超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400
高い拡張性を有した超高真空極低温SPM、近接場光/ラマン分光に拡張可能
本装置は新規に開発されたクライオスタットを採用し、STMをはじめAFMの機能を備えた最新設計の低温SPM装置で近接場光測定やラマン分光などのまったく新しい用途に使用できます。
顕微鏡(測定) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり
更新日： 集計期間:2026年03月25日～2026年04月21日
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顕微鏡の製品一覧
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オールインワン共焦点ラマン顕微鏡 Confotec MR200
高感度・コンパクト・ 高コストパフォーマンスのオールインワン型ラマン顕微鏡。品質管理などのルーチン測定や研究・開発用途に好適。
【特長】 ・コンパクト、オールインワンモデル ・低価格、高コストパフォーマンス ・高感度、高スペクトル分解能 ・自動化システム ・高い長期信頼性と動作安定性により調整不要 ・最大3レーザーを同時設置・自動切換え ・最大4枚グレーティングを同時設置、自動切り換え可能 低価格・全自動制御、優れた安定性で品質管理などのルーチン測定や、研究・開発用途に好適。 微小粒子のスペクトル分析や高空間分解能を必要とするラマンイメージングにも対応。 顕微鏡一体型のコンパクトサイズで設置面積を取りません。 レーザー出力、ビーム径、ピンホールサイズ、グレーティングの切り替えなどを電動制御する自動化システムで、自動キャリブレーション(オプション)にも対応可能です。
- 企業：MSHシステムズ株式会社
- 価格：応相談
【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価
真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）による局所抵抗分布評価
CIGS薄膜太陽電池のZnO/CdS/CIGSの多結晶へテロ接合界面をSSRM法で分析し、局所的な抵抗分布を計測しました。真空環境下で測定することで、測定表面の吸着水を除去し、高空間分解能を得ることができます。測定結果から、ナノメートルレベルの空間分解能で各層の抵抗値を計測できていることが分かります。各層の抵抗値が数桁異なり、これがキャリア濃度の違いを示しています。CIGS層はi-ZnO層よりも高抵抗であること、CdSはこれらの層よりもさらに高抵抗であることが分かりました。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
読取顕微鏡『Zシリーズ』
測定範囲Z軸150mm、測長変更も可能。特注・アナログ仕様はご相談ください
『Zシリーズ』は、測定範囲 Z軸150mmの読取顕微鏡です。 測長の変更が可能です。 標準、マグネット付、マグネット＋回転テーブル付を ラインアップ。 その他、特注仕様に関しましてはご連絡ください。 アナログ仕様に関しましては、別途ご相談ください。 【特長】 ■測定範囲：Z軸 150mm ■測長変更が可能 ■標準、マグネット付、マグネット＋回転テーブル付 をラインアップ ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：有限会社日本光器製作所 ショールーム・営業部
- 価格：応相談
超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1200
✔10日以上のLHe保持、連続STM測定、 ✔1日、1ℓ以下のLHe消費
超高真空中で試料の前処理とプローブの清浄化を行なって、極低温下でSTM・AFMが原子・分子レベルの分解能で観測できます。近年広がりつつある応用範囲に対応するために新しいプローブや付属装置を取り揃えています。
SEM-ECCI法によるGaNの転位観察
SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に！単結晶GaNの測定事例もご紹介
当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。 窒化ガリウム（GaN）等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位は デバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。 半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡（TEM）やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。 【測定事例】 ■供試材：単結晶GaN（サファイア基板上にGaNを成膜したウェハ） ■面方位：C面（0001）±0.5° ■GaN膜厚：4.5±0.5μm ■測定条件：後方散乱モード ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社大同分析リサーチ
- 価格：応相談
高分子用AFM/SPM Cypher ES ポリマーエディション
高分子材料研究に最適な測定モードやオプションを標準装備！超高性能環境制御搭載AFM/SPMがベースのポリマー用原子間力顕微鏡
Cypher ES ポリマーエディションは、アサイラム・リサーチの超高性能 AFMに洗練された環境制御をプラスしたCypher ESがベースとなっており、ポリマー材料研究や高分子キャラクタリゼーションに最適な測定モードやオプション（下の”基本情報”参照）があらかじめ標準装備されています。 ●その他機能や詳細についてはカタログをご覧頂くか、お問い合わせください。
