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顕微鏡(測定) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

更新日： 集計期間:2026年03月25日～2026年04月21日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

121～150 件を表示 ／ 全 231 件

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ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM

ハイパフォーマンス原子間力顕微鏡 DriveAFM

光熱励振を用いたオフレゾナンス測定モード「WaveMode」搭載！高い安定性と性能を実現します！

『DriveAFM』は、マテリアルサイエンス・ライフサイエンス両者において 劇的に研究を加速させるハイパフォーマンス原子間力顕微鏡です。 原子分解能での高速イメージングを可能にしつつ、100μmという非常に広いスキャン範囲をカバー。液中においても高い安定性を誇ります。 「WaveMode」により20倍以上の速度でオフレゾナンス測定が可能で、1視野の撮像にかかる時間は1分以下となっています。 【特長】 ■独自技術「Direct drive」ピエゾスキャナによる広範囲かつ高分解能スキャニング ■Nanosurf社独自開発の光熱励振を用いたオフレゾナンスモード「WaveMode」 ■WaveModeはポリマーのような柔らかいサンプルにおいても有用 ■カンチレバーの光熱励振「Clean-Drive」搭載 ■DNAの周期的な二重らせん構造を明確にイメージングできる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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Nicolet iN10シリーズ 赤外顕微鏡

Nicolet iN10シリーズ 赤外顕微鏡

オールインワン一体型、高感度、フルオート。 独自の機能を搭載し、分析から解析までを短時間でスムーズに行えます。

『Thermo Scientific Nicolet iN10 顕微FT-IR』は、 新世代の高感度顕微専用システムです。 ユーザビリティーを重視した簡単操作。 オールインワンシステムでFT-IR本体が不要です。 また、ソフトウェアコントロールのフルオート顕微鏡「Thermo Scientific Nicolet iN10 MX 赤外イメージングシステム」もご用意しております。 【特長】 ■測定中もリアルタイムで可視画像を観察 ■スピーディーな分析を実現 ■混合物の分離に便利な自動成分解析、粒子解析機能 ■マルチコートGe Tip-ATRはスループット50%以上の高感度 ■分析ウィザードで測定、解析、検索まで簡単操作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高精度超音波顕微鏡『D9600 C-SAM』

高精度超音波顕微鏡『D9600 C-SAM』

検査・解析業務をスピーディかつ正確に行う高精度超音波顕微鏡！サンプル内部の状況を非破壊で観察可能！

『D9600 C-SAM』は、超音波顕微鏡のシェア世界トップレベルを誇るSonoscan社のスタンダードモデルの製品です。トランスデューザーによりサンプル内部の一定の深さ(焦点)位置に対して発振された超音波の反射波を捉えて画像化し、サンプル内部の状況を非破壊で観察することができます。材料の違う接合面や、空気層の存在する部分ではそれぞれ特異な反射をするため、これを正確に測定し解析することにより、正常な部分との微妙な違いを検出することができます。 【特長】 ■リニアモーター・スキャナー搭載 ■スキャン･リファレンス標準搭載 ■ゲート内の微弱な信号波形の変化もより高感度で検出し、画像化が可能 ■日本語、英語、中国語を含む多言語表示に対応 ■異なる複数の深さを同時にスキャン可能 ■最大100ゲートの計測が可能 ※詳細は資料請求して頂くか、ダウンロードからPDFデータをご覧下さい。

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卓上電子顕微鏡　実機お持ち込みデモンストレーション案内

卓上電子顕微鏡　実機お持ち込みデモンストレーション案内

お客様へ丸文通商が操作性抜群の卓上電子顕微鏡をお持ち込みし、覧いただきます

「Zeromag」　　　　：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」　　：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」　　　　　：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 　＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 　＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。 ＪＣＭ７０００を直接ご覧いただける　デモンストレーションサービス デモ対象エリア：北陸(富山県　石川県　福井県）甲信(長野県　山梨県)関東(埼玉　群馬　静岡　神奈川)中部関西(岐阜県　滋賀県)　のお客様お問い合わせください

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  • 走査電子顕微鏡
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【表裏同時観察・位置ずれ計測に】両面顕微鏡システム TOMOS

