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顕微鏡(測定) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

61～75 件を表示 ／ 全 224 件

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LT STM（極低温走査トンネル顕微鏡）

LT STM（極低温走査トンネル顕微鏡）

極低温環境における走査トンネル顕微鏡の紹介

LT STM（極低温走査トンネル顕微鏡）とは、極低温環境における走査トンネル顕微鏡をさします。 多数の販売実績のある装置で、5K以下の極低温でのSTM測定が可能な装置です。 【用途】 極低温環境におけるナノ領域のSTM観察・測定 【特長】※英語表記です。 ●Increased hold time to >65h at same performance level „ ●High frequency wiring „ ●Increased spectroscopy resolution „ ●Record proven platform since 1996 with more than 200 devices installed „ ●Reliable design ensuring high up-time „ ●Independent tip and sample temperature „ ●Leading QPlus AFM technology

  • 分析機器・装置

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超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400

超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400

高い拡張性を有した超高真空極低温SPM、近接場光/ラマン分光に拡張可能

本装置は新規に開発されたクライオスタットを採用し、STMをはじめAFMの機能を備えた最新設計の低温SPM装置で近接場光測定やラマン分光などのまったく新しい用途に使用できます。

  • マイクロスコープ
  • 分析機器・装置
  • その他

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光波動場三次元顕微鏡　MINUK　

光波動場三次元顕微鏡　MINUK　

nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定　目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

『MINUK』は、目視では見えない透明フィルム表面を可視化・定量化できる 光波動場三次元顕微鏡です。　 nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得可能。ワンショットで 深さ方向の情報も併せて取得することにより、目視では見えない透明フィルム 表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することが可能です。 高速で広範囲をマッピングし情報を得ることができるスティッチング機能に より、観察したい場所を素早く見つけ、詳細情報を取得することが可能です。 【特長】 ■nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ■1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ■フォーカス不要で高速測定が可能 ■非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ■任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 光学顕微鏡

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読取顕微鏡『Zシリーズ』

読取顕微鏡『Zシリーズ』

測定範囲Z軸150mm、測長変更も可能。特注・アナログ仕様はご相談ください

『Zシリーズ』は、測定範囲 Z軸150mmの読取顕微鏡です。 測長の変更が可能です。 標準、マグネット付、マグネット＋回転テーブル付を ラインアップ。 その他、特注仕様に関しましてはご連絡ください。 アナログ仕様に関しましては、別途ご相談ください。 【特長】 ■測定範囲：Z軸 150mm ■測長変更が可能 ■標準、マグネット付、マグネット＋回転テーブル付 　をラインアップ ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）による局所抵抗分布評価

CIGS薄膜太陽電池のZnO/CdS/CIGSの多結晶へテロ接合界面をSSRM法で分析し、局所的な抵抗分布を計測しました。真空環境下で測定することで、測定表面の吸着水を除去し、高空間分解能を得ることができます。測定結果から、ナノメートルレベルの空間分解能で各層の抵抗値を計測できていることが分かります。各層の抵抗値が数桁異なり、これがキャリア濃度の違いを示しています。CIGS層はi-ZnO層よりも高抵抗であること、CdSはこれらの層よりもさらに高抵抗であることが分かりました。

  • 受託解析

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高分子用AFM/SPM　Cypher ES ポリマーエディション

高分子用AFM/SPM　Cypher ES ポリマーエディション

高分子材料研究に最適な測定モードやオプションを標準装備！超高性能環境制御搭載AFM/SPMがベースのポリマー用原子間力顕微鏡

Cypher ES ポリマーエディションは、アサイラム・リサーチの超高性能 AFMに洗練された環境制御をプラスしたCypher ESがベースとなっており、ポリマー材料研究や高分子キャラクタリゼーションに最適な測定モードやオプション（下の”基本情報”参照）があらかじめ標準装備されています。 ●その他機能や詳細についてはカタログをご覧頂くか、お問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器
  • マイクロスコープ

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AFMプラットフォーム 光学顕微鏡付き

AFMプラットフォーム 光学顕微鏡付き

高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。

光学顕微鏡を備えたAFMプラットフォームです。光学顕微鏡観察をしたエリアを狙い、原子間力顕微鏡によるイメージングが可能。 垂直光路設計を採用し、気液両用プローブホルダーは空気中でも液体中でも同時に使用可能。（要 液中測定オプション） ※詳しくはお問い合わせください。

  • プローブ

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超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1200

超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1200

✔10日以上のLHe保持、連続STM測定、　 ✔1日、1ℓ以下のLHe消費

超高真空中で試料の前処理とプローブの清浄化を行なって、極低温下でSTM・AFMが原子・分子レベルの分解能で観測できます。近年広がりつつある応用範囲に対応するために新しいプローブや付属装置を取り揃えています。

  • マイクロスコープ
  • 分析機器・装置

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SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に！単結晶GaNの測定事例もご紹介

