測定・分析の製品一覧
- 分類：測定・分析
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
各種ブレーカの性能評価や出荷試験用の自動試験装置・システムです。 当社製品だけでなく他社製品を使用した試験システムも構築します。
- 試験機器・装置
CargoTemp Roller：ばら積み貨物輸送の安全へ
CargoTemp Roller：ばら積み貨物輸送の安全へ 石炭、穀物、DRIなどのばら積み貨物は、海上輸送で自己発熱やガス放出のリスクを伴います。 IMSBCコードやSOLASは厳格な温度監視を義務付け、船員の安全と貨物品質の確保が不可欠です。 SIKA社のCargoTemp Rollerは、これを解決する携帯型温度監視ソリューションです。 貨物ごとのリスク： 石炭：自己発熱やガス放出 穀物：発酵やカビ。 DRI：高温（最大650°C） 特長： 高精度Pt1000センサー。 35m FEPケーブルと海洋グレード設計。 LCDディスプレイと電池駆動。 自動セルフテストでメンテナンスフリー。 メリット： IMSBC、SOLAS、RightShip、PSCに準拠。 船員の安全向上と文書作成の簡素化 世界中で信頼される実績。 CargoTemp Rollerは、安全な輸送を保証します。 この記事はSIKA社のwebサイトの記事の要約になります。
【アールエスコンポーネンツ】計測器、工具、受動部品など豊富な産業用製品のご購入は今がチャンス！※セール対象品カタログを無料進呈中
- オシロスコープ
【アールエスコンポーネンツ】計測器、工具、受動部品など豊富な産業用製品のご購入は今がチャンス！※セール対象品カタログを無料進呈中
- オシロスコープ
【 フクダがご提供するリークテスター・リークテスト関連製品 】カタログを是非ご覧ください！
- リーク試験装置
- その他計測・記録・測定器
- その他検査機器・装置
株式会社フクダがご提案するリークテスト・漏れ試験・漏れ検査・漏れ検出・包装完全性試験
株式会社フクダは漏れ検出を追求して60年、漏れ検査（リークテスト）の未来型を追求します。 【 各種漏れ試験に対応：エアリークテスト / ガスリークテスト（水素ガス ・ ヘリウムガス） 】 気密性・密封性を検査するための漏れ試験機器を開発・製造・販売しています 検査対象ごとに適切なテスター・装置をご提案いたします 【 対象業界と検査対象例 】 ・自動車業界：エンジン、FC部品、バルブ・配管、各種部品 ・電子部品業界：スマートフォン、キーレススイッチ、各種小型センサ ・医薬品 / 食品 / 化粧品業界：ボトル容器、シリンジ、バイアル、点眼剤容器、ピロー包装、PTP包装 業界別に最適なリークテスターをご提案いたします 【 ISO認証 】JIS Q 9001:2015（ISO 9001:2015）
ＰＦＡＳリスクを完全払拭します！ ■■ 電子部品用グロスリークテスト装置 MSA-0101 ■■ リークテストに用いる媒体が空気（エアー）だから、フロリナート（フッ素系不活性液）を使用する必要がありません。PFASフリーです！
3M社のフロリナート生産中止に伴い、代替液の確保にお困りではないですか？ もしよろしければ、『液を買い続ける』のではなく『液を不要にする』ことで、 検査コストを大幅に削減させるリークテストをご提案をいたします。 ● 本製品は、フロリナート（フッ素系不活性液）を使用しない、PFASフリーの電子部品用の気密検査（リークテスト）装置です。 ● リークテストに用いる媒体が空気（エアー）の為、ランニングコストがかかりません。 ● 液没検査（水没検査）による不安定な目視確認はもう必要ありません。定量検査が可能で安定的な圧力漏れ試験法を採用しています。代替検査としておすすめです。 ● グロスリーク専用の卓上気密検査装置で、液没検査と同等以上の精度です。 ● 可検領域は 1×10⁻²Pa・m³/s ～ 1×10⁻⁶Pa・m³/s 程度（対象製品により異なります） ● 数ミリ角から、最大 80 × 70 mm までの密封構造製品が対象です。 この機会に是非お問い合わせください！
ＰＦＡＳリスクを完全払拭します！ ■■ 電子部品用グロスリークテスト装置 MSA-0101 ■■ リークテストに用いる媒体が空気（エアー）だから、フロリナート（フッ素系不活性液）を使用する必要がありません。PFASフリーです！
3M社のフロリナート生産中止に伴い、代替液の確保にお困りではないですか？ もしよろしければ、『液を買い続ける』のではなく『液を不要にする』ことで、 検査コストを大幅に削減させるリークテストをご提案をいたします。 ● 本製品は、フロリナート（フッ素系不活性液）を使用しない、PFASフリーの電子部品用の気密検査（リークテスト）装置です。 ● リークテストに用いる媒体が空気（エアー）の為、ランニングコストがかかりません。 ● 液没検査（水没検査）による不安定な目視確認はもう必要ありません。定量検査が可能で安定的な圧力漏れ試験法を採用しています。代替検査としておすすめです。 ● グロスリーク専用の卓上気密検査装置で、液没検査と同等以上の精度です。 ● 可検領域は 1×10⁻²Pa・m³/s ～ 1×10⁻⁶Pa・m³/s 程度（対象製品により異なります） ● 数ミリ角から、最大 80 × 70 mm までの密封構造製品が対象です。 この機会に是非お問い合わせください！
