顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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顕微鏡(測定) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

106~120 件を表示 / 全 208 件

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技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。

【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ(magnetic tunnel junction)構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温度によって磁気特性が変化することから、本稿ではin-situ TEMを用いて、加熱に伴う結晶性や元素分布の変化過程をnmレベルで分析した事例を紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.試料と評価方法 3-1.結晶性の変化 3-2.結晶配向の解析 3-3.面内結晶配向の解析 4.まとめ 5.謝辞 6.おわりに

  • 受託解析
  • 受託測定
  • 技術書・参考書

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非接触段差測定顕微鏡『TAHシリーズ』

光学式非接触方式なので、ワークに変形や打痕の影響なく計測可能!

『TAHシリーズ』は、顕微鏡光学系に「フォーカスナビマーク」を 搭載することにより、フォーカスナビマークを合わせることで Z軸移動量による高さ・深さ・段差を非接触で計測できる顕微鏡です。 フォーカスナビマークの搭載により、オペレーターに依存せず再現性を大幅に向上。 三眼タイプ・直筒タイプの2種類をラインアップし、 用途に合わせて選択可能です。(カメラはCマウントタイプ) 【特長】 ■対物レンズは無限系のf=180タイプとf=200タイプの2種類の選択が可能 ■コンパクトサイズ ■計測用スコープとして装置に取付け可能 ■目的に応じて測定ステージ、TVカメラ装置、計測ソフトウェアを組合せ可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

  • その他

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【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察および構造解析に関する事例を多数ご紹介します!

当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材(ばね材)の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材(ばね材)の金属組織観察 ■2相ステンレスの相解析 ■STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価 ■サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 ■STEMによるコネクタ端子接点不良解析 ■生体試料(モルフォ蝶鱗粉)の断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他解析
  • 受託解析
  • 受託解析

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『SPR顕微鏡』

分子間相互作用解析と明視野イメージングの融合システム!

『SPR顕微鏡』は、表面プラズモン共鳴(SPR)を利用した分子間相互作用の解析と、 明視野でのイメージングを同時に実施する革新的なシステムです。 in vitro環境下ラベルフリーで細胞上の膜タンパク質の結合活性および細胞動態を 計測するシステムとしてデザインされています。 そのため、結合活性の分布(SPR二次元マッピング画像)と細胞構造(明視野画像)を 同時に取得でき、細胞レベルでの変化を調べることができます。 【特長】 ■分子間相互作用解析装置と光学顕微鏡の融合 ■in vitro環境下における細胞レベルでのラベルフリー結合活性のマッピング ■細菌、ウイルス、ナノ粒子のナノメートルレベルでの結合応答測定 ※こちらのPDF資料は英語版となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹介!

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000%向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラーで正確且つ高スループットなCMP計測を実現 ■非常に正確で、チップーチップ間のバラツキも最小にしたサブÅ表面粗さ計測 ■原子間力プロファイラー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 電子顕微鏡

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AFMデータ集

AFM :原子間力顕微鏡法

AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。

  • 受託解析
  • ウエハー

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オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』

細胞や組織を自動で定量化。暗室不要でウェル・スライドを一括解析できる顕微鏡【カタログ・撮影事例付き資料進呈】

オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』は 全ウェルの観察に対応した大型電動ステージや、 クリアな画像が撮影できる高感度モノクロ冷却CCDカメラ等を搭載し、 自動解析による定量化が簡単に行えます。 ◎製品の特長は「導入活用事例集」「製品カタログ」に詳しく掲載しております。  ダウンロードボタンから、ご覧ください。 【導入活用事例集の内容】  ■カニクイザルの心臓の線維化率の計測 ■ウェルプレートを用いたiPS細胞コロニーカウント ■脂肪細胞の定量解析 ■核内の染色体カウント ■胃癌の免疫染色を定量化 ■培養細胞のトランスフェクション効率の計測

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 光学顕微鏡

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【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察

クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の超薄切片作製が可能です。 このAFMとクライオミクロトームを使いポリイソプレンゴムをいろいろな角度から観察しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 本技術はゴム以外にも樹脂、プラスチック、各種高分子材料に応用可能です。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、AES、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

  • その他高分子材料
  • 受託解析
  • ゴム

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『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新製品の開発をサポート

