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小型でシンプル、堅牢な設計！コンパクトで優れた汎用性をもつ高感度熱流束DSCをご紹介します
『熱流束型シングルファーネス DSC 4000』は、リサーチからルーチン分析まで 幅広い対応が可能なコンパクトで優れた汎用性をもつ高感度熱流束DSCです。 小型でシンプル、堅牢な設計で、QA/QCなどの品質管理から、ルーチン分析に 必要不可欠な作業効率の向上、信頼性の高い分析まで様々なニーズに幅広く対応。 安定したガス供給をもたらすマスフローコントローラーを内蔵しています。 【特長】 ■場所を取らないコンパクト設計 ■抜群の操作性と信頼性 ■安定したベースライン ■安定したガス供給をもたらす マスフローコントローラー内蔵 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DSC 9 は 750℃ までの高温測定に対応し、ダイレクト温度制御により信頼性の高い DSC 測定を再現します。
広い測定温度範囲：-180℃～750℃ ダイレクト温度コントロールセンサー 使いやすいタッチスクリーン コンパクト設計 堅牢で長寿命のファーネス 高い冷却能力（Max 100℃/min） ASTM規格に準拠した品質基準 自動2ラインガス切替え（MFC内蔵）
1時間で最大３０サンプルのビード作製が可能！安全に前処理時間を大幅に短縮！表面状態の良い均質なガラスビードを作製できます
Cole-Parmer社社 KATANAXガラスビード作製機・アルカリ溶融装置は「K1 Prime（1個作製）」、「X-300（1-3個同時作製）」、「X-600（6個同時作製）」の3機種を揃えております。 サンプル，融剤，剥離剤を白金るつぼ内で加熱しながら撹拌させ、脱気後に白金モールド（鋳型）へ流し込むことで表面状態の良い均質なガラスビードを作製することが出来ます。また、安全にアルカリ溶融を行う事が出来ます。 操作はタッチパネルディスプレイで行い、溶融条件はプログラム可能で本体に保存することも可能です。 【特長】 ■表面状態の良い均質なガラスビードを作製可能 ■K1 Prime型は1個ずつ、X-600型は同時に6個のガラスビードを作製 ■溶融方式には電気炉を採用 ■電源以外のユーティリティ（ガス、冷却水等）を必要としない ■溶融条件はプログラム可能で本体に保存可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【動画あり】机に置けてコンパクト！研究室での使用に最適！MAX35tonの油圧をかけ、粉末試料を均一性の高いペレットに！
Cole-Parmer社 自動プレス機『X-Press 3636型』は自動油圧プレスによりMAX35トンの加圧をかけることで粉末試料を蛍光X線分析や赤外分光分析に適した均一性の高いペレットを作製する装置です。 タッチパネル操作によるプログラム設定で加重圧、加圧保持時間、加圧リリース時間を簡単に詳細設定することが可能です。これにより均一なサンプルを作製することができます。 専用のダイセットを使用することで、サンプルへの加圧を均等にして、分析測定に適した試料成型が可能です。 ダイセット試料サイズ：13mm、31mm、35mm、40mm
設備の異常を的確にキャッチするオンライン振動計。デジタルメーターを採用し、視認性もアップしました。
【特長】 ・見やすいデジタルメーター表示を採用。信号レベルが一目でわかります。 ・警報はデジタルで簡単設定。デジタル設定スイッチで、任意の値を1％刻みで簡単に設定できます。 ・レベル信号および警報出力機能搭載。レベル信号（DC4～20mA）および警報出力（リレー出力）を搭載しています。 ・ポータブル診断器と接続すれば精密診断が可能。ポータブル振動計MK-220、MK-220HG、MK-210HE IIに接続すれば、精密診断や周波数解析、報告書出力などが可能です。 ・電源はワールドボルテージ対応。AC85～264Vの電源が使用でき、ワールドワイドで使用できます。
【国内にはない技能試験！】 「プラスチック成分分析技能試験」の技能試験をご紹介！
試験項目 例 ・NIL PT-3017 ハロゲン（Cl, Br） 申し込み期限：５月末 ・NIL PT-2880 元素分析（Cd, Pb, Hg, Br ） 申し込み期限：６月 ・NILPT-3025 フタル酸エステル類（RoHS対象成分など） 申し込み期限：６月 ・iis21P07 臭素系難燃剤（BDE209など） 申し込み期限：7月 ※NIL（中国）, IIS（オランダ）, LGC（イギリス）
大正７年創業の歴史ある化学工業製品商社でありながら、光学薄膜・パターンなどの最先端の加工を自社工場で行っている技術企業です。
安達新産業株式会社は、主に化学工業製品や合成樹脂材料等の製造・販売、光学薄膜や機能膜等の製造・加工を行っている会社です。 また、フォトリソグラフィ・エッチング技術を応用したパターン加工等の最先端技術の加工や、研究・開発も行っております。 【事業内容】 （表面処理事業） ・光学薄膜、真空蒸着、スパッタリング ・パターン加工(電気化学分析チップ、くし形電極等) （商社事業） ・化学工業製品販売 (各種合成樹脂・接着剤・シリコーン・ホットメルト等) ・樹脂成形品加工、金型加工 ・ナノマテリアル・ナノ粒子販売 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
