解析のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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解析(分析) - 企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

製品一覧

91~105 件を表示 / 全 155 件

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【受託サービス】フラットパネルディスプレイ評価/故障解析サービス

長年ものづくりに携わって来た経験豊富なラボ技術者が解析はもちろん、あらゆる品質改善にいたるまでお客様をサポートします。

さまざまな電子部品/機器の故障解析/分析・外部購入品の良品検査・信頼性評価/環境試験析を行ってきた専門ラボでの受託サービスになります。

  • 液晶ディスプレイ
  • タッチパネル
  • 受託測定

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研究者のためのグラフ作成・データ解析『KaleidaGraph』

グラフ作成とデータ解析のスタンダードツール

KaleidaGraph は、研究分野で活躍する人のためのグラフ作成・データ解析アプリケーション です。科学的に正確なグラフを作成し、複雑なデータを簡単に機能的な表示に変換します。 ■グラフ作成:データの可視化  Excel ファイルを直接開くか、テキストファイル(CSV 等)からデータをインポートし、  グラフを作成することができます。線形、統計、棒、極座標、円、関数など、さまざまな  グラフをギャラリーメニューから選択してデータを視覚化します。 ■データ解析:結果の調査、分析、学習  多様な種類のカーブフィッティング(回帰曲線の作成)を適用して、データを分析できます。  最小二乗(線形)回帰やスムーシングを含む基本フィッティングに加え、ユーザー定義関数  に利用可能な 100 種類を超える専門的な数式ライブラリが用意されています。 ■グラフ編集機能:結果を明確かつ説得力をもって視覚化  軸、目盛り、グリッド、ラベル、マーカー、線、色など、グラフのあらゆる要素がカスタマイ  ズ可能です。 レイアウトウィンドウを使用して、1 つのページに複数のプロットを配置します。

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  • Kaleida_02.png
  • Kaleida_03.png
  • ソフトウェア(ミドル・ドライバ・セキュリティ等)

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SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応!

当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-(D S)間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の 発光を検出。 発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが 認められました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 解析サービス
  • 受託解析

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NMRと分子動力学計算の低分子化合物-タンパク質間相互作用の解析

NMRとMD計算で低分子化合物とタンパク質の相互作用を評価できます。

生理活性化合物の中には、タンパク質を標的として作用する化合物が数多く存在します。そのため、低分子化合物とタンパク質間の相互作用について構造的な知見を得ることは薬剤の開発にとって非常に重要です。 本資料では、NMRと分子動力学計算を用いて溶液中におけるL-トリプトファンとウシ血清アルブミン(BSA)の相互作用を解析した事例を紹介します。

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  • 受託解析
  • 受託測定

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ゴム・樹脂の解析

高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決!ゴム及び樹脂の劣化・耐久性評価

ゴムや樹脂は、日光、オゾン、熱、湿度などの環境ストレスにより劣化します。 それらのストレスに曝された場合の評価や劣化のメカニズムを解析します。 寿命予測には、劣化反応速度定数の対数が絶対温度の逆数に比例することに基づく 「アレニウス法(熱劣化)」と劣化反応速度定数の対数が濃度などの対数に 比例することに基づく「アイリング法」があります。 【特長】 ■材料の耐久性評価 ■樹脂材料の劣化寿命の予測 ■劣化の原因推定 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置
  • 試験機器・装置

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マーカーネット アクセス解析

確かなアクセス解析脚気が利益を生む

当社ではアクセス解析ツールを組み合わせた高度な分析を実現しました。アクセスログを見ると言う事は、ユーザの人物像や行動パターンまでもが見える時代です。行動パターンがわかれば、サイトの導線の問題が浮き彫りになります。 更に、人物像が分れば、コンテンツデザインがターゲットとマッチングしているかがわかります。つまり、アクセスログが最強のマーケティングツールとなるのです。

  • その他情報システム

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解析『メタボローム解析』

機能性関与成分の探索してみませんか?

『メタボローム解析』は、機能性成分の探索や品種、栽培方法、製法などに よる差異の把握が可能です。 ノンターゲットで分析することにより、既知、未知問わず成分を把握する ことができます。 また、品種、栽培条件による、含有成分の違いを明らかにし、有用成分を 効率よく得る条件の選定などへの応用が可能です。 【特長】 ■品種、栽培条件による、含有成分の違いを明らかにする ■有用成分を効率よく得る条件の選定などへの応用ができる ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他 分析・評価受託

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CAE解析

CAE解析から評価分析、最適設計の提案!さまざまな解析をご用意しております!

当社は、自動車開発と鉄道車両開発における設計実績を活かし、 初期評価から改善策の提案まで致します。 解析の種類は、線形静解析をはじめ、固有値解析や周波数応答解析、 機構解析、流体解析など多数ございます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【保有設備(一部)】 <ソルバー> ■Optistruct ■NX Nastran ■Abaqus <プリポスト> ■HyperMesh ■HyperView ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託解析
  • 受託解析

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装置と消耗品のデータ解析で、ラボの生産性を向上します。

実験機器の稼働状況をリアルタイム&定量的に把握するクラウドベースのソフトウェア Introspect&Tecan Connect

◎Tecan Connect:実験機器の稼働状況を常に把握 ● 稼働状況の自動通知(エラー含む) ● リアルタイムでの稼働状況 ● 24時間の稼働ログ ● 7日間分の Introspectデータ表示 ● 暗号化された安心安全な通信 ◎Introspect:実験機器の稼働状況を定量的に把握 ●稼働時間:装置ごとの稼働時間を分析することで、リソースを活用できているか把握します。 ●チップ消費量:チップ消費量データから、将来の消耗品、手配計画の意思決定をサポートします。 ●エラー情報:エラーデータを蓄積することで、サポート・対策へ対処しやすくなり、安定稼働につながります。 ※詳しくはPDFをダウンロード、もしくはお問合せください。

