ニデックアドバンステクノロジーの製品・サービス一覧

『Pulse EYE(パルスアイ)』は、Power半導体検査/Waveformの 解析支援ツールです。 任意の信号のグラフ表示および操作、カーソル表示、解析位置表示選択、 ローカスグラフ表示機能がある「Waveform Analyze」や、2ファイルの グラフを重ね書きにより容易な比較表示が可能な「Dual File View」など 様々なモードがございます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■業務効率化/時間短縮 ■1クリック2～3秒で全ての波形を表示 ■解析位置情報表示 ■複数File表示比較 ■波形表示・白黒反転 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他ネットワークツール

『TDAS-Series』は、EV/HEVの車載用駆動モータ単体及びE-Axle(モータ、 インバータ、ギア一体型)の性能試験、耐久試験を行うための装置です。 オリジナルの計測、制御、解析ソフトウェア＆GUIにより簡単なシンプル操作で 一定トルク運転や一定速度運転、WLTC等の走行パターンに合わせた各種試験も 行うことが可能。 また、ライブカメラにて画像とデータをリアルタイムでモニターすることが出来、 TDASモニタリングシステムにて遠隔モニタリングもできます。 【特長】 ■3軸/4軸テストベンチ構築可能 ■インバータ用テストベンチ構築可能 ■シンプルで簡単な操作で計測、制御、解析が可能 ■TDAS遠隔モニタリングシステム対応可能 ■超高速36,000rpm対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 試験機器・装置

当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」と、外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が 可能な動特性手動検査装置「NATS-1630/1730」をラインアップ。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ＜NATS-1000＞ ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他検査機器・装置

当社で取り扱う、高速・高精度3D/2D/SD ウエハバンプ自動検査システム 『RWi-300MK3』をご紹介いたします。 2D/3D測定精度が大きく向上しており、超高速検査を実現。 また、レビュー(欠陥)画像取得速度が飛躍的に向上しました。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■3D/2D/SDの同時測定を高速・高精度に実現 ■金バンプ3D検査に好適 ■多様な搬送システム ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他検査機器・装置

当社で取り扱う、高密度基板対応2D/3D検査装置『RSH Series』を ご紹介いたします。 バンプ径/ピッチ微細化に対応。お客様の用途に合わせ多彩な ラインアップをご用意しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■超高速・高精度検査 ■2D/3D同時測定システム ■バンプ径/ピッチ微細化対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他検査機器・装置

当社で取り扱う、ガラス基板対応3D計測装置『NSAT Series』を ご紹介いたします。 深さ5μm、Line Space 2/2に対応。Trace、Anchor、Overlay、 Filmなど様々な測定機能がございます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■深さ5μm、Line Space 2/2対応 ■透過測定法によるSR•ABFの厚さ測定 ■ガラスコア対応可能な技術力と信頼 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 基板検査装置

当社で取り扱う、『NS Probe』をご紹介いたします。 プリント基板＆半導体パッケージ基板検査システム用の製品。 MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現しました。 Probe Typeは「Flat」と「Point」の2タイプをご用意しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■Flat-Type ・寸法精度の向上 ■Point-Type ・材料選定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• プローブ

当社で取り扱う、「高精度検査用治具」をご紹介いたします。 プリント基板＆半導体パッケージ検査システム用の製品。 ファインな導体＆電極パッドに対応しております。 また、直径7um・10umプローブを開発中です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■ワンタッチ治具 ■直径7um・10umプローブ開発中 ■微小抵抗を測定する4端子治具 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 検査治具

当社で取り扱う、導通/絶縁検査テスタ『RZ-1207』をご紹介いたします。 豊富なオプション群から必要な機能の追加ができる先進機能を盛り込んだ フラットケーブル対応のテスタ。ベアボード、フレキ等の回路パターン検査、 ハーネスの検査に好適です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■高速•高精度 ■スキャナカード ■検査ポイント最大16kピン ■4W検査 ■μOPEN検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• テスタ