原料や製品等を2～3種類に選別することができます。
『VSE3型』は、原料等の粉粒体を大量に処理するセパレーターです。 原料や製品等を2～3種類に選別することができます。 構造は、篩框・フレーム・駆動部・シーブ(網枠)より構成されます。 【特長】 ■穀物原料・製品等に混入している夾雑物や 粗大品の分離・粉抜き・ダマ取りが可能 ■少ない動力で大きな処理能力 ■駆動モーターを篩框に搭載 ■モーター軸と主軸の軸間距離が一定となりVベルトのスリップ・はずれを防止 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
熱重量分析装置 TGA801 型
最新のハードウェアとタッチスクリーン型インターフェイスを採用したTGA801は、石炭・コークス、セメント、触媒、食品、飼料および製粉製品など、様々な有機物、無機物および人工原料中の水分、灰分、揮発分および強熱減量などを重量法で高精度に分析します。 ■□■特徴■□■ ■試料量：1g ■試料数：1 〜 19 試料 ■精度：0.02%（1s，1g 不活性試料） ■ファーネス温度範囲：室温〜 1000℃ ■ファーネス温度精度：設定温度±2℃ ■天秤分解能：0.0001g ■最大昇温速度：50℃/分 ■雰囲気：空気 or 窒素 or 酸素 ■操作システム：Windows OS ■詳細は、お問い合わせ下さい。
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 X線光電子分光分析（ESCA・XPS）】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。 ○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
形状分析システム「ShapeAnalyzer」導入で人の手で行っていた形状分析を自動化！省コスト・時短・効率アップに貢献します。
写真は小さなピラミッド形状がかたまりとなって、大きなだんご状の形状を構成しています（ダブルテクスチャ）。 ShapeAnalyzer標準版では、内部の小さなピラミッド形状を分析してしまいますので、カスタマイズにより外側の大きなだんご形状の自動定量化を実現しました。 （画像提供：東京工業大学 小長井・宮島研究室＆山田研究室） 【形状分析システム ShapeAnalyzer】 電子顕微鏡(SEM)画像などから特定の形状を分析し、ヒストグラムや統計値を表示します。 １．ソフトに画像をドラッグし、２．キーボードをワンクリック。たったの２ステップで研究者が数時間かけていたつらい作業がわずか数秒で完了します。ほぼ自動で分析できますので個人による分析ムラがありません。 ※詳細はお問い合わせください。
何時間もかかる細胞カウントなどの分析が「約３秒」で完了！しかも低価格！
『Shape Analyzer ver2.0』は、画像を取り込むだけで、特定形状を自動検出。 今まで手作業で行っていたカウントなどの分析が、たった数秒で行えます。 従来型の自動分析装置のように、高価な顕微鏡を導入する必要なし！ 画像ファイルを分析するため、圧倒的な低価格で利用できます。 【特長】 ■高速で分析(３秒程度) ■分析結果に個人差が出ず、正確 ■複雑形状の分析もカンタン ■誰でも使える、直感的なインターフェイス ■統計や経過観察も、手軽に実現 ※詳しい仕様、分析画面などを掲載したカタログをご覧下さい
環境水・排水・下水中の硝酸・アンモニア・リン酸・シリカが測定できます。（連続流れ分析法を採用）
官公庁・大学・民間の水質調査機関でご使用頂いております。 最大で硝酸・亜硝酸・リン酸・アンモニア・シリカの5項目を 同時に120検体毎時に測定が可能です。 河川、汽水、湖沼、環境水まで幅広い測定が可能です。 【特長】 ■最大で硝酸・亜硝酸・リン酸・アンモニア・シリカの5項目を 同時に120検体毎時に測定 ■河川、汽水、湖沼、環境水まで幅広い測定が可能 ■優れた自動化技法 ■優れたコストパフォーマンス ■ＪＩＳ及び環境省告示法に収載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
海水や排水の全窒素、全りん等測定におけるCFA法を用いた分析事例について掲載
三洋テクノマリン株式会社様のオートアナライザーを用いた窒素・リン分析は 連続流れ分析（CFA法）を採用しており、現在当社の「QuAAtro2-HR」を ご使用いただいております。 流れ分析法の導入にあたり、一般的には効率性の向上に着目しますが、 導入後はユーザー様ならではの機器管理の苦労や工夫があります。 当資料は、三洋テクノマリン株式会社様がユーザーとして得られた知見について 報告するものであります。 【掲載内容】 ■分析設備の概要 使用している装置の分析方法や装置の仕様 ■本機種と手分析との対比 手分析とCFA を「効果」「負担」の観点から比較 ■NH4-N 分析におけるコンタミネーション対策 防音箱等を使用したコンタミ防止対策等 ■全窒素分析におけるキャリーオーバーの対策 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハロゲン及びLED光源搭載可能！オートアナライザーシリーズの縦型の2チャンネルのシステム
