更新日： 集計期間:2026年03月25日～2026年04月21日
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SEM-STEM・(S)TEMによる高分子材料の観察事例をご紹介いたします！
弊団では、電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察を承っております。 高分子材料は軽元素で構成されているため、(S)TEM観察では 明確なコントラスが得られにくい材料です。そのような材料には 染色を行うことでコントラストを増大させることができます。 本事例では、電子染色と呼ばれる方法で四酸化ルテニウム(RuO4)、 四酸化オスミウム(OsO4)、リンタングステン酸(H3[P(W3O10)4]・ xH2O(略称PTA)を用いて染色観察しました。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
毛髪細胞膜複合体(CMC)の観察事例をご紹介いたします！
弊団では、毛髪断面の微細構造(S)TEM分析を承っております。 毛髪細胞膜複合体(CMC)は、毛髪のブリーチや毛染めなどの際に薬剤の 通り道として利用されます。特にキューティクル/キューティクル間の CMCは3層構造を有しており、この可視化を行いました。 四酸化オスミウム(OsO4)で、脂質中の不飽和脂肪酸を狙って 電子染色を行いTEM観察及びSTEM-EDX分析をした事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) ■ウルトラミクロトーム加工 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
オートフォーカスユニットや近赤外カメラ、顕微鏡カメラシステムなどをご紹介
当カタログは、両面顕微鏡システム・微小線幅計測システムや 顕微鏡カメラシステムなどを掲載しております。 簡単操作、低価格の微小線幅測定システム「VP-5LW」や色再現性に優れた 高精細3CMOSカメラシステム「FR-960M」、実体顕微鏡用に明るく、 色が綺麗な実体顕微鏡用カラーカメラシステム「FR-400Z」などをご紹介。 導入検討の際に参考にしやすい一冊となっています。 【掲載製品(一部)】 ■両面顕微鏡システム 4インチ/6インチ「TOMOS-50/TOMOS-60」 ■6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム「TOMOS-60XY」 ■高速オートフォーカスユニット「MimicII-AF/CL」 ■高感度近赤外カメラ「FS-1700IRP」 ■顕微鏡用カラーカメラシステム「FR-400C」 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能！リキッドファンデーションの塗膜をマクロからミクロまで可視化
当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMでは さらに微視的な構造を観察することができます。 【特長】 ■リキッドファンデーション塗膜の内部構造を 巨視的な形態観察で評価可能 ■電子顕微鏡による詳細構造の観察では、 乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リポソーム、CNF、微粒子、タンパク質などの形態を観察！
弊団では、ネガティブ染色による(S)TEM観察を承っております。 有機機能材料の微粒子や繊維状物質は、主にC(炭素)、H(水素)、O(酸素)、N(窒素)などの 軽元素から構成されるため、(S)TEMでは形態観察に必要なコントラストが得られません。 そこで、これらの材料には染色を行うことで コントラストを増大させ観察を行うことができるようになります。 本事例では、リンタングステン酸(H3[P(W3O10)4]・nH2O(略称PTA))を用いた ネガティブ染色観察を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
EPISセンサを お客様がお手軽に利用できるよう、卓上顕微鏡型の 「EPIScope」を商品化いたしました。
１．電気検査では困難な Open/Shortの『不良位置』を特定できます。 ２．光学画像では困難な『凹み』不良を検出できます。 ３．表層パターンだけでなく、内層パターンの不良も検出できます。 ４．静止画像だけでなく、動態観察も可能です。 ５．電気的な差を検出するので、汚れ（絶縁物）の影響を受けにくい。
加工現場でも簡単に使える工具観察台【HORUS】 ドリルやエンドミルの摩耗状態を的確に観ることは工具管理において必要不可欠な作業
■5つのメリット ■HORUSで収益力が上がる理由 ■2つのモデル ■導入事例 ■FAQ よくある質問 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 【HORUSの4つの特長】 ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ https://youtu.be/iU2sXPDsAtE 【HORUSを使用することで得られる3つの事例】 ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ https://youtu.be/-o6zDGyIlDk
