【メリット】 ■内部構造をリアルタイムに可視化が可能 ■生体や試料を採取・破壊する必要がない ■3D撮影も可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他 計測・測定機器

■特性 ・最大光出力：+13dBm ・高い信号対雑音比：90dB/0.1nm ・波長精度ラインナップ 　　Type A：±20pm 　　Type C：±5pm 　　Type P：±2pm ・1240~1680nmの広帯域波長範囲に対応 　　Ext O-Band：1240 to 1380nm 　　O-Band：1260 to 1360nm 　　ES-Band：1355 to 1485nm 　　CL-Band：1500 to 1630nm 　　SCL-Band：1480 to 1640nm 　　U-Band：1560 to 1680nm ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他照明機器

■特性 ・リアルタイムパワーリファレンス ・高精度にIL/WDL / PDL特性測定可能 　　- 高いIL再現性<± 0.02 dB 　　- 高いPDL再現性± 0.01 dB ・スケーリングアルゴリズム 　　- 高い波長分解能と波長精度で測定可能 　　- 測定時間の短縮が可能 ・マルチチャンネル測定が可能 ・グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート（Visual Studio） 　　- 測定パラメーターを簡単に設定可能 　　- データ分析 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

本製品は、santec波長可変レーザ （TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測, 波長依存損失計測, 近接センシング）を提供する分析装置です。広帯域波長可変のTSLと組み合わせることで、フォトニクスデバイスの損失点の位置を5μmの高い分解能で検出できます。また、光コヒーレント検出技術を採用したことにより、1 回の波長掃引で 80dBを超える広いダイナミックレンジで波長依存損失(WDL)が測定できます。さらに、特許取得済みの近接センシング機能が、ファイバプローブとデバイス間の精密な距離測定を実現し、シリコンフォトニクスデバイス生産ラインにおいてウェハレベル特性評価時のアライメント工程を容易にします。 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 光学測定器

・ TSLの発振周波数安定度を大幅に向上 　　TSL-570単体（オープンループ）と比較し、LLP-100と組み合わせることで周波数安定度が約50倍に向上 ・ 専用ソフトウェアによる高度な連動制御 　　波長可変レーザとレーザサーボコントローラによる一体制御 　　自動ロック制御により10秒以内のロックも可能 ・ 用途によって選べる周波数ロック機能 　　手動での周波数ロックの他に、自動ロック、ロック復旧モードや、トリガー信号によるロック制御モードを搭載 ・ 必須の調整・監視機能を搭載 　　レーザ波長調整・監視機能、PIDコントローラ、関数発生器など、周波数ロック調整時に必須の機能を搭載

• サーボ

【特徴】 ■複数信号モニタ: 32, 48, 64, 72, and 80 ch ■動作波長範囲: 850nm、1260 to 1610 nm ■光入力パワー範囲: - 50 to + 3 dBm per channel ■光ノイズ限界: - 63 dBm @ 1550 nm ■出力リニアリティ: 0.2 dB typ. ＠入力光パワー範囲(- 50 to - 10 dBm) ■MPOアダプタ / 多芯MPO, MTP コネクタ ■電圧出力 / USBインターフェース ■波長、光パワー、出力電圧の校正表添付 ■寸法: (W)482.6 x (D)430 x (H)44 mm, 1Uサイズ ■各種カスタムモデルにも対応

• その他電子計測器

【仕様(抜粋)】 ■対応波長帯 532, 800, 1064 nm帯 ■パネルサイズ：(H) 15.36 x (V) 9.60 ■パネル解像度：(H) 1920 x (V) 1200 ■画素サイズ / ピッチ：7.8 / 8.0 ■制御ソフトウェア：GUI software and SDK for Windows その他の詳細はカタログを参照ください。

• その他光学部品

【仕様(抜粋)】 ■波長範囲：450～1600 nm ■パネルサイズ：(H) 15.36 x (V) 9.60 ■パネル解像度：(H) 1920 x (V) 1200 ■画素サイズ / ピッチ：7.8 / 8.0 ■制御ソフトウェア：GUI software and SDK for Windows その他の詳細はカタログを参照ください。

• その他光学部品

【仕様(抜粋)】 ■波長範囲 450～1600 nm ■パネルサイズ：(H) 15.36 x (V) 9.60 ■パネル解像度：(H) 1920 x (V) 1200 ■画素サイズ / ピッチ：7.8 / 8.0 ■制御ソフトウェア：GUI software and SDK for Windows その他の詳細はカタログを参照ください。

• その他光学部品

【仕様(抜粋)】 ■波長範囲：532 nm帯、800 nm帯、1064 nm帯の3種類 ■パネルサイズ：(H) 15.36 x (V) 9.60 ■パネル解像度：(H) 1920 x (V) 1200 ■画素サイズ / ピッチ：7.8 / 8.0 ■制御ソフトウェア：GUI software and SDK for Windows その他の詳細はカタログを参照ください。

• その他光学部品

■波長範囲 365～550 nm ■パネルサイズ：(H) 15.36 x (V) 9.60 ■パネル解像度：(H) 1920 x (V) 1200 ■画素サイズ / ピッチ：7.8 / 8.0 ■制御ソフトウェア：GUI software and SDK for Windows その他の詳細はカタログを参照ください。

• その他光学部品

【仕様(抜粋)】 ■波長範囲：450～1600 nm ■パネルサイズ：(H) 15.36 x (V) 9.60 ■パネル解像度：(H) 1920 x (V) 1200 ■画素サイズ / ピッチ：7.8 / 8.0 ■制御ソフトウェア：GUI software and SDK for Windows その他の詳細はカタログを参照ください。

• その他光学部品

【ラインアップ】 ■HSL-2100WR ■HSL-2100HW ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

【ラインアップ】 ■HSL-20-100 ■HSL-20-50 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

【ラインアップ】 ■IVS-1000-VCSEL ■IVS-2000-HS ■IVS-2000-HR ■IVS-2000-LC ■IVS-2000-ST ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 画像処理ソフト
• その他計測・記録・測定器

【特徴】 ○非接触、非破壊、非侵襲 ○リアルタイム・ビデオレート（>30fps）での断層イメージング ○3Dイメージング ○LabVIEWによるお客様自身でのカスタマイズ（オプション） ○ご要望に応じたプローブ ○（顕微鏡タイプ、ハンディプローブタイプ、小径プローブタイプなど） ○偏光OCT、ドップラーOCTもオプション対応 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください

• 画像処理ソフト