更新日： 集計期間:2026年03月25日～2026年04月21日
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操作がとても簡単な測定顕微鏡！最小読取値0.01mm（デジマチック仕様）※特注品対応可能
『XYシリーズ』は、直線上の2点間を測定する非接触式測定顕微鏡です。 二次元計測ソフト(オプション)により、計測値や画像を保存することができます。 ステージはアルミ製・ガラス製よりお選びいただけます。 USBカメラ仕様の他に標準鏡筒（直筒）仕様もございます。どちらかご選択ください。 その他、特注仕様に関しましては、ご相談ください。 【特長】 ■簡単操作 ■直線上の2点間を測定 ■二次元計測ソフトにより計測値・画像の保存が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
アクティブ防振内蔵！ステージ交換だけで電気化学測定や環境制御などに対応します
『CoreAFM』は、高いパフォーマンスと、どのような測定にも対応する 拡張性を兼ね備えた多機能コンパクト原子間力顕微鏡です。 トップビューカメラにより測定対象への位置合わせを容易に行うことができ、 サイドビューカメラによりカンチレバーとサンプル間の距離を目視可能。 また、カンチレバーホルダーはAFMヘッドユニットから簡単に着脱可能で、 ホルダーだけを安全に清掃したり洗浄することができます。 【特長】 ■コントローラ、電源、USBケーブルの接続ですぐに使用可能 ■高分解能24bitADC/DAC ■最大走査範囲(X,Y,Z)：100μm、100μm、12μm ■Zノイズレベル：40pm RMS値 ■液中測定を含めた32の標準測定モードと数々のオプションモードを搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました
『TOMOS-50』は、水晶振動子、MEMS、半導体等の電子部品の表裏を 同時に撮影、±0.2μm以下の精度で測定できるコンパクトタイプの 表裏位置ずれ計測システムです。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正可能。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売もしております。 お問い合わせください。 【特長】 ■コンパクトタイプ ■約300万画素 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定(条件により異なる) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に１５ｃｍの超小型ＡＦＭ
原子間力顕微鏡「ハンディＡＦＭ」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの２種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー（特許取得済み）を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にＡＦＭで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
初めての分析作業でも安心して使用できる自動解析システム！
『AIMsight』は、分析業務をサポートする充実の機能を標準搭載した 赤外顕微鏡です。 ATR対物鏡(Geプリズム)で高感度なATR測定が可能。赤外入射角度を より深くしたことにより、黒色ゴムなどの高屈折率試料測定時にも歪みのない 良好なATRスペクトルを取得することができます。 また、ピーク高さや面積、多変量解析(PCR/MCR)や対象スペクトルとの 一致度を使ったケミカルイメージを作成でき、目視では確認できない成分分布を 可視化することができます。 【特長】 ■極微小部における高感度測定 ■高感度なATR測定 ■可視画像を見ながらスムーズな測定 ■成分をイメージで確認 ■測長機能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ソフトマテリアル内部構造の弾性率評価が可能です
物質の内部構造の評価にあたっては、切削や研磨等の断面加工技術により内部構造を保ったまま露出させることが求められます。本資料では加工ダメージの影響が比較的小さなミクロトーム法を用いて毛髪断面を作製し、内部構造のAFM観察、および弾性率評価を行った事例を紹介します。 ミクロトーム法はゴム材料や生体試料等のソフトマテリアル分野で幅広く用いられている切削加工技術であり、本アプローチによってこれらの材料に対して内部構造の機械特性評価が可能となりました。 【測定法・加工法】 ［AFM］原子間力顕微鏡法 ［AFM-MA・AFM-DMA］機械特性評価（弾性率測定・動的粘弾性率測定) ウルトラミクロトーム加工 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察
