超高真空極低温強磁場中走査型プローブ顕微鏡 USM1500
USM1300型をコンパクトにした極低温強磁場対応SPMのミドルエンドモデル新登場!
全高が低く、操作性とコストパフォーマンスに優れた新型極低温強磁場対応SPMシステムです。AFM測定もオプションにて対応可能です。
- 企業:株式会社ユニソク
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
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USM1300型をコンパクトにした極低温強磁場対応SPMのミドルエンドモデル新登場!
全高が低く、操作性とコストパフォーマンスに優れた新型極低温強磁場対応SPMシステムです。AFM測定もオプションにて対応可能です。
SEMとAFMを組み合わせた相関分析!材料表面の理解がより深化
『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚染のリスクを排除 ■2DSEM像を3Dに拡張 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
かんたん操作でコンパクト・壊れにくい!低コストな“All-in-one”AFM装置をご紹介
『NaioAFM』は、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、 研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に測定したい ユーザーに好適なコンパクトタイプ原子間力顕微鏡です。 当製品特有の“Flip-over”スキャンヘッドと専用交換ツールにより、短時間に そしてシンプルに、カンチレバーの交換が可能。 機能性と操作性を両立し、どなたでも、どこでも使える“All-in-one”AFM装置 として、世界中で広くご利用いただいております。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載、場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加搭載が可能 ■シンプルなカンチレバー交換:レーザや検出器の調整不要 ■設置後すぐに測定可能:USBケーブルを接続しソフトウエアを立ち上げるだけ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【ハイエンドモデル】高感度・高波数分解能・高拡張性を持つ最高レベルの顕微ラマン分光装置
【特長】 ・高空間分解能 : XY < 300 nm、Z < 600 nm (@532 nm) ・高波数分解能 ・高速イメージングモード : ガルバノスキャン 1000x1000ピクセル/3秒 ・自動化機能 : レーザー出力、ビーム径、ピンホールサイズ、グレーティングの切り替えなど ・高拡張性 : CARSモデル、AFMラマン/TERS、蛍光寿命測定、オートフォーカス機能、SERS基板 など ・低波数ラマン測定オプション ・ブリルアン散乱(ブリュアン散乱)測定オプション 共焦点ピンホールなどの一連の光学配置を自動切り替え可能であり、共焦点光学配置を持つ本装置は、微小粒子のスペクトル分析または高空間分解能を有するマクロ物体のラマンイメージングを行なうことを可能にします。 豊富な機能追加オプションがあり、拡張性に優れたラマン顕微鏡です。
何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に15cmの超小型AFM
原子間力顕微鏡「ハンディAFM」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー(特許取得済み)を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にAFMで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
光熱励振を用いたオフレゾナンス測定モード「WaveMode」搭載!高い安定性と性能を実現します!
『DriveAFM』は、マテリアルサイエンス・ライフサイエンス両者において 劇的に研究を加速させるハイパフォーマンス原子間力顕微鏡です。 原子分解能での高速イメージングを可能にしつつ、100μmという非常に広いスキャン範囲をカバー。液中においても高い安定性を誇ります。 「WaveMode」により20倍以上の速度でオフレゾナンス測定が可能で、1視野の撮像にかかる時間は1分以下となっています。 【特長】 ■独自技術「Direct drive」ピエゾスキャナによる広範囲かつ高分解能スキャニング ■Nanosurf社独自開発の光熱励振を用いたオフレゾナンスモード「WaveMode」 ■WaveModeはポリマーのような柔らかいサンプルにおいても有用 ■カンチレバーの光熱励振「Clean-Drive」搭載 ■DNAの周期的な二重らせん構造を明確にイメージングできる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡
原子間力顕微鏡「ステージ付AFM」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なAFM装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
導電性膜でコートされたプローブを用いサンプル表面に交流電圧を印加させることにより、サンプル表面を振動させ電気機械的情報を得ます
・圧電体試料の電気双極子作用による引力や斥力を画像化可能 ・圧電応答による試料の伸縮具合の定量評価は参考値 ・AFM像も同時に取得可能