- 企業：オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
- 価格：1000万円 ~ 5000万円
光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化
『MINUK』は、目視では見えない透明フィルム表面を可視化・定量化できる 光波動場三次元顕微鏡です。 nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得可能。ワンショットで 深さ方向の情報も併せて取得することにより、目視では見えない透明フィルム 表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することが可能です。 高速で広範囲をマッピングし情報を得ることができるスティッチング機能に より、観察したい場所を素早く見つけ、詳細情報を取得することが可能です。 【特長】 ■nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ■1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ■フォーカス不要で高速測定が可能 ■非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ■任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
AFMプラットフォーム 光学顕微鏡付き
高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。
光学顕微鏡を備えたAFMプラットフォームです。光学顕微鏡観察をしたエリアを狙い、原子間力顕微鏡によるイメージングが可能。 垂直光路設計を採用し、気液両用プローブホルダーは空気中でも液体中でも同時に使用可能。（要 液中測定オプション） ※詳しくはお問い合わせください。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
コンパクトタイプ原子間力顕微鏡 NaioAFM
かんたん操作でコンパクト・壊れにくい！低コストな“All-in-one”AFM装置をご紹介
『NaioAFM』は、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、 研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に測定したい ユーザーに好適なコンパクトタイプ原子間力顕微鏡です。 当製品特有の“Flip-over”スキャンヘッドと専用交換ツールにより、短時間に そしてシンプルに、カンチレバーの交換が可能。 機能性と操作性を両立し、どなたでも、どこでも使える“All-in-one”AFM装置 として、世界中で広くご利用いただいております。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載、場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加搭載が可能 ■シンプルなカンチレバー交換：レーザや検出器の調整不要 ■設置後すぐに測定可能：USBケーブルを接続しソフトウエアを立ち上げるだけ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本カンタム・デザイン株式会社
- 価格：応相談
【技術資料】QCLとFT-IRを用いた自動車塗装片の法科学的分析
微小な塗装の欠片も分析することが可能！実際に事故車両の特定に貢献しています
赤外顕微鏡は、微小物の組成を同定できる分析ツールの1つであり、法科学の 証拠分析においても不可欠なものとなっています。 当資料で紹介するブルカーの「HYPERION II-ILIMシステム」による、IRレーザー イメージングと顕微FT-IR測定を併用した分析法は、分析時間を大幅に 短縮しつつ、分析の質をさらに向上させることができます。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■IRレーザーイメージングとFT-IRで使用される光源のちがい ■IRレーザーイメージングとFT-IRを併用した分析法 ■応用例：自動車の塗装片 ■ゲームチェンジャー：IRレーザーイメージングとFT-IR測定を1台の装置で実現 ■測定結果：効率と信頼性の向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
バッテリー製造用 ３D検査顕微鏡 AniCAMHD
55% スラリー廃棄物削減、切替時間の短縮、在庫の削減！
AniCAM HD with PIXELOCは、アニロックスロールやグラビアシリンダーの検査用として世界をリードする3D容積測定装置で、その独自の柔軟性により、バッテリーやソーラーパネルの製造など、多くの製造環境で使用することができます。 Troika Systems社AniCAMは製造工程で使用される活物質、導電性添加剤、ポリマーバインダー、溶剤が集電体に適切な量と厚さで塗布されているかどうかを正確に測定するのに最適な装置です。
- 企業：株式会社クロスリンク・パシフィック
- 価格：応相談
卓上型 電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』
光学画像からSEM観察までがシームレス！観察しながら同時に元素分析！
