顕微鏡(測定) - メーカー・企業と製品の一覧

FT-IRイメージング顕微鏡『LUMOS II』

微小物分析でお困りごとはございませんか？『LUMOS II』が解決いたします！

微小物分析でお困りごとはございませんか？・液体窒素の用意ができない、面倒だ　『LUMOS II』は【液体窒素不要】電子冷却式MCT検出器搭載のため、液体窒素は不要です。・初心者でも簡単に使える顕微IRが欲しい　『LUMOS II』は【完全自動化オペレーション】のため、初心者の方にもご利用いただけます。他にも… ・もっと画像のキレイな顕微IRはないか・高速イメージング機能を使用してみたい　など『LUMOS II』は、顕微赤外分光やイメージング解析をより簡単に、より迅速に、そして快適に進めることか可能です。長作動距離の対物鏡によりアクセスが容易で、動作のすべてが電動化された自動試料ステージも特長のひとつです。【特長】 ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング

企業：ブルカージャパン株式会社オプティクス事業部
価格：応相談

光学顕微鏡

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共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』

【技術資料進呈中】高感度性能と高波数精度を両立！コンパクトかつ堅牢な分散型顕微ラマンシステム

『SENTERRA II』は、品質管理等のルーチン分析から先端の研究分野まで対応するブルカーならではの高性能システムです。一般的なラマン顕微鏡では、分光器が顕微鏡と分離されたシステムがほとんどで、性能を維持するために多くの時間を割く必要があります。当製品は励起レーザー、分光器、顕微鏡が一体となったコンパクトかつ堅牢な統合システムで、その効率的な光学設計により、高い性能と安定性を達成しています。また、迅速に結果が得られるようにスムーズかつ的確にオペレーターをサポート。試料の可視観察からスペクトル品位の確認、測定領域の設定まで、データ測定の手順をステップごとにガイドします。【特長】 ■高度に自動化された各種機能と効率的な操作性 ■コンパクト＆堅牢設計 ■効率性と柔軟性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：ブルカージャパン株式会社オプティクス事業部
価格：応相談

分析機器・装置

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赤外顕微鏡（顕微IR)用『ダイヤモンドエクスプレス２』

コンプレッションセルのスタンダード

■ 厚みのある試料を均一に薄く潰すことが可能なダイヤモンドセルです ■ 試料を薄くすることにより、FTIRの顕微測定の際に飽和の無いスペクトルを得ることが可能となります ■ サンプリングの際にアクシスプロを用いれば、ダイヤモンドセルの中心の狙った位置に対象物を置くことが容易です ■ プレスし薄片化された対象物を顕微IR用透過窓板へ受渡したい場合は、アクシスプロを用いれば可能となります。 ※ 詳しくは以下関連リンク先からお問合せください。

企業：株式会社マイクロサポート本社営業部・開発部
価格：応相談

その他電子部品

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デジタル顕微鏡『Dino-Lite 高倍率シリーズ』※デモ機あり

超高倍率で観察・撮影が可能！ワンタッチ撮影ボタン搭載のデジタル顕微鏡

『Dino-Lite（ディノライト）高倍率シリーズ』は、400倍以上の超高倍率レンズでミクロの世界を観察・撮影することが可能なデジタル顕微鏡です。本格的な顕微鏡にも匹敵する拡大率で対象物に迫ります。大きな拡大率が必要な場合に威力を発揮します。【特長】 ■超高倍率で観察・撮影可能 ■ワンタッチ撮影ボタンを搭載 ■白色LEDライトを搭載 ■偏光モデルもラインアップ ■測定のキャリブレーション（較正）が可能　・測定精度を高めることができる詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：サンコー株式会社法人営業部
価格：10万円 ~ 50万円

光学顕微鏡

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原子間力顕微鏡（AFM）

研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能な原子間力顕微鏡（AFM）のご紹介

当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡（AFM）』を取り扱っています。アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行えるコンパクト設計の「NaioAFM」などのモデルをラインアップ。研究現場向けの小型仕様から、生産現場向けの大型ステージ仕様、品質管理用の自動化システムといったカスタマイズ対応が可能です。【ラインアップ（抜粋）】 ◎卓上型原子間力顕微鏡「CoreAFM」　■アクティブ防振機構・風防を採用　■32種類の測定オプションを搭載可能 ◎小型原子間力顕微鏡「NaioAFM」　■コントローラ、XYステージ・風防・防振機構が一体化　■高分解能トップビュー光学カメラ搭載 ※当社が取り扱う走査型プローブ顕微鏡をまとめたカタログを配布中。　詳しい内容は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。

企業：日本カンタム・デザイン株式会社
価格：応相談

その他顕微鏡・マイクロスコープ

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200mm大型試料対応AFM/SPM　Jupiter XR

非常に優れた分解能、スピード、操作性、柔軟性を備えた、大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPM（原子間力顕微鏡）

Jupiter XR 原子間力顕微鏡は、スキャナを交換することなく、単一スキャナで「超高分解能」「高速イメージング」「広域スキャン」に対応した業界初の大型試料対応AFM/SPMです。試料ステージは200 mm試料全域へのアクセスを可能にし、Cypher AFM (2007年発売) で培われた卓越した基本設計と操作性、さらに光熱励振『blueDrive』を踏襲しました。分析分野や産業R&D・学術研究分野など、多様なサンプル・アプリケーションが要求される用途において、高いレベルでバランスの取れたJupiter XRは最良の選択です。