当社では、『個々のニーズに応じた分析サービス』を提供。中でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発/隠れた性質の発見/基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、水素、窒素など任意の雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力-組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただけます。  お問合せ・分析のご依頼もお気軽にどうぞ。

  • 受託解析
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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クライオSEMシステム PP3010T

試料を冷却してSEMで観察できます。

PP3010Tは、含水試料や電子ビーム、真空ダメージを受けやすい試料を凍結させ電子顕微鏡で観察を行う装置です。 大気非暴露で試料の移動が可能なサンプルトランスファーが標準付属。 自動ガス流量コントロール機能やクライオSEMに最も必要な温度コントロール機能を重要視した設計がなされています。試料をより自然の状態に保ちSEM観察を行うPP3010T装置は動植物、医療、食材、ポリマー、塗装、温度上昇に敏感な半導体材料などの測定に活用されています。

  • 電子顕微鏡

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技術情報誌 201910-02 DDS技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。

【要旨】 近年、医薬品の副作用の軽減や有効性の向上を目指し、ドラッグデリバリーシステム(DDS:Drug Delivery System)に着目した研究・開発が進められている。DDSに用いられるキャリアとして、リポソーム、高分子ミセル、無機ナノ粒子といったバイオマテリアルやDrug Conjugates(ADC等)が挙げられる。その中でも当社はリポソームの分析・評価技術の確立に注力しており、難易度が高いTEM(透過型電子顕微鏡)、AFM(原子間力顕微鏡)を中心にリポソームの分析事例を紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.DDSによる基礎技術と各種キャリアの特徴 3.リポソームの分析・評価事例 4.おわりに

  • 受託解析
  • 受託測定
  • 技術書・参考書

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【世界初】細胞観察用ホログラフィック・蛍光顕微鏡

屈折率イメージと蛍光イメージのオーバーレイによる相関比較、わずか数秒の迅速測定

細胞観察用ホログラフィック・蛍光顕微鏡 3D Cell Explorer-fluoは、ホログラフィ技術・トモグラフィ技術による3D屈折率イメージングと2D蛍光イメージングを兼ね備えた、革新的な顕微鏡です。 細胞や組織の内部構造・小器官分布などが迅速・簡単に観察可能です。 各種細胞小器官や細胞膜などを蛍光標識した蛍光イメージを、屈折率イメージとオーバーレイすることにより、蛍光標識と同じ染色イメージとなるようにデジタル染色を校正することができます。 この校正処理したデジタル染色を3D屈折率イメージに適用することで、2Dイメージだった蛍光イメージを3Dイメージに拡張し、3次元的な分布状況を可視化することができます。 この校正処理によって蛍光染色とデジタル染色との相関がとれるため、無染色サンプルにも対応することができるようになります。 構築した3Dイメージは、拡大・縮小、回転の他、断面表示なども可能で、様々な視点から細胞内部をくまなく観察する事ができます。

  • その他 細胞研究
  • その他 顕微鏡・光学検査機器
  • 屈折計

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原子間力顕微鏡

C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ :最大100 mm角 ■ステージ移動距離 :100 mm ■XY走査範囲 : 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 : 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル :Typ : <0.01 mV RMS

  • 外観検査装置

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単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa

単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さ兼ね備え、自動測定時間を短縮を実現。実験室へ簡単にインストール可能。

◆最も信頼性の高い品質と精度 同じ顕微鏡でガルバノスキャン (最大速度) と対物スキャン (最大光子検出効率)を搭載。 ◆時間を短縮しサンプル解析に集中可能 直感的なワークフローで効率的で最小限のユーザー操作でデータ取得が可能。 ◆高度な柔軟性 ワンクリックで観察範囲を調整可能。ソフトウェア経由でオプトメカニクスコンポーネントにアクセス可能。 ※詳細はお問い合わせください。

  • レーザー顕微鏡

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【分析事例】SCMによるイメージセンサの拡散層形状評価

試料解体から測定まで一貫して対応します

本資料では、スマートフォン搭載のイメージセンサ拡散層に関して評価した事例をご紹介します。 半導体のp/n型を判定可能なSCM(走査型静電容量顕微鏡)を用い、拡散層がどのような分布となっているかを評価しました。今回、断面と平面のSCM結果を組み合わせることで、相補的かつ広範囲の情報が得られました。 SCM は、イメージセンサ拡散層の出来映え評価や故障解析に有効なツールの一つです。

  • 受託解析
  • レンズ

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