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顕微鏡(測定) - List of Manufacturers, Suppliers, Companies and Products

Last Updated: Aggregation Period:2025年08月20日~2025年09月16日
This ranking is based on the number of page views on our site.

顕微鏡 Product List

46~60 item / All 206 items

Displayed results

オールインワン共焦点ラマン顕微鏡 Confotec MR200

高感度・コンパクト・ 高コストパフォーマンスのオールインワン型ラマン顕微鏡。品質管理などのルーチン測定や研究・開発用途に好適。

【特長】 ・コンパクト、オールインワンモデル ・低価格、高コストパフォーマンス ・高感度、高スペクトル分解能 ・自動化システム ・高い長期信頼性と動作安定性により調整不要 ・最大3レーザーを同時設置・自動切換え ・最大4枚グレーティングを同時設置、自動切り換え可能 低価格・全自動制御、優れた安定性で品質管理などのルーチン測定や、研究・開発用途に好適。 微小粒子のスペクトル分析や高空間分解能を必要とするラマンイメージングにも対応。 顕微鏡一体型のコンパクトサイズで設置面積を取りません。 レーザー出力、ビーム径、ピンホールサイズ、グレーティングの切り替えなどを電動制御する自動化システムで、自動キャリブレーション(オプション)にも対応可能です。

  • レーザー顕微鏡
  • 分光分析装置
  • 分析機器・装置

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3D共焦点レーザーラマン顕微鏡 Confotec NR500

【ハイエンドモデル】高感度・高波数分解能・高拡張性を持つ最高レベルの顕微ラマン分光装置

【特長】 ・高空間分解能 : XY < 300 nm、Z < 600 nm (@532 nm) ・高波数分解能 ・高速イメージングモード : ガルバノスキャン 1000x1000ピクセル/3秒 ・自動化機能 : レーザー出力、ビーム径、ピンホールサイズ、グレーティングの切り替えなど ・高拡張性 : CARSモデル、AFMラマン/TERS、蛍光寿命測定、オートフォーカス機能、SERS基板 など ・低波数ラマン測定オプション ・ブリルアン散乱(ブリュアン散乱)測定オプション 共焦点ピンホールなどの一連の光学配置を自動切り替え可能であり、共焦点光学配置を持つ本装置は、微小粒子のスペクトル分析または高空間分解能を有するマクロ物体のラマンイメージングを行なうことを可能にします。 豊富な機能追加オプションがあり、拡張性に優れたラマン顕微鏡です。

  • レーザー顕微鏡
  • 分光分析装置
  • 分析機器・装置

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【開発・製造実績紹介】医科用機器

モアレ応用3次元人体測定装置など!様々な機器の製造・開発実績がございます

当社での、医科用機器の開発・製造実績をご紹介します。 耳鼻科手術用顕微鏡をはじめ、眼科用検査装置類、 モアレ応用3次元人体測定装置などを開発・製造。 また、そのほかにもLED照明付のTVカメラ内蔵顕微鏡の 実績もございます。 【実績一覧】 ■耳鼻科手術用顕微鏡 ■眼科用検査装置類 ■モアレ応用3次元人体測定装置 ■TVカメラ内蔵顕微鏡(LED照明付) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【事業紹介】画像処理顕微鏡・レーザー刻印

オートフォーカス画像顕微鏡などにより、小さな形状や精密部品の測定も容易!

株式会社メグシでは、画像処理顕微鏡・レーザー刻印を行っております。 リニアハイトゲージやオートフォーカス画像顕微鏡により、 小さな形状や精密部品の測定も容易に行えます。 また、YVO4レーザーマーカーにより、品名や番号、ロゴなどを 金属や樹脂部品へも緻密なマーキングができます。 【特長】 ■小さな形状や精密部品の測定も容易 ■品名や番号、ロゴなどを金属や樹脂部品へも緻密なマーキングが可能 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 刻印機

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LT STM(極低温走査トンネル顕微鏡)

極低温環境における走査トンネル顕微鏡の紹介

LT STM(極低温走査トンネル顕微鏡)とは、極低温環境における走査トンネル顕微鏡をさします。 多数の販売実績のある装置で、5K以下の極低温でのSTM測定が可能な装置です。 【用途】 極低温環境におけるナノ領域のSTM観察・測定 【特長】※英語表記です。 ●Increased hold time to >65h at same performance level „ ●High frequency wiring „ ●Increased spectroscopy resolution „ ●Record proven platform since 1996 with more than 200 devices installed „ ●Reliable design ensuring high up-time „ ●Independent tip and sample temperature „ ●Leading QPlus AFM technology

  • 分析機器・装置

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超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400

高い拡張性を有した超高真空極低温SPM、近接場光/ラマン分光に拡張可能

本装置は新規に開発されたクライオスタットを採用し、STMをはじめAFMの機能を備えた最新設計の低温SPM装置で近接場光測定やラマン分光などのまったく新しい用途に使用できます。