EBICとEBSDで電気的性質と結晶の関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶粒について電子回折を測定しました。これにより、電気的性質と結晶粒・結晶粒界の関係がより一層、明らかになりました。STEM観察および電子回折測定を行うことにより、特定箇所の結晶粒について局所的な情報を得ることが可能です。
欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
USBポート仕様。測定範囲X.Y軸0～25mm、Z軸(深さ)0～6.5mm
『NTM-100F』は、USBポート仕様の三軸測定顕微鏡です。 測定範囲はX.Y軸0～25mm、Z軸(深さ)0～6.5mm。 最小読取値はX.Y軸0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド)、 Z軸0.001mm(デジマチックインジケーター)です。 【仕様(抜粋)】 ■測定範囲 ・X.Y軸：0～25mm ・Z軸(深さ)：0～6.5mm ※100X ■最小読取値 ・X.Y軸：0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド) ・Z軸：0.001mm(デジマチックインジケーター) ■統合倍率：100X (200X) ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です！
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です。 1型：上下と左右方向の振幅が視野内の光学スケールで同時に読めます。 照明：ファイバーによる落射照明と同軸照明の2つが目的により交互に使えます。 5型：光切断方式を使い前後、奥行き方向の振幅を測定します。斜めの方向から振動物体にスリットを当て、対称に置かれた光学系で拡大し、前後、奥行き方向の振幅量の大小によってスリットの振れ幅が大きくなり、その量を視野内の基準線に顕微鏡の前後、奥行き方向の移動で合わせますと、その竜尾がデジタルで表示されます。
品質管理を簡単に！迅速かつ容易に新技術へアップデート可能な顕微鏡・拡大鏡『TAGARNO FHD PRESTIGE』
当製品は、TAGARNO社製のスタンドアローンタイプ外観検査用 デジタルマイクロスコープです。最高倍率津で、非常に幅広いワーキングディスタンスを実現しました。 被写界深度の深い非常にシャープな画像を表示し、拡大対象物の品質をドキュメント化します。 またレンズの選択に応じて、24インチモニターで1.7倍～660倍まで拡大することが可能。 さらに、USB2.0スロットを使用して、任意のUSBメモリースティックに直接画像を保存し、 後でパソコンに画像を転送することができる上、ドキュメントは迅速かつ簡単に 会社の取引先と共有できます。 【特長】 ■優れた高品質の画像ドキュメントを入手 ■高さの異なる対象物の高品質画像ドキュメントを作成 ■優れた安定性により高倍率レベルを実現 ■パソコン不要の計測実行 ■簡単に保存し、共有した画像とビデオを検証 ■簡単に正確に小さな対象物を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による各種事例をご紹介します。資料DL可です。
当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、 「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試料と結果、 「はんだ断面の残留応力測定」の目的や手法、結果など多数掲載。 他にも、配向評価や断面観察結果、測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価 ■イオンミリングによる微小部断面加工 ■はんだ断面の残留応力測定 ■線材の残留応力測定 ■冷却（クライオ）イオンミリング断面加工 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
2025年12月末日までに3D測定レーザー顕微鏡 OLS5100を新規ご成約頂いたお客様に特別価格でご提供！
こちらでは株式会社エビデントの3D測定レーザー顕微鏡「OLS5100」の 特別価格キャンペーンについてご紹介いたします。 【特別価格キャンペーン】 ■期間：2025年12月末日まで ■対象製品 ・OLS5100-SMT 組合せ：20％OFF ・OLS5100-SAT 組合せ：15％OFF ※詳細は下記カタログをダウンロードよりご確認下さい。
ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡
