更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
451～465 件を表示 ／ 全 3641 件
部分放電－位相解析が可能！様々な場面の部分放電試験にご使用頂ける測定器
『DAC-PD-3』は、広帯域（10kHz～4MHz）、低周波（10kHz～200kHz）の2つの 周波数帯域幅を合わせ持った部分放電測定器です。 試料の種類、測定感度などに応じて帯域幅を簡単に選択することができるため、 電気機器をはじめ、電子部品から絶縁材料まで、様々な場面の部分放電試験に ご使用頂けます。 【特長】 ■周波数帯域幅を選択 ・低周波：10kHz～200kHz ・広帯域：10kHz～4MHz ■差動検出回路方式にて電源等のノイズを抑制し部分放電パルスのみ検出 ■所定の発生頻度（PPS）における最大放電電荷（Qmax）を自動的に測定 ■位相ゲートを任意に設定することができ、部分放電－位相解析が可能 ■ノイズ抑制回路はGP-IBを介して外部からコントロール ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定データはCSVにて保存され履歴管理が可能！絶縁材中の欠陥などを定量的に測定する事ができます
当社が取り扱う、部分放電測定器『DAC-PD-7』をご紹介します。 部分放電試験は非破壊試験で、耐電圧試験やメガー試験よりも検出感度が 非常に高く、部品の製造上の不具合や絶縁材中の欠陥を定量的に 測定する事が可能。 測定結果は連続的にプロットされ、終了と同時にNO、GO判定を行います。 【特長】 ■耐電圧試験やメガー試験よりも検出感度が非常に高い ■部品の製造上の不具合や絶縁材中の欠陥を定量的に測定する事ができる ■専用PCソフトウェアを使用し規格に準拠した部分放電試験を行うことができる ■測定結果は連続的にプロットされ、終了と同時にNO、GO判定を行う ■測定データはCSVにて保存され履歴管理が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
わずか1分で自動測定！ 品質管理にも最適で 誰でもすぐに測定可能です！
コノプチカ社の伸線ダイス形状測定器は、伸線ダイス測定において、世界標準の測定機です。 なぜ世界標準であるのか、導入メリットを皆様にお伝えいたします。 ・伸線スピードの向上や断線の減少 ・ワイヤー品質の向上 ・ダイス寿命の向上 ・ダイス品質の向上 ・内部情報交換の時間短縮 etc 伸線用ダイス内部の自動測定により様々な課題を解決いたします。 ※ダイスベアリングの非対称性の測定が可能な機種もございます。 弊社に実機ございますので、デモが可能です。
超高速ライン対応！1台5役！コーティング前の光ファイバ素線用のマルチ測定器です。
CERSA社製LISGは光ファイバ素線用の測定器です。 ・内部欠陥・スパン（転回）周波数・内部泡検出（スパン時のみ）・真円度・ファイバ振動周波数が、全てインラインで測定可能です。 内部に動くパーツがないため、年間定期校正の必要がない点も特徴です。 1ラインに1台！光ファイバ製造ラインの新常識です。 ・仕様 □ファイバ径測定：125µm 測定頻度: 5 kHz（オプション：50 kHz） 繰り返し精度: ±0.005 µm □欠陥検出機能： 50 kHz イベント記録機能 □極小気泡検出（ファイバ転回時のみ検出可能） □スパン周波数、ファイバ真円度測定機能（オプション） □ファイバ径の安定性測定機能（オプション） □ファイバポジション: ±0.1 mm また、専用のソフトウェアCIMを使用することで、製造工程中の線径変化のグラフ化、欠陥の発生位置や日時などが製造スタート時に自動で簡単に記録できます。 複数設備をまとめて管理することも可能なので、生産管理に大きく役立ちます。
超高速ライン対応！スパン（転回）無しでもカバー率100%！コーティング前の光ファイバ素線用のエアライン（ボイド）検査器です。
