更新日： 集計期間:2026年09月16日～2026年10月13日
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大型ガラス基板を検査する顕微鏡で移動量はデジタルカウンタに表示。手動型と電動型がございます。
大型基板を検査する検査用顕微鏡です。 大型基板をステージに載せて移動して顕微鏡検査が出来ます。 移動量をデジタルカウンタに表示して、線幅や位置測定ができます。 手動型はハーフナット式でフリー移動とハンドル微動式です。 電動型はステッピング駆動がリモートでできます。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
導入しやすい価格帯で、新スタンダード機登場！高精細な観察を実現
『3R-MSTVUSB140』は、高画質のフルHD200万画素・1/2.8型CMOSセンサーを 搭載しているHDMIデジタル顕微鏡です。 付属のHDMIケーブルを使用し、モニタ(別売)へ接続すれば約8秒後に 観察が可能。難しい操作はなく、業務の効率化につなげます。 また、細かな目盛り表示や「計測・描画モード」により、対象物のサイズや 形を正確に測定。不良の原因追求や不具合の再発防止に役立ちます。 【特長】 ■フルHD200万画素 ■1/2.8型CMOS搭載 ■オートフォーカス機能搭載 ■モニタとPC2種接続 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
前処理・分析技術を駆使して課題解決！種々の材料解析と分析評価で開発を支えます
当社は、データ解析(AI/機械学習等)を活用し、製品の付加価値向上や 業務改善をサポートいたします。 目前にある課題やお困りごとを、材料開発、分析、データ解析の専門家が スピーディーに解決。 専門家集団がプロジェクトを組みワンストップでご要望にお応えします。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【当社の主な保有設備】 ■FE-TEMTEM(3D、プリセッション)、FE-SEM 、FE-EPMA ■FT-IR、ラマン、NMR、AFM、レーザー顕微鏡 ■X線CT、XPS、XRF、XRD ■TG/DTA(水蒸気ガス化)、DSC ■GC(MS)、LC(MS)、TOFMS、HPLC、IC、ICP、GPC、DART、AAS ■VMS等各種磁気測定装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型３Ｄレーザー走査顕微鏡（視野域：３０ｘ５０ｍｍ・分解能：５０ｎｍ）
レーザ走査を用いた初めての干渉計測 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nｍの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計（型番：LSMi-7000） サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。 走査範囲は30ｍｍ×50ｍｍ、モニター上で拡大観察可能 セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走査干渉計（型番：LSMi-7500） 円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ●正立型レーザ走査干渉計（型番：LSMi-8000） 非接触で微細な干渉縞計測可能。 交換レンズは、5ｍｍ、10ｍｍ、26ｍｍ走査レンズ、特注可能 通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます これらを応用展開した機器 超広視野共焦点型・高分解能１μｍ 3D‐レーザ走査イメージャ 5×50ｍｍの範囲を３Ｄ形状計測できる ●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です ●キズや深い穴の欠陥も検出可能です ●円筒面の形状計測や画像取得も可能です
非破壊でデバイス内部の特異箇所を把握！断面観察にて特異箇所の詳細な構造や組成情報を評価
弊団では、電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、 観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した本事例では、 まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索。 続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて 詳細な構造を確認しました。 【測定法・加工法】 ■[SEM]走査電子顕微鏡法 ■[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM) ■X線CT法 ■[FIB]集束イオンビーム加工 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
SEM-STEM・(S)TEMによる高分子材料の観察事例をご紹介いたします！