火災検知器｜「XTRALIS VIS-IR フェイルセーフバイスペクトル サーモグラフィ検知器」を発売しました。
厳しい環境での火災検知 混乱が生じる前に火災を止める 従来の煙火災検知器では、通常の作動条件に高煙・粉塵条件を含む環境に対応することは、非常に困難です。廃棄物管理施設や食品・飲料加工工場など厳しい環境条件では、火災の危険を特定しにくい場合があります。また、このような条件下では、誤警報が頻繁に生じる場合があり、これが障害につながり、事業における生産性の損失が発生する恐れがあります。XtralisのVIS-IRサーモグラフィ検知器は、このようなときに役立ちます。 火災の検知タイミングが早いほど、生命、財産、事業に対する危険を低減するための行動をとれる可能性が高くなります。 Xtralis VIS-IRには、早期検知の最適化、誤警報の低減、信頼性の向上、および最大限の保護を提供できる動作環境の範囲拡大を目的とした、幅広い高度な機能が組み込まれています。 ■早期火災検知 ■確実な動作 ■リアルタイムモニタリング ■厳しい環境にも対応
【2018年12月12日(水)～14日(金)】SEMICON Japan 2018 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2018年12月12日(水)～14日(金)に東京ビッグサイトで開催される SEMICON Japan 2018に出展いたします。 当展示会は、半導体の前工程～後工程までの全工程から 自動車やIoT機器などのSMARTアプリケーションまでをカバーする エレクトロニクス製造サプライチェーンの国際展示会です。 弊社は、多様な検査を簡単な設定で実現可能なコンパクト検査機や 200万画素カラーカメラを採用した検査装置などのご紹介をします。 ＜出展製品＞ ■自由角度外観検査機 ■上型簡易検査機 ■ウエハ・チップ外観検査装置 等 ＜小問番号＞ ■東2 ＃2332 皆様のご来場を心よりお待ちしております。
食物アレルゲン表示制度や消費者庁通知法の概要をわかりやすくまとめた一冊！基礎知識を習得したい方向けの≪入門編≫
- 受託検査
『Particle-PLUSを用いた』磁気ミラー効果のシミュレーション事例！
- その他解析
- 磁場解析/電磁波解析
- 受託解析
使いやすいWin標準インターフェイスを採用！全ての計算は16桁浮動小数点演算で実行
- 基板検査装置
- 薄膜蒸発装置
- 基板設計・製造
ネットワーク監視可能、ラインインタラクティブ方式の3年無償保証ＵＰＳ
- 電源装置
- 電源
- UPS・無停電電源装置
【表面の異物・汚れ・傷を可視化！】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
- 欠陥検査装置
『第25回 nano tech 2026 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.1.28.(水)-1.30.(金)/東京ビッグサイト 西ホール会議棟 西1ホール 1階 1W-Z34)
"製造現場での微粒子による不良率悪化やクリーン化に関する課題を解決します 新日本空調の微粒子可視化システムは、ViESTブランドとして独自に開発した超高感度カメラと光源を組み合わせ、クリーンルームや装置内の微小粒子を可視化することができ、その挙動をリアルタイムに映像化しながら、粒子情報の定量化も行うことができる世界最高水準の可視化システムです。現在、国内外において、システムやツールの販売、それらを利用した受託技術サービスを展開中です。特に、半導体業界をはじめ、クリーンルームにおける実績が豊富です。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・製造ライン中の微細粒子や気流の可視化調査と環境改善 ・製造装置内や製造環境のクリーン化推進 ・各種設備性能のクリーン度評価 ・コンタミ問題に起因する歩留まりや品質低下の改善 ・微粒子や気流の可視化を要する研究開発の支援 ・製品からの粒子発生量評価"
微細異物の混入や付着に悩まされていませんか？実績豊富な微粒子・気流可視化システムで不良率の改善に貢献します。是非ご相談ください！
- その他環境分析機器
- 熱流体解析
- 熱流体解析 受託
『第25回 nano tech 2026 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.1.28.(水)-1.30.(金)/東京ビッグサイト 西ホール会議棟 西1ホール 1階 1W-Z34)
