In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス
In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能 決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。 In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が可能 回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。 リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。 ●試料へのストレス印加状態の監視が可能 ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。
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基本情報
In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能 決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。 In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が可能 回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。 リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。 ●試料へのストレス印加状態の監視が可能 ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。
価格情報
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納期
用途／実績例
■In-Situ HAST試験/In-Situ THB試験（（高加速）高温高湿バイアス試験） 特徴・・・高温高湿バイアス試験中、絶縁抵抗値の常時測定が可能 摘要製品・・・プリント配線板、半導体パッケージなど 評価対象・・・イオンマイグレーションなど ■In-Situ TC試験（温度サイクル試験） 特徴・・・温度サイクル試験中、微小抵抗値/温度の常時測定が可能 摘要製品・・・半導体パッケージ、実装基板 評価対象・・・はんだ接合部など ■In-Situ EM試験（高温電流印加試験） 特徴・・・高温試験中、電流印加/抵抗測定/抵抗体による温度測定が可能 摘要製品・・・半導体パッケージ、ICチップ 評価対象・・・はんだ接合部、配線部など
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アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。