受託解析の製品一覧
- 分類:受託解析
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!
- その他搬送機械

ベルト研磨機『ベーダーマシン』耐久性が高く、サービスパーツが豊富
『ベーダーマシン』は、1機1機が優れた研磨性能を誇る当社のベルト研磨機です。 被研磨物の形状・サイズに応じた機種・タイプを選び、 作業内容に適した研磨ベルトを装着することで、 幅広い分野の多種多様なものにフレキシブルに対応できます。 高効率研磨・研削による作業時間の短縮・省力化、 作業の標準化などに幅広くご活用ください。 【ラインアップ】 ■ポータブル型 BP-K(エアモーター型) ■受注生産機 PC-1(ホイールセンターレス)、BC(防塵カバー標準装備) ■設置型 BM(基本型)、SBA-1、BH-2 ■車輪型 SBD-4S、SBD-7、BWd ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
ナノシミュレーションは物理・化学法則に基づいて原子・分子を取り扱う計算科学手法であり、多様な 現象を理解するために活用できます。
- 受託解析
赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。
- 受託測定
- 受託解析
TG-DTAは、加熱によって生じる重量変化(TG)、吸熱・発熱の熱挙動(DTA)を同時に評価します。
- 受託解析
- 受託測定

応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ
公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡(SEM)について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元:公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌:2012年5月発行 応用物理 ・企画名:基礎講座 <ホップ・ステップ・ジャンプ>シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者: 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容: 走査電子顕微鏡の研究開発への応用-解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。
二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
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- 受託検査
電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得られます
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電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
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【MSTホームページ】分析事例「熱分解GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定」公開しました
MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル 熱分解GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定 ~熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて~ ◆測定法・加工法 GC/MS ◆製品分野 照明・ディスプレイ・化粧品・日用品 ◆分析目的 化学結合状態評価・安全性試験・熱物性評価 ◆概要 熱分解GC/MSは、試料導入部に熱分解装置を設置したガスクロマトグラフ質量分析計です。 複雑な前処理が必要であった高分子材料についても、熱分解装置で試料を加熱することにより前処理無しで発生したガスをGCに導入して分析を行うことができます。 また、熱分解装置の温度条件とサンプリング条件を変えること(ダブルショット法)で、同一試料から添加剤と高分子材料といったように異なった2種類の情報を別々に得られ、未知の高分子材料の解析が容易となります。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
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OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です
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- 受託検査
照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
- 受託解析
- その他受託サービス
- 基板設計・製造
固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です
- 受託解析
- その他受託サービス
- 基板設計・製造
高速液体クロマトグラフ法(HPLC)は、液体中の成分を固定相と移動相の相互作用の差を利用し分離・検出する手法です。
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MFMは、磁性膜でコートされたプローブを用いて、サンプル表面近傍に生じている漏洩磁場を測定し、磁気情報を得る測定手法です。
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ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です
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