当社では、観察中に元素分析も同時測定できる 卓上型電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』を取り扱っております。 観測範囲は10倍から100,000倍でSEMのすべての機能が簡単に操作可能。 低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大し、非導電性試料も そのまま観察できます。 【特長】 ■10倍から100,000倍の観測範囲 ■SEMのすべての機能が簡単操作 ■低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大-Zeromag-（新機能） ■観察中に元素分析も同時測定-Live Analysis-（新機能）※オプション ■ミクロの寸法測定機能が標準 他 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社三友商行
- 価格：応相談
測定工具顕微鏡『メジャースコープ』
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡！総合カタログ無料配布中！
メジャースコープは、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡です。工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。小型で使いやすく、目視検査からモニター観察 ･ 画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 さまざまな機種やアクセサリー類をきめ細かく豊富に取り揃え、幅広いニーズに低価格でお応えいたします。 【特長】 ・レンズ系は明るく実視野が広い完全正立像式の顕微鏡 ・工業用に好適な長作動距離・同焦点（対物レンズ２×～１０×）に設計 ・接眼ミクロメーターを交換するだけで、各種測定・検査・芯出し・位置決めなどが対応カ脳 ・対物レンズは微細な倍率補正が簡単に出来る金枠機構 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：株式会社ミラック光学
- 価格：応相談
FT-IRイメージング顕微鏡『LUMOS II』
微小物分析でお困りごとはございませんか？『LUMOS II』が解決いたします！
微小物分析でお困りごとはございませんか？ ・液体窒素の用意ができない、面倒だ 『LUMOS II』は【液体窒素不要】電子冷却式MCT検出器搭載のため、液体窒素は不要です。 ・初心者でも簡単に使える顕微IRが欲しい 『LUMOS II』は【完全自動化オペレーション】のため、初心者の方にもご利用いただけます。 他にも… ・もっと画像のキレイな顕微IRはないか ・高速イメージング機能を使用してみたい など 『LUMOS II』は、顕微赤外分光やイメージング解析をより簡単に、 より迅速に、そして快適に進めることか可能です。 長作動距離の対物鏡によりアクセスが容易で、動作のすべてが 電動化された自動試料ステージも特長のひとつです。 【特長】 ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
両面位置確認顕微鏡 DVM－400NEW
被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせズレ量を比較観察し、メジャーリングシステムで測定できる顕微鏡。
被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせ、そのズレ量を比較観察し、 メジャーリングシステムで測定できる顕微鏡です。 対物レンズは観察倍率50倍から1000倍まで5種類で多種多様な試料に対応できます。 NIR可視/赤外透過タイプ。 カメラ位置合成装置もあります。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：株式会社アイティ・テック
- 価格：応相談
赤外顕微鏡（顕微IR)用『ダイヤモンドエクスプレス２』
コンプレッションセルのスタンダード
■ 厚みのある試料を均一に薄く潰すことが可能なダイヤモンドセルです ■ 試料を薄くすることにより、FTIRの顕微測定の際に飽和の無いスペクトルを得ることが可能となります ■ サンプリングの際にアクシスプロを用いれば、ダイヤモンドセルの中心の狙った位置に対象物を置くことが容易です ■ プレスし薄片化された対象物を顕微IR用透過窓板へ受渡したい場合は、アクシスプロを用いれば可能となります。 ※ 詳しくは以下関連リンク先からお問合せください。
- 企業：株式会社マイクロサポート 本社営業部・開発部
- 価格：応相談
デジタル顕微鏡『Dino-Lite 高倍率シリーズ』※デモ機あり
超高倍率で観察・撮影が可能！ワンタッチ撮影ボタン搭載のデジタル顕微鏡
『Dino-Lite（ディノライト）高倍率シリーズ』は、400倍以上の超高倍率レンズでミクロの世界を観察・撮影することが可能なデジタル顕微鏡です。 本格的な顕微鏡にも匹敵する拡大率で対象物に迫ります。 大きな拡大率が必要な場合に威力を発揮します。 【特長】 ■超高倍率で観察・撮影可能 ■ワンタッチ撮影ボタンを搭載 ■白色LEDライトを搭載 ■偏光モデルもラインアップ ■測定のキャリブレーション（較正）が可能 ・測定精度を高めることができる 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：サンコー株式会社 法人営業部
- 価格：10万円 ~ 50万円
共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』
【技術資料進呈中】高感度性能と高波数精度を両立！コンパクトかつ堅牢な分散型顕微ラマンシステム
