことが可能です。 【特徴】 ■波長範囲 450～1600 nm ■機器組み込みが容易な小型モデル、低コスト ■解像度WUXGA (1920 x 1200) ■高い位相分解能 10-bit (1024階調) ■世界最高水準の位相安定性 ~0.003πrad. (Typ.)

• その他光学部品

SLM-210は、当社第2世代の液晶LCOS （Liquid Crystal on Silicon）技術を採用した高性能製品として、LCOSの応答速度を大幅に向上させた高速モデルです。SLM-210は当社従来比20倍以上の高速化となる、応答速度10 ms以下を実現。LCOSの応答速度向上に伴い当社特有の優れた高階調度と相まって、光波面補正、レーザー加工用光ビーム整形、バイオセンシング、量子コンピューティングなどの光応用分野での性能向上に貢献します。 【特徴】 ■応答速度 typ. 6 ms, (Type A) ■WUXGA (1920 x 1200) ■メモリー機能 ■トリガー入力 & 出力 ■堅牢な延長フレキシブルケーブル

• その他光学部品

LCOS及び放熱構造を最適化する独自技術により、当社従来比100倍の200W（ワット）クラスの高出力レーザーに対応可能です。また、LCOSヘッドには冷却性能の高い水冷ヒートシンクを採用しました。波長帯は532 nm帯、800 nm帯、1064nm帯の3種類に対応しています。これにより、主だった波長帯の高出力レーザーを用いた、レーザー加工、3Dプリンター、IC用レーザートリミングなどの加工効率や精度向上に貢献できます。 【特徴】 ■解像度WUXGA (1920 x 1200) ■10-bit (1024 階調) ■優れた位相安定度(~0.003π rad.) ■メモリー機能 ■トリガー入力＆出力 ■高耐電力型LCOSベースSLM

• その他光学部品

SLM-250は、液晶及び光学薄膜構造を最適化した紫外線耐性の優れた空間光変調器です。解像度WUXGA (1920 x 1200)を有し、当社従来製品（SLM-200)に比べて42倍の優れた紫外線耐性を有しています。波長範囲は365～550 nmです。 【特徴】 ■解像度WUXGA (1920 x 1200) ■10-bit (1024 階調) ■優れた位相安定度(~0.003π rad.) ■メモリー機能 ■トリガー入力＆出力

• その他光学部品

当社の反射型LCOS (liquid crystal on silicon) は高分解能用途に最適な空間光変調器です。解像度WUXGA (1920 x 1200)、10-bit (1024 階調)と優れた位相安定度(~0.001π rad.) は、精密な空間光変調器を要求する数多くの応用に最適なソリューションを提供します。 【特徴】 ■解像度WUXGA (1920 x 1200) ■10-bit (1024 階調) ■優れた位相安定度(~0.001π rad.) ■フレームレート, x2 (120 Hz) ■メモリー機能 ■トリガー入力＆出力

• その他光学部品

『HSL-2100』は、ポリゴンスキャナを用いた構成のSS-OCT用波長掃引光源です。 高い再現性と線形性で、データ取得にk-トリガーを必要としないため、 システム全体をシンプルに構成する事が可能です。 それにより高い安定性、低コストなどを実現します。 【特長】 ■1.31μmの波長帯 ■広い波長可変範囲（170nm@1.31μm帯） ■選択可能なスキャン速度（3kHz～50kHz） ■高い線形性・再現性 ■標準的なデータ収録カードで動作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

『HSL-20』は、MEMS技術を用いることで従来技術よりも小型で、 高速スキャンが可能な光源です。 当社の独自設計により最速で100kHzの安定した高速スキャンが可能。 また、当製品はシステムと同期するための「k-トリガー」と 「スタート-トリガー」を内蔵しております。 【特長】 ■1.31μmの波長帯 ■当社独自のMEMS技術 ■広帯域＆長いコヒーレンス長 ■k-トリガー内蔵 ■一方向のスキャン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当社では、SS-OCTシステムやOEM製品にカスタム・オプションとして 使用可能な『プローブ』を取扱っております。 手に持ちサンプルに押し当てて測定する「ハンドヘルドタイプ」をはじめ、 測定位置を確認しながら測定できる「顕微鏡タイプ」など、 様々なプローブをラインアップしています。 【特長】 ■ハンドヘルドタイプ ・手に持ちサンプルに押し当てて測定 ・アタッチメントにより測定物までの距離を変え、3D測定も対応可能 ■顕微鏡タイプ ・XYZステージにより高精度にサンプルの位置決めを行う ・測定位置を確認しながら測定できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当カタログは、光技術のパイオニアを自負するsantecが取扱う製品を 掲載しております。 様々な分野・応用で利用可能なSS-OCTシステム『IVS-1000/200』をはじめ、 オールインワンポータブルSS-OCTシステム『IVS-300』など、様々な製品を ラインアップ。 当社の光源は、高速・高分解能・高感度なOCTを実現するだけでなく、 その高い信頼性で現在多くの診断器に採用されております。 【掲載製品(抜粋)】 ■SS-OCTシステム『IVS-1000/200』 ■SS-OCTシステム『IVS-300』 ■OCT プローブ ■SS-OCT用波長掃引光源『HSL-20』 ■SS-OCT用波長掃引光源『HSL-2100』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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santecのOCTシステム「Inner Vision」は研究用途、製品化の為の基礎検討など、様々な分野・応用でご利用頂ける装置です。OCTは近赤外線の後方散乱光の干渉を利用することで電子顕微鏡や実体顕微鏡とは異なり可視域で透明でなくても生体や試料を採取・破壊することなく、内部構造をリアルタイムに可視化する事が出来る、X線CT、MRI、超音波、共焦点顕微鏡に続く断層測定器として期待されております。santecのOCTは高感度で高速イメージングが可能なSwept Source OCT（OFDI = Optical Frequency Domain Imagingとも呼ばれます）の原理を用いているため、リアルタイムで高精細なイメージングが可能です。オプションでLabVIEWの操作ソフトも付属されますので、お客様ご自身でのカスタマイズも可能です。

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