『VK-X3000』は、レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の 3つの異なるスキャン原理が一台で使用できるレーザ顕微鏡です。 サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 【特長】 ■ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式 ■292種類の解析ツールにより、知りたいことはこの一台で完結 ■光学顕微鏡からSEMの領域を1台でカバー ■非接触で一瞬にして形状をスキャン ■知りたかった表面の“違い”がわかる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 １．はじめに ２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化 ３．DPC-STEM法の適用 ４．おわりに
不均一系試料に関する化学的評価を簡単かつ正確に行うことが可能です
『LUMOS II』は、顕微赤外分光やイメージング解析をより簡単に、 より迅速に、そして快適に進めることか可能です。 透過、反射、ATR（全反射吸収）、すべての測定モードにおいて 高い性能を発揮。 長作動距離の対物鏡によりアクセスが容易で、動作のすべてが 電動化された自動試料ステージも特長のひとつです。 【特長】 ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
顕微鏡カメラでモニタして、パターンズレや通り違いを検査！
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の MEMS顕微鏡を取扱っています。 『TMIR-2000』は、MEMSウエハを上下両面から顕微鏡カメラでモニタして パターンズレや通り違い検査ができます。 新開発ソフトで2カメラの光軸をアライメントとリアルタイムで合成で 上下の重なりズレをダイレクトに写します。また、自動線幅測定で マークズレをサブミクロン測定します。 【基本構成（抜粋）】 ■MEMS 顕微鏡 本体 ■三眼鏡筒 ■接眼 10 倍 ■XY ステージ ■カラーカメラ2台 ■検査 PC/19型モニタ/MEMS 検査ソフト 他 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
波長選択ユニット広視野顕微鏡 共焦点顕微鏡対応。 太陽電池と太陽光発電、LEDとOLED、ナノ粒子と2D材料の特性評価に使用可能
最高の感度を実現する400～1000nmの80％以上の透過率によるスペクトルスキャンを実現。また光回折格子によるパルス幅の広がりのない高い時間分解能を実現
小径ドリルの先端角度検査に！
小径ドリルの先端が規格通りに正しく研磨されているか否かを、ドリルの先端と側面を２方向から拡大して同時に見ることができ、目視検査及び先端の角度測定できる光学測定機です。
透過・反射・ATR 測定を標準装備！CCD観察機能なども搭載した赤外顕微鏡システム
『Spotlight 150i/Spotlight 200i』は、赤外顕微鏡システムです。 「Spotlight 150i」は、セミオートシステムで、透過、反射、ATRを測定。 「Spotlight 200i」は、フルオートシステムで、マッピング、ラインスキャン を行います。 光学系はトリプルカセグレン鏡で、可視光源は白色LEDとなっております。 【仕様(抜粋)】 ■光学系：トリプルカセグレン鏡 ■可視観察：CCDカメラ ■可視光源：白色LED ■ポイント測定モード：透過/反射/ATR ■イメージング測定モード：アップグレードにより可能(Spotlight 200i) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
粘弾性率の面内分布評価及び周波数依存性評価についてご紹介！
弊団では、PDMSのAFMによる動的粘弾性測定を承っております。 高分子材料の研究・開発において重要な要因である 力学特性を示す粘弾性挙動を調べる方法として、 動的粘弾性測定(DMA：Dynamic Mechanical Analysis)は有効な手段。 また、AFMの機構と組合せることで、 面内分布測定や局所領域での評価が可能となります。 本事例ではAFM-DMAを用いて、高分子であるPDMS(ジメチルポリシロキサン)の 粘弾性率のマッピング及び周波数依存性スペクトロスコピー評価を ご紹介いたします。 【測定法・加工法】 ■[AFM]原子間力顕微鏡法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ハイテク産業の発展を支える評価用の機器・治具・チャートなどを多数ご紹介
当カタログは、光学機器測定、テストチャート、薄膜パターニングの ソリューションを提供するパール光学工業株式会社の総合カタログです。 芯出し顕微鏡CMシリーズをはじめ、画像処理システム、オートコリメータ、 テストチャート、薄膜パターンニングなど幅広く光学機器を掲載しております。 【掲載製品】 ■芯出し顕微鏡 ■透過式偏芯測定器 ■画像処理システム ■反射式偏芯測定器 ■反射式偏芯測定器RCM-2用オプション ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
柔軟な拡張性を備える研究開発用FT-IR顕微鏡。QCL 赤外レーザーによるイメージング機能を1つの装置に組み込むことが可能です。
