半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類：半導体検査/試験装置

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【導入事例5選を収録！】バランサー　総合カタログ無料プレゼント

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株式会社パラマティック 株式会社パラマティック

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！

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安全柵　『SATECH』 【低コスト＆スピード施工！】

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SATECH株式会社 SATECH株式会社

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案！デモキット無料貸出。

  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - FastGuard_Ipros_2023_JP_2.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • その他安全・衛生用品

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TD Imaging | 半導体故障解析装置（発熱計測）

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東機通商株式会社 東機通商株式会社

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熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。

  • TD imaging sub2.png
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  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置

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3次元ステレオ方式インラインX線検査装置ILX1000/2000

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株式会社アイビット 株式会社アイビット

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両面実装基盤の表面のみ検査が可能！3D断層検査にも対応　※詳細解説資料進呈

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置『X-CAS-2』

シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置『X-CAS-2』

株式会社アイビット 株式会社アイビット

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シリコンウェーハ内部の結晶欠陥ボイドを自動で検査！

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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X線観察装置『IX-1610』

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株式会社アイビット 株式会社アイビット

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X線焦点寸法0.25μmの高解像度を持った解析用X線観察装置

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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X線ウェーハバンプ自動検査装置『Six-3000』

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株式会社アイビット 株式会社アイビット

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ウェーハ上のはんだバンプの検査を自動で行うX線自動検査装置

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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自動プログラミングシステム

自動プログラミングシステム

株式会社カナデン 株式会社カナデン 本社

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電子機器の量産に適したデータ書込みと書込み作業の自動化、品質向上、作業履歴のトレースに最適

  • 半導体検査/試験装置

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顕微鏡式ウェハ表面欠陥検査装置

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株式会社クボタ計装 株式会社クボタ計装

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透明素材にも対応する高精度検査装置

  • 半導体検査/試験装置

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ウェハ外観検査装置（自動目視検査装置）

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株式会社クボタ計装 株式会社クボタ計装

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ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

  • 半導体検査/試験装置

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レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

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株式会社クボタ計装 株式会社クボタ計装

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レビュー用顕微鏡搭載！検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

  • 半導体検査/試験装置

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ドレンパン

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株式会社オーエムアイ 株式会社オーエムアイ

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ＳＵＳ３０４　ｔ1.0薄板使用（溶接あり）

  • 半導体検査/試験装置

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ロードポート対応膜厚測定システム『GS-300』

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大塚電子株式会社 大塚電子株式会社

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
  • ロードポート対応膜厚測定システム3.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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チャック『セミオーダーポーラスチャック』

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株式会社吉岡精工 株式会社吉岡精工

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～Webでかんたん仕様を選べる～セミオーダーポーラスチャック

  • 半導体検査/試験装置

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【今さら聞けない半導体不足の原因とは？】テクノロジーナビ

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株式会社BREXA Technology（旧社名：アウトソーシングテクノロジー） 株式会社BREXA Technology（旧社名：アウトソーシングテクノロジー）

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【半導体不足】が叫ばれている今、その原因についてまとめた資料を無料でダウンロードしていただけます。

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  • 半導体検査/試験装置

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2100万画素　CoaXPress-over-Fiberカメラ

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株式会社シーアイエス 株式会社シーアイエス

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最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場！

  • 半導体検査/試験装置

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最大2100万画素 SWIRカメラ

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株式会社シーアイエス 株式会社シーアイエス

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高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可能な画素ずらしSWIRカメラが新登場！

  • VCC-SXCXP1SW(背景あり・500).png
  • 半導体検査/試験装置
  • モノクロカメラ
  • カラーカメラ

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