半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
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ハンドルから手を離すと、自動で閉止（開放）。閉め忘れや誤作業を確実に防止。危険物を取扱う工場での安全管理にばっちりです！
- バルブ
働き方改革関連法に伴う規制の適用により、物流業界が直面している課題や解決策を掲載。荷役・輸送方法の見直しをしませんか？
- パレット
- パレット
- コンテナ
新しい発想で自動化・省力化に貢献！特殊工法により、様々な製造現場で活躍しています！
- マウンター
- 組立機械
- 半導体検査/試験装置
最大サイズ1,200mm×3,600mmまで製作可能 ガラス／樹脂どちらでも製作可能
- 半導体検査/試験装置
- その他理化学機器
- その他
高い洗浄性！内部構造が非常にシンプルで流体の滞留部がない！金属溶出がない！
- 半導体検査/試験装置
実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減＆歩留まり向上！モジュール組立ての受入れ検査、スクリーニングに最適！
- 半導体検査/試験装置
ESI効率向上のため外周のテーパー面に撥水性を付与することも可能です！
- 分析機器・装置
- その他機械要素
- 半導体検査/試験装置
独自の製造技術で内径一定のテーパードキャピラリーを作成します
- 分析機器・装置
- その他機械要素
- 半導体検査/試験装置
アフターサービス基幹業務パッケージ「ServAir」で、修理・保守点検業務の効率化や顧客満足度向上を実現してみませんか？
- 半導体検査/試験装置
ServAir Cloud V4.3「BIオプション」をリリースしました
このたび、アフターサービス基幹業務パッケージServAir Cloud V4.3を発売しましたので、お知らせいたします。 V4.3では、BI(ビジネスインテリジェンス)オプションを新たに提供いたします。 AWS Japan (アマゾン ウェブ サービス ジャパン合同会社）が提供しているBIツールQuickSight上で、ServAirの各種データを使った分析や、グラフの作成ができるようになります。 ServAirのデータが、QuickSight上で簡単に利用できる形式となっており、お客様ご自身でデータの分析や予測、各種グラフの作成、KPI管理などを行うことができます。 お客様のビジネスゴールに合わせたデータの管理・分析・共有をしていただくことが可能となっております。 V4.3は、2023年12月15日販売開始、2024年1月26日出荷開始予定となっております。 V4.3新機能を含め製品のご紹介をさせて頂きますので、お気軽にお問い合わせ下さい。
日本プロテオーム学会2024年大会・第20回日本臨床プロテオゲノミクス学会 合同大会に出展します。
弊社は、2024年6月26日～28日までリンクステーションホール青森にて開催される、 日本プロテオーム学会2024年大会・第20回日本臨床プロテオゲノミクス学会 合同大会 に出展致します。 弊社のブースではキャピラリー電気泳動-質量分析(CE-MS)で高感度測定を可能にするインターフェイス一式を展示します。 CE-MSをご使用の方はもちろん、MSをお持ちでキャピラリー電気泳動の利用にご関心のある方はぜひブースまでお越しください。
基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレームレート・長距離伝送・多CH接続が可能なカメラシリーズ
- 半導体検査/試験装置
【NEW!】CIS製品総合カタログ【2020.3月】
小型、高速、高画質、高解像度、新たなインターフェースの採用、CISオリジナル画像処理エンジン搭載など、多彩なカメラが満載！ 【本誌に掲載内容】 ■CoaXpressカメラ ■CameraLinkカメラ ■画素ずらしカメラ ■ボードカメラ(GigE/USB3.0) ■アクセサリー ■セミカスタムレンズ ■自社開発技術”Clairvu”搭載カメラ ■画像処理システム開発 実例集 今までご好評頂いてきた機種に加え、新たに新製品の「50M 高画素 CXPカメラ」「25M ハイスピード CXPカメラ」「RGB+Depth情報取得可能 USB3.0 I/F ToFカメラ開発キット」「4K ハイスピード Clairvu搭載カメラ」「18倍ズームレンズ内蔵 Clairvu搭載 4Kカメラ」が登場しました！ 交通監視、放送、医療、重鉄鋼系プラント、物流、ロボットビジョン、っ各種検査他、多種多様な産業用途に適したカメラが盛りだくさんです。 さらに充実した、CISのカメラを是非ご覧ください！ ※その他詳しい情報や英語版カタログをお求めのお客様は弊社営業部までお問い合わせ下さい。
最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場！
- 半導体検査/試験装置
高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可能な画素ずらしSWIRカメラが新登場！
- 半導体検査/試験装置
- モノクロカメラ
- カラーカメラ
最大425fpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場！
- 半導体検査/試験装置
超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好適です。受注受付中！
- モノクロカメラ
- カラーカメラ
- 半導体検査/試験装置
圧倒的なシェアを誇るCDSEM、日立S8000＆S9000シリーズ。装置は常時在庫保有、デモ体制完備しております。
- 半導体検査/試験装置
シート基板向け通電検査システム！（導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出）FPC・フレキシブル基板・PCB・PKG
- その他検査機器・装置
- 基板検査装置
- 半導体検査/試験装置
【TTL】基板通電検査装置『TY-CHECKER DS401』半自動タイプ プリント基板用通電検査機、半自動による高周波検査が可能です（導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出）
『TY-CHECKER DS401』は、従来のY方向ステップ＆リピート搬送に X方向移動（横移動）を追加した通電検査システムです。 当機は半自動であるため、装置全面がほぼオープン状態でワークの扱いが容易におこなえます。 製品開発や製造の現場で重宝される構造となります。 量産への移行もATタイプをご採用いただく事でスムーズにおこなえます。 ※当社では治具の供給までお手伝い致します！ テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■最大基板サイズ：305mm×510mm ■XY方向へのステップ＆リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献（治具代低減） ■導通・絶縁・4端子検査・マイクロショート検出 ■高周波特性検査対応『VNA・LCR・TDR』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
常温における曲げ強度、圧縮強度が大きく、破壊靭性が極めて高い『ジルコニア(ZrO2)』
- ファインセラミックス
- マウンター
- 半導体検査/試験装置
テクノアルファはワイヤボンダのシェアで世界トップクラスを誇るK＆Sのワイヤボンダ、及びワイヤボンダ用消耗品の日本代理店です。
- ボンディング装置
- その他半導体製造装置
- 半導体検査/試験装置
半導体製造用装置に用いられる各種精密治工具のジャンルごとの製品情報から個々の製品仕様までご紹介します。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体
- プリント基板
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます
- 半導体検査/試験装置
- 受託解析
- その他半導体
弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提案致します！
- その他顕微鏡・マイクロスコープ
- レジスト装置
- 半導体検査/試験装置
ステージ上のパーティクルをインラインクリーニング ウェハ型ステージクリーナー
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
- その他清掃用具
樹脂、プラスチックの原料検査に最適！ 独自開発の検査機構でペレットやパウダの練り込み異物および変色を検出！ ※9μmの検出が可能
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置