測定・分析の製品一覧

  • 分類:測定・分析

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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室温から-13°Cの強冷風!ご使用環境によりコンボタイプかセパレートタイプを選択可能!

  • 冷却装置

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2024/4/10(水)~2024/4/12(金)名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内

三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド(名古屋)に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時:2024/4/10~2024/4/12    開場:AM10:00~ 場所:名古屋ポートメッセ(第1展示会場) ※弊社ブース:19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。

ブッシュ材の内面焼結材の剥離欠陥を、超音波探傷で自動検出!

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  • 探傷試験
  • 欠陥検査装置
  • その他検査機器・装置

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アルミとチタン平板の溶接部を検査する自動超音波探傷装置!

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  • 探傷試験
  • その他検査機器・装置
  • 欠陥検査装置

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アルミとチタン平板の溶接部を検査する自動超音波探傷装置!

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5チャンネルの探傷プローブが均等に走査することで、対象全面を精緻かつスピーディに検査

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  • 探傷試験
  • 欠陥検査装置
  • その他検査機器・装置

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真空蒸着機の中でオンライン非接触で蒸着膜(アルミ、銅、2酸化ケイ素SiO2)の抵抗値(厚さ)を測定します。

  • その他電気計器

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センサ出力値を時系列で表示・保存可能!試しにMSSを使ってみたいという方向けの製品

  • その他計測・記録・測定器

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nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価!化粧品の品質管理に貢献

  • 光学顕微鏡

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JASIS2026へ出展します

2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。フィルム表面を可視化・定量化。

  • 光学顕微鏡

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細胞培養における異物や欠陥を可視化し、培養環境を最適化

  • 光学顕微鏡

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nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価し、エネルギー材料の品質向上に貢献。

  • 光学顕微鏡

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ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定

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  • 光散乱光度計
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ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてCMPスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の評価

  • CMPスラリーの界面活性剤添加のゼータ電位・粒子径.jpg
  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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ゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

  • スラリーとウェーハのpHによるゼータ電位変化.jpg
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ゼータ電位測定でCMPスラリーの分散・安定性を評価

  • 各NaCl濃度におけるSIO2のゼータ電位.jpg
  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価

  • 各砥粒のpHタイトレーション結果.jpg
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研磨パッドの表面ゼータ電位測定

  • 各pHにおける研磨パッドの表面ゼータ電位測定結果.jpg
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20260724_平板状フィルム状サンプルのゼータ電位測定アプリケーションのご紹介.png

7/24,28開催 Webセミナー 平板状・フィルム状サンプルのゼータ電位測定・アプリケーションのご紹介

大塚電子のゼータ電位測定システム"ELSZシリーズ"では、溶液中のコロイド粒子のゼータ電位だけでなく、 平板状やフィルム状サンプルのゼータ電位も測定することが可能です。 この測定により、平板サンプルの表面改質状態や、液中粒子との吸着特性なども評価することが可能です。 本セミナーでは、そのアプリケーションについてご紹介します。 ※2025年9月放映のセミナーを講師の変更と一部内容を更新して配信いたします。

粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価

  • 各種リポソームの粒子径分布.jpg
  • 分析機器・装置
  • その他検査機器・装置

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

  • リポソームの粒子径分布.jpg
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  • 分析機器・装置

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価

  • 生理食塩水に分散させたリポソームのpHタイトレーション測定.jpg
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コロイド分散系における無機粒子のpHタイトレーションによる等電点の評価

  • 無機粒子のpH変化による等電点の評価.jpg
  • 分析機器・装置

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光干渉法を用いた顕微分光膜厚計(OPTM)の測定原理

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傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

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  • 分析機器・装置

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反射分光法と他の測定手法の比較

  • 測定方法の比較.jpg
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屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

  • 屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析.jpg
  • 分析機器・装置

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反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

  • SiO2 SiNの膜厚測定.jpg
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複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

  • 複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定.jpg
  • 分析機器・装置

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薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

  • 膜厚値違いによる反射率の変化.jpg
  • 分析機器・装置

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お客様のご要望に応じて、カスタマイズ設計・製作可能!

  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

  • 反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定.jpg
  • 分析機器・装置

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傾斜モデルを用いたITOの構造解析

  • 傾斜モデルを用いたITOの構造解析-1.jpg
  • 傾斜モデルを用いたITOの構造解析-2.jpg
  • 膜厚計
  • その他検査機器・装置
  • 光学測定器

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nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能!フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

  • 光学顕微鏡

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広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

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  • 分光分析装置

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ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!

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  • 膜厚計

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光源や照明器具の配光特性を測定する装置です 

  • 分析機器・装置

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2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_多点測定.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
  • ロードポート対応膜厚測定システム3.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

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  • 分光分析装置

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

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  • 分光分析装置

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2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

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