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  • 分注器

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第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析

点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます

ワイドギャップ半導体である窒化ガリウム(GaN)は主にパワーデバイスの分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が高まっています。高信頼性を有するGaNの開発にあたっては、結晶中の欠陥量の低減や欠陥がもたらす電気/光学特性などへの影響の理解が重要です。本資料では第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損(VN)が形成する欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。本解析は欠損だけでなく、元素の置換など結晶材料中の様々な点欠陥に対して適用可能です。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

  • 受託解析

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SMART解析サービス

簡単なパラメータの設定で、定期的にSMART情報を取得可能!

当社の『SMART解析サービス』では、SMART Logging (お客様のシステム内でSMART情報を定期的にロギングするツール)で 収集したSMART情報を分析し、ストレージの状態推移をもとに コンサルティングを行います。 お客様の環境で、まれにエラーが発生するというシーンにおいても、 システムとストレージ、環境など障害原因の切り分け手段として、 お客様の環境下でSMART情報を取得することができます。 【SMART Loggingの特長】 ■SMART情報を定期的に取得しテキスト形式でファイルに保存 ■指定したSMART項目値の増減確認がリアルタイムで可能 ■プログラムはシステムにインストールする必要がなく実行可能 ■プログラム実行中はシステムに極力負荷がかからないように設計されている ■SMART取得間隔の変更は、有償版の購入が必要 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他

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【ペーパーレス化】総合カタログの電子化※アクセス解析

ドラッグ&ドロップで簡単作成!ご要望に合わせて、カスタマイズ開発も承ります

「カタログのペーパーレス化」「マーケティング」 「文書管理」にお困りごとはございませんか? 『Wisebook』はドラッグ&ドロップの2ステップで簡単に文書の電子化から 配信まで行うことが可能。電子テキストに動画や音声の埋め込みや補足資料の リンクを設定することで、より分かりやすいテキストを作成できます。 また、当製品独自のアクセス解析機能で閲覧者の行動を分析することで、 マーケティング施策にもお役立ていただけます。 【特長】 ■アクセス解析機能によるマーケティング施策 ■電子テキストを一括または1ページごとに差し替え可能 ■動画・音声埋め込み ■多言語に対応(日本語、英語、韓国語、中国語、他) ■ご要望に合わせて、カスタマイズ開発も可能 ※30日間の無料トライアルもご利用いただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 文書・データ管理

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【無料】X線CTによるメタリック射出成形品の配向挙動解析

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり!14本の論文を60Pに凝縮 業界20年の老舗の英知 X線CT/画像解析/三次元/受託

◆収録論文 1.三次元画像処理のためのソフトウェア技術の実際 2.マイクロCT 3.X線CTによる樹脂成形品中のガラス繊維の観察と三次元解析 4.X線CTによるメタリック射出成形品の配向挙動解析 5.高分解能X線CTによる厚肉球状黒鉛鋳鉄の三次元組織観察 6.X線CTとExFact VR 2.0による鋳造品の内部品質評価 7.セメントコンクリート舗装の三次元損傷診断 8.三次元空隙ネットワーク解析によるリチウムイオン電池電極の評価法の開発 9.三次元画像からの粒径分布の抽出による水素吸蔵合金充填層の粒子偏析現象に関する検討 10.CT値ヒストグラムに基づく複合材料の大局的構造評価法の検討 11.実物の内部構造3Dデータを用いた透明可視化模型の製作と評価 12.内部構造を伴う現物の3D画像を効果的に展示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から

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【無料】X線CTによる樹脂成形品中のガラス繊維の観察と三次元解析

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり!14本の論文を60Pに凝縮 業界20年の老舗の英知 X線CT/画像解析/三次元/受託

◆収録論文 1.三次元画像処理のためのソフトウェア技術の実際 2.マイクロCT 3.X線CTによる樹脂成形品中のガラス繊維の観察と三次元解析 4.X線CTによるメタリック射出成形品の配向挙動解析 5.高分解能X線CTによる厚肉球状黒鉛鋳鉄の三次元組織観察 6.X線CTとExFact VR 2.0による鋳造品の内部品質評価 7.セメントコンクリート舗装の三次元損傷診断 8.三次元空隙ネットワーク解析によるリチウムイオン電池電極の評価法の開発 9.三次元画像からの粒径分布の抽出による水素吸蔵合金充填層の粒子偏析現象に関する検討 10.CT値ヒストグラムに基づく複合材料の大局的構造評価法の検討 11.実物の内部構造3Dデータを用いた透明可視化模型の製作と評価 12.内部構造を伴う現物の3D画像を効果的に展示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から

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不良解析サービス

多様な解析手法と適宜対応で製品の品質向上に役立つサービスをご紹介

当社では、他社の製品サンプルを含め、様々な不良に対する詳細な不良解析サービスを行っております。 広範囲に及ぶ多様な解析手法を用いて、不良の原因を詳細に調査します。 FTIR(フーリエ変換赤外分光法)などの専門的な材料解析技術を利用し、材料自体の問題や不具合を特定することも可能です。 また、必要に応じて工業試験所などの外部設備を利用し、社内設備で対応できない特殊な解析も可能です。 依頼内容や製品の状況を詳細に伺った上で、特に不良が発生しやすいと予測される部分を集中的に解析します。 【サービス事例】 ■LED製品解析 ■ワイヤーボンド接合部解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。  

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