膜厚計の製品一覧

  • 分類:膜厚計

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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狭い作業スペースや、市販のスパナレンチやモンキレンチでも配管作業可能!締込みキズを最小限に抑える利便性の高いねじ継手。

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世界170ヵ国・地域で販売されているエルコメーター社のデジタル膜厚計456です。※従来の膜厚計にない多彩な機能をご確認ください。

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中古車査定の“見えない判断材料”に ― Elcometer 456 膜厚計

英国BBCの人気番組 「The One Show」 で、 Elcometer 456 デジタル膜厚計 が紹介されました! 456は、世界中の自動車業界で信頼されている膜厚計。 中古車査定の現場では、塗装膜厚を測定することで、 ・過去の再塗装の有無 ・修復歴が疑われる箇所 ・パテ処理されたボディパネル などを車両を傷つけずに確認できます。 外観だけでは判断が難しいポイントも、数値で客観的にチェックできるため、 査定の精度向上・説明の説得力アップにつながります。 番組内では、実際に『456』を使って塗装状態を測定し、 見た目では分からない違いを明らかにする様子が紹介されました! 「勘」や「経験」だけに頼らない、 納得感のある中古車査定を支える一台です。

航空宇宙分野のコーティング管理に。正確な膜厚測定を、この一台で。

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研磨後の膜厚測定に。世界170ヵ国で実績のあるデジタル膜厚計。

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自動車塗装の品質管理に。世界中で選ばれるデジタル膜厚計。

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【※ デモ機あり、サンプル測定可能】 高精度 ±0.1 μm、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計(厚さ計)

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2026年 OPIE出展情報

4月22日~24日にパシフィコ横浜で開催されるOPIE 26'に出展致します。 ブースは、L-37 (光と画像のセンサ&イメージングEXPO)です。 3DラインセンサCLS2、シングルポイントの厚みセンサ、距離センサ、不透明体の厚み測定ができるEnovasenseを展示予定です。

12inchウエハの全面厚み測定が可能。走査ステージレスで、振動の影響無しで高速測定。オンライン、オフライン、ウエハ検査用途に。

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  • 三次元測定器

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2026年 OPIE出展情報

4月22日~24日にパシフィコ横浜で開催されるOPIE 26'に出展致します。 ブースは、L-37 (光と画像のセンサ&イメージングEXPO)です。 3DラインセンサCLS2、シングルポイントの厚みセンサ、距離センサ、不透明体の厚み測定ができるEnovasenseを展示予定です。

厚いウエハから極薄ウエハ(1μm未満)まで厚さ測定が可能

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SEMICON JAPAN 2025 出展のご案内

弊社は2025年12月17日(水)より東京ビッグサイトで開催される 「SEMICON Japan 2025」 に出展いたします。(ブース番号:E4727) 本展示会では、日々進化を遂げる半導体製造プロセスの信頼性、半導体性能の向上に寄与する半導体産業専用アプリケーション及び非接触式測定器をご紹介します。 是非ブースへお立ち寄りの上、ご覧頂きたくご案内申し上げます。 <主な展示製品> ・ダイシング工程向けビジュアルブレード検査システム  ブレードの高速位置決め、加工中のブレードのチッピング検出と摩耗検出が可能 ・非接触式高精度薄膜測定装置(インターフェロメトリ技術)  1μm未満の極薄ウエハまで、インライン制御、最終検査、ラボ試験装置として利用可能 ・非接触式高精度表面形状測定装置(クロマティックコンフォーカル技術)  様々な素材や反射面など、あらゆるタイプの表面素材に対し高い分解能で測定 ・加工中ウェーハ厚さ制御向け接触/非接触式厚さ測定ゲージ(インターフェロメトリ技術)  ドライ/ウェット環境で、機械加工中のウェーハ厚さを精密に制御する接触型および非接触型ソリューション

統計情報のグラフ表示や直近値表示をワンクリックで切替!プローブの切り替えでエッジ部や素地が薄いもの、曲面が多いものに幅広く対応!

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塗装をスピーディにピンポイントチェック 鉄、非鉄の測定素地を自動識別。

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塗装膜厚の測定作業の革命!作業効率が劇的に改善する膜厚測定支援ツール

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  • その他ネットワークツール

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膜厚測定は「点」から「面」へ。高速全面膜厚測定装置。

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硬質の厚い膜も簡単にカット!エナメル被膜などの厚さを測定するのに好適

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電源不要で壊れにくい!可燃ガス環境にも強い安心の膜厚計

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基板やコネクタ端子の表面処理などの膜厚測定を、スピーディに行うことが出来ます

  • 膜厚計
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測定時間が短く、最大1000秒!酸化膜を種類別に測定が可能なSERA法をご紹介

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無電解ニッケルめっき槽をはじめ、黒染め処理槽や膜厚測定器などを保有しています

  • ウエハ加工/研磨装置
  • 膜厚計
  • 特殊加工機械

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不透明体の厚み高精度測定なら、Enovasenseの レーザフォトサーマルセンサ。材料に依らず、最小10nmから厚み測定可能。

