大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置！
HiPP-Labは、大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置をさします。 差動排気システムを用いて大気圧に近いレベルでの測定環境下で試料の測定が可能となり 今まで測定出来なかった環境制御下における次世代のXPS装置です。 【用途】 環境制御下での試料のXPS観察・測定 ―‐‐以下英文による紹介です。 The HiPP-Lab brings together the world leading instrumentation for APPES: ●Outstanding performance APPES system with unchallenged energy, spatial and angular resolution ●Intelligent integration and automation ●State of the art HiPP-3 analyser: - Line mode imaging mode - Angular mode - Swift acceleration mode for increased intensity
![media_hipp_lab_2017_05_23_AVEC_Sans_UV[3399]_20170524-180207_omicronmedia_image_paddedthumbnailscheme_ffffff_173x223.jpg](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/5a5/2000359175/IPROS1062172344014190837.jpg?w=448&h=448)
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基本情報
●Exchangeable chamber concept ●High flux monochromated lab X-ray source ●Tailored UHV system for high performance APPES ●Flexible system design for future upgrades and extensions ※詳細はお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
環境制御下での試料のXPS観察・測定 ※詳細はお問い合わせしてください。
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企業情報
2015年5月28日に、VG Scienta社とOmicron NanoTechnology社が合併し、新たにScienta Omicron社としてスタートすることとなりました。シエンタ オミクロン株式会社は、日本の研究開発分野で本格的な貢献をする目的で、日本総代理店として設立いたしました。 VG Scienta社は、光電子分光の黎明期からその重要性に着目し、世界のトップブランドとして、多くの関連装置を開発し、市場に導入してきました。 Omicron NanoTechnology社は、超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡（STM）、原子間力顕微鏡（AFM）、X線光電子分光分析装置（XPS）など、卓越した製品群を通じて最先端技術を市場に提供し続けてきました。 今後は、最先端の評価技術関連装置を提供することばかりでなく、充実したサービス、テクニカルサポートを提供することで、日本の科学と産業の発展に貢献することを使命としています。 私たちの評価技術にどうぞご期待ください。