外観検査では見えない基板内部の剥離も可視化が可能！
株式会社アイテスでは、プリント基板の超音波顕微鏡観察(透過法)を 行っております。 プリント基板では、保管環境や熱・湿度ストレス、製造工程の不具合などが 原因で基板内部の層間が分離してしまうデラミネーション(剥離)による 不具合が発生することがあります。 透過法は、超音波を観察サンプルに透過させ、レシーバーで受けた 超音波を電気信号に変換して画像化。剥離等空隙が存在する場合は 超音波が透過しないため、画像としては黒く写ります。 【特長】 ■基板内部の不具合のため外観検査では見えない デラミネーション(剥離)の検出に有効 ■超音波を観察サンプルに透過させ画像化 ■剥離等空隙が存在する場合は黒く写る ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能
金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1983年に独自の長距離顕微鏡の製造・開発を開始。同年に長距離顕微鏡はその年の最も価値のある新機軸製品として表彰されました。
クエスター長距離顕微鏡は、「真空チャンバー中で行われる実験で微細な動的過程のリアルタイム観測・計測」、「有害な環境下にある試料の顕微鏡観察」、「オンラインでの精密検査」といった、長距離顕微鏡での計測・検査・監視・芯合わせに強力な画像化の手段を、という研究者や生産現場からの強い要望により開発されました。 長距離顕微鏡光学系により、雑然としがちな作業エリアから観察系を外に出すことが出来ます。なおかつクエスター長距離顕微鏡により、高いレベルの要求に基づく高倍率・高解像度の画像を得ることが可能になります。
分散染色のための顕微鏡は、アスベストの定性分析および同定を可能にする
株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DSは、400倍の倍率で分散染色観察を可能にする付属品を備えた高性能の偏光顕微鏡です。屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。 〇特長 ・ハイライト ・複屈折 ・消弧角 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
『Park NX20』は、パワー、汎用性、操作の容易性を芸術的に組み合わせた 大型試料用の原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM
『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM ■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイン ■サンプル前処理不要で正確な側壁粗さ計測 ■完全非接触モード(TM)により、装置とサンプルにダメージを与えずに 高品質のイメージが得られる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
暗室不要、使いやすさを追求した汎用性の高いオールインワン顕微鏡
Invitrogen EVOS M5000 Imaging Systemは、高い解像度と汎用性の高い機能を搭載した蛍光顕微鏡です。 高解像度カメラ、明るくデジタル制御されたLED光源、直感的なソフトウエアを搭載しており、高品質の蛍光・カラーイメージングを、高い自由度で実現します。 シームレスな画像取得に続き、ライブモードや保存済みの画像にも使える便利なツールセットで、画像の解析、編集、アノテーションが行えます。 特長 ■ オンボードソフトウエアで自動細胞カウントおよびコンフルエンス測定 ■ 暗室不要でレンズをのぞく必要がないオールインワン型顕微鏡 ■ マルチチャンネル自動蛍光イメージング ■ 高解像度モノクロカメラを搭載 ■ Thermo Fisher Cloud Platformにより、いつでもどこからでも画像やデータにアクセス可能 ■ 安全キャビネット内へ設置し、クリーンな状態で操作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができる電子顕微鏡観察！金属材料全般に適用
『透過型電子顕微鏡（TEM）』は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、 試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や 電子線回折像を得ます。 透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、 電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。 【特長】 ■1,000～1,000,000 倍での観察 ■EDS 分析による超微小領域の元素同定（分析元素：C～U の定性・半定量分析） ■結晶性物質の同定や結晶方位の解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分析が可能です