当社は新たに、連続流れ分析装置「MiSSion」をリリースしました。 オートアナライザーシリーズの縦型の2チャンネルのシステムです。 測定原理は吸光光度法の流れ分析装置で、気泡分節型の「CFA」法。 オートアナライザーシリーズは、環境、農業、水産、化学分野などの 化学分析に対して1000を超える分析メソッドがあり、多くの分析機関 などで使われております。 【特長】 ■超低濃度測定に対応 ■ハロゲン及びLED光源搭載可能 ■優れたメンテナンス性 ■検出器の温調機能 ■新しいソフトウェア ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【水道法告示第261号改正に対応】水道、環境、食品の前処理から測定まで、自動化に役立つ分析装置を多数取り揃えています！
2026年4月1日に水道告示第261号改正に伴い、連続流れ分析-誘導結合プラズマ-質量分析装置による一斉分析法（別表第6の2）に、 水銀を含めた金属一斉分析における前処理の自動化を行う「酸添加加熱分解装置AATM（アトム）」が公定法として認められました。 その他、環境、農業、水産業界において多くの分析機関などで使われている連続流れ分析装置（CFA）「MiSSion」や 、 分析機器により環境・食品分析の自動化、効率・品質アップに貢献する 「全自動酸分解前処理装置」「近赤外分析装置」などの多数製品を取り扱っています！ 【注力製品】 ■酸分解の前処理からICP-MS測定までの自動化装置『AATM（アトム）』 【その他取り扱い製品】 ■連続流れ分析装置『MiSSion』 ■全自動酸分解前処理装置『DEENA2』 ■近赤外分析装置『SpectraStar XT』 ■損傷澱粉測定装置『SDmatic 2』 ※詳細は＜PDFダウンロード＞よりご覧いただけます。 各種製品の詳細は、お問い合わせください。
モータ、ポンプ、ファン等の常時振動監視や設備診断に！一目でわかるデジタルメーター表示です。加速度・速度・変位全てのモードに対応。
■□■特徴■□■ ■見やすいディジタルメータ表示を採用 信号レベルが一目でわかる仕様 ■警報はディジタルで簡単設定 ディジタル設定スイッチで、任意の値を1％刻みで簡単に設定可能 ■レベル信号および警報出力機能搭載 レベル信号（DC4〜20mA）および警報出力（リレー出力）を搭載 ■ポータブル診断器と接続すれば精密診断が可能 MK-210HEII型振動データ管理システムに接続すれば、 精密診断や周波数解析、報告書出力などが可能 ■電源はワールドボルテージ対応 AC85〜264Vの電源が使用でき、ワールドワイドで使用できる ■その他機能や詳細はカタログをダウンロードしてご覧ください。 または、詳細仕様書をお渡しします！ お問い合わせください。
FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法： クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。
複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます！
『TMA（熱機械測定）』は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を 変化させ、試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られます。 また、温度範囲は－150～1000℃、サイズ最大はΦ10×25mm（圧縮モード、 針入れモード）、サイズ最大は0.7mm×5mm×20mm（引張モード）が 測定可能条件です。 本資料では半導体封止材のTMA分析事例を掲載しています。 【特長】 ■熱機械測定 ■試料に一定の荷重をかけ試料温度を変化させる ■試料の寸法変化を測定 ■熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られる ■複数の測定モード ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します！
フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固定部の配線に顕著な異常や差異は 確認できないが、EBSD解析では、屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所や、 小傾角粒界が集中している個所が存在していることが分かりました。 【解析内容】 ■フレキシブル基板外観とCu配線光学像 ・フレキシブル基板外観 ・屈曲部の配線 ・固定部の配線 ■EBSDによる屈曲部と固定部のCu配線比較 ・屈曲部の配線 ・固定部の配線 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析をご紹介
EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態（イオン価、 結晶構造、配位数）の異なりから、特性X線ピーク波長に変化（シフトや波形）が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最大試料寸法：100x100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
破断部の断面観察や、破断部の元素マップなど掲載しています！