CERSA社製AIRは被覆前の裸光ファイバ用の測定器です。 3軸で検査しているため、スパン（転回）が無くてもファイバ全体を漏れなく検査することが可能です。 本製品を使用することでより正確にボイド検査ができるため、廃棄するファイバを削減することも可能です。 ・仕様 □検知可能な最小泡サイズ: 0.3um □測定頻度: 400Hz □ファイバポジション測定（アライメント自動調整用）: 不確かさ：±0.1um 専用のソフトウェアCIMを使用することで、製造工程中の線径変化のグラフ化、欠陥の発生位置や日時などが製造スタート時に自動で簡単に記録できます。 複数設備をまとめて管理することも可能なので、生産管理に大きく役立ちます。
特に動・静摩擦係数測定器が大好評
動摩擦係数： NEMA、及び IEC規格準拠。 高精度ロードセル。 高精度リニアベアリング。 LCDディスプレー。 RS-232出力付。 ワイヤー直線機・ガイドシステム付き。 テストワイヤーサイズ：０．０５－２．０ｍｍ 静摩擦係数： IEC規格準拠。 モーター可動傾斜付きプラットフォーム。 傾斜プラットフォーム及びスライディングブロックワイヤー張力機構。 テストワイヤーサイズ ０．０５－２．０ｍｍ タンジェント角度 ０－３０度。
チップ部品測定に最適LCR測定器。 Ｃ：10PFレンジ時0.001PF分解能 R:１Ωレンジ時0.001Ω 分解能
【商品登録】 スマートツイザーはピンセット型のLCR測定器です。LED表示で見やすく、USB充電電池方式なりました。スマートツイザーは製造工程上の部品評価、ボード上のインピーダンス測定、及びSMD部品の選別のために設計されました。自動認識モード（R/L/C）で、スマートツイザーは表面実装部品の測定に適しています。測定時右手（左手）が自由に。チップ抵抗チップコンデンサ 【特長】 精密なSMD用プローブが作り付けられた独創的な機構、電気的 特性を備えています。 ピンセット型プローブは、0201サイズの部品測定可能 測定範囲 R:0.05Ω〜9.9MΩ C:0.5pF〜4999μF L:0.5μH〜999MH 最適レンジへ自動選択 SMDプローブとグラフィック表示装置が一体 測定モード（R／C／L）が自動認識 ダイオードテスト、製造工程上の部品評価等に。
空調システムの効率的な稼動のチェックに！空気量を直接測定する風量計
TSI社AccuBalance（アキュバランス）シリーズは、天井や壁、格子口などの吹出・吸気口の空気量を直接測定する風量計です。 軽量（3.4kg）で様々な測定ツールを一つのパッケージに統合することにより、時間とコストをセーブします。 【特長】 ■吹込みか吹出しであるかを自動的に検知し、よく測定可能 ■背圧保障機能により正確な測定が可能 ■数々のオプションフードサイズにより、様々な業務への対応可能 ■取り外し可能なマイクロマノメータの利用で、様々なアプリケーションへの対応可能 ■螺旋流の吹出し口に対応可能な整流器が付属 ※詳しくは、弊社WEBサイトをご覧ください。
高荷重/高周波動的粘弾性測定装置（DMA）の世界標準機 ガラス転移温度 ペイン効果 ミュリン効果 大変形 疲労試験
Metravibは音響・振動機器の専門メーカーで、40年以上前から動的粘弾性測定装置（DMA）を全世界へ製造販売してきました。今では4百台以上の実績がございます。ヨーロッパをはじめ、全米、アジアで高い評価を頂いています。本商品はキャスト製造による高剛性一体フレームで、最大1000N高荷重と最高1000Hzの周波数をサンプルに与えることが可能です。 特徴 ・DMA+1000＝±500N、DMA+2000＝±1000N ・周波数 1E-5Hz から 200Hz （1000Hzオプションあり） ・動的歪量 最大 ±6000μｍ ・温度 ₋150℃（LN2オプション）から500℃ ・ガスチラーオプションあり(min -70℃) ・ガラス領域も測定可能 ・疲労試験、リサージュ、任意波形、クラック成長測定（オプション） ※詳細はカタログをご覧ください。
既設の押出機に取付け、簡単に測定可能！ストランドを直接引っ張って測定！サンプル作成が不要！ドローレゾナンス等の測定も可能！
伸張流動挙動の解析は成形加工プロセスにおいて非常に重要であることが知られています。せん断試験からでは知見を得る事は出来ません。Rheotens71.97は他の分析法では検出できないわずかな分子構造の違いについても識別化することが可能です。独自の「タンデムプーリーシステム」を採用、感度と再現性が更にアップしました。 ※詳しくは弊社までお問い合わせください。 ０３－３８６５－５９０６