『SENTERRA II』は、品質管理等のルーチン分析から先端の研究分野まで対応する ブルカーならではの高性能システムです。 一般的なラマン顕微鏡では、分光器が顕微鏡と分離されたシステムがほとんどで、 性能を維持するために多くの時間を割く必要があります。 当製品は励起レーザー、分光器、顕微鏡が一体となったコンパクトかつ堅牢な 統合システムで、その効率的な光学設計により、高い性能と安定性を達成しています。 また、迅速に結果が得られるようにスムーズかつ的確にオペレーターをサポート。 試料の可視観察からスペクトル品位の確認、測定領域の設定まで、データ測定の 手順をステップごとにガイドします。 【特長】 ■高度に自動化された各種機能と効率的な操作性 ■コンパクト＆堅牢設計 ■効率性と柔軟性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
原子間力顕微鏡（AFM）
研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能な原子間力顕微鏡（AFM）のご紹介
当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を 簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡（AFM）』を取り扱っています。 アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、 専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行える コンパクト設計の「NaioAFM」などのモデルをラインアップ。 研究現場向けの小型仕様から、生産現場向けの大型ステージ仕様、 品質管理用の自動化システムといったカスタマイズ対応が可能です。 【ラインアップ（抜粋）】 ◎卓上型原子間力顕微鏡「CoreAFM」 ■アクティブ防振機構・風防を採用 ■32種類の測定オプションを搭載可能 ◎小型原子間力顕微鏡「NaioAFM」 ■コントローラ、XYステージ・風防・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載 ※当社が取り扱う走査型プローブ顕微鏡をまとめたカタログを配布中。 詳しい内容は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。
- 企業：日本カンタム・デザイン株式会社
- 価格：応相談
【DL可/AFM】めっき済み接点部品表面の導電性評価
AFMでは極めて微小な表面形態（凹凸）を捉えて測⾧することが可能です
AFM走査型プローブ顕微鏡は、「探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う」装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性や絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 この分析装置を使い「めっき加工したコネクタ接点部品の表面処理」の調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、AES、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の実績も多数あります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
- 企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社
- 価格：応相談
デジタル顕微鏡『Dino-Lite WiFi対応』※デモ機あり
ワイヤレス接続可能で持ち運びにも便利なデジタルマイクロスコープDino-Lite WiFi対応モデル
『Dino-Lite（ディノライト）高解像度・アルミボディシリーズ』は、超高解像度で観察、記録が可能なデジタル顕微鏡です。 AFシリーズは、WiFi ストリーマーと接続することにより、ワイヤレスで使用が可能に。 電源の無い野外でも快適に使用することができます。 【特長】 ■WiFi接続モジュール使用でワイヤレス接続が可能 ■偏光フィルターや超深度撮影、拡大ダイナミックレンジなど様々な機能を搭載 ■WiFi接続モジュールとのセット商品あり ■測定のキャリブレーション（較正）が可能 ・測定精度を高めることができる 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：サンコー株式会社 法人営業部
- 価格：10万円 ~ 50万円
高速原子間力顕微鏡(高速AFM)『MS-NEX』
初めてAFMを扱う方でも、簡単にナノスケールの動画観察が可能！
『MS-NEX』は、溶液中でサンプルをナノスケール&リアルタイムで動画観察が できるモジュールシステムの高速原子間力顕微鏡(高速AFM)です。 「今はこの機能が必要」「今はこの機能は使わない」というご要望に フレキシブルに対応。 お客様の研究テーマや進捗、ご予算に応じ、様々なモジュールを 組み合わせることで"今"にマッチした高速AFMをお使いいただけます。 【特長】 ■ナノスケール&リアルタイムで動画観察可能 ■必要に応じて各種機能を自由に組み合わせ ■後からモジュールを追加することも可能 ■様々なサポート機能を搭載 ■初めてAFMを扱う方でも簡単 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社生体分子計測研究所
- 価格：応相談
【分析事例】液体中微粒子の構造・分散具合評価
クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察
