更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 EDX検出器による元素分析が可能 電子線誘起電流（EBIC）を測定し、半導体の接合位置・形状を評価 電子後方散乱回折（EBSD)法により、結晶情報を取得可能 FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能（Slice & View） 冷却観察・雰囲気制御観察
表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載
『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、 サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、 サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加が可能 ■お客様先に装置を持参してのデモも受付中 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。
試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分析も可能です
一般財団法人東海技術センターは『電子顕微鏡による形態観察・成分分析』を 承っております。 手間と時間のかかる前処理なしで観察ができるため、観察までの時間短縮と 観察後の成分分析の評価がしやすくなりました。 また、形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察も可能。 試料中の測定したい2点間の距離計測もできます。 【特長】 ■手間と時間のかかる前処理なしで観察ができる ■形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察もできる ■試料中の測定したい2点間の距離計測も可能 ■試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
ワイヤレス接続可能で持ち運びにも便利なデジタルマイクロスコープDino-Lite WiFi対応モデル
『Dino-Lite（ディノライト）高解像度・アルミボディシリーズ』は、超高解像度で観察、記録が可能なデジタル顕微鏡です。 AFシリーズは、WiFi ストリーマーと接続することにより、ワイヤレスで使用が可能に。 電源の無い野外でも快適に使用することができます。 【特長】 ■WiFi接続モジュール使用でワイヤレス接続が可能 ■偏光フィルターや超深度撮影、拡大ダイナミックレンジなど様々な機能を搭載 ■WiFi接続モジュールとのセット商品あり ■測定のキャリブレーション（較正）が可能 ・測定精度を高めることができる 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お客様のご要望に合わせたカスタマイズAFMシステムを設計・構築します！
AFM測定を行う必要があるが、サンプルが大きく特別な取り扱いが必要だったり、従来の技術や方法とは異なる実験が必要ではありませんか？ 私たちはお客様のニーズを真摯に受け止め、お客様と一緒に解決策を考えます。 弊社 日本カンタム・デザインではメーカーであるNanosurf社（スイス）の装置開発チームとの密な連携により、お客様のご要望に合わせたシステムを設計・構築します。 表面測定に関するお困りごとやご要望点がございましたら、お気軽にお問い合わせください！
食感を機械特性パラメータで定量化
食感を決める因子には、硬さ、凝着力など様々な要素があります。一般的に、食品の食感はテクスチャーアナライザー等による応力の評価で行いますが、微小領域の測定や薄い試料の測定は困難です。 AFM-MAは表面の凹凸の形状の評価に加え、機械特性の硬さを表すヤング率、質感のパラメータの凝着力、および、エネルギー散逸のデータを微小領域で計測することが可能です。このため、食感等に関係する物理特性を極微小な領域で評価するために有効です。
圧倒的な分解能を実現！今まで隠れていた微少な現象を測定
『ハンディAFM』は、SEMや高倍率の3次元光学顕微鏡の変わりに使用 することができる原子間力顕微鏡です。 サイズは、奥行き幅共に15cmの超小型。 走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、交換も瞬時に 行えます。 【特長】 ■プローブの交換が数秒で実施可能 ■カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能 ■オプションで小型の自動ステージやインライン全自動機に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定範囲X軸200mm、Z軸150mmなど。特注・アナログ仕様ご相談ください
『XZシリーズ』は、当社が取り扱っている読取顕微鏡です。 最小読取値は、0.01mm(デジマチック仕様)。 その他、特注仕様に関しましてはご連絡ください。 アナログ仕様に関しましては、別途ご相談ください。 【仕様】 ■測定範囲 ・X軸：200mm、300mm、500mm、1,000mm ・Z軸：150mm、200mm、300mm、460mm ■最小読取値：0.01mm(デジマチック仕様) ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡！総合カタログ無料配布中！
メジャースコープは、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡です。工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。小型で使いやすく、目視検査からモニター観察 ･ 画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 さまざまな機種やアクセサリー類をきめ細かく豊富に取り揃え、幅広いニーズに低価格でお応えいたします。 【特長】 ・レンズ系は明るく実視野が広い完全正立像式の顕微鏡 ・工業用に好適な長作動距離・同焦点（対物レンズ２×～１０×）に設計 ・接眼ミクロメーターを交換するだけで、各種測定・検査・芯出し・位置決めなどが対応カ脳 ・対物レンズは微細な倍率補正が簡単に出来る金枠機構 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
対象物を非接触で観察・撮影！ワンタッチ撮影ボタン搭載のデジタルマイクロスコープ
『Dino-Lite（ディノライト）望遠シリーズ』は、対象物から約50mm離した状態で観察・記録することが可能なデジタル顕微鏡です。 本体を入れることができない狭いところにあるもの、液体中の物体、触れてはいけない精密機器の部品チェックなど、本格的な業務用途としてもマルチにお使いいただけます。 【特長】 ■対象物を非接触で観察・撮影可能 ■ワンタッチ撮影ボタンを搭載 ■倍率ロック機構付新ボディ ■先端部取り外しモデルはアダプター交換可能 ■測定のキャリブレーション（較正）が可能 ・測定精度を高めることができる 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
＜中古分析機器＞
サーモフィッシャーサイエンティフィック社製の赤外顕微鏡です。 数ミクロンの微小異物などシビアな分析に対応可能です。サーモ社製のFT-IRと組み合わせてお使いいただけます。 （S2656-02）
SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析
CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流（EBIC）を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電流の分布と結晶粒との対応をとりました。
USM1300型をコンパクトにした極低温強磁場対応SPMのミドルエンドモデル
全高が低く、操作性とコストパフォーマンスに優れた新型極低温強磁場対応SPMシステムです。AFM測定もオプションにて対応可能です。
充電前後の電極の様子およびLiの存在・分布を評価可能
Siは高容量負極活物質の候補の一つですが、充放電時の非常に大きな体積変化のためにサイクル劣化が激しいと言われています。 充電前後のSi負極に関して雰囲気制御環境下で解体、観察をしました。更に、FIBマイクロサンプリング法により断面観察用サンプルを作成し、Csコレクタ付きSTEM装置で形状観察とEELS測定を行い、Si電極の様子と電極中のLi分布を評価しました。