  • マイクロスコープ
  • 分析機器・装置
  • その他

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読取顕微鏡『Zシリーズ』

測定範囲Z軸150mm、測長変更も可能。特注・アナログ仕様はご相談ください

『Zシリーズ』は、測定範囲 Z軸150mmの読取顕微鏡です。 測長の変更が可能です。 標準、マグネット付、マグネット+回転テーブル付を ラインアップ。 その他、特注仕様に関しましてはご連絡ください。 アナログ仕様に関しましては、別途ご相談ください。 【特長】 ■測定範囲:Z軸 150mm ■測長変更が可能 ■標準、マグネット付、マグネット+回転テーブル付  をラインアップ ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡(SSRM)による局所抵抗分布評価

CIGS薄膜太陽電池のZnO/CdS/CIGSの多結晶へテロ接合界面をSSRM法で分析し、局所的な抵抗分布を計測しました。真空環境下で測定することで、測定表面の吸着水を除去し、高空間分解能を得ることができます。測定結果から、ナノメートルレベルの空間分解能で各層の抵抗値を計測できていることが分かります。各層の抵抗値が数桁異なり、これがキャリア濃度の違いを示しています。CIGS層はi-ZnO層よりも高抵抗であること、CdSはこれらの層よりもさらに高抵抗であることが分かりました。

  • 受託解析

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高分子用AFM/SPM Cypher ES ポリマーエディション

高分子材料研究に最適な測定モードやオプションを標準装備!超高性能環境制御搭載AFM/SPMがベースのポリマー用原子間力顕微鏡

Cypher ES ポリマーエディションは、アサイラム・リサーチの超高性能 AFMに洗練された環境制御をプラスしたCypher ESがベースとなっており、ポリマー材料研究や高分子キャラクタリゼーションに最適な測定モードやオプション(下の”基本情報”参照)があらかじめ標準装備されています。 ●その他機能や詳細についてはカタログをご覧頂くか、お問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器
  • マイクロスコープ

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AFMプラットフォーム 光学顕微鏡付き

高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。

光学顕微鏡を備えたAFMプラットフォームです。光学顕微鏡観察をしたエリアを狙い、原子間力顕微鏡によるイメージングが可能。 垂直光路設計を採用し、気液両用プローブホルダーは空気中でも液体中でも同時に使用可能。(要 液中測定オプション) ※詳しくはお問い合わせください。

  • プローブ

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超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1200

✔10日以上のLHe保持、連続STM測定、  ✔1日、1ℓ以下のLHe消費

超高真空中で試料の前処理とプローブの清浄化を行なって、極低温下でSTM・AFMが原子・分子レベルの分解能で観測できます。近年広がりつつある応用範囲に対応するために新しいプローブや付属装置を取り揃えています。

  • マイクロスコープ
  • 分析機器・装置

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SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に!単結晶GaNの測定事例もご紹介

当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。 窒化ガリウム(GaN)等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位は デバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。 半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡(TEM)やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。 【測定事例】 ■供試材:単結晶GaN(サファイア基板上にGaNを成膜したウェハ) ■面方位:C面(0001)±0.5° ■GaN膜厚:4.5±0.5μm ■測定条件:後方散乱モード ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託測定

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バッテリー製造用 3D検査顕微鏡 AniCAMHD

55% スラリー廃棄物削減、切替時間の短縮、在庫の削減!

AniCAM HD with PIXELOCは、アニロックスロールやグラビアシリンダーの検査用として世界をリードする3D容積測定装置で、その独自の柔軟性により、バッテリーやソーラーパネルの製造など、多くの製造環境で使用することができます。 Troika Systems社AniCAMは製造工程で使用される活物質、導電性添加剤、ポリマーバインダー、溶剤が集電体に適切な量と厚さで塗布されているかどうかを正確に測定するのに最適な装置です。

  • 2次電池・バッテリー
  • その他検査機器・装置

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コンパクトタイプ原子間力顕微鏡 NaioAFM

かんたん操作でコンパクト・壊れにくい!低コストな“All-in-one”AFM装置をご紹介

『NaioAFM』は、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、 研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に測定したい ユーザーに好適なコンパクトタイプ原子間力顕微鏡です。 当製品特有の“Flip-over”スキャンヘッドと専用交換ツールにより、短時間に そしてシンプルに、カンチレバーの交換が可能。 機能性と操作性を両立し、どなたでも、どこでも使える“All-in-one”AFM装置 として、世界中で広くご利用いただいております。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載、場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加搭載が可能 ■シンプルなカンチレバー交換:レーザや検出器の調整不要 ■設置後すぐに測定可能:USBケーブルを接続しソフトウエアを立ち上げるだけ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【製品不要の改善】MEMS顕微鏡(両面パターンズレ検査装置)

顕微鏡カメラでモニタして、パターンズレや通り違いを検査!

アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の MEMS顕微鏡を取扱っています。 『TMIR-2000』は、MEMSウエハを上下両面から顕微鏡カメラでモニタして パターンズレや通り違い検査ができます。 新開発ソフトで2カメラの光軸をアライメントとリアルタイムで合成で 上下の重なりズレをダイレクトに写します。また、自動線幅測定で マークズレをサブミクロン測定します。 【基本構成(抜粋)】 ■MEMS 顕微鏡 本体 ■三眼鏡筒 ■接眼 10 倍 ■XY ステージ ■カラーカメラ2台 ■検査 PC/19型モニタ/MEMS 検査ソフト 他 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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