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検査装置(インライン) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年09月24日~2025年10月21日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

検査装置の製品一覧

31~45 件を表示 / 全 243 件

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基板実装向けインライン型3D AOI装置

はんだジョイント部の完全な3D検査により高さ計測を実現!従来のモアレ方式の3DAOI装置の課題を解決

基板実装向けインライン型3D AOI装置「ART SERIES」は、はんだジョイント部の 完全な3D検査を実現しました。 従来のモアレ方式では、正確なはんだフィレット部の高さが測定できないため、 IPC規格で推奨しているはんだ濡れ上り検査ができません。 今回の「ART SERIES」では光の位相のズレから部品の高さが計測できるため IPC規格に準拠した計測が可能です。 【特長】 ■トップカメラ+サイドカメラによる完全な3Dイメージの取得(特許出願中) ■高解像度15Mピクセルカメラを5台搭載 ■AI技術による部品文字のOCR検査 ■8段カラー照明: 不良検出力の向上 ■Z軸アシスト機能(カメラユニット+36mm移動) ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 基板検査装置
  • 外観検査装置

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【画像処理 検査装置】導入事例集進呈中!

傷検査、バリ検査、寸法検査、マッチングなどの事例をご紹介 撮像評価・装置検討・導入まで一貫対応! 

当資料は、当社で行った「画像処理 検査装置」の導入事例集です。 洗浄後のワークを画像処理ユニットで検査を行う「加工品インライン 画像検査装置」や、制御盤に組まれた様々な盤用部品が正しく付いて いるか検査する「組付け部品画像検査装置」をご紹介。 画像付きで詳しく掲載されており、導入検討の際に参考にしやすい 一冊となっております。是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■加工品インライン画像検査装置 ■組付け部品画像検査装置 ■線傷検査 ■ミクロン単位の異物検査 ■ワイヤの曲がり&バリ検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 外観検査装置

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自動3DインラインX線検査機『HAWKEYE 9600 AXI』

8軸の組み合わせで適した検査を実現!トータルインライン検査に好適なソリューション

『HAWKEYE 9600 AXI』は、2D、2.5D、ラミノグラフィー、3D検査を1つに まとめたリアル自動3DインラインX線検査機です。 MES、ERP/結果検証用レビューステーションの統合によりデータトレースを 完全サポート。 外部放射線漏れ検出器は、作業者を露出の危険から完全に保護します。 【特長】 ■2D、2.5D、ラミノグラフィー、3D検査を1つにまとめて提供 ■MES、ERP/結果検証用レビューステーションの統合によりデータトレースを  完全サポート ■人工知能ソリューションが高い検査精度を提供 ■外部放射線漏れ検出器は、作業者を露出の危険から完全に保護 ■8軸の組み合わせで適した検査を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • X線検査装置

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【検査装置】ECU最終検査装置

インライン型の大型検査装置。

全自動ラインの構築が可能。

  • その他プロセス制御

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レンズ外観検査装置

レンズ単体とモジュールの双方の検査に対応!異物や傷、クラック等の検査も可能

『レンズ外観検査装置』は、高速高解像度カメラと照明系を工夫して 小型レンズの(スマホ含む)の外観検査を高速高精度で行います。 異物や傷、クラック等の検査も可能。手動でサンプルを搭載し、検査は 自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度CMOSカメラにより 圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。 また、インラインにも容易に対応致します。 【特長】 ■レンズ単体とモジュールの双方の検査に対応 ■異物や傷、クラック等の検査も可能 ■高精度CMOSカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現 ■インラインにも容易に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • 外観検査装置

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自動外観検査装置

サブミクロンレベルの欠陥(傷・異物)の自動マッピングします

当社が取り扱っております、自動外観検査装置とは、 フィルム・ガラスなど多種の材料欠陥検査を行う装置です。 傷、異物、ピンホールなど多種類の欠陥を検出可能です。 検出した欠陥はマッピングされ、その位置をマウスでクリックするだけで、 顕微鏡画像の観察ができます。 目視で行っていたロールフィルム末端検査にも対応致します。 【特長】 ■自動マッピングを行い、サブミクロンレベルの傷・異物の位置情報を取得 ■マッピングデータの位置情報により、改めて各傷・異物の詳細検査を行う ■透過・反射、明・暗視野さらに偏光、微分干渉観察など多彩な検査が可能 ■今まで検査困難な欠陥に対しても、多数の検査実績あり ■目視検査で難しかった、欠陥・ムラを可視化し、簡易検査を実現  (ムラ・ビュアー) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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シリンダー内面外観装置

インラインにも対応!目視検査では不可能であった定量化や見逃し欠陥を確実に検査!

