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最終更新日:2021年03月08日

パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能  およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を  ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【主な機能】 ■形状測定(ノンコンタクト/コンタクト/タッピング) ■電気特性(C-AFM/KPFM/EFMなど) ■機械特性(PinPoint/LFM/FMMなど) ■誘導特性/圧電特性(PFMなど) ■磁気特性(MFM) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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当社は、革新的技術と自動化ソフトウェアで非常に正確で使いやすい 原子間力顕微鏡(AFM)を開発、生産、販売するナノ計測機器専門企業です。 30カ国以上の世界的な販売網を開拓し、世界各地の様々な分野で 当社の原子間力顕微鏡が使用されています。 世界的水準の技術力を保有している急成長AFM企業として、核心技術の開発、 および優秀な製品開発に精進し、ナノテクノロジーの発展に先導してまいります。

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