液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、従来は液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いて測定しておりました。しかしながら、実際に用いる液体中で微粒子がどのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法でした。 そこで、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工＋SEM観察を行って評価した事例をご紹介します。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
![[MFM]磁気力顕微鏡法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/8b9/2000475543/IPROS6176896315983391970.jpg?w=280&h=280)
[MFM]磁気力顕微鏡法
MFMは、磁性膜でコートされたプローブを用いて、サンプル表面近傍に生じている漏洩磁場を測定し、磁気情報を得る測定手法です。
・サンプルの磁気特性の情報を定性的に取得可能 ・漏洩磁場による引力・斥力をイメージング可能 ・漏洩磁場の勾配の大きさに比例した磁気力の信号を得られるが、定量評価は不可 ・AFM像の取得も同時に取得可能
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
切削を定量的に評価できる環境を完備【測定機器一覧】
切削現場の困り事を解決！刃先丸み半径や加工面粗さを測ることや、摩耗の観察などが可能
当社の測定機器をご紹介いたします。 刃先丸み半径や加工面粗さを定量的に測ることが可能な 「レーザ顕微鏡」や、摩耗の観察が可能な「電子顕微鏡(SEM)」 などを保有。 また、溶着・凝着の観察を行うことで、適切な工具の選定が 可能な「マイクロスコープ」もございます。 【機器一覧】 ■レーザ顕微鏡 ■電子顕微鏡(SEM) ■マイクロスコープ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社内山刃物
- 価格：応相談
加熱顕微鏡『HM 867』
要求の厳しい研究開発および製造技術ラボ用の加熱顕微鏡システム
『HM 867』は、サンプルを分析し、それらの特性形状を識別することにより、 産業プロセスにおける一層優れた熱サイクルの最適化が可能になりました。 当製品の精密なマイクロステッパーモーターは、カメラとファーナスの 位置調整を含め、XYZ軸上において完全に自動化されたPC制御の操作が可能。 また、光学ベンチは、温度範囲全体で性能と安定性を保証するために、 動的サーモスタット制御システムを備え、熱的に超安定した材料で機械加工 されたHD CMOSベースビデオカメラを搭載しています。 【特長】 ■完全に自動化されたPC制御の操作が可能 ■HD CMOSベースビデオカメラを搭載 ■広範囲における形状とサイズのサンプルを分析できる ■同時に8個までのサンプルを測定
顕微鏡『メジャースコープ』／レンズカメラ『デジタルキャッチ』
さまざまな組み合わせが可能な顕微鏡！ワイヤレス送信ができるレンズカメラもご紹介！
『メジャースコープ』は、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に 必要不可欠な顕微鏡です。 工作機械や測定器・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的に サポートする周辺機器としても利用価値の高い製品。小型で使いやすく、 目視検査からモニター観察・画像計測・デジカメ写真撮影まで 多様な用途でご利用いただけます。 【メジャースコープ 特長】 ■レンズ系は明るく実視野が広い完全正立像式の顕微鏡 ■工業用に好適な長作動距離・同焦点（対物レンズ 2×～1 0×）に設計 ■接眼ミクロメーターを交換するだけで、各種測定・検査・芯出し・ 位置決めなどさまざまな用途への対応が可能 ■対物レンズは微細な倍率補正が簡単にできる金枠機構 また、メジャースコープに装着すれば、対象物と目盛ガラスを タブレット端末などに映し出して画面を見ながら測定、検査、位置決めが できる『デジタルキャッチ』も取り扱っています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ミラック光学
- 価格：応相談
［SEM］走査電子顕微鏡法
高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 EDX検出器による元素分析が可能 電子線誘起電流（EBIC）を測定し、半導体の接合位置・形状を評価 電子後方散乱回折（EBSD)法により、結晶情報を取得可能 FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能（Slice & View） 冷却観察・雰囲気制御観察
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中
表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載
『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、 サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、 サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加が可能 ■お客様先に装置を持参してのデモも受付中 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。
- 企業：日本カンタム・デザイン株式会社
- 価格：応相談