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2026年 OPIE出展情報

4月22日~24日にパシフィコ横浜で開催されるOPIE 26'に出展致します。 ブースは、L-37 (光と画像のセンサ&イメージングEXPO)です。 3DラインセンサCLS2、シングルポイントの厚みセンサ、距離センサ、不透明体の厚み測定ができるEnovasenseを展示予定です。

超音波厚さ計M1458FT-300シリーズは誰でも簡単に厚さ測定ができます。

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【2020年1月29日(水)~31日(金)】SURTECH2020に出展いたします。

DKSHジャパン株式会社は、東京ビッグサイトで開催されます 表面技術要素展「SURTECH2020」に出展いたします。 当社はアジアを中心とするマーケットエクスパンションサービスを提供。 欧米及びアジアの一流メーカーの先端テクノロジーを幅広くご紹介するとともに 質の高いアフターサービスをお届けしています。 【製品・サービス】 ■超音波式膜厚計 ■電動式ペイントボアラー(データ算出ソフトウェア付き) ■スプレー(噴霧)粒子計測システム ■超微量サンプル粘度計 ■厚さ測定装置 ■フローサイト粒子解析装置 ■半自動 碁盤目試験装置 皆様のご来場を心よりお待ちいたしております。

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β線厚さ計(表示付認証機器) 。資格や管理区域の設定が不要!

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最大8層まで一気に塗装等の膜厚を測定 超音波式膜厚計クイントソニックT

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信頼性が高く、安全なシステム!フィルムやホイルなどシート材を超音波技術で測定

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MECT 2023 出展のご案内

弊社は2023年10月18日(水)より10月21日(土)までの4日間、ポートメッセなごやで開催される「MECT 2023」 へ出展いたします。(ブース番号:3A09) 本展示会では、工作機械向け最新アプリケーションおよびEV生産サイクル全体の品質とプロセス管理を保証する最新測定検査技術を、国内初展示製品含め幅広くご紹介いたします。 展示製品: ・NVH歯車解析装置(国内初展示) ・アレイ型超音波センサー坪量測定システム(国内初展示) ・研削盤用砥石バランシングシステム ・工作機械用工具およびプロセスモニタリングシステム ・高精度機上計測装置 ・フレキシブル非接触式測定 ・ベンチトップ型レーザーマイクロメータ ・ダイカスト金型向け赤外線サーマルビジョンシステム 他 なお、本展示会の入場には事前登録の上、入場証が必須となっております。下記リンク先よりご登録を済ませ、入場証を印刷の上会場へご持参ください。 弊社ブースにてお目にかかれますことを、心よりお待ち申し上げております。

さらなる高性能とワークフローのデジタル化を実現!超音波厚さ測定を効率化

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様々なポイントで自動化可能! 銅の膜厚を瞬時に測定可能・高度な統計処理で生産効率UPの可能性がここにある!

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磁性体母材の上の非磁性金属膜厚や非導電膜厚測定が簡単に高精度で可能する高性能膜厚計

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電磁誘導で材料中で超音波を発生させるため、接触媒質が不要です。

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豊富な脱着式プローブが使用できる高性能モデル!

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音速測定機能付き、データロガー付き、コーティング上からの測定機能付き

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弾性流体潤滑状態における油膜厚さを、光干渉法の原理を用いて測定します。

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「第17回岩木トライボコーティングネットワークアワード(岩木賞)」を受賞しました!

2025年2月21日(金)に、国立研究開発法人 理化学研究所 鈴木梅太郎 記念ホールにて、トライボロジー技術研究会より「岩木賞 事業賞」を 受賞しました。 この表彰はトライボコーティング分野で著しい業績を上げた個人や法人、 団体を表彰するものであり、2008年度より創設されたものです。 業績名「DLC膜などに有用なトライボロジー試験機の普及による トライボコーティング研究支援」として事業賞を受賞しました。

非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。

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Semicon Japan 2025

2025年12/17(水)~12/19(金)に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。   ■出品予定製品  1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT  2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ   Flying Spot Scanner(FSS)  3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0  4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC  5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini  6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese

光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高速サンプリング。加工中のモニタリング用途に最適。

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Semicon Japan 2025

2025年12/17(水)~12/19(金)に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。   ■出品予定製品  1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT  2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ   Flying Spot Scanner(FSS)  3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0  4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC  5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini  6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese

軽量小型で扱いやすい。電磁方式や渦電流方式のタイプのほか、磁性・非磁性金属の素地の両方に対応したタイプなど多様な被膜厚測定で活躍

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JISに対応した厚さ測定機です。フイルム、紙、ゴム、織物・編物など、それぞれの試験規格に基づいた仕様をお選びいただけます。

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フィルム・ゴム・織布用厚さ計

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非破壊でペイント各層の厚さを一度に計測!計測データは、10,000ポイントまで保存可能

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