弊団では、電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察を承っております。 高分子材料は軽元素で構成されているため、(S)TEM観察では 明確なコントラスが得られにくい材料です。そのような材料には 染色を行うことでコントラストを増大させることができます。 本事例では、電子染色と呼ばれる方法で四酸化ルテニウム(RuO4)、 四酸化オスミウム(OsO4)、リンタングステン酸(H3[P(W3O10)4]・ xH2O(略称PTA)を用いて染色観察しました。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
毛髪細胞膜複合体(CMC)の観察事例をご紹介いたします！
弊団では、毛髪断面の微細構造(S)TEM分析を承っております。 毛髪細胞膜複合体(CMC)は、毛髪のブリーチや毛染めなどの際に薬剤の 通り道として利用されます。特にキューティクル/キューティクル間の CMCは3層構造を有しており、この可視化を行いました。 四酸化オスミウム(OsO4)で、脂質中の不飽和脂肪酸を狙って 電子染色を行いTEM観察及びSTEM-EDX分析をした事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) ■ウルトラミクロトーム加工 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
オートフォーカスユニットや近赤外カメラ、顕微鏡カメラシステムなどをご紹介
当カタログは、両面顕微鏡システム・微小線幅計測システムや 顕微鏡カメラシステムなどを掲載しております。 簡単操作、低価格の微小線幅測定システム「VP-5LW」や色再現性に優れた 高精細3CMOSカメラシステム「FR-960M」、実体顕微鏡用に明るく、 色が綺麗な実体顕微鏡用カラーカメラシステム「FR-400Z」などをご紹介。 導入検討の際に参考にしやすい一冊となっています。 【掲載製品(一部)】 ■両面顕微鏡システム 4インチ/6インチ「TOMOS-50/TOMOS-60」 ■6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム「TOMOS-60XY」 ■高速オートフォーカスユニット「MimicII-AF/CL」 ■高感度近赤外カメラ「FS-1700IRP」 ■顕微鏡用カラーカメラシステム「FR-400C」 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能！リキッドファンデーションの塗膜をマクロからミクロまで可視化
当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMでは さらに微視的な構造を観察することができます。 【特長】 ■リキッドファンデーション塗膜の内部構造を 巨視的な形態観察で評価可能 ■電子顕微鏡による詳細構造の観察では、 乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リポソーム、CNF、微粒子、タンパク質などの形態を観察！
弊団では、ネガティブ染色による(S)TEM観察を承っております。 有機機能材料の微粒子や繊維状物質は、主にC(炭素)、H(水素)、O(酸素)、N(窒素)などの 軽元素から構成されるため、(S)TEMでは形態観察に必要なコントラストが得られません。 そこで、これらの材料には染色を行うことで コントラストを増大させ観察を行うことができるようになります。 本事例では、リンタングステン酸(H3[P(W3O10)4]・nH2O(略称PTA))を用いた ネガティブ染色観察を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
EPISセンサを お客様がお手軽に利用できるよう、卓上顕微鏡型の 「EPIScope」を商品化いたしました。
１．電気検査では困難な Open/Shortの『不良位置』を特定できます。 ２．光学画像では困難な『凹み』不良を検出できます。 ３．表層パターンだけでなく、内層パターンの不良も検出できます。 ４．静止画像だけでなく、動態観察も可能です。 ５．電気的な差を検出するので、汚れ（絶縁物）の影響を受けにくい。
加工現場でも簡単に使える工具観察台【HORUS】 ドリルやエンドミルの摩耗状態を的確に観ることは工具管理において必要不可欠な作業
■5つのメリット ■HORUSで収益力が上がる理由 ■2つのモデル ■導入事例 ■FAQ よくある質問 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 【HORUSの4つの特長】 ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ https://youtu.be/iU2sXPDsAtE 【HORUSを使用することで得られる3つの事例】 ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ https://youtu.be/-o6zDGyIlDk
外観検査では見えない基板内部の剥離も可視化が可能！
株式会社アイテスでは、プリント基板の超音波顕微鏡観察(透過法)を 行っております。 プリント基板では、保管環境や熱・湿度ストレス、製造工程の不具合などが 原因で基板内部の層間が分離してしまうデラミネーション(剥離)による 不具合が発生することがあります。 透過法は、超音波を観察サンプルに透過させ、レシーバーで受けた 超音波を電気信号に変換して画像化。剥離等空隙が存在する場合は 超音波が透過しないため、画像としては黒く写ります。 【特長】 ■基板内部の不具合のため外観検査では見えない デラミネーション(剥離)の検出に有効 ■超音波を観察サンプルに透過させ画像化 ■剥離等空隙が存在する場合は黒く写る ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能
