信頼性試験から観察、3次元測長まで支援！輸送リスクを排除したウィスカ評価の実施が可能
鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する 金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを 観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。 信頼性試験グループと組むことで、迅速かつ輸送リスクを排除した ウィスカ評価の実施が可能です。 【特長】 ■信頼性試験から観察、3次元測長まで支援 ■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを観察 ■迅速かつ輸送リスクを排除したウィスカ評価の実施が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【サービスの流れ】 ■信頼性試験（輸送リスクの排除） ■発生頻度観察（見逃しがないようダブルチェック） ■写真撮影 ■3次元測長 ■ご報告 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。