企業：オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
価格：1000万円 ~ 5000万円

マイクロスコープ

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切削を定量的に評価できる環境を完備【測定機器一覧】

切削現場の困り事を解決！刃先丸み半径や加工面粗さを測ることや、摩耗の観察などが可能

当社の測定機器をご紹介いたします。刃先丸み半径や加工面粗さを定量的に測ることが可能な「レーザ顕微鏡」や、摩耗の観察が可能な「電子顕微鏡(SEM)」などを保有。また、溶着・凝着の観察を行うことで、適切な工具の選定が可能な「マイクロスコープ」もございます。【機器一覧】 ■レーザ顕微鏡 ■電子顕微鏡(SEM) ■マイクロスコープ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社内山刃物
価格：応相談

受託測定

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特殊光学装置　２方向観察角度測定顕微鏡

小径ドリルの先端角度検査に！

小径ドリルの先端が規格通りに正しく研磨されているか否かを、ドリルの先端と側面を２方向から拡大して同時に見ることができ、目視検査及び先端の角度測定できる光学測定機です。

企業：日商精密光学株式会社
価格：応相談

光学顕微鏡

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高速原子間力顕微鏡(高速AFM)『MS-NEX』

初めてAFMを扱う方でも、簡単にナノスケールの動画観察が可能！

『MS-NEX』は、溶液中でサンプルをナノスケール&リアルタイムで動画観察ができるモジュールシステムの高速原子間力顕微鏡(高速AFM)です。「今はこの機能が必要」「今はこの機能は使わない」というご要望にフレキシブルに対応。お客様の研究テーマや進捗、ご予算に応じ、様々なモジュールを組み合わせることで"今"にマッチした高速AFMをお使いいただけます。【特長】 ■ナノスケール&リアルタイムで動画観察可能 ■必要に応じて各種機能を自由に組み合わせ ■後からモジュールを追加することも可能 ■様々なサポート機能を搭載 ■初めてAFMを扱う方でも簡単 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社生体分子計測研究所
価格：応相談

マイクロスコープ
その他

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【分析事例】液体中微粒子の構造・分散具合評価

クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察

液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、従来は液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いて測定しておりました。しかしながら、実際に用いる液体中で微粒子がどのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法でした。そこで、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工＋SEM観察を行って評価した事例をご紹介します。

企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
価格：応相談

受託解析

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[MFM]磁気力顕微鏡法

MFMは、磁性膜でコートされたプローブを用いて、サンプル表面近傍に生じている漏洩磁場を測定し、磁気情報を得る測定手法です。

・サンプルの磁気特性の情報を定性的に取得可能・漏洩磁場による引力・斥力をイメージング可能・漏洩磁場の勾配の大きさに比例した磁気力の信号を得られるが、定量評価は不可・AFM像の取得も同時に取得可能

企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
価格：応相談

受託解析

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加熱顕微鏡『HM 867』

要求の厳しい研究開発および製造技術ラボ用の加熱顕微鏡システム

『HM 867』は、サンプルを分析し、それらの特性形状を識別することにより、産業プロセスにおける一層優れた熱サイクルの最適化が可能になりました。当製品の精密なマイクロステッパーモーターは、カメラとファーナスの位置調整を含め、XYZ軸上において完全に自動化されたPC制御の操作が可能。また、光学ベンチは、温度範囲全体で性能と安定性を保証するために、動的サーモスタット制御システムを備え、熱的に超安定した材料で機械加工されたHD CMOSベースビデオカメラを搭載しています。【特長】 ■完全に自動化されたPC制御の操作が可能 ■HD CMOSベースビデオカメラを搭載 ■広範囲における形状とサイズのサンプルを分析できる ■同時に8個までのサンプルを測定

企業：ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社（TAInstruments）
価格：応相談

分析機器・装置

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顕微鏡『メジャースコープ』／レンズカメラ『デジタルキャッチ』

さまざまな組み合わせが可能な顕微鏡！ワイヤレス送信ができるレンズカメラもご紹介！

『メジャースコープ』は、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡です。工作機械や測定器・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品。小型で使いやすく、目視検査からモニター観察・画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。【メジャースコープ　特長】 ■レンズ系は明るく実視野が広い完全正立像式の顕微鏡 ■工業用に好適な長作動距離・同焦点（対物レンズ 2×～1 0×）に設計 ■接眼ミクロメーターを交換するだけで、各種測定・検査・芯出し・　位置決めなどさまざまな用途への対応が可能 ■対物レンズは微細な倍率補正が簡単にできる金枠機構また、メジャースコープに装着すれば、対象物と目盛ガラスをタブレット端末などに映し出して画面を見ながら測定、検査、位置決めができる『デジタルキャッチ』も取り扱っています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社ミラック光学
価格：応相談

マイクロスコープ

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［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による）・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能　EDX検出器による元素分析が可能　電子線誘起電流（EBIC）を測定し、半導体の接合位置・形状を評価　電子後方散乱回折（EBSD)法により、結晶情報を取得可能　FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能（Slice & View）　冷却観察・雰囲気制御観察

企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
価格：応相談

受託解析
受託測定
受託検査

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コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載

『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加が可能 ■お客様先に装置を持参してのデモも受付中 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。　デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。