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確かな技術！システムアップが可能なガラス微細片屈折率測定装置
『ffTA/GRIM3』は、ガラス屈折率測定以外にも、顕微分光分析装置、顕微 ラマン分析装置にシステムアップをすることが可能な、ガラス微細片屈折率 測定装置です。 警察での犯罪鑑識、入国管理局での検査、金券、証券などのセキュリティー 印刷、保険調査、図書館、資料検査などの分野においての検査で威力を発揮。 確かな技術と長年の豊富な経験によるサポート、サービスで、安心してお使い いただけるシステムを提供いたします。 【特長】 ■ガラス微細片屈折率測定装置 ■顕微分光分析装置、顕微ラマン分析装置にシステムアップも可能 ■鑑識科学分析装置の専門メーカーFoster and Freeman社製 ■確かな技術 ■長年の豊富な経験によるサポート・サービス ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。
工程で使用された洗浄液との関係を調査！洗浄液を濃縮し顕微FT-IRの透過法で分析実施！
当社で行った、ギア表面発錆原因調査についてご紹介いたします。 ギア製造工程内で錆発生。工程で使用された洗浄液との関係を調査しました。 洗浄液を濃縮し、顕微FT-IRの透過法で分析したところ、ギア錆部（歯先・ 側面）の有機物における全赤外吸収帯の位置と洗浄液の赤外吸収帯位置が 一致しました。 尚、無機分についてエネルギー分散型X線分析を実施し、同一元素を 検出しました。 【事例概要】 ■調査材：ギア製造工程内で錆発生、工程で使用された洗浄液との関係を調査 ■洗浄成分：洗浄液を濃縮し、顕微FT-IRの透過法で分析 ■ギア錆部分析 ■結果 ・ギア錆部（歯先・側面）の有機物における全赤外吸収帯の位置と 洗浄液の赤外吸収帯位置が一致 ・無機分についてエネルギー分散型X線分析を実施し、同一元素を検出 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
シュウ酸カルシウム水和物の脱水等の熱挙動の測定が可能です。
TG-DTAは、試料および基準物質を加熱して、試料の重量および試料と基準物質との温度差を測定する技法です。重量変化により水分､有機分、灰分などの定量が可能であり、試料と基準物質の温度差により加熱時における分解、酸化､耐熱性などの評価です。シュウ酸カルシウム水和物の脱水等の熱挙動をTG/DTAで測定しました。
レーザブレークダウン分光分析装置
オーシャンオプティクス社製LIBS2500plusレーザブレークダウン分光分析装置は、一般的 なレーザ誘起ブレークダウン分光法を用い、リアルタイムで微量元素の測定を可能に したシステムです。低価格ながら広帯域（測定バンド幅：200-980nm）、高波長分解能 （〜0.1nm FWHM）でのスペクトル分析、評価を可能にします。またシステムでのご提供 はもちろんのこと、分光器部分(LIBS2500plus)、レーザ、サンプルチャンバなど個々での ご提供も可能です。
AIインテリジェントアルゴリズムを搭載したスマートでフレキシブルな細胞分析装置
『Countstar Mira HT』は「FL Plus」と同仕様でオートメーションシステムや ロボットアームとのインテグレーションが可能なセルカウンターです。 製品サイズは、308×335×354mmで、8.6kgになっております。 また、ストレージは1TGで、スクリーンサイズは8インチです。 GMPおよびFDA 21 CFR part11に準拠しております。 【特長】 ■Mira FL Plusと同一性能 ■1ランあたり最大24サンプル(8/12チャンネルピペットでの分注可能) ■GMPおよびFDA 21 CFR part11に準拠 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
非破壊で膜厚測定と素材分析ができる！品質管理や生産管理における測定にも好適！
『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です！ また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当シリーズは、FISCHERSCOPE X-RAYシステムの特長である 高精度かつ長期安定性により再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 【特長】 ■微小部品や複雑な構造部品を測定可能 ■非破壊で膜厚測定や素材分析ができる ■プログラム機能付き電動式XYステージを搭載 ■品質管理や生産管理における測定にも好適 ■再校正（キャリブレーション）に必要な時間や労力を大幅に削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
膜厚測定や素材分析用の蛍光X線分析装置！非破壊式で簡単に素早く測定！
『XANシリーズ』は、貴金属・歯科用合金・ホワイト ゴールド・銀・ ロジウムなど、あらゆる宝飾用合金やコーティングを非破壊式で簡単に素早く 測定することができる蛍光X線式測定器です。 わずか数秒で測定試料の構成元素が正確に確認することができます。 試料の設置を単純化させるため下側からX線を照射させるタイプとなっており、 サンプルの配置が簡単に早くできるようになっています。 【特長】 ■わずか数秒で測定試料の構成元素を正確に確認 ■下側からX線を照射させるタイプ ■サンプルの配置が簡単に早くできる ■誰でも操作ができる ■レポートの印刷も簡単 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です。
