電子計測器の製品一覧

  • 分類:電子計測器

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

  • センサ

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

  • その他半導体
  • 加工受託
  • ウエハー

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電力品質分析を加速する、高速・高確度オシロスコープ

  • スクリーンショット 2025-10-16 090354.png
  • スクリーンショット 2025-10-16 090432.png
  • スクリーンショット 2025-10-16 090630.png
  • オシロスコープ
  • ロジックアナライザ
  • 時間・周波数測定

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高速波形取込みと高確度測定で、通信システムの帯域幅評価を加速。

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  • オシロスコープ
  • ロジックアナライザ
  • 時間・周波数測定

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オシロスコープ用 次世代の画期的なプローブソリューション

  • スクリーンショット 2026-03-31 095430.png
  • スクリーンショット 2026-03-31 095443.png
  • スクリーンショット 2026-03-31 095455.png
  • その他半導体
  • 半導体・IC
  • オシロスコープ

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5 kHzから最大26.5 GHzをカバーする、ポータブルで軽量な設計が特徴のベクトル・ネットワーク・アナライザ

  • スクリーンショット 2026-04-07 110241.png
  • スクリーンショット 2026-04-07 110302.png
  • スクリーンショット 2026-04-07 102055.png
  • その他電子計測器
  • 通信関連
  • 無線LAN

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使い方に応じて進化するシステム!8本のホローカソードランプで多元素分析にも余裕で対応

  • AA-7800シリーズ (2).png
  • AA-7800シリーズ (3).png
  • AA-7800シリーズ (4).png
  • AA-7800シリーズ (5).png
  • AA-7800シリーズ (6).png
  • 原子吸光分析装置
  • 光学測定器
  • 水質検査

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ラボ用オシロスコープの高性能と、現場での使用に耐えうる堅牢性を兼ね備えたハンドヘルド・デジタル・オシロスコープです

  • スクリーンショット 2026-03-25 082953.png
  • スクリーンショット 2026-03-25 083007.png
  • スクリーンショット 2026-03-25 083023.png
  • スクリーンショット 2026-03-25 083037.png
  • オシロスコープ
  • プリント基板
  • 電流計

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最高峰の自由度と拡張性。ダブルモノクロメータ搭載マルチマイクロプレートリーダ SH-9500N Premium Grade

  • 光学測定器

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生産設備と工場共通回路の計測データを用途別に整理。重要な回路から始め、計測点の増加に合わせて管理範囲を広げられます。

  • 電力監視機器
  • その他 省エネ
  • 電流計

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ターボ機械/回転体の軸振動・位相計測解析装置です。動つり合いの把握に 機械全体の状態把握に またフィールドバランスに 活躍中

  • その他解析
  • その他計測・記録・測定器
  • その他電子計測器

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紫外域でも高精度な測定を実現!

  • 紫外放射照度測定システム2.png
  • その他電子計測器
  • その他計測・記録・測定器
  • 光源・照明

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価

  • 高速LED光学特性モニター2.png
  • LED照明
  • 光源・照明
  • 光学測定器

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

傾斜モデルを用いたITOの構造解析

  • 傾斜モデルを用いたITOの構造解析-1.jpg
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  • 膜厚計
  • その他検査機器・装置
  • 光学測定器

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

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