株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡（SEM）では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状を観察。 （30倍～300,000倍） エネルギー分散型X線分光器（EDS）では、電子線を走査した際に試料から 放射される元素固有の特性X線を検出することにより元素定性分析を、 特性X線の強度を測定しファンダメンタルパラメータ法による元素の 判定量分析を行います。 また、ご指定の部位のSEM像を写真撮影してご報告。ご希望により 測長、3Dイメージ化が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
優れた可視観察能力、拡張性、迅速な問題解決能力を備えた、Nicolet 赤外顕微鏡の新たなフラッグシップモデル
『Nicolet RaptIR』は、分析対象を広範囲に俯瞰し、速やかに関心領域を特定し、マイクロメーターオーダーでの洞察を可能にする可視観察能力と精度を備えた赤外顕微鏡です。 当製品を使用するとサンプルサイズと分析時間の両面で大幅に生産性を向上できます。 また、さまざまなユーザーに適応できるだけでなく、さまざまな業界での使用にも柔軟に対応。対物レンズ、赤外分光能力、鮮明な画像は、美術品修復、品質管理、マテリアルサイエンスなどの多様な研究分野で役立ちます。 【特長】 ■複雑なサンプルを的確に識別 ■マイクロメーターオーダーの分析結果を迅速に取得 ■サンプルからレポート作成までの時間を大幅に短縮 ■さまざまな目的を達成するための拡張性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ライブセルを傷つけない―染色ゼロの定量位相イメージング 『Q-Phase』
Telight社製 Q-Phase は、特許取得済みのコヒーレンス制御ホログラフィック(CCHD)技術を採用した 定量位相イメージング（QPI）顕微鏡です。 ラベルフリーで光毒性を最小化しながら、細胞のドライマスや形態変化をリアルタイムに測定・可視化します。 製薬研究から再生医療、メカノバイオロジーまで、長時間ライブセル解析を革新するプラットフォームです。 代表的なアプリケーション： ・創薬スクリーニング：化合物処理後の細胞増殖抑制やCytotoxicity をドライマス変化で高速判定 ・がん研究：遊走・浸潤解析や EMT ダイナミクス追跡 ・免疫細胞解析：共培養系での細胞間相互作用を非侵襲的にモニタリング ・再生医療 / 幹細胞：分化誘導中の形態・質量シフトを定量評価 ・メカノバイオロジー：Matrigelやコラーゲンマトリクス内での 3D 培養細胞も高コントラストで観察可能
画鋲形状検査やゴム製品のバリ検査などでの使用事例をご紹介します。
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡、その顕微鏡の使用事例をご紹介いたします。 工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。 小型で使いやすく、目視検査からモニター観察･画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 【使用事例】 ○画鋲（ピン）形状検査 ○ゴム製品のバリ検査 ○ゲート除去残り検査 ○クラック検査設備 ○ピン先端角度検査 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
エマルション評価・解析に好適な新手法のご紹介。高解像度撮影・全自動定量解析
化粧品の浸透性向上や、医薬品の薬物送達(DDS)の最適化、食品の呈味性の改良、などで近年注目が高まっている“エマルションの評価”。顕微鏡による観察を行う際、「分解能が足りず鮮明に見えない」「ダブルエマルションの内部構造まで鮮明に観察できない」「粒子を1つずつ測ったり数えたりするのは時間がかかるし、人によって結果もばらつく」といったお困りの声をいただくことが増えております。 キーエンスの高解像度倒立顕微鏡『ＢＺ－Ｘ８００』は高感度・高解像度のＣＣＤカメラを搭載。 微細なダブルエマルションもしっかり観察することができます。 また、全自動で定量解析が可能なので、スピーディに人のばらつきなくエマルション評価が可能です。 現在、エマルションの高解像度撮影をはじめ、医薬品・化粧品・食品業界での活用事例集を無料進呈中です。 【掲載内容(抜粋)】 ■ダブルエマルションの高解像度撮影 ■ケラチノサイト（角化細胞）の増殖能評価 ■テープストリッピングによる角層評価試験 ■皮膚表皮層のUVダメージ部位の定量評価 ※貴社に実機をお持ちしてテスト測定も可能です。 ご希望の方はご連絡ください。
3Dプリンターの製品確認 材料学も3Dの時代へ！ 組織観察過程を全自動化
さまざまな材料にも適用できる3D顕微鏡です。 コンピュータ制御により、組織観察、研磨機、洗浄、エッチングを 繰り返し全自動で行え、高効率で 3D組織像 が得ることができます。 従来、手動で繰り返し行っていた機械研磨と光学顕微鏡観察を全自動化することで、数ヶ月要していた作業を1日で終わらせることができます。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
高画質HDMI/DVIやVGA/D-Sub出力に対応したモニター接続用マイクロスコープ
