分光分析装置の製品一覧

  • 分類:分光分析装置

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

  • センサ

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

  • その他半導体
  • 加工受託
  • ウエハー

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業界最高水準のシステムで分析のローコスト化を実現!環境、医薬、食品、化学、金属などさまざまな分野で活用されています

  • スクリーンショット 2025-07-11 110220.png
  • スクリーンショット 2025-07-11 110244.png
  • スクリーンショット 2025-07-11 110250.png
  • スクリーンショット 2025-07-11 110304.png
  • 分光分析装置
  • 金属検出・探知装置
  • 廃液/排水処理装置

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滴定、pH、吸光度といった測定をシングルメソッドで行えるコンパクトなプロセス用オンライン分析計。

  • 2029_4627_550X550.jpg
  • 2026_4923_1_550X550.jpg
  • 分析機器・装置
  • 分光分析装置
  • pH計

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長寿命LED光源と発売後6年間不具合ゼロの安定性で、品質管理・検査機関のルーチンワークを強力にサポート

  • 分光分析装置

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反射率を新品同等に再生。メーカー不問で積分球を再塗装。大型球は出張対応も可能。

  • その他高分子材料
  • その他理化学機器
  • 分光分析装置

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分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価! 

  • IPROS9761633288204319171.png
  • 分光分析装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応

  • 分光全放射束測定システム2.png
  • 分光全放射束測定システム3.png
  • 分光分析装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_多点測定.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

  • 1.png
  • 分光分析装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

「透過型」×「全数検査」で製剤工程の品質検査が変わる!新しい品質検査のカタチをマンガでご紹介

  • manga-1.jpg
  • manga-2.jpg
  • nir-solution-fig1-v10.png
  • 近赤外分光光度計
  • 分光分析装置
  • その他 物性計測・成分分析

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【価格】が記載されていますので予算申請用にもご利用ください

  • 分析機器・装置
  • 食品試験/分析/測定機器
  • 分光分析装置

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【近赤外分光計 技術資料11】ポリウレタンの原料であるポリオール中の酸価、ヒドロキシル価、水分量を近赤外分光分析法で同時測定

  • OMNIS_NIR_naname_5895s.jpg
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  • OMNIS-NIR-6198.jpg
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  • 近赤外分光光度計
  • 分光分析装置
  • 繊維

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【近赤外分光計 技術資料8】ポリアミド(ナイロン)の複数の品質管理項目を近赤外分光法で同時測定しコストと時間を大幅に節約!

  • OMNIS_NIR_20240306_FV_04-cut.jpg
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  • OMNIS-NIR-6198.jpg
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  • 繊維
  • 分光分析装置
  • プラスチック

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