『シリンダー内面外観装置』は、シリンダーなどの円筒物の内面を 自動検査する装置です。 スクラッチ(傷)、異物、カケの外観検査を全自動で行います。 今までの検査時間の1/10程度で検査。検査はカメラがXY移動します。 画像記録のほか、任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を 全自動で行います。 【特長】 ■スクラッチ(傷)、異物、カケの外観検査を全自動で行う ■目視検査では不可能であった定量化や見逃し欠陥を確実に検査 ■今までの検査時間の1/10程度 ■検査はカメラがXY移動 ■ローダー、アンローダー付きのインラインにも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • その他計測・記録・測定器

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はんだ印刷検査機 VP6000-V/5200-Vシリーズ

業界最速の高速検査!最大2倍以上のスピードで高速実装ラインに対応

VP6000-V/5200-Vシリーズははんだ印刷検査機です。 不良率70%を占める初期工程の段階で実装不良をインライン検知SPCの活用で印刷品質向上しました。 VPシリーズ最速の8,000mm²/secを実現。 生産ラインの高速化にお応えするため、従来の機種に比べ 最大2倍以上のスピードで高速実装ラインに対応いたします。 詳しくは、カタログをダウンロードしてご覧下さい。

  • その他検査機器・装置

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小型ガラスパネル外観検査装置

スマートフォン、タブレット関連検査装置。 カバーガラスにも対応可能。 FPD業界に幅広く実績有り。

小型ガラスパネル外観検査装置は、コンベアで搬送される小型ガラスパネル(スマホ~タブレットサイズ)を画像検査する装置です。1次元カメラを使用し、1枚ずつ移動するワークを撮像、外観検査します。表面と裏面の同時検査仕様や、あらゆる工程へのインライン組み込み等、様々な要望に対応致します。微細な傷や表面不良を検出する照明条件を有し、オプションで透過光を追加する事も可能です。不良を検出したワークについてはNGデータを管理します。オプションでマーキング機構を搭載する事も可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
  • 欠陥検査装置

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インライン画像検査装置 Ver2

分離型のため、自動巻取機に設置が可能!重要部分の全数検査に適した画像検査装置です

当社では『インライン画像検査装置 Ver2』を取扱っております。 狭いスペースに設置でき、分離型で自動巻取機にも設置が可能。 また、縦送りでの巻き取機が可能なほか、ねじる事なく検査ができます。 19モニタで見易く、重要部分の全数検査に適しています。 【特長】 ■19モニタで見易い ■狭いスペースに設置できる ■分離型で自動巻取機に設置可能 ■縦送りでの巻き取機が可能 ■ねじる事なく検査が出来る ■重要部分の全数検査に適している ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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枚葉機用インライン品質検査装置『SENSAI』

ただ検査するだけではない!ロス率を低減する印刷品質管理システム!!

『SENSAI』は、圧胴上での安定した検査を実現し、全国トップクラスの シェアを誇る枚葉機用インライン品質検査装置です。 当社独自の検査技術によりピンホールなどの微細な不良から薄い地汚れ、 色ムラなどの濃度変化を発見し、クレームを防ぐだけではなく 無駄な不良印刷による資源や時間のロスを軽減します。 現場での運用スタイルにあわせて多彩なオプションを選んで頂く事も 可能となっております。 【オプション】 ■UV用厚紙リジェクター装置 ■欠陥集計ソフトSHUSAI ■ナンバリング ■色調管理システムSHIKISAI ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

  • その他検査機器・装置
  • 検査ロボット

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基板実装向けインライン型3D AOI検査機

過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI(自動光学検査)装置

『MV-6 OMNIシリーズ』は、SMTラインに組み込み可能なインライン型の3D AOI(自動光学外観検査)装置です。 ミルテック独自のOMNI-VISION 3D検査技術により、2Dと3Dの同時検査を実現。 高解像度カメラと多彩な照明技術を組み合わせることで、微小な部品や複雑なはんだ形状まで、高精度かつスピーディーに検査します。 【特徴】 ●高解像度カメラによる精密検査 25メガピクセルまたは15メガピクセルの高解像度カメラと、7.7?m/10?m/15?mの高分解能レンズを搭載し、検査の精密性と安定性を保証します。 ●デジタル方式ブルーライトモアレ技術 特許を取得したデジタル青色光モアレ技術により、0~25mmまでの広い範囲で正確な3D測定が可能です。基板や部品の色、明るさに影響されず、常に最高の検査品質を維持します。 ●AI搭載フルオートティーチング AI(ディープラーニング)が適用された自動ティーチング機能により、ティーチングの正確性と効率が劇的に向上。手動ティーチングに比べ90%以上、AI未搭載の自動ティーチングに比べ50%以上の時間短縮を実現します。

  • その他

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効率化/省力化へのご提案商品

効率化/省力化へのご提案商品

当社では、試作基板から修理に至るまで、様々な角度からソリューションを提供しております。

  • 試作サービス

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インライン検査装置『AIRIS ACEシリーズ』

使いやすさと拡張性を重視!ニーズに合わせて変幻自在の表面欠陥検査装置!

『AIRIS ACEシリーズ』は、それぞれの業界の個性に合わせて設計された インラインの表面欠陥検査装置です。 5年先、10年先に求められるニーズに考慮し、ハード面、ソフト面共に 拡張性を重視。使いやすさでお客様をバックアップいたします。 同シリーズのベースモデル「AIRIS-UC」と、欠陥種の判定基準などを 追加し、より多くのニーズに対応できる「AIRIS-SP」を取り揃えています。 【特長】 ■高い拡張性/カメラ・系列に追加 ■同一プラットフォームで多言語対応 ■CoaXPressインターフェース採用 ■処理能力が4倍向上 ■消費電力43%削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • 欠陥検査装置

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2D-3Dフリップバンプ等半導体用インラインX線検査装置

自動検査アルゴリズムによるバンプ検査!高速斜面CT撮影の検査装置

【特徴】 ■自動検査アルゴリズムによるバンプ検査 ■高速斜面CT撮影 ■60度斜角と全周囲視野角測定 ■開放型マイクロフォーカスチューブ、トランスミッション管球 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • X線検査装置

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