『Dino-Lite（ディノライト）モニター用シリーズ』は、 モニターやTVのHDMIまたはDVI端子に接続して、 パソコンを経由せずに直接画像を映し出すデジタル顕微鏡です。 720pのデジタルHD超高画質での観察が可能です。 パソコンを必要としないので簡単に素早く作業を開始できます。 また、本体のボタンを押すことにより画像を静止させることが可能です。 【特長】 ■HDMI/DVI 超高画質デジタル出力 ■D-Sub/VGA高画質出力 ■アルミ合金の精密ダイキャストボディを採用 ・非常に剛性が高く堅牢さがアップ 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
[デモ機あります。ご依頼ください]バッテリー内蔵モニターが付属のDino-Lite。持ち運んでどこでも使用できるデジタル顕微鏡
『Dino-Lite（ディノライト）ポータブルシリーズ』は、携帯可能な液晶モニター付きバッテリー内蔵のレコーダーが付属で、思った時に好きな場所に持ち運んで使えるデジタル顕微鏡です。 パソコンなしで、その場でSDカードに静止画や動画の記録ができます。 フィールドワークに最適です。 【特長】 ■10～230倍に拡大可能 ■白色LEDライトを搭載 ■SDHCカード(～16GB)への動画と静止画の撮影機能やテレビ出力機能装備 ■バッテリー内蔵でAC、USBで充電可能 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大気中の粉塵・繊維・アスベスト等の計数用位相差顕微鏡です。
本製品は、アスベスト計数法（PCM法）に対応した位相差顕微鏡です。 作業環境測定におけるアスベスト計数法（PCM法）で必須となる、石綿計数用のレチクル（アイピースグレーティクル）が標準付属しています。アイピースグレーティクルはあらかじめ接眼レンズに装着してありますので、お客様にてアイピースグレーティクル装着の手間がありません。 セットアップを行った状態でお届けいたしますので、コンデンサなどの光軸調整等も不要です。製品を受け取ったらすぐに観察にご利用いただけます。 ハイ・アイポイント仕様の接眼レンズを採用しており、眼鏡を掛けたままでも検鏡が可能です。 視力低下によってアイピースグレーティクルに焦点を合わせづらいケースにも対応出来るよう、接眼レンズに視度補正機構を設けました。 アスベスト計数法（PCM法）に用いられる10倍・40倍の位相差対物レンズが標準付属します。 撮影用ポートを備えた構造ですので、将来的に顕微鏡写真が必要になった場合に顕微鏡用カメラを取り付け可能な構造です（カメラ取り付け用アダプタ標準付属）。
暗室不要・省スペース。観察・撮影・解析の操作が簡単。複数画像の一括解析ができる新機能搭載
『BZ-X800』は、蛍光・明視野・位相差と1台で様々な観察方法に対応し、 多彩な機能を備えたオールインワン蛍光顕微鏡です。 大型電動ステージ、ステージビュー機能、高速フォーカス、 オート露光などの機能により、簡単操作で位置合わせが可能。 明るい部屋でも高コントラストの蛍光観察ができるため、 暗室が要らず、設置場所を選びません。 マルチウェルプレートの全面を自動で一括撮影し、画像すべてを同一条件で自動解析できます。 また、高精細な画像連結やZスタックなど、多次元撮影が可能な機能も追加されています。 【特長】 ■微弱な蛍光シグナルを鮮明に捉えられる高感度冷却CCDカメラを搭載 ■撮影画像を二値化して面積計測やカウント、蛍光強度を手軽に測定 ■Zスタック画像をもとに、ワンクリックで3D画像を作成可能 ■任意の時間間隔で自動撮影するタイムラプス機能なども拡張OK ■A3サイズのスペースで設置できるコンパクト設計 ★機能や撮影事例を掲載した“製品カタログ”を進呈中！ 「PDFダウンロード」よりスグにご覧頂けます。
TVやビデオにつながります！設定不要で簡単に使用可能なデジタル顕微鏡
『Dino-Lite（ディノライト）TV用シリーズ』は、ご家庭のTVやビデオのビデオ入力に接続して、テレビモニターに画像を映し出すデジタル顕微鏡です。 お手持ちのテレビでプレゼンテーションなどする場合にも便利です。 また、ビデオ機器などで画像をそのまま動画で記録することもできます。 毎日のお肌、頭皮のチェックから自由研究、工場での検品、検査などまで幅広くお使いいただけます。 【特長】 ■テレビにコンポジットで映像出力できる ■パソコンが不要なので手軽に観察できる ■接続するだけ、設定不要で簡単に使用可能 ■拡大率変更の操作方法もダイヤルを回すだけ 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製剤及び食品のフリーズドライ(凍結乾燥)プロセスにおける最大許容製品温度(臨界温度)を求め生産工程の効率化を図ります。
長期保存性など多くの利点を持つフリーズドライ（凍結乾燥）技術は医薬品製造 食品製造においてますます重要性を増しています。 凍結乾燥には製造工程には高価な設備を使用し長時間の工程が必要となるため 凍結乾燥工程を効率化させるためには凍結製品の温度を上げて昇華時間を短縮することが考えられます。 しかしながら臨界温度を超えると 物理的構造が崩壊し乾燥が不完全となるうえ製品の溶解度の低下など製品の劣化を招きます。 このため製品の崩壊温度（Tc）や共晶溶解温度（Teu）を求め最大許容製品温度（臨界温度）を決定する必要があります。 フリーズドライ（凍結乾燥）顕微顕微鏡システムはこの崩壊温度（Tc）や共晶溶解温度（Teu）を微量サンプルにより短時間で求めることができる装置です。