動的粘弾性測定装置(DMA)のエントリーマシン 固体粘弾性 ガラス転移 温度分散 歪分散 周波数分散 浸漬試験 クリープ TMA
Metravibは音響・振動機器の専門メーカーで、40年以上前から動的粘弾性測定装置（DMA）を全世界へ製造販売してきました。今では4百台以上の実績がございます。長年の実績からヨーロッパをはじめ、全米、アジアで高い評価を頂いています。DMA25/50はDMAのエントリーマシンです。本商品は人間工学に基づいたデザインで、サンプルの取付け易さ、使い勝手の良さがお客様より高い評価を頂いています。 特徴 ・DMA25 ＝±25N、DMA50＝±50N ・周波数 1E-5Hz から 200Hz ・歪量 最大 ±3000μｍ ・温度₋150℃（LN2オプション）から500℃(オプションで600℃) ・ガスチラーオプションあり(min -70℃) ・ガラス領域も測定可能 ・浸漬試験 ・ユーティリティーは電源(単相200V) のみ ※測定例などはカタログをご覧ください。
均一な一軸変形を与えることにより、真の伸長ひずみが測定できる唯一のレオメータ！プラスチックなどの成型加工に最適！※IPF出展製品
VADER 1000 (Versatile Accurate Deformation Extensional Rheometer)は、優れた精度,測定範囲,機能そして能力を提供します。 あなたのサンプルにいつでも均一な一軸変形を与えることのできる唯一の装置です。 【特長】 ■一定のひずみ速度・ひずみ・応力での測定が可能 ■真の伸長ひずみを印加・測定が可能 ■微小変形での動的伸長測定も可能 デモ機も御座いますので、お気軽にお声がけ願います。 ※詳しくはお問合せいただくか、カタログをダウンロードしてご覧ください。
過渡熱抵抗測定器は、IGBT / MOS-FET / Diode / BJT 等の過渡熱抵抗を測定する装置です。
BJT過渡熱抵抗測定器は、コレクター・エミッター間に指定の電力を印加し、チップ温度を上昇させ、その前後の微少電流（Im）によるベース・エミッター間電圧の差（ΔVBE）を求める装置です。これにより試料の熱抵抗を推測することができます。 IGBT過渡熱抵抗測定器は、BJT過渡熱抵抗測定器と同様にゲート・エミッター間の電圧差（ΔVGE）を求める測定器です。 P-MOS FET過渡熱抵抗測定器は、BJT過渡熱抵抗測定器と同様にゲート・ソース間の電圧差（ΔVGS）を求める測定器です。 BJT過渡熱抵抗測定器のベース・エミッター間でダイオードのΔVFを測定することができます。
高精度・高応答速度・コンパクトな研究向け光合成速度測定装置!!
農業・工業・フィールド計測から実験まで幅広くセンサーの ご提供をしている株式会社セネコム【米国PPsystems社日本正規代理店】の『ポータブル光合成速度測定装置』のご紹介です。 本製品は終売となりました 新製品『SE-CIRAS-4』をご案内申し上げます https://www.ipros.jp/product/detail/2000715859
デュアルコム分光法を利用！光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待されます
『デュアルコム分光法測定機』は、フーリエ分光法の一つであるデュアルコム 分光法を用いて、干渉波形の光学遅延を測定します。 干渉波形の光学遅延と試料の厚さから試料の複素屈折率スペクトルを求めます。 光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待されます。 当製品は、JST,ERATO美濃島 知的光シンセサイザプロジェクトの成果をもとに 製作しました。 【特長】 ■デュアルコム分光法を用いて、干渉波形の光学遅延を測定 ■干渉波形の光学遅延と試料の厚さから試料の複素屈折率スペクトルを求める ■光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が期待できる ■JST,ERATO美濃島 知的光シンセサイザプロジェクトの成果をもとに製作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