当資料は、太陽電池モジュールの断面観察についてご紹介しています。 冷熱衝撃試験を行なった太陽電池モジュールを検査し、異常が特定された 箇所の断面観察を行なったところ、インタコネクタ半田付け部が破断している ことが確認されました。 【掲載内容】 ■破断部の断面観察 ■破断部の元素マップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
素材分子構造変化をIR分析にて検証した事例をご紹介！多種多様なサンプルの設置も工夫してご対応
製品を構成する素材の、熱、湿気負荷による信頼性試験は必須ですが、 試験後の分析評価もまた、欠かすことのできないプロセスです。 恒温恒湿試験は、製品、素材などに温度と湿度の負荷をかけ、物性、特性、 外観などの変化有無、および寿命を確認する装置で、当社では、多種多様な サンプルの設置も工夫してご対応。 当資料では、恒温恒湿試験前後の素材分子構造変化をIR分析にて検証した 事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■サンプル設置の工夫 ■化学分析による試験前後の比較評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介
TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■銅板の染みの分析 ■SEM-EDX分析→Li検出困難 ■TOF-SIMS分析→Li検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です！
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
一長一短な特長があるためサンプル形態や観察範囲、目的などに応じて選択する必要があります！
当社にて、A社製のVRゴーグルに付随のCMOSイメージセンサ部品について、 部品状態のまま機械研磨にて断面を作製し、CMOSセンサ部品の構造観察を 行いました。 センサ部品構造及びセンサ表面観察では、ガラスフィルタを取り除き CMOSセンサ表面を観察すると、カラーフィルタの配置がベイヤーフィルタと 言われる配置であることが観察されました。 断面作製方法には機械研磨の他、FIBやCPなどイオンビームで加工する方法や ミクロトーム法などがあります。相談は無料ですので、断面作製方法に 迷ったらお気軽にご連絡ください。 【概要】 ■センサ部品構造及びセンサ表面観察 ■機械研磨による断面作製 ■センサチップ表層のSEM観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
1H NMR,13C NMR、及びDEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介！
株式会社アイテスでは「液晶化合物のNMR分析」を行っております。 NMRは、分子を構成する原子どうしのつながりが分かる分析手法であり、 質量分析や赤外分光法などと共に、化合物の構造決定に用いられます。 ダウンロード資料では、液晶成分として使用される4-ブトキシ-4’- シアノビフェニル(CAS番号52709-87-2)の1H NMR,13C NMR、及び DEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【測定例】 ■1H NMR測定 ■13C NMR測定及びDEPT測定 ■その他のNMR測定手法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
BCAの断面解析とX線透過観察
BGA・CSPやCOC微小なバンプや特殊なセンサー、 内蔵部品基板の指定箇所の断面研磨を X線観察により可能にしました。 【特徴】 ○一直線に並んだバンプを均一で水平な研磨に仕上げている顕微鏡の焦点を変えることなく観察が出来ます。 ○BGA等の小さな隙間に樹脂を完全に充填し、汚れ・ダレ・伸びのない断面試料を提供します。 ○X線透過装置は焦点寸法0.25?mによる微細なポイントの設定が可能で、130万画素検出器で動画撮影も出来ます。 ・詳細はお問い合わせ下さい
半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能！
『ELITE』は、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する発熱解析が可能な装置です。 最大約20cm角の広角カメラにより、大きな基板等のサンプルでも 解析可能。 また基板解析の経験は豊富にございますので、その経験を基に不良箇所の 特定や、断面解析による原因特定にも対応します。 【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■一般的なマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外線強度データと位相データの解析により、不良部位のXYZ位置特定が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能
SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。 ・ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能 ・半導体のドーパント濃度分布計測に有効 ・半導体の極性（p型/n型）の判定は不可 ・定量評価は不可