活物質表層近傍の組成、結晶構造、化学状態評価が可能！
弊団では、二次電池正極活物質の局所領域評価を承っております。 リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入や劣化に伴い、 活物質表層の結晶構造や金属元素の価数が変化することが知られています。 局所領域の評価としてTEMを用いて組成、結晶構造、化学状態の評価を行った本事例では、 EDXにより最表層にAlOxがコーティングされていることがわかりました。 また電子回折とEELSにより、活物質の表層と内部では 結晶構造および価数が異なっていることがわかりました。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) ■[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1983年に独自の長距離顕微鏡の製造・開発を開始。同年に長距離顕微鏡はその年の最も価値のある新機軸製品として表彰されました。
クエスター長距離顕微鏡は、「真空チャンバー中で行われる実験で微細な動的過程のリアルタイム観測・計測」、「有害な環境下にある試料の顕微鏡観察」、「オンラインでの精密検査」といった、長距離顕微鏡での計測・検査・監視・芯合わせに強力な画像化の手段を、という研究者や生産現場からの強い要望により開発されました。 長距離顕微鏡光学系により、雑然としがちな作業エリアから観察系を外に出すことが出来ます。なおかつクエスター長距離顕微鏡により、高いレベルの要求に基づく高倍率・高解像度の画像を得ることが可能になります。
分散染色のための顕微鏡は、アスベストの定性分析および同定を可能にする
株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DSは、400倍の倍率で分散染色観察を可能にする付属品を備えた高性能の偏光顕微鏡です。屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。 〇特長 ・ハイライト ・複屈折 ・消弧角 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
『Park NX20』は、パワー、汎用性、操作の容易性を芸術的に組み合わせた 大型試料用の原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM
『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM ■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイン ■サンプル前処理不要で正確な側壁粗さ計測 ■完全非接触モード(TM)により、装置とサンプルにダメージを与えずに 高品質のイメージが得られる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
匠の技術と深い専門知識で高品質な製品を提供！顧客のニーズに合わせた各種精密工学機器のOEM製品を主体に生産を続けています
千代田光機株式会社は、顕微鏡・医療用光学機器・精密光学レンズ系の製造を行っている会社です。 1934年に生物顕微鏡の開発・生産をスタートし、前身の千代田光学工業から分社・独立後は、医療用顕微鏡をはじめ顧客のニーズに合わせた各種精密光学機器のOEM製品を主体に生産を続けております。老舗メーカーとしての経験・ノウハウ（深い専門知識）、確かな技術力に支えられた製品作り（匠の技術）、ニーズに合わせたフレキシブルな対応（高い柔軟性）をベースに、高品質・高付加価値な製品を提供致します。装置顕微鏡・医療用光学機器・精密光学レンズ系等のOEM製品の設計から製造まで幅広く対応いたします。 【事業内容】 ■顕微鏡・医療用光学機器・精密光学レンズ系の製造・設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
暗室不要、使いやすさを追求した汎用性の高いオールインワン顕微鏡
Invitrogen EVOS M5000 Imaging Systemは、高い解像度と汎用性の高い機能を搭載した蛍光顕微鏡です。 高解像度カメラ、明るくデジタル制御されたLED光源、直感的なソフトウエアを搭載しており、高品質の蛍光・カラーイメージングを、高い自由度で実現します。 シームレスな画像取得に続き、ライブモードや保存済みの画像にも使える便利なツールセットで、画像の解析、編集、アノテーションが行えます。 特長 ■ オンボードソフトウエアで自動細胞カウントおよびコンフルエンス測定 ■ 暗室不要でレンズをのぞく必要がないオールインワン型顕微鏡 ■ マルチチャンネル自動蛍光イメージング ■ 高解像度モノクロカメラを搭載 ■ Thermo Fisher Cloud Platformにより、いつでもどこからでも画像やデータにアクセス可能 ■ 安全キャビネット内へ設置し、クリーンな状態で操作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができる電子顕微鏡観察！金属材料全般に適用
