試験機器・装置の製品一覧
- 分類：試験機器・装置
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アイソレーターをお持ちの方へ。高い薬品耐性と作業性を実現。低価格、短納期も実現可能なグローブボックス・アイソレーター用グローブ
- 作業用手袋
【2026年5月20日(水)～22日(金)】「インターフェックスWeek東京」出展のご案内
株式会社イトーは、幕張メッセで開催される「インターフェックスWeek東京」に出展致します。 当展示会は、世界25の国と地域から医薬品・化粧品・再生医療の研究・製造に関するあらゆる製品・サービスが出展する展示会として、日本最大の規模で開催。 世界中から医薬品・化粧品メーカー、再生医療企業が来場します。 当社ではTron Power社製「グローブボックス/アイソレーター用グローブ」を出展致します。皆様のご来場をお待ちしております。
当社では、公的規格に準拠した環境試験だけではなく、お客様のご要望に合わせたオーダメイドの環境試験にも対応しております。
- その他計測・記録・測定器
- 試験機器・装置
- 受託測定
高性能、高セキュリティ、ワンストップ 知能の統合、新しい体験のテスト 環境適応、性能安定 革新的なデザイン、空間の最適化
- 試験機器・装置
高性能、高セキュリティ、ワンストップ 知能の統合、新しい体験のテスト 環境適応、性能安定 革新的なデザイン、空間の最適化
- 試験機器・装置
USP/EP/JP準拠！磁気センサーを使った錠剤崩壊終点の自動検知を行う試験器をご紹介
- その他理化学機器
- 試験機器・装置
2022年11月10日（木）～12日（土）「日本ダイカスト展（j-dec）2022」出展のお知らせ
2022年11月10日（木）～12日（土）の期間、パシフィコ横浜で開催される 「日本ダイカスト展（j-dec）2022」に出展致します。 会期中は、発光分析装置や溶湯レベルセンサー、3Dスキャナーなど、ダイカストに関わる製品を展示いたします。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【出展製品】 －発光分光分析装置 GS1000 OBLF / オービーエルエフ社 －非鉄溶湯レベルセンサー ProH Precimeter / プレシメーター社 －3Dスキャナー QREAFORM / クレアフォーム社 －ハンドヘルド型蛍光 X 線分析装置 S1 TITAN BRUKER / ブルカー社 －ハンドヘルド刻印機 MARKATOR / マーカトール社
2022年11月10日（木）～12日（土）「日本ダイカスト展（j-dec）2022」出展のお知らせ
2022年11月10日（木）～12日（土）の期間、パシフィコ横浜で開催される 「日本ダイカスト展（j-dec）2022」に出展致します。 会期中は、発光分析装置や溶湯レベルセンサー、3Dスキャナーなど、ダイカストに関わる製品を展示いたします。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【出展製品】 －発光分光分析装置 GS1000 OBLF / オービーエルエフ社 －非鉄溶湯レベルセンサー ProH Precimeter / プレシメーター社 －3Dスキャナー QREAFORM / クレアフォーム社 －ハンドヘルド型蛍光 X 線分析装置 S1 TITAN BRUKER / ブルカー社 －ハンドヘルド刻印機 MARKATOR / マーカトール社
当社が得意としているのは、マニュアル化されていない検査方法の開発です。これまでの経験を活かし、最適な検査方法をご提案いたします。
- その他計測・記録・測定器
- 試験機器・装置
- 受託測定
洗浄度を明らかにすることや、後工程で要求される洗浄度を満たしているか確認することで、生産安定性や歩留まり向上に貢献します。
- その他計測・記録・測定器
- 試験機器・装置
- 受託測定
最大60kVまでの試験に対応するポータブルAC耐電圧試験装置！リアルタイムで結果の確認ができる Wifi 機能付き
- 試験機器・装置
40kVまたは80kVまでの試験に対応するポータブル試験装置！リアルタイムで結果の確認ができる Wifi 機能付き
- 試験機器・装置
![自動耐電圧絶縁試験器 [8527]](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/926/34155022/IPROS50472093026033652428.jpeg?w=280&h=280){kind=small}
![ディジタル低抵抗計 [356E-T]](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/653/34155007/IPROS34753611940742297210.gif?w=280&h=280){kind=small}
【2025年7月16日(水)～18日(金)】『人とくるまのテクノロジー展 2025 NAGOYA』出展のご案内
株式会社システムプラスは、パシフィコ横浜で開催される 『人とくるまのテクノロジー展 2025 NAGOYA』に出展いたします。 今回は非接触レーザードップラー振動計、スキャニングレーザードップラーを展示いたします。 ドイツOptomet社のSmart＋シリーズのオールインワンユニットのコンパクトなシステムで、 リファレンスのシングルポイントセンサも、復調器やジャンクションユニット、PCまで一体化したユニットです。 簡単設置、省スペースでの計測から解析が可能な先進的システムです。 多くの皆様のご来場をお待ちしております。
ユニットモジュール化 強力な運転機能、４レンジ切替、精密制限、小体積、大用途、複数の検測モード 一機多機能、安全保護の限りがない
- 試験機器・装置
ヨーロッパをはじめとする主要な自動車メーカやエレクトロニクス業界を中心とした国際的な熱衝撃試験規格に準拠しています。
- 試験機器・装置
カタログが新しくなりました！【JIS Z 2241】に準拠。油圧万能試験機『AY-S5/D5』または『YU-S5/D5』シリーズ
- 試験機器・装置
手作業の計測、テスト作業の自動化をサポートします！
- 試験機器・装置
Ｘ線検査では困難なハンダ不良やパターン不良の検出を可能にし、工数の削減や製造品質の向上を実現しました！
- 試験機器・装置
お客様のテスト、検証作業の自動化をスイッチの切り替えにより実現します(事例あり)
- 試験機器・装置
様々なハードウェアシミュレータ・モジュールを提供しております！
- 試験機器・装置
高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現！
- 試験機器・装置
高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGテスト](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/9c7/2001167049/IPROS16571686840134820493.png?w=280&h=280){kind=small}
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。 【展示内容】 ・BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテスト ・半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューション ともに実機デモを実施いたしましますので、是非お立ち寄りください。 【出展ブース】 ・展示会名：2024 マイクロエレクトロニクスショー ・開催日時：2024年6月12日(水)～6/14日(金) 10:00～17:00 ・展示会場：東京ビッグサイト 東展示棟 ・小間番号：3B-35
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGボードテストツール](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/b69/303096003/IPROS_16903476509175706000.jpg?w=280&h=280){kind=small}
JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日
最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します！ 【セミナー内容】 1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要 JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野 2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景 LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷 BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要 3. 実装基板の検査手法と特徴 各テスト手法が検出可能な故障タイプ インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査（AOI）との補完 4. JTAG ProVisionデモンストレーション 基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。 5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例 開発現場での活用と開発期間短縮 製造現場での活用と検査コスト削減 サービス現場での活用と修理コスト削減
見えない・触れないピンのハンダ不良を検出！部品内蔵基板、TSV技術にも対応！
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JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供！
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JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
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BGA不具合箇所の統計データを製造にフィードバック！
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