【表裏同時観察・位置ずれ計測に】両面顕微鏡システム TOMOS

電子ペーパーやMEMSの観察・位置ずれ・寸法計測を一台で実現。両面同時観察と自動計測で、測定の効率と精度を大幅に向上。

当社のTOMOSシリーズ は、電子ペーパー、MEMS、水晶振動子、半導体線幅パターンなどの 精密デバイスを対象に、表裏同時観察・計測を実現する両面顕微鏡システムです。 落射・透過照明対応で粒子・流体・フィルターなど両面同時観察の可能で、 位置ずれ・寸法計測も自動化し高精度・効率化を実現します。 TOMOSシリーズは用途に応じた複数モデルをラインナップしており、観察・計測の目的や対象に最善な選択が可能です。 研究・解析・製造・検査の現場で、高精度・高再現性・効率化を追求する方に好適なソリューションです。 【ダウンロードカタログ内容】 ■コンパクトタイプ 表裏位置ずれ計測システム TOMOS-50 ■6インチステージ 表裏位置ずれ計測システム TOMOS-60 ■リング照明付き低倍率両面顕微鏡システム TOMOS-50R1 ■6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム TOMOS-60XY ■8インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム TOMOS-80XY ■高速オートフォーカスユニット Mimic II-AF/CL ■高感度近赤外線カメラ FS-1700IRP

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電界放出型走査顕微鏡『FE-SEM』

電界放出型走査顕微鏡『FE-SEM』

EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を調べることが可能です！

『FE-SEM』は、電子線を絞り細い電子線を試料に照射し、表面を観察する 電界放出型走査顕微鏡です。 超高分解能観察が可能。汎用SEMと同様に電子線を絞り電子ビームとして 対象に照射し、対象物の表面から放出される二次電子や反射電子を検出 することで、対象の表面の観察を実施。 また、JSM-7100Fでは、EDS及びEBSD解析装置が装着されているため、 高分解能の観察だけでなく元素分析や結晶性試料の方位解析(EBSD解析)が できます。 【特長】 ■サブミクロンオーダーでの観察が可能 ・汎用SEMより高倍率で形態観察が可能で、より鮮明な像を取得可能 ■EDX(エネルギー分散型分析装置)による定性分析 ・EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を 　調べることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察および構造解析に関する事例を多数ご紹介します！

当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材（ばね材）の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材（ばね材）の金属組織観察 ■2相ステンレスの相解析 ■STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価 ■サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 ■STEMによるコネクタ端子接点不良解析 ■生体試料（モルフォ蝶鱗粉）の断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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非接触段差測定顕微鏡『TAHシリーズ』

非接触段差測定顕微鏡『TAHシリーズ』

光学式非接触方式なので、ワークに変形や打痕の影響なく計測可能！

『TAHシリーズ』は、顕微鏡光学系に「フォーカスナビマーク」を 搭載することにより、フォーカスナビマークを合わせることで Z軸移動量による高さ・深さ・段差を非接触で計測できる顕微鏡です。 フォーカスナビマークの搭載により、オペレーターに依存せず再現性を大幅に向上。 三眼タイプ・直筒タイプの2種類をラインアップし、 用途に合わせて選択可能です。（カメラはCマウントタイプ） 【特長】 ■対物レンズは無限系のf=180タイプとf=200タイプの2種類の選択が可能 ■コンパクトサイズ ■計測用スコープとして装置に取付け可能 ■目的に応じて測定ステージ、TVカメラ装置、計測ソフトウェアを組合せ可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

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広視野リング照明付き両面顕微鏡システム『TOMOS-50R1』

広視野リング照明付き両面顕微鏡システム『TOMOS-50R1』

撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能！(視野9mm x 7mm）

『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴など、電子部品の表裏を 同時に撮影が可能です。 また、表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度 ±0.010mm精度で測定できます。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 　高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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『SPR顕微鏡』

『SPR顕微鏡』

分子間相互作用解析と明視野イメージングの融合システム！

『SPR顕微鏡』は、表面プラズモン共鳴（SPR）を利用した分子間相互作用の解析と、 明視野でのイメージングを同時に実施する革新的なシステムです。 in vitro環境下ラベルフリーで細胞上の膜タンパク質の結合活性および細胞動態を 計測するシステムとしてデザインされています。 そのため、結合活性の分布（SPR二次元マッピング画像）と細胞構造（明視野画像）を 同時に取得でき、細胞レベルでの変化を調べることができます。 【特長】 ■分子間相互作用解析装置と光学顕微鏡の融合 ■in vitro環境下における細胞レベルでのラベルフリー結合活性のマッピング ■細菌、ウイルス、ナノ粒子のナノメートルレベルでの結合応答測定 ※こちらのPDF資料は英語版となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹介！

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000％向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラーで正確且つ高スループットなCMP計測を実現 ■非常に正確で、チップーチップ間のバラツキも最小にしたサブÅ表面粗さ計測 ■原子間力プロファイラー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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AFMデータ集

AFMデータ集

AFM :原子間力顕微鏡法

AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。

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【分析事例】バイポーラトランジスタの拡散層構造評価

【分析事例】バイポーラトランジスタの拡散層構造評価

ｐｎ判定を含む拡散層の構造を明瞭に観察可能

市販LSI内のNPNバイポーラトランジスタについて全景からエミッタ部の拡大まで詳細に観察が可能です。 エミッタ電極の中心を通る断面を露出させ、AFM観察、SCM測定を行った事例です。 AFM像と重ねることで、配線との位置関係がはっきりします。

