検査機器・装置の製品一覧
- 分類：検査機器・装置
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【ワイヤーハーネス・コネクタの検査工数を削減】50社以上で導入!1度だけで導通検査・端子抜け検査が行えるワイヤーハーネス治具
- その他の自動車部品
非破壊評価総合展出展報告
7月22日～24日に東京ビッグサイトで開催された非破壊評価総合展に出展致しました（東2ホール2D-07ブース）。 多くのお客様にお越しいただき、議論を深めるとともに今後の製品品質管理についてご協力させていただく機会を頂戴することができました。 引き続き、皆様のお力になれるよう微力ながら精進してまいりますので、今後とも何とぞよろしくお願い申し上げます。 http://www.rohmann.co.jp/?p=1116
Admesy社製輝度・照度・フリッカー測定器Asteriaの製品情報を公開しました
Asteriaは、輝度・照度・フリッカーを高速に測定します。Admesy社は、以前から提供している超小型の色彩輝度計MSEをベースとして、よりシンプルで実用性に優れた高速測定が可能な装置として、Asteriaを新たに開発しました。Asteriaの測定速度・安定性・デザインは、インライン測定に最適です。
わずかなデバイスの位置ずれを防ぎ、高倍率顕微鏡を使った時でも操作性が向上
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
- プローブ
【2015年1月20日】岩通計測が広帯域・高電圧差動プローブ『BumbleBee』を販売開始
当社は、ドイツPMK社製の広帯域・高電圧差動プローブ『BumbleBee』を発売致します。 発売開始は2015年1月20日から、出荷開始は同年3月中旬を予定しています。 価格は480,000円（税別）です。 当社では2004年からPMK社製の高電圧プローブを販売を開始しておりますが、 その中でも『BumbleBee』は、PMK社が最新の技術を投入して開発した製品で、 クラス最高の帯域と同相信号除去比を実現しています。 近年、パワー半導体は、SiC（炭化ケイ素）やGaN（窒化ガリウム）などを使用した デバイスの登場により、高周波・高耐圧化が進み、従来の差動プローブでは 測定が困難という状況が多くなってきました。 本装置は、それらの問題を高いレベルでクリアし、 400MHz帯域、最大2000Vの差動入力を実現して多くのユーザニーズに応えます。
製造ラインの全数検査に最適！わずかな消費電流まで測定する高精度検査機！
- 基板検査装置
- その他検査機器・装置
- 試験機器・装置
マイクロスコープと光ファイバ端面分析ソフトウェアです。
- その他検査機器・装置
- 分析機器・装置
- マイクロスコープ
製造現場にベストな装置を！検査、組立、加工、搬送など幅広い装置を開発します。
- その他半導体製造装置
- その他検査機器・装置
- レーザーマーカー
【2015年1月14日】岩通計測がアイソレーション・プローブ 『SE-6000／SE-6010』を販売開始
当社は、アイソレーション・プローブ『SE-6000／SE-6010』を発売致します。 発売開始は2015年1月14日から、出荷開始は同年3月中旬を予定しています。 価格はアイソレーション・アンプSE-6000が480,000円（税別）、 アイソレーション・ユニットSE-6010が980,000円（税別）です。 本装置は、受信側のアンプ（SE-6000）と送信側のユニット（SE-6010）で構成され、 光ファイバ絶縁により超高電圧や強電磁界など危険を伴う場所での電圧測定が可能。 最大200mの遠隔測定にも対応でき、 電車のインバータ測定や風力発電機の雷サージ測定などにも威力を発揮します。 また、周波数帯域を30MHz、常温で連続測定時間30時間、ケーブル長最大200mと 大幅にレベルアップして時代のニーズに対応しました。
非破壊評価総合展出展報告
7月22日～24日に東京ビッグサイトで開催された非破壊評価総合展に出展致しました（東2ホール2D-07ブース）。 多くのお客様にお越しいただき、議論を深めるとともに今後の製品品質管理についてご協力させていただく機会を頂戴することができました。 引き続き、皆様のお力になれるよう微力ながら精進してまいりますので、今後とも何とぞよろしくお願い申し上げます。 http://www.rohmann.co.jp/?p=1116
非破壊評価総合展出展報告
7月22日～24日に東京ビッグサイトで開催された非破壊評価総合展に出展致しました（東2ホール2D-07ブース）。 多くのお客様にお越しいただき、議論を深めるとともに今後の製品品質管理についてご協力させていただく機会を頂戴することができました。 引き続き、皆様のお力になれるよう微力ながら精進してまいりますので、今後とも何とぞよろしくお願い申し上げます。 http://www.rohmann.co.jp/?p=1116
非破壊評価総合展出展報告
7月22日～24日に東京ビッグサイトで開催された非破壊評価総合展に出展致しました（東2ホール2D-07ブース）。 多くのお客様にお越しいただき、議論を深めるとともに今後の製品品質管理についてご協力させていただく機会を頂戴することができました。 引き続き、皆様のお力になれるよう微力ながら精進してまいりますので、今後とも何とぞよろしくお願い申し上げます。 http://www.rohmann.co.jp/?p=1116
非破壊評価総合展出展報告
7月22日～24日に東京ビッグサイトで開催された非破壊評価総合展に出展致しました（東2ホール2D-07ブース）。 多くのお客様にお越しいただき、議論を深めるとともに今後の製品品質管理についてご協力させていただく機会を頂戴することができました。 引き続き、皆様のお力になれるよう微力ながら精進してまいりますので、今後とも何とぞよろしくお願い申し上げます。 http://www.rohmann.co.jp/?p=1116
非破壊評価総合展出展報告
7月22日～24日に東京ビッグサイトで開催された非破壊評価総合展に出展致しました（東2ホール2D-07ブース）。 多くのお客様にお越しいただき、議論を深めるとともに今後の製品品質管理についてご協力させていただく機会を頂戴することができました。 引き続き、皆様のお力になれるよう微力ながら精進してまいりますので、今後とも何とぞよろしくお願い申し上げます。 http://www.rohmann.co.jp/?p=1116
