更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます
試料の測定によって得られた結果と、シミュレーションの併用により、結晶構造の評価が可能です。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石において、HAADF-STEMとEDXの測定によって得られた結果と、各々の測定条件を用いたシミュレーション像の比較から結晶構造の考察を行った事例を紹介します。測定結果と計算シミュレーション結果の併用により、結晶構造に対する理解を深めることが可能となります
無接触で凹面、凸面の微小な曲率（アール）を測定！
どんな小さな曲率でも、対物レンズの倍率を高くして測定ができます。曲率ばかりでなく、曲面の面精度なども光学チャート像のクズレで確認できます。 光学チャート像を曲率の面にピントを合わせ、0点合せをを行ない、続けて顕微鏡の位置を上げ、フィラメントの像を越して、再び、光学チャート像が曲率の面で反射して見える位置にピントを合わせると、それまでの移動量が曲率を示し、デジタルで表示されます。
ウエハ表面に可視でAFフォーカス！赤外顕微鏡でパターン寸法を画像測定
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の 『自動赤外顕微鏡』を取扱っています。 当製品は、8”貼り合わせウエハの表面に可視でAFフォーカスして 赤外顕微鏡でSi内部パターンのパターン寸法を画像測定します。 2カセット、エッジグリップチャック、エッジアライナを搭載しています。 【特長】 ■対象ウエハ 8” ■2カセット ■位置決め精度±1μm ■軸ズレ測定±0.5μm ■線幅測定 0.2μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
検査部が所有している中型測定器！扱いやすいスタンダードタイプで測定
大研工業株式会社の検査部では、「測定顕微鏡 MFシリーズ ミツトヨ」 を所有しております。 長寿命LED照明と高倍率で100×100～400×200mmのステージライン。 扱いやすいスタンダードタイプです。 必要に応じてこちらで測定いたします。 【特長】 ■長寿命LED照明 ■高倍率 ■100×100～400×200mmのステージライン ■扱いやすいスタンダードタイプ ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製品購入から校正・修理・レトロフィットまでお任せください。
コラムが傾斜可能な測定顕微鏡です。《傾斜角度》±12°
洗練されたツールで、測定・解析を迅速に
実験準備からレポート作成まで、トータルでサポートするツールへ進化 ・実験準備から分析・レポート作成までをこの1台で ・誰でも業界最高レベルの測定性能を ・設定不要で高精度な測定を
製品購入から校正・修理・レトロフィットまでお任せください。
コラムが傾斜可能な万能測定顕微鏡です。《コラム傾斜角度》±15°
操作がとても簡単な測定顕微鏡！最小読取値0.01mm（デジマチック仕様）※特注品対応可能
『XYシリーズ』は、直線上の2点間を測定する非接触式測定顕微鏡です。 二次元計測ソフト(オプション)により、計測値や画像を保存することができます。 ステージはアルミ製・ガラス製よりお選びいただけます。 USBカメラ仕様の他に標準鏡筒（直筒）仕様もございます。どちらかご選択ください。 その他、特注仕様に関しましては、ご相談ください。 【特長】 ■簡単操作 ■直線上の2点間を測定 ■二次元計測ソフトにより計測値・画像の保存が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
アクティブ防振内蔵！ステージ交換だけで電気化学測定や環境制御などに対応します
『CoreAFM』は、高いパフォーマンスと、どのような測定にも対応する 拡張性を兼ね備えた多機能コンパクト原子間力顕微鏡です。 トップビューカメラにより測定対象への位置合わせを容易に行うことができ、 サイドビューカメラによりカンチレバーとサンプル間の距離を目視可能。 また、カンチレバーホルダーはAFMヘッドユニットから簡単に着脱可能で、 ホルダーだけを安全に清掃したり洗浄することができます。 【特長】 ■コントローラ、電源、USBケーブルの接続ですぐに使用可能 ■高分解能24bitADC/DAC ■最大走査範囲(X,Y,Z)：100μm、100μm、12μm ■Zノイズレベル：40pm RMS値 ■液中測定を含めた32の標準測定モードと数々のオプションモードを搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
鮮明な画像を提供。広いワーキングディスタンス。オートフォーカスで簡単操作！顕微鏡・拡大鏡『TAGARNO FHD TREND』
当製品は、TAGARNO社製のスタンドアローンタイプ外観検査用 デジタルマイクロスコープです。 モニターでの観察やドキュメント作成が簡単で、干渉や遅れも無く、 正確で歪みの無い画像を提供します。 本体装備の USB2.0 スロットを使用して画像を保存し、PCに保存が可能。 社内のネットワークを利用してドキュメントの共有も行えます。ルーラー表示も可能。 測定アプリケーションでは、ポイントからポイントまでの長さ、 円の半径・直径・外周長や角度、面積の測定、キャリブレーション、 レンズの補正、テキストや矢印、注釈の追加などが可能です。 オプションで、紫外線・赤外線ライト、偏光レンズ、偏光フィルター、分散レンズも追加できます。 オプションアプリケーション：画像比較（マッピング）、粒度分布、カラー分析、スペックカウンター等。 【特長】 ■首や腰に負担のかからない楽な姿勢で長時間作業が可能 ■高品質の画像記録（フルHD1080pの高画質、60fps、光学30倍） ■最大総合倍率330倍、画像を顕微鏡本体やPCに保存可能 ※デモ機をご希望の方は、お問い合わせよりご連絡ください。
表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました
『TOMOS-50』は、水晶振動子、MEMS、半導体等の電子部品の表裏を 同時に撮影、±0.2μm以下の精度で測定できるコンパクトタイプの 表裏位置ずれ計測システムです。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正可能。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売もしております。 お問い合わせください。 【特長】 ■コンパクトタイプ ■約300万画素 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定(条件により異なる) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
空間分解能を生かした顕微赤外発光分光測定が可能！赤外顕微鏡を用いたソリューションをご紹介
物質の赤外発光スペクトルを解析することは、多くの研究分野において 重要な知見を与えます。 とくにFT-IRを用いた発光スペクトル測定では、幅広い波数領域を同時に 分析することが可能で、試料のもつ熱にともなう熱放射と量子メカニズムに 起因する放射の両方に対応します。 試料が大きく強い赤外線を放射するような場合には、発光スペクトルの測定は 比較的簡単ですが、1mmに満たないような微小試料の場合は、放射赤外光の検出が 困難になります。 当資料では、これらのハードルをクリアする、ブルカーならではの赤外顕微鏡を 用いたソリューションをご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■測定例 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に１５ｃｍの超小型ＡＦＭ
原子間力顕微鏡「ハンディＡＦＭ」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの２種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー（特許取得済み）を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にＡＦＭで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察
EBICとEBSDで電気的性質と結晶の関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶粒について電子回折を測定しました。これにより、電気的性質と結晶粒・結晶粒界の関係がより一層、明らかになりました。STEM観察および電子回折測定を行うことにより、特定箇所の結晶粒について局所的な情報を得ることが可能です。
低波数領域（テラヘルツ）測定用ラマン顕微鏡
既存のラマン顕微鏡に簡単に脱着可能なラマン顕微鏡のアクセサリーです．試料の前処理が不要で非接触・非破壊の分析が可能で，有機・無機物の成分の測定が可能であり微量，微小の原薬の結晶形の評価に適しています．錠剤や混合粉末を構成している主薬，賦形剤などの成分のケミカルイメージングにより成分の分散状態を評価することも可能です．