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  • 顕微鏡

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オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』

オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』

細胞や組織を自動で定量化。暗室不要でウェル・スライドを一括解析できる顕微鏡【カタログ・撮影事例付き資料進呈】

オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』は 全ウェルの観察に対応した大型電動ステージや、 クリアな画像が撮影できる高感度モノクロ冷却CCDカメラ等を搭載し、 自動解析による定量化が簡単に行えます。 ◎製品の特長は「導入活用事例集」「製品カタログ」に詳しく掲載しております。 　ダウンロードボタンから、ご覧ください。 【導入活用事例集の内容】　 ■カニクイザルの心臓の線維化率の計測 ■ウェルプレートを用いたiPS細胞コロニーカウント ■脂肪細胞の定量解析 ■核内の染色体カウント ■胃癌の免疫染色を定量化 ■培養細胞のトランスフェクション効率の計測

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  • 光学顕微鏡
  • 顕微鏡

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【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察

【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察

クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の超薄切片作製が可能です。 このAFMとクライオミクロトームを使いポリイソプレンゴムをいろいろな角度から観察しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 本技術はゴム以外にも樹脂、プラスチック、各種高分子材料に応用可能です。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、AES、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

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  • ゴム
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『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新製品の開発をサポート

当社では、『個々のニーズに応じた分析サービス』を提供。中でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発／隠れた性質の発見／基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、水素、窒素など任意の雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力－組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただけます。 　お問合せ・分析のご依頼もお気軽にどうぞ。

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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 顕微鏡

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8インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム

8インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム

±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定します！

『TOMOS-50/60/80/XY』は、表裏両面を同時撮影、寸法計測、 位置ずれ計測が可能な両面顕微鏡位置ずれ計測システムです。 電動制御及び自動計測となっており、両面露光パターンズレや 半導体ウエハー、4インチ、6インチ、8インチウエハー、MEMS、 水晶振動子などの表裏位置ずれ計測、観察に利用可能。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正します。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能です。 【特長】 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定 ■表裏2chオートフォーカスユニット組み合わせ可能(オプション) ■電動XYステージ制御システム開発中 ■装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問合せ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 顕微鏡

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クライオSEMシステム PP3010T

クライオSEMシステム PP3010T

試料を冷却してSEMで観察できます。

PP3010Tは、含水試料や電子ビーム、真空ダメージを受けやすい試料を凍結させ電子顕微鏡で観察を行う装置です。 大気非暴露で試料の移動が可能なサンプルトランスファーが標準付属。 自動ガス流量コントロール機能やクライオSEMに最も必要な温度コントロール機能を重要視した設計がなされています。試料をより自然の状態に保ちSEM観察を行うPP3010T装置は動植物、医療、食材、ポリマー、塗装、温度上昇に敏感な半導体材料などの測定に活用されています。

  • 電子顕微鏡
  • 顕微鏡

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技術情報誌 201910-02 DDS技術

技術情報誌 201910-02 DDS技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。

【要旨】 近年、医薬品の副作用の軽減や有効性の向上を目指し、ドラッグデリバリーシステム（DDS：Drug Delivery System）に着目した研究・開発が進められている。DDSに用いられるキャリアとして、リポソーム、高分子ミセル、無機ナノ粒子といったバイオマテリアルやDrug Conjugates（ADC等）が挙げられる。その中でも当社はリポソームの分析・評価技術の確立に注力しており、難易度が高いTEM（透過型電子顕微鏡）、AFM（原子間力顕微鏡）を中心にリポソームの分析事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．DDSによる基礎技術と各種キャリアの特徴 ３．リポソームの分析・評価事例 ４．おわりに

  • 受託解析
  • 受託測定
  • 技術書・参考書
  • 顕微鏡

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【世界初】細胞観察用ホログラフィック・蛍光顕微鏡

【世界初】細胞観察用ホログラフィック・蛍光顕微鏡

屈折率イメージと蛍光イメージのオーバーレイによる相関比較、わずか数秒の迅速測定

細胞観察用ホログラフィック・蛍光顕微鏡 3D Cell Explorer-fluoは、ホログラフィ技術・トモグラフィ技術による3D屈折率イメージングと2D蛍光イメージングを兼ね備えた、革新的な顕微鏡です。 細胞や組織の内部構造・小器官分布などが迅速・簡単に観察可能です。 各種細胞小器官や細胞膜などを蛍光標識した蛍光イメージを、屈折率イメージとオーバーレイすることにより、蛍光標識と同じ染色イメージとなるようにデジタル染色を校正することができます。 この校正処理したデジタル染色を3D屈折率イメージに適用することで、2Dイメージだった蛍光イメージを3Dイメージに拡張し、3次元的な分布状況を可視化することができます。 この校正処理によって蛍光染色とデジタル染色との相関がとれるため、無染色サンプルにも対応することができるようになります。 構築した3Dイメージは、拡大・縮小、回転の他、断面表示なども可能で、様々な視点から細胞内部をくまなく観察する事ができます。