当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。 窒化ガリウム（GaN）等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位は デバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。 半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡（TEM）やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。 【測定事例】 ■供試材：単結晶GaN（サファイア基板上にGaNを成膜したウェハ） ■面方位：C面（0001）±0.5° ■GaN膜厚：4.5±0.5μm ■測定条件：後方散乱モード ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託測定

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バッテリー製造用　３D検査顕微鏡　AniCAMHD

バッテリー製造用　３D検査顕微鏡　AniCAMHD

55% スラリー廃棄物削減、切替時間の短縮、在庫の削減！

AniCAM HD with PIXELOCは、アニロックスロールやグラビアシリンダーの検査用として世界をリードする3D容積測定装置で、その独自の柔軟性により、バッテリーやソーラーパネルの製造など、多くの製造環境で使用することができます。 Troika Systems社AniCAMは製造工程で使用される活物質、導電性添加剤、ポリマーバインダー、溶剤が集電体に適切な量と厚さで塗布されているかどうかを正確に測定するのに最適な装置です。

  • 2次電池・バッテリー
  • その他検査機器・装置

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コンパクトタイプ原子間力顕微鏡 NaioAFM

コンパクトタイプ原子間力顕微鏡 NaioAFM

かんたん操作でコンパクト・壊れにくい！低コストな“All-in-one”AFM装置をご紹介

『NaioAFM』は、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、 研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に測定したい ユーザーに好適なコンパクトタイプ原子間力顕微鏡です。 当製品特有の“Flip-over”スキャンヘッドと専用交換ツールにより、短時間に そしてシンプルに、カンチレバーの交換が可能。 機能性と操作性を両立し、どなたでも、どこでも使える“All-in-one”AFM装置 として、世界中で広くご利用いただいております。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載、場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加搭載が可能 ■シンプルなカンチレバー交換：レーザや検出器の調整不要 ■設置後すぐに測定可能：USBケーブルを接続しソフトウエアを立ち上げるだけ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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【製品不要の改善】MEMS顕微鏡（両面パターンズレ検査装置）

【製品不要の改善】MEMS顕微鏡（両面パターンズレ検査装置）

顕微鏡カメラでモニタして、パターンズレや通り違いを検査！

アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の MEMS顕微鏡を取扱っています。 『TMIR-2000』は、MEMSウエハを上下両面から顕微鏡カメラでモニタして パターンズレや通り違い検査ができます。 新開発ソフトで2カメラの光軸をアライメントとリアルタイムで合成で 上下の重なりズレをダイレクトに写します。また、自動線幅測定で マークズレをサブミクロン測定します。 【基本構成（抜粋）】 ■MEMS 顕微鏡 本体 ■三眼鏡筒 ■接眼 10 倍 ■XY ステージ ■カラーカメラ2台 ■検査 PC/19型モニタ/MEMS 検査ソフト　他 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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両面位置確認顕微鏡　DVM－400NEW

両面位置確認顕微鏡　DVM－400NEW

被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせズレ量を比較観察し、メジャーリングシステムで測定できる顕微鏡。

被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせ、そのズレ量を比較観察し、 メジャーリングシステムで測定できる顕微鏡です。 対物レンズは観察倍率50倍から1000倍まで5種類で多種多様な試料に対応できます。 NIR可視/赤外透過タイプ。 カメラ位置合成装置もあります。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他検査機器・装置

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【技術資料】QCLとFT-IRを用いた自動車塗装片の法科学的分析

【技術資料】QCLとFT-IRを用いた自動車塗装片の法科学的分析

微小な塗装の欠片も分析することが可能！実際に事故車両の特定に貢献しています

赤外顕微鏡は、微小物の組成を同定できる分析ツールの1つであり、法科学の 証拠分析においても不可欠なものとなっています。 当資料で紹介するブルカーの「HYPERION II-ILIMシステム」による、IRレーザー イメージングと顕微FT-IR測定を併用した分析法は、分析時間を大幅に 短縮しつつ、分析の質をさらに向上させることができます。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■IRレーザーイメージングとFT-IRで使用される光源のちがい ■IRレーザーイメージングとFT-IRを併用した分析法 ■応用例：自動車の塗装片 ■ゲームチェンジャー：IRレーザーイメージングとFT-IR測定を1台の装置で実現 ■測定結果：効率と信頼性の向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分光分析装置

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卓上型 電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』

卓上型 電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』

光学画像からSEM観察までがシームレス！観察しながら同時に元素分析！

当社では、観察中に元素分析も同時測定できる 卓上型電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』を取り扱っております。 観測範囲は10倍から100,000倍でSEMのすべての機能が簡単に操作可能。 低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大し、非導電性試料も そのまま観察できます。 【特長】 ■10倍から100,000倍の観測範囲 ■SEMのすべての機能が簡単操作 ■低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大-Zeromag-（新機能） ■観察中に元素分析も同時測定-Live Analysis-（新機能）※オプション ■ミクロの寸法測定機能が標準　他 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

  • 電子顕微鏡

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