更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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USBポート仕様。測定範囲X.Y軸0～25mm、Z軸(深さ)0～6.5mm
『NTM-100F』は、USBポート仕様の三軸測定顕微鏡です。 測定範囲はX.Y軸0～25mm、Z軸(深さ)0～6.5mm。 最小読取値はX.Y軸0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド)、 Z軸0.001mm(デジマチックインジケーター)です。 【仕様(抜粋)】 ■測定範囲 ・X.Y軸：0～25mm ・Z軸(深さ)：0～6.5mm ※100X ■最小読取値 ・X.Y軸：0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド) ・Z軸：0.001mm(デジマチックインジケーター) ■統合倍率：100X (200X) ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡の紹介です。
VT-STM/AFM （温度可変型走査トンネル顕微鏡）は、冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡をさします。 低温から高温までの幅広い温度帯のSTM測定が可能のため、ナノ領域（低温から高温まで）のSTM観察・測定にご利用いただけます。 ※詳細はお問い合わせいただくか、PDF資料をダウンロードしてください。
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です！
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です。 1型：上下と左右方向の振幅が視野内の光学スケールで同時に読めます。 照明：ファイバーによる落射照明と同軸照明の2つが目的により交互に使えます。 5型：光切断方式を使い前後、奥行き方向の振幅を測定します。斜めの方向から振動物体にスリットを当て、対称に置かれた光学系で拡大し、前後、奥行き方向の振幅量の大小によってスリットの振れ幅が大きくなり、その量を視野内の基準線に顕微鏡の前後、奥行き方向の移動で合わせますと、その竜尾がデジタルで表示されます。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
品質管理を簡単に！迅速かつ容易に新技術へアップデート可能な顕微鏡・拡大鏡『TAGARNO FHD PRESTIGE』
当製品は、TAGARNO社製のスタンドアローンタイプ外観検査用 デジタルマイクロスコープです。最高倍率津で、非常に幅広いワーキングディスタンスを実現しました。 被写界深度の深い非常にシャープな画像を表示し、拡大対象物の品質をドキュメント化します。 またレンズの選択に応じて、24インチモニターで1.7倍～660倍まで拡大することが可能。 さらに、USB2.0スロットを使用して、任意のUSBメモリースティックに直接画像を保存し、 後でパソコンに画像を転送することができる上、ドキュメントは迅速かつ簡単に 会社の取引先と共有できます。 【特長】 ■優れた高品質の画像ドキュメントを入手 ■高さの異なる対象物の高品質画像ドキュメントを作成 ■優れた安定性により高倍率レベルを実現 ■パソコン不要の計測実行 ■簡単に保存し、共有した画像とビデオを検証 ■簡単に正確に小さな対象物を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡
『VK-X3000』は、レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の 3つの異なるスキャン原理が一台で使用できるレーザ顕微鏡です。 サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 【特長】 ■ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式 ■292種類の解析ツールにより、知りたいことはこの一台で完結 ■光学顕微鏡からSEMの領域を1台でカバー ■非接触で一瞬にして形状をスキャン ■知りたかった表面の“違い”がわかる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 １．はじめに ２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化 ３．DPC-STEM法の適用 ４．おわりに
不均一系試料に関する化学的評価を簡単かつ正確に行うことが可能です
『LUMOS II』は、顕微赤外分光やイメージング解析をより簡単に、 より迅速に、そして快適に進めることか可能です。 透過、反射、ATR（全反射吸収）、すべての測定モードにおいて 高い性能を発揮。 長作動距離の対物鏡によりアクセスが容易で、動作のすべてが 電動化された自動試料ステージも特長のひとつです。 【特長】 ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による各種事例をご紹介します。資料DL可です。
当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、 「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試料と結果、 「はんだ断面の残留応力測定」の目的や手法、結果など多数掲載。 他にも、配向評価や断面観察結果、測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価 ■イオンミリングによる微小部断面加工 ■はんだ断面の残留応力測定 ■線材の残留応力測定 ■冷却（クライオ）イオンミリング断面加工 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
透過・反射・ATR 測定を標準装備！CCD観察機能なども搭載した赤外顕微鏡システム
『Spotlight 150i/Spotlight 200i』は、赤外顕微鏡システムです。 「Spotlight 150i」は、セミオートシステムで、透過、反射、ATRを測定。 「Spotlight 200i」は、フルオートシステムで、マッピング、ラインスキャン を行います。 光学系はトリプルカセグレン鏡で、可視光源は白色LEDとなっております。 【仕様(抜粋)】 ■光学系：トリプルカセグレン鏡 ■可視観察：CCDカメラ ■可視光源：白色LED ■ポイント測定モード：透過/反射/ATR ■イメージング測定モード：アップグレードにより可能(Spotlight 200i) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハイテク産業の発展を支える評価用の機器・治具・チャートなどを多数ご紹介
当カタログは、光学機器測定、テストチャート、薄膜パターニングの ソリューションを提供するパール光学工業株式会社の総合カタログです。 芯出し顕微鏡CMシリーズをはじめ、画像処理システム、オートコリメータ、 テストチャート、薄膜パターンニングなど幅広く光学機器を掲載しております。 【掲載製品】 ■芯出し顕微鏡 ■透過式偏芯測定器 ■画像処理システム ■反射式偏芯測定器 ■反射式偏芯測定器RCM-2用オプション ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
【高速イメージングおよび高速マッピング機能搭載】FTIRイメージングをこれまで以上に迅速・快適・正確に！
『LUMOS II』は、高速イメージング対応FPA検出器です。 初心者から上級者まで、分析スキルのレベルに関係なくどなたでも使えるガイド機能付きのため、 スキルのレベルに関係なくすべてのユーザーに迅速・快適・正確にご利用いただけます。 また、イメージングはすべての測定モードにおいて実行することができ、 錠剤、高分子材料、汚染物質の分散状態など、 不均一系試料に関する化学的評価を簡単かつ正確に行うことが可能です。 【特長】 ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
柔軟な拡張性を備える研究開発用FT-IR顕微鏡。QCL 赤外レーザーによるイメージング機能を1つの装置に組み込むことが可能です。
HYPERION II は、赤外顕微鏡における技術革新です。赤外イメージングを回折限界に到達させ、顕微 ATR における基準を作りました。さらには透過・反射・ATR のすべての測定モードにおいて FT-IR 顕微鏡と赤外レーザーイメージング顕微鏡機能 (ILIM) の両方を 1 台で実現する、世界初のシステムです。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
一冊のアプリケーションノートに集約！バッテリー材料の開発と品質管理を加速する評価・分析ソリューションをご紹介
当資料では、相関性のある材料特性評価等が、 研究、製造、そしてサプライチェーン全体のスループット改善にどのように 役立つか等、各種アプリケーション例についてご紹介しています 「NCM正極材料のグレインサイズと集合組織の測定」や「ラマン相関RISE 顕微鏡によるリチウムイオン電池の研究」についてなどを豊富にご紹介。 【掲載内容(抜粋)】 ■はじめに ■バッテリーアプリケーション ■鉱山から工場まで ■リチウムイオン二次電池における導電性材料のESM測定 ■電解質設計のための卓上型多核NMR ※【資料】アプリケーションノート：バッテリー材料分析編を無料プレゼント！ PDFをダウンロードしてご覧ください。お気軽にお問い合わせ下さい。
