連続流れ分析法（CFA法）での工場排水中ふっ素化合物測定事例
連続流れ分析法（CFA法）を用いた、工場排水におけるふっ素化合物測定事例の紹介の詳細
当資料は、工場排水におけるJIS K 0102 34.4 連続流れ分析法（CFA法）を用いた工場排水中のふっ素の測定事例を紹介しております。 内容 ■分析の概要 ■装置の紹介 ■実際の測定事例 ■回収率の結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ビーエルテック株式会社
- 価格：応相談
分析 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング
更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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分析のメーカー・企業ランキング
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- ビーエルテック株式会社 東京都/試験・分析・測定
- 株式会社同仁グローカル 熊本県/その他
- 西進商事株式会社 兵庫県/産業用機械
- 4 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
- 5 ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社 東京都/試験・分析・測定 （TAInstruments）
分析の製品ランキング
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- 脂肪酸分析【分析事例】 株式会社同仁グローカル
- ICP-AES／ICP-MS用 認証単元素・混合標準液 湿式分析 西進商事株式会社
- 連続流れ分析装置（CFA）『MiSSion』 ビーエルテック株式会社
- 4 海水栄養塩測定装置 クワトロ ビーエルテック株式会社
- 5 乳中残留抗生物質簡易スクリーニング検査『チャームDIPテスト』 フォス･ジャパン株式会社
分析の製品一覧
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ビーエルテック オンライン展示会
分析の自動化を通してお客様の生産性向上に貢献 ビーエルテック オンライン展示会
分析の自動化を通してお客様の生産性向上に貢献 ビーエルテック オンライン展示会開催中。
- 企業：ビーエルテック株式会社
- 価格：応相談
環境分析や土壌分析等の無機分析の前処理の自動化 AATM/アトム
【技術資料進呈】環境・排水試料における金属分析のコラボ！ ～環境分析の前処理とICP/MS測定の自動化装置（AATM）～
工場排水、環境水、地下水等における前処理方法は、工場排水試験方法や環境省告示の規格に定められている硝酸などを用います。 しかし、分析操作は煩雑で分解に非常に手間がかかり、硝酸試薬の肌や目への飛び散りや、 酸性のガスの排出に伴い、人への曝露にも注意が必要です。 そこで、分析者の安全・作業の効率化・ヒューマンエラーをなくすために、 当社では、一気通貫により環境分析や排水分析や土壌分析における 前処理～測定を自動化可能な装置により定量可能な装置を紹介いたします。 ＜一部導入事例＞ ■排水分析のICP/MSを用いた無機物分析 ■環境分析（河川水・海水）のICP/MSを用いた無機物分析 ■土壌（含有/溶出）のICP/MSを用いた無機物分析 ■地下水・飲料水のICP/MSを用いた無機物分析 ※仕様詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。お気軽にお問い合わせください。
- 企業：ビーエルテック株式会社
- 価格：応相談
放射光用 走査型透過X線顕微鏡『STXM』
Heガス充填、UHVなど多彩な試料環境！放射光ビームラインとのハード・ソフト連携が可能
『STXM』は、コンパクトかつリジットな設計の放射光用走査型 透過X線顕微鏡です。 透過、蛍光、電子収量など検出器の組み合わせ計測。 ゾーンプレートを使用し高空間分解能20～100nmを誇ります。 当社は、使いやすいデータ取得ソフトなどお客様のご要望に応じて カスタマイズ開発いたします。 【特長】 ■ゾーンプレートを使用し高空間分解能 ■5nm以下の位置安定性 ■コンパクトかつリジットな設計 ■検出器の組み合わせ計測 ■使いやすいデータ取得ソフト ■放射光ビームラインとのハード・ソフト連携 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社トヤマ
- 価格：応相談
EBSD解析
結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法をご紹介いたします
EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)をはじめ、IPFマップ、GRODマップ、 極点図など、様々なマップを使用します。 【特長】 ■EBSD法は、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法 ■(株)TSLソリューションズOIM7.0結晶方位解析装置を使用 ■結晶格子がどのような方向を向いているのか(結晶方位)を解析 ■加工条件(圧延、押出等)の違いによる結晶方位や結晶粒径の 変化が解析可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
化学反応機構研究所 フタル酸エステル1HNMR
似通った構造の化合物を区別して同定！プロトンの個数、構造の特長などの情報を得る事ができます
株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 似通った構造の化合物を区別して同定するにはNMR分析やGCMS分析が有効です。 当分析では、積分値からプロトンの個数、ケミカルシフトから官能基など 構造の特長、またカップリングパターンやカップリング定数から周りの プロトンとの位置関係などの情報を得る事ができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？
NMR分析で類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や枝分かれ構造などを解明！