"製造現場での微粒子による不良率悪化やクリーン化に関する課題を解決します 新日本空調の微粒子可視化システムは、ViESTブランドとして独自に開発した超高感度カメラと光源を組み合わせ、クリーンルームや装置内の微小粒子を可視化することができ、その挙動をリアルタイムに映像化しながら、粒子情報の定量化も行うことができる世界最高水準の可視化システムです。現在、国内外において、システムやツールの販売、それらを利用した受託技術サービスを展開中です。特に、半導体業界をはじめ、クリーンルームにおける実績が豊富です。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・製造ライン中の微細粒子や気流の可視化調査と環境改善 ・製造装置内や製造環境のクリーン化推進 ・各種設備性能のクリーン度評価 ・コンタミ問題に起因する歩留まりや品質低下の改善 ・微粒子や気流の可視化を要する研究開発の支援 ・製品からの粒子発生量評価"
ペレット・パウダ異物検査装置 ※クリーンルーム対応で工場設置可能、9µmの検出が可能に！
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
【2019年1月16日～18日】第36回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2019年1月16日～18日に東京ビッグサイトで開催される 「インターネプコンジャパン」併催「エレクトロテストジャパン」に出展いたします。 【展示会概要】 エレクトロテストジャパンとは、外観・Ｘ線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、 各種分析装置などさまざまな検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展。 国内外の電子機器、半導体・電子部品、自動車・電装品メーカーとの商談の場として定着しています。 皆様のご来場をお待ちしております。 ※関連資料より、詳細を記載したPDFをダウンロードいただけます。
パレットサイズの測定可能な、フォークリフト搭載型パレットスケール＆パレットメジャー（寸法）定システム「パレットメジャーくん」
- 重量関連測定器
- 距離関連測定器
【2019年1月16日～18日】第36回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2019年1月16日～18日に東京ビッグサイトで開催される 「インターネプコンジャパン」併催「エレクトロテストジャパン」に出展いたします。 【展示会概要】 エレクトロテストジャパンとは、外観・Ｘ線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、 各種分析装置などさまざまな検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展。 国内外の電子機器、半導体・電子部品、自動車・電装品メーカーとの商談の場として定着しています。 皆様のご来場をお待ちしております。 ※関連資料より、詳細を記載したPDFをダウンロードいただけます。
高速部品移載機
本装置は、 ・小型の電子部品や高機能モジュール等を供給部から受取り、トレイなどに 整列収納後取り出す、高速移載機です。 ・16本のノズルをロータリー状に配置した高速、高精度移載ユニットにより 高品質な部品移載と高い生産性を実現します。
16本のノズルをロータリー状に配置した、高速・高精度移載ユニットにより、バラ状態の部品の高精度移載と高い生産性を実現！
- その他検査機器・装置
2023年1月25日～27日東京ビッグサイトで開催されます「インターネプコンジャパン」併設「エレクトロテストジャパン」に出展致します。
当社主力のウエハチップ外観検査装置をはじめ、オリジナル技術を駆使した、クラック検査装置や3D検査装置を出展致します。 【第37回 エレクトロテスト ジャパン】 https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/about/et.html 日時：2023年 1月 25日（水） ～ 27日（金）10:00～17:00 会場：東京ビックサイト 東2ホール ブース：16-48 ■出展装置（予定） ・ウエハチップ外観検査装置 ・クラック検査 ・3D検査 ・その他多数の装置を動画にてご覧いただけます
【メルマガ配信しました】画像分解能が選択可能！ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)/株式会社ヒューブレイン
多種多様な機能搭載！320万画素の3CMOSカラーエリアカメラで検査を実施。 『ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)』は、ウエハダイシング後の チップを外観検査する装置です。 検査精度に合わせた画像分解能が選択可能。(約0.8μm～2.0μm/pixel) また、オプションで、表裏同時検査・NGチップリジェクト機能・ NGチップマーキング機能・全数の排除ミス・マーキングミスチェック機能・ ID読込み及びマッピングデータ出力機能がございます。 【特長】 ■多機能画像検査ソフトHu-Dra ■外観検査とNGリジェクトを平行して行う2ステージ仕様も選択可能 ■処理能力 ・外観検査時間：分解能1.5μm時 約2分(2inch：チップサイズ約1mm) ・排除時間：3～6チップ/秒(チップサイズ、シートの種類により変動) ・マーキング時間：インカーの場合3～4チップ/秒
