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表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載
『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、 サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、 サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加が可能 ■お客様先に装置を持参してのデモも受付中 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。
アクティブ防振内蔵！ステージ交換だけで電気化学測定や環境制御などに対応します
『CoreAFM』は、高いパフォーマンスと、どのような測定にも対応する 拡張性を兼ね備えた多機能コンパクト原子間力顕微鏡です。 トップビューカメラにより測定対象への位置合わせを容易に行うことができ、 サイドビューカメラによりカンチレバーとサンプル間の距離を目視可能。 また、カンチレバーホルダーはAFMヘッドユニットから簡単に着脱可能で、 ホルダーだけを安全に清掃したり洗浄することができます。 【特長】 ■コントローラ、電源、USBケーブルの接続ですぐに使用可能 ■高分解能24bitADC/DAC ■最大走査範囲(X,Y,Z)：100μm、100μm、12μm ■Zノイズレベル：40pm RMS値 ■液中測定を含めた32の標準測定モードと数々のオプションモードを搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
超精密万能測定顕微鏡
・測定範囲 (X)200mm x (Y)100mm measuring area ・精 度 ±(1+0.004L)μm accuracy コラムの左右傾斜がプラスマイナス１２．５°まで可能で、センター支持台（最大φ１００×７００Ｌ mm）により、ネジやタップ等ネジ系統の測定も可能。
LEDリング暗視野赤外照明を内蔵しており、簡便に高解像度な赤外顕微鏡撮像ができます。
カメラ 画素数,画素ピッチ 640×513、15μm 波長域 970～1650nm 画像フォーマット 16bitグレースケール png、tiff、csv フレームレート 10～60fps ローリングシャタ デジタルI/F USB3.0 Vision
金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に！単結晶GaNの測定事例もご紹介
当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。 窒化ガリウム（GaN）等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位は デバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。 半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡（TEM）やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。 【測定事例】 ■供試材：単結晶GaN（サファイア基板上にGaNを成膜したウェハ） ■面方位：C面（0001）±0.5° ■GaN膜厚：4.5±0.5μm ■測定条件：後方散乱モード ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観察可能です。
GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です！
高速振動物体の振幅測定に使われる顕微鏡です。 1型：上下と左右方向の振幅が視野内の光学スケールで同時に読めます。 照明：ファイバーによる落射照明と同軸照明の2つが目的により交互に使えます。 5型：光切断方式を使い前後、奥行き方向の振幅を測定します。斜めの方向から振動物体にスリットを当て、対称に置かれた光学系で拡大し、前後、奥行き方向の振幅量の大小によってスリットの振れ幅が大きくなり、その量を視野内の基準線に顕微鏡の前後、奥行き方向の移動で合わせますと、その竜尾がデジタルで表示されます。
無接触で凹面、凸面の微小な曲率（アール）を測定！
どんな小さな曲率でも、対物レンズの倍率を高くして測定ができます。曲率ばかりでなく、曲面の面精度なども光学チャート像のクズレで確認できます。 光学チャート像を曲率の面にピントを合わせ、0点合せをを行ない、続けて顕微鏡の位置を上げ、フィラメントの像を越して、再び、光学チャート像が曲率の面で反射して見える位置にピントを合わせると、それまでの移動量が曲率を示し、デジタルで表示されます。
小径ドリルの先端角度検査に！
小径ドリルの先端が規格通りに正しく研磨されているか否かを、ドリルの先端と側面を２方向から拡大して同時に見ることができ、目視検査及び先端の角度測定できる光学測定機です。
ズームのツマミが上面にある使いやすい顕微鏡です！
標準倍率で10～40×、高倍率仕様では10～60×です。全機種ともに蛍光灯のリング照明が付きます。顕微鏡架台の種類も大きなプリント基板が載せられるものから、照明を内蔵した透過、落射ができるものを含め豊富に揃えました。
同軸・落射照明が切り換えで使える！
ハロゲン照明によるファイバー同軸照明とリング状の落射照明を組み合わせた、明視野観察と暗視野観察の切り換えが瞬時にできます。観察物の反射性の強弱による変化に対し、有効な照明の選択が可能です。
直立タイプの小型で軽量な顕微鏡です！
MDS-400型は、直立タイプの小型で軽量な顕微鏡です。 作動距離は（135mm）です。0.5×の補助対物レンズを使って作動距離を（230mm）の長さに伸ばせますので装置等に取り付けて使われます。 接眼レンズ30×も標準品としてあります。
細かい部品や商品の適切な説明に！組み立ての技術指導にも使用できます
当製品は、プリント基板のハンダ付け等の作業指導及び検査手法の教育に 適した2人用ズームステレオ顕微鏡です。 明るい長作動タイプで観察作業の効率を向上。 LEDポインターが手動で視野内を自由に移動でき、適切な位置を指示します。 また、2人で同時に同一のものを拡大して見えるため、ポインターを利用して 部品の検査、選別、共同作業、研究、開発に役立ちます。 【仕様】 ■光学系：正立像 ■総合倍率：5x～20x（接眼10x・対物1xの標準仕様の場合） ■作動距離：170mm（対物1xの標準仕様の場合） ■架台の大きさ：260mm×300mm×20mm ■LEDポインター：100V電源式もしくは乾電池式 ■照明装置：FR-6型、蛍光灯リング照明装置（100V-6W） ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
記録作りに好適！双眼視とカラーTVでの観察が交互にできます
当製品は、明るい双眼視での立体像と、カラーTVの映像による観察が 光学本体の左側にあるツマミの回転による光路切り替えで交互にできる 3眼ズームステレオ顕微鏡です。 対物レンズの先端に透明なプラスチックの円筒を設置。 リング照明を円筒に添って上下させ、コントラストがよい明るい見やすい 位置に止められます。 また、カラーコピー機の併用で、きれいで実用的な カラーTVの映像コピーが記録として作成できます。 【特長】 ■見やすい照明 ■よい映像と記録作成のための照明 ■映像の記録 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