株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や 枝分かれ構造などの構造解明にNMR分析は有効な手法です。 有機合成、高分子合成において、狙った分子構造物を得られたのかの確認には 必須の分析で、 医薬品、サプリメント、食品、繊維など、その特性効果・効能は 分子団の置換基の場所や分子構造により左右されます。 もう一歩踏み込んだ有機分子構造解析を当社技能集団がご対応いたします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
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銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析
圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査！断面観察及びSEM/EDXによる元素分析のご紹介
『銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析』についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン), Ag(銀), Cu(銅)であることから、銀入りの りん銅ロウ付け材であると推察します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
発熱解析による電子部品の故障箇所特定
故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇所の特定ができます
発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHやエミッションでは 解析が難しい電子部品を解析する事も可能 ■ロックイン機能を使用し、位相情報を取得する事で、高精度な発熱箇所の 特定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
ロックイン発熱解析装置『ELITE』
「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ！微小なリーク・変化でも検出が可能
発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する手法です。 非常に微小な発熱状態を検知できることから、通常のプリント基板だけでなく、 半導体の不具合解析にもその威力を発揮します。 特にショート箇所の調査においては、複雑な構造であっても短時間で場所の 特定が出来るため、不具合解析の時間を劇的に短縮することができます。 【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■従来のマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外線強度データと位相データの解析により、不良部位のXYZ位置特定が可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社クオルテック
- 価格：応相談
X線透過観察(不良箇所の早期発見)
不良箇所を推測しながら的を絞って観察！素早く結果を報告し課題の早期解決に貢献
当社で行う、X線透過観察(不良箇所の早期発見)をご紹介いたします。 当社で使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、460mm×410mmまでの 試料の観察が可能。 大きなサイズのプリント基板も一度に検査する事が出来ます。 また、X線検出器を傾斜でき、焦点寸法が微小なため多層パッケージ基板 内で重なり合い、上面からは見づらいボンディングワイヤーの状態を、 一本一本はっきりと観察できます。 【特長】 ■BGAの接合面の状態、ボイドの有無、配線パターンの確認も可能 ■数多くの故障事例を見てきた分析担当者が観察を担当 ■好適な条件を設定し、これまで見る事の出来なかった箇所の観察、 よりクリアな写真を提供 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社クオルテック
- 価格：応相談
振盪培養装置 TVS062CA
温度勾配環境または恒温環境下で微生物の増殖状況を自動測定。
光学系測定機能を備えた培養ブロックを恒温環境に保ちながら振盪培養することで、微生物の増殖曲線が得られます。 【特長】 ●最大6台まで接続でき、36検体の吸光度測定が可能で、パソコンに接続することで、測定値のグラフ表示、保存が可能です。 ○詳しくは、お問い合わせまたはカタログをダウンロードしてください。
- 企業：アドバンテック東洋株式会社
- 価格：50万円 ~ 100万円
セパレータ『VEGシリーズ』
高剛性で長寿命！マグネットセンサと近接スイッチでの位置検出を選択可能
当社で取り扱う、セパレータ『VEGシリーズ』をご紹介いたします。 マグネットセンサと近接スイッチでの位置検出を選択可能。 長寿命で、最大1000万サイクルメンテナンスフリーです。 また、2本のロッドがワークを1つずつ選別することにより生産工程での 信頼性を向上させる「VEシリーズ」もご用意しております。 【特長】 ＜VEGシリーズ＞ ■焼き入れ済みステンレス製ガイド ■さまざまなニーズに対応 ■長寿命 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：藤川伝導機株式会社
- 価格：応相談
［SIM］走査イオン顕微鏡法
高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al、 Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm、 SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB（集束イオンビーム）加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能（Slice&View）
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価
同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価
SSRMでは局所抵抗に関する知見を、EBSDでは結晶粒・粒界に関する知見を得ることができます。 EBSD測定と同一箇所でSSRM 測定を行うことで、結晶粒界部を含んだ領域の局所抵抗を測定しましたので紹介いたします。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