  • その他 細胞研究
  • その他 顕微鏡・光学検査機器
  • 屈折計
  • 顕微鏡

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原子間力顕微鏡

原子間力顕微鏡

C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ ：最大100 mm角 ■ステージ移動距離 ：100 mm ■XY走査範囲 ： 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 ： 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル ：Typ : <0.01 mV RMS

  • 外観検査装置
  • 顕微鏡

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【分析事例】SCMによるイメージセンサの拡散層形状評価

【分析事例】SCMによるイメージセンサの拡散層形状評価

試料解体から測定まで一貫して対応します

本資料では、スマートフォン搭載のイメージセンサ拡散層に関して評価した事例をご紹介します。 半導体のp/n型を判定可能なSCM（走査型静電容量顕微鏡）を用い、拡散層がどのような分布となっているかを評価しました。今回、断面と平面のSCM結果を組み合わせることで、相補的かつ広範囲の情報が得られました。 SCM は、イメージセンサ拡散層の出来映え評価や故障解析に有効なツールの一つです。

  • 受託解析
  • レンズ
  • 顕微鏡

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単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa

単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa

単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さ兼ね備え、自動測定時間を短縮を実現。実験室へ簡単にインストール可能。

◆最も信頼性の高い品質と精度 同じ顕微鏡でガルバノスキャン (最大速度) と対物スキャン (最大光子検出効率)を搭載。 ◆時間を短縮しサンプル解析に集中可能 直感的なワークフローで効率的で最小限のユーザー操作でデータ取得が可能。 ◆高度な柔軟性 ワンクリックで観察範囲を調整可能。ソフトウェア経由でオプトメカニクスコンポーネントにアクセス可能。 ※詳細はお問い合わせください。

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【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。

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【アプリケーション例】原子間力顕微鏡(AFM)の実験

【アプリケーション例】原子間力顕微鏡(AFM)の実験

8チャネルのSpectrum製DigitizerNETBOXがAFMの進化を推進するために必要な高い精度を提供。総合カタログ付き

イギリス・ニューカッスル大学 プレシジョンメカトロニクス研究室での 原子間力顕微鏡(AFM)の実験のアプリケーション例についてご紹介いたします。 原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope)は、材料科学における重要な ツールであり、表面の機械的スキャンに使用されます。 表面の原子とナノスコピック針の先端の間に作用する力が測定・計算され、 ナノメートルの何分の1かのオーダーの分解能が得られます。 【概要】 ■AFMテクノロジー ■高精度のマルチチャンネルデジタイザ ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）及び走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに、測定例としてCu表面を観察した事例をご紹介します。

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【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価

【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価

深層学習×データ解析により、多量のデータを活用して試料特性を評価できます

3種類の乳酸菌を混合させた試料をSEM観察し、得られた画像から深層学習を用いて種類ごとに乳酸菌を抽出しました。さらに、データ解析を行い、乳酸菌の形状をもとに細胞周期上の存在比を求めました。 測定法：SEM、計算科学・AI・データ解析 製品分野：バイオテクノロジ、医薬品、日用品、化粧品、食品 分析目的：形状評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。 低加速STEM像（写真1）のコントラストはSTEM-EELS像のS、 Cの元素分布(写真2、 3)と対応しており、バルクヘテロ構造を反映していることが確認できました。また、Sの分布に偏りが認められ、表面側にP3HTが偏析していることも示唆されました。

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【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察

【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察

Csコレクタ付STEMによる高分解能STEM観察

ABF-STEM像（走査透過環状明視野像）により軽元素の原子位置を直接観察することができます。 HAADF-STEM像との同時取得で、より詳細な構造解析が可能となりました。 本事例では、チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラムを観察した事例をご紹介します。EDX元素分布分析を組み合わせることで、視覚的に原子の分布を明らかにすることができます。 測定法：TEM・EDX 製品分野：LSI・メモリ 分析目的：形状評価・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察

【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察

大気中・水溶液中での試料構造変化の可視化

高分子は組成・構造を変えることで多様な機能が発現されることが知られており、様々な製品に利用されています。 高分子の評価においては、実環境での評価が重要です。今回は環境制御型AFM（原子間力顕微鏡）を用いて、大気中および水溶液中にて基板上の高分子形状を可視化した事例を紹介します。また、データ解析を併用することでポリマー粒子の分散具合を数値化しました。

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