『透過型電子顕微鏡（TEM）』は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、 試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や 電子線回折像を得ます。 透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、 電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。 【特長】 ■1,000～1,000,000 倍での観察 ■EDS 分析による超微小領域の元素同定（分析元素：C～U の定性・半定量分析） ■結晶性物質の同定や結晶方位の解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分析が可能です
株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡（SEM）では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状を観察。 （30倍～300,000倍） エネルギー分散型X線分光器（EDS）では、電子線を走査した際に試料から 放射される元素固有の特性X線を検出することにより元素定性分析を、 特性X線の強度を測定しファンダメンタルパラメータ法による元素の 判定量分析を行います。 また、ご指定の部位のSEM像を写真撮影してご報告。ご希望により 測長、3Dイメージ化が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
優れた可視観察能力、拡張性、迅速な問題解決能力を備えた、Nicolet 赤外顕微鏡の新たなフラッグシップモデル
『Nicolet RaptIR』は、分析対象を広範囲に俯瞰し、速やかに関心領域を特定し、マイクロメーターオーダーでの洞察を可能にする可視観察能力と精度を備えた赤外顕微鏡です。 当製品を使用するとサンプルサイズと分析時間の両面で大幅に生産性を向上できます。 また、さまざまなユーザーに適応できるだけでなく、さまざまな業界での使用にも柔軟に対応。対物レンズ、赤外分光能力、鮮明な画像は、美術品修復、品質管理、マテリアルサイエンスなどの多様な研究分野で役立ちます。 【特長】 ■複雑なサンプルを的確に識別 ■マイクロメーターオーダーの分析結果を迅速に取得 ■サンプルからレポート作成までの時間を大幅に短縮 ■さまざまな目的を達成するための拡張性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
画鋲形状検査やゴム製品のバリ検査などでの使用事例をご紹介します。
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡、その顕微鏡の使用事例をご紹介いたします。 工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。 小型で使いやすく、目視検査からモニター観察･画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 【使用事例】 ○画鋲（ピン）形状検査 ○ゴム製品のバリ検査 ○ゲート除去残り検査 ○クラック検査設備 ○ピン先端角度検査 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
エマルション評価・解析に好適な新手法のご紹介。高解像度撮影・全自動定量解析
化粧品の浸透性向上や、医薬品の薬物送達(DDS)の最適化、食品の呈味性の改良、などで近年注目が高まっている“エマルションの評価”。顕微鏡による観察を行う際、「分解能が足りず鮮明に見えない」「ダブルエマルションの内部構造まで鮮明に観察できない」「粒子を1つずつ測ったり数えたりするのは時間がかかるし、人によって結果もばらつく」といったお困りの声をいただくことが増えております。 キーエンスの高解像度倒立顕微鏡『ＢＺ－Ｘ８００』は高感度・高解像度のＣＣＤカメラを搭載。 微細なダブルエマルションもしっかり観察することができます。 また、全自動で定量解析が可能なので、スピーディに人のばらつきなくエマルション評価が可能です。 現在、エマルションの高解像度撮影をはじめ、医薬品・化粧品・食品業界での活用事例集を無料進呈中です。 【掲載内容(抜粋)】 ■ダブルエマルションの高解像度撮影 ■ケラチノサイト（角化細胞）の増殖能評価 ■テープストリッピングによる角層評価試験 ■皮膚表皮層のUVダメージ部位の定量評価 ※貴社に実機をお持ちしてテスト測定も可能です。 ご希望の方はご連絡ください。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
高画質HDMI/DVIやVGA/D-Sub出力に対応したモニター接続用マイクロスコープ
『Dino-Lite（ディノライト）モニター用シリーズ』は、 モニターやTVのHDMIまたはDVI端子に接続して、 パソコンを経由せずに直接画像を映し出すデジタル顕微鏡です。 720pのデジタルHD超高画質での観察が可能です。 パソコンを必要としないので簡単に素早く作業を開始できます。 また、本体のボタンを押すことにより画像を静止させることが可能です。 【特長】 ■HDMI/DVI 超高画質デジタル出力 ■D-Sub/VGA高画質出力 ■アルミ合金の精密ダイキャストボディを採用 ・非常に剛性が高く堅牢さがアップ 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
