更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
31～45 件を表示 ／ 全 224 件
空間分解能を生かした顕微赤外発光分光測定が可能！赤外顕微鏡を用いたソリューションをご紹介
物質の赤外発光スペクトルを解析することは、多くの研究分野において 重要な知見を与えます。 とくにFT-IRを用いた発光スペクトル測定では、幅広い波数領域を同時に 分析することが可能で、試料のもつ熱にともなう熱放射と量子メカニズムに 起因する放射の両方に対応します。 試料が大きく強い赤外線を放射するような場合には、発光スペクトルの測定は 比較的簡単ですが、1mmに満たないような微小試料の場合は、放射赤外光の検出が 困難になります。 当資料では、これらのハードルをクリアする、ブルカーならではの赤外顕微鏡を 用いたソリューションをご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■測定例 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に１５ｃｍの超小型ＡＦＭ
原子間力顕微鏡「ハンディＡＦＭ」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの２種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー（特許取得済み）を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にＡＦＭで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
ソフトマテリアル内部構造の弾性率評価が可能です
物質の内部構造の評価にあたっては、切削や研磨等の断面加工技術により内部構造を保ったまま露出させることが求められます。本資料では加工ダメージの影響が比較的小さなミクロトーム法を用いて毛髪断面を作製し、内部構造のAFM観察、および弾性率評価を行った事例を紹介します。 ミクロトーム法はゴム材料や生体試料等のソフトマテリアル分野で幅広く用いられている切削加工技術であり、本アプローチによってこれらの材料に対して内部構造の機械特性評価が可能となりました。 【測定法・加工法】 ［AFM］原子間力顕微鏡法 ［AFM-MA・AFM-DMA］機械特性評価（弾性率測定・動的粘弾性率測定) ウルトラミクロトーム加工 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
初めての分析作業でも安心して使用できる自動解析システム！
『AIMsight』は、分析業務をサポートする充実の機能を標準搭載した 赤外顕微鏡です。 ATR対物鏡(Geプリズム)で高感度なATR測定が可能。赤外入射角度を より深くしたことにより、黒色ゴムなどの高屈折率試料測定時にも歪みのない 良好なATRスペクトルを取得することができます。 また、ピーク高さや面積、多変量解析(PCR/MCR)や対象スペクトルとの 一致度を使ったケミカルイメージを作成でき、目視では確認できない成分分布を 可視化することができます。 【特長】 ■極微小部における高感度測定 ■高感度なATR測定 ■可視画像を見ながらスムーズな測定 ■成分をイメージで確認 ■測長機能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察
EBICとEBSDで電気的性質と結晶の関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶粒について電子回折を測定しました。これにより、電気的性質と結晶粒・結晶粒界の関係がより一層、明らかになりました。STEM観察および電子回折測定を行うことにより、特定箇所の結晶粒について局所的な情報を得ることが可能です。
低波数領域（テラヘルツ）測定用ラマン顕微鏡
既存のラマン顕微鏡に簡単に脱着可能なラマン顕微鏡のアクセサリーです．試料の前処理が不要で非接触・非破壊の分析が可能で，有機・無機物の成分の測定が可能であり微量，微小の原薬の結晶形の評価に適しています．錠剤や混合粉末を構成している主薬，賦形剤などの成分のケミカルイメージングにより成分の分散状態を評価することも可能です．
USBポート仕様。測定範囲X.Y軸0～25mm、Z軸(深さ)0～6.5mm
『NTM-100F』は、USBポート仕様の三軸測定顕微鏡です。 測定範囲はX.Y軸0～25mm、Z軸(深さ)0～6.5mm。 最小読取値はX.Y軸0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド)、 Z軸0.001mm(デジマチックインジケーター)です。 【仕様(抜粋)】 ■測定範囲 ・X.Y軸：0～25mm ・Z軸(深さ)：0～6.5mm ※100X ■最小読取値 ・X.Y軸：0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド) ・Z軸：0.001mm(デジマチックインジケーター) ■統合倍率：100X (200X) ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡の紹介です。
VT-STM/AFM （温度可変型走査トンネル顕微鏡）は、冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡をさします。 低温から高温までの幅広い温度帯のSTM測定が可能のため、ナノ領域（低温から高温まで）のSTM観察・測定にご利用いただけます。 ※詳細はお問い合わせいただくか、PDF資料をダウンロードしてください。
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です！
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です。 1型：上下と左右方向の振幅が視野内の光学スケールで同時に読めます。 照明：ファイバーによる落射照明と同軸照明の2つが目的により交互に使えます。 5型：光切断方式を使い前後、奥行き方向の振幅を測定します。斜めの方向から振動物体にスリットを当て、対称に置かれた光学系で拡大し、前後、奥行き方向の振幅量の大小によってスリットの振れ幅が大きくなり、その量を視野内の基準線に顕微鏡の前後、奥行き方向の移動で合わせますと、その竜尾がデジタルで表示されます。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
品質管理を簡単に！迅速かつ容易に新技術へアップデート可能な顕微鏡・拡大鏡『TAGARNO FHD PRESTIGE』
当製品は、TAGARNO社製のスタンドアローンタイプ外観検査用 デジタルマイクロスコープです。最高倍率津で、非常に幅広いワーキングディスタンスを実現しました。 被写界深度の深い非常にシャープな画像を表示し、拡大対象物の品質をドキュメント化します。 またレンズの選択に応じて、24インチモニターで1.7倍～660倍まで拡大することが可能。 さらに、USB2.0スロットを使用して、任意のUSBメモリースティックに直接画像を保存し、 後でパソコンに画像を転送することができる上、ドキュメントは迅速かつ簡単に 会社の取引先と共有できます。 【特長】 ■優れた高品質の画像ドキュメントを入手 ■高さの異なる対象物の高品質画像ドキュメントを作成 ■優れた安定性により高倍率レベルを実現 ■パソコン不要の計測実行 ■簡単に保存し、共有した画像とビデオを検証 ■簡単に正確に小さな対象物を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
2025年12月末日までに3D測定レーザー顕微鏡 OLS5100を新規ご成約頂いたお客様に特別価格でご提供！
こちらでは株式会社エビデントの3D測定レーザー顕微鏡「OLS5100」の 特別価格キャンペーンについてご紹介いたします。 【特別価格キャンペーン】 ■期間：2025年12月末日まで ■対象製品 ・OLS5100-SMT 組合せ：20％OFF ・OLS5100-SAT 組合せ：15％OFF ※詳細は下記カタログをダウンロードよりご確認下さい。
ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡
『VK-X3000』は、レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の 3つの異なるスキャン原理が一台で使用できるレーザ顕微鏡です。 サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 【特長】 ■ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式 ■292種類の解析ツールにより、知りたいことはこの一台で完結 ■光学顕微鏡からSEMの領域を1台でカバー ■非接触で一瞬にして形状をスキャン ■知りたかった表面の“違い”がわかる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 １．はじめに ２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化 ３．DPC-STEM法の適用 ４．おわりに