HYPERION II は、赤外顕微鏡における技術革新です。赤外イメージングを回折限界に到達させ、顕微 ATR における基準を作りました。さらには透過・反射・ATR のすべての測定モードにおいて FT-IR 顕微鏡と赤外レーザーイメージング顕微鏡機能 (ILIM) の両方を 1 台で実現する、世界初のシステムです。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ナノレベルのダイナミクスの高速3D/4Dイメージング測定を実現！
光の位相差情報をホログラフィの方式により取得することで、数μmの急峻な段差もスキャンなしで瞬時に測定し、3Dイメージや表面粗さ情報表示します。 Z分解能はナノレベルを実現しながら、除振台は不要となっており、高さ方向の走査を必要とせず、広いエリアを高速で測定し、3Dイメージを表示しながらスクリーニングが可能です。 ラボのみならず製造や品質管理の現場でも活用できます。 ◆ホログラフィ方式による高速データ処理を実現 ◆ナノレベルの高さ分解能 ◆液中やガラス窓越しなど様々な測定環境に対応可能 ◆簡単セットアップ、優れた操作性 ◆キャリブレーション不要 ◆スティッチング機能で広範囲を高速測定（別途、自動ステージが必要） ◆高周波数で駆動するMEMSに対応（別途、ストロボスコピックオプションが必要）
【高速イメージングおよび高速マッピング機能搭載】FTIRイメージングをこれまで以上に迅速・快適・正確に！
『LUMOS II』は、高速イメージング対応FPA検出器です。 初心者から上級者まで、分析スキルのレベルに関係なくどなたでも使えるガイド機能付きのため、 スキルのレベルに関係なくすべてのユーザーに迅速・快適・正確にご利用いただけます。 また、イメージングはすべての測定モードにおいて実行することができ、 錠剤、高分子材料、汚染物質の分散状態など、 不均一系試料に関する化学的評価を簡単かつ正確に行うことが可能です。 【特長】 ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
モアレ応用3次元人体測定装置など！様々な機器の製造・開発実績がございます
当社での、医科用機器の開発・製造実績をご紹介します。 耳鼻科手術用顕微鏡をはじめ、眼科用検査装置類、 モアレ応用3次元人体測定装置などを開発・製造。 また、そのほかにもLED照明付のTVカメラ内蔵顕微鏡の 実績もございます。 【実績一覧】 ■耳鼻科手術用顕微鏡 ■眼科用検査装置類 ■モアレ応用3次元人体測定装置 ■TVカメラ内蔵顕微鏡(LED照明付) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
オートフォーカス画像顕微鏡などにより、小さな形状や精密部品の測定も容易！
株式会社メグシでは、画像処理顕微鏡・レーザー刻印を行っております。 リニアハイトゲージやオートフォーカス画像顕微鏡により、 小さな形状や精密部品の測定も容易に行えます。 また、YVO4レーザーマーカーにより、品名や番号、ロゴなどを 金属や樹脂部品へも緻密なマーキングができます。 【特長】 ■小さな形状や精密部品の測定も容易 ■品名や番号、ロゴなどを金属や樹脂部品へも緻密なマーキングが可能 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【ハイエンドモデル】高感度・高波数分解能・高拡張性を持つ最高レベルの顕微ラマン分光装置
【特長】 ・高空間分解能 ： XY < 300 nm、Z < 600 nm (@532 nm) ・高波数分解能 ・高速イメージングモード ： ガルバノスキャン 1000ｘ1000ピクセル/3秒 ・自動化機能 ： レーザー出力、ビーム径、ピンホールサイズ、グレーティングの切り替えなど ・高拡張性 ： CARSモデル、AFMラマン/TERS、蛍光寿命測定、オートフォーカス機能、SERS基板 など ・低波数ラマン測定オプション ・ブリルアン散乱(ブリュアン散乱)測定オプション 共焦点ピンホールなどの一連の光学配置を自動切り替え可能であり、共焦点光学配置を持つ本装置は、微小粒子のスペクトル分析または高空間分解能を有するマクロ物体のラマンイメージングを行なうことを可能にします。 豊富な機能追加オプションがあり、拡張性に優れたラマン顕微鏡です。
従来の顕微鏡を超える性能 透体の傷や異物を可視化・定量化
㎚オーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能で、1ショットで高さ方向の情報が取得でき、非接触・非破壊・非侵襲で測定が可能な顕微鏡です。さらにフォーカス不要で、任意の面を高速でスキャンして測定位置を決定することが可能です。 特長 ・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・目視では確認できない透明材料の表面と接合界面を可視化 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得可能 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能