『R-700シリーズ』は、高速・高精度でコンパクト設計のAC/DC MULTI TESTERです。 薄膜RFフィルタ/車載DCモジュール/加速度センサ/MEMSデバイスなど 様々な製品を検査可能。 「R-730 Standard」をはじめ「R-780 High Insulation」や「R-770 AC Dynamic」などをラインアップしております。 【特長】 ■超高絶縁 ■高速・高精度 ■コンパクト設計 ■最大検査ポイント 512ピン ■微小容量検査高分解能 ■4W低抵抗測定 0.1mΩ～ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• テスタ

『R-5940』は、IC Embedded基板に特化したスーパーテスタです。 高速な導通・短絡測定、μΩ精度と高速検査の4端子測定、all-CH LCR測定 に加え、高精度のIC検査で多様化するニーズにお応えします。 最大16個のSMUを電源並びに電子負荷としてDUTに接続することでパワー ON/OFFのシーケンスを実現しており、SMUを自由に組合せたDUT測定が可能です。 【特長】 ■高速検査 ■高精度 ■IC Embeddedに特化 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• テスタ

当社で取り扱う、高速S＆R式電気検査装置『STAR REC M6V SW』を ご紹介いたします。 省スペース化対応L/UL一体型で、M6シリーズ史上最高クラスの 高速/高精度化を実現。 LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■省スペース化対応L/UL一体型 ■高速/高精度対応モデル ■AGVシステム対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他検査機器・装置

『STAR REC V5III』は、V3/V5シリーズとの治具互換や先進テスタ搭載を 実現したプリント基板向け導通・絶縁検査装置です。 検査精度と速度も改善し、微細化するプリント基板の検査にも対応。 また、オプションにて基板に刻印された2Dコードの読取致りを実施、 検査結果と2Dコード情報の紐付けを行い規定のフォーマットにて、 外部PCにデータ出力実施いたします。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■検査ソリューションの提供 ■2Dトレーサビリティ対応(オプション) ■スマートファクトリー対応(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 基板検査装置

当社で取り扱う、大型HDI基板向け導通絶縁検査装置『GATS-8350』を ご紹介いたします。 多面付け基板のStep＆Repeat検査と大判基板の一括検査の両方に対応。 また、LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■大型HDI向け高精度検査装置 ■上下最大ポイント数64K対応 ■多面付け基板のStep＆Repeat検査と大判基板の一括検査の両方に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他検査機器・装置

当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7862』をご紹介いたします。 総合アライメント精度は±2.5μmで、ハーフ/クオーターパネル向けの 検査装置。チップレットなどの大型・多ピン基板に対応しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■多様なオートメーション要求に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 半導体検査/試験装置

当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7836』をご紹介いたします。 LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能。チップレットなどの 大型・多ピン基板や多様なオートメーション要求に対応しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■大型個片/クォーターパネル高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■多様なオートメーション要求に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 半導体検査/試験装置

当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7760』をご紹介いたします。 チップレットなどの大型・多ピン基板に対応。 個片仕様/シート仕様の2モデルをラインアップしております。 また、LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■個片仕様/シート仕様の2モデルラインアップ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 半導体検査/試験装置

当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NSAT Series』 をご紹介いたします。 「NATS-1000」は、絶縁/静特性/動特性 自動検査装置。 自動ライン拡張可能で、IEC60747準拠測定。 「NATS-1630/1730」は、動特性手動検査装置で、外部PCやcloud等の 上位データ管理システムとの連携が可能となっております。 【NATS-1000 特長】 ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ■低LS 4.5nH ■自動ライン拡張可能 ■IEC60747準拠測定 ■AOI/そり検査/レーザーマーキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他検査機器・装置

当社で取り扱う、『NSAT Series』をご紹介します。 深さ5μm、Line Space 2/2対応。 透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定が可能です。 先進基板対応、高速・高精度3次元計測装置です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■深さ5μm、Line Space 2/2対応 ■透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定 ■ガラスコア対応可能な技術力と信頼 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

『MEMSプローブ』は、マイクロプロセッサや、アプリケーションプロ セッサ等の、半導体ウエハ検査に最適なMEMSプローブです。 本製品は、独自構造により低抵抗・低インダクタンスを実現します。 また、当社では高精度で安定した品質のプローブを製造し、微細なMEMS スプリングプローブの加工から検査まで行っていますので、 お気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■独自構造 ■半導体ウエハ検査に最適 ■超ファインピッチに対応 ■低抵抗・低インダクタンスを実現 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ばね