『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 【特長】 ■膜厚測定や組成分析に好適 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減 ■より簡単に膜厚測定と素材分析ができる ■使いやすく設計されたユーザーフレンドリーな卓上型 ■ハウジングの両サイドがスリット状になっており、大きな板状サンプルも測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器！
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載 ■高精度で高分解能な検出感度を実現 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能 ■簡単に膜厚測定と素材分析ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
量産工程に組み込む測定オートメーションシステム
『FISCHERSCOPE X-RAY 4000シリーズ』は、生産ラインの現場にて インライン測定できるよう設計されたエネルギー分散型蛍光X線測定器です。 連続した量産工程に組み込んで測定するのに好適。 インライン測定システム用となっており、ユーザーフレンドリーかつ 最小限の設定で素早く実行が出来ます。 コンベアガイドの治具を取り換えて調整することで他の品目を測定可能です。 【特長】 ■プロセスモニタリング：測定値が制限範囲を超えた場合に警告ランプで表示 ■リモートコントロール：タスクプログラム、または外部制御 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を連続して行うシステム！
『FISCHERSCOPE X-RAY 5000』は、大きな測定エリアを持つ量産品の 薄膜測定や合金分析を非破壊で連続して行うシステムです。 再現性精度は、大きな測定面積、半導体ディテクター、 デジタル信号処理技術により、非常に高いレベルに保たれています。 測定ヘッドはコンパクト設計になっており、製造ラインに直接組み込むことができます。 【特長】 ■大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を非破壊で連続測定 ■表面温度が非常に高温な物まで(最大500℃まで)測定可能 ■大気中と真空中の両方の雰囲気中で測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンパクトで測定サンプルセッティングが簡単な蛍光X線測定装置
『FISCHERSCOPE X-RAY XULM』は、X線源と検出器が測定チャンバーの 下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが 行えるよう設計された蛍光X線測定装置です。 測定室内の高さがあり、大きなサンプルを測定することも可能。 短い時間で再現性精度に非常に優れた測定ができます。 【特長】 ■迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計 ■大きなサンプルを測ることも可能 ■測定スポットを100μmレベルまで小さくできる ■比例計数管により比較的高いカウントレートが得られる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適！
『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■電動ステージ付き ■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる ■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用 ■高い凡用性 ■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！薄膜・多層メッキを短時間で測定！
『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルです。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■最小10µmの集光レンズを搭載可 従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ■アルミニウムAl(13)からウランU(92)まで、最大24種類の元素を同時測定 ■装置ハウジングの側面に開口部を設けた卓上型装置 ■XY軸はモーター駆動式でプログラマブル、電動式切替のフィルター ■測定方向：上から下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
長年ご愛顧頂きましたJM10は終売となりました。後継機種はJM11になります。更新をご検討の方はJM11をご参照ください。
【終売】後継機種はJM11になります。 『MICRO CORDER JM10』は、固体から液体まで、幅広い分野で使用可能な 炭素・水素・窒素同時定量装置です。 コンピューター制御採用で、いつでも安定した分析結果をより簡単に、 より安全に、より経済的に得ることが可能です。 炭素・水素・窒素の検出用に独立したTCD検出器を搭載しております。 各元素を高感度に設定した分析も可能で、多種多様な試料の分析に 対応致します。 【特長】 ■開放型試料導入口 ■気圧補正装置内蔵 ■無人運転可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
