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容易にテストパターンを作成！湿度コントロール機能を備えた試験装置
『Orion3』は、デバイスの帯電による静電破壊現象をシミュレートできる テストシステムです。 湿度コントロール機能を備えており、テストヘッドを交換することで各種の 規格に対応したESD(CDM)試験を実施。 任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成でき、サイクルタイムを 最小限にします。 【特長】 ■湿度コントロール機能を備えた試験装置 ■テストヘッドを交換することで各種の規格に対応した試験を実施 ■任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成できる ■サイクルタイムを最小限にする ■新機能CDM2は従来の空間放電方式で問題になっている繰返し再現性を大幅に 改善した新方式のCDM試験が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
弊社では、環境試験ー温湿度組合わせ（サイクル）試験 及び、お客様ご指定条件による温湿度試験を実施します
１．JIS C 60068-2-38 試験の概要： ・ JIS C 60068-2-38 では高温高湿及び低温条件で主として電気・電子部品の劣化を加速した方法で判定する温湿度組合わせ（サイクル）試験を規定しており供試品の欠陥を水分の吸収によって発生させるのではなく呼吸作用によって発生させることを目的とした温湿度サイクル試験方法です。 ・この試験は他の温湿度サイクル試験とは異なり以下の通り試験の厳しさを強めています： ◇規定時間内での温度上下回数が多い ◇温度変化の範囲が広い ◇温度変化の速度が速い ◇0度以下の温度サイクルを含んでいる ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
低コスト・省スペースのESDテスターが実現！！
近年のデバイスの微小化に伴い、ESD耐量の向上が要求されています。 そこで、阪和電子工業株式会社では試験操作が簡単で、持ち運び可能な静電破壊試験器を開発しました。 本装置はリーク測定機能も備えていますので、ESDによる破壊判定を本装置のみで行うことができます。 【特徴】 ○タッチパネルで簡単操作 ○各規格波形に対応 ○リーク測定機能 ○HBM Fast/Slowユニット（オプション） 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。
コンパクトESD試験器 「HCE-5000」は、日本、海外の規格に対応した信頼性の高い装置です。 （JEITA/ESDA/JEDEC規格対応） 放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。 デバイス各端子容量の測定が可能です。測定データはテキストファイルとして保存可能です。 【特徴】 ○窒素による温湿度制御が可能 ○様々なデバイスの形状に対応 ○自動波形取得システムを搭載 ○測定可動範囲(80mm×200mm) ○印加電圧範囲：0 ～ +/-4000V (+/-5V ステップ) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
食品、化粧品などの「硬さ」や「可塑性」を自動測定！
サンプルの「硬さ」や「可塑性」を自動測定 【特徴】 ・ペースト状、クリーム状、半固体、高粘度のサンプルに針が貫入する際の抵抗力を自動測定！ ・ピエゾ素子により、自動でサンプルの表面を検知！ →測定者による誤差無し！ ・LEDライトにより、手動での表面検知が容易！ ・サンプルに合わせた様々なプローブを用意！
本装置は、ヘリウムを加圧し試験体に気密試験後、ヘリウムを蓄圧器に回収する機能も有り。真空引きにより高純度ヘリウムを保てます。
本装置は、ヘリウムを加圧し試験体に気密試験を行うことができます。気密試験後、ヘリウムを蓄圧器に回収する機能も有しております。また、真空ポンプで真空引きするので、回収したヘリウムの純度を保ったまま再利用できます。 装置に使用している当社のエア駆動式ポンプは、小型で高圧部のメンテナンスが容易にできます。
海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに対して信頼性試験・評価試験の品質評価サービスを提供します。
海外製部品・製品の中には、初期動作は問題なくても、 短期間に不具合を引き起こし、故障破壊に至るものもあります。 海外製品を採用・使用される前に、アイテスの 部品・製品 品質評価サービスをご検討下さい。 ■海外製部品評価例 ・部品調達・選定段階での信頼性評価 ・部品・製品メーカー間比較評価 ・現行部品⇒変更部品（コスト削減）の置き換え時の信頼性評価 ■対応部品の例 ・能動部品（トランジスタ、ダイオード、サイリスタ、等） ・受動部品（コンデンサ、抵抗、等） ・LCD ・基板 ・電源 等
印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも対応
『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応 ■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応 ■AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応 ■ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能 ■印加ピンの接触確認機能により確実に印加 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致します
『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の 問題解決のお手伝いをします。 【特長】 ■512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応 ■512ピン以上の製品についても一部対応(要相談) ■ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を実施 ■お客様のご要望や目的に応じた試験をご提案、実施 ■耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の問題解決をお手伝い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも！
株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法：W650×H460×D370mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W650×H460×D670mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W970×H460×D670mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Weather Resistance Test
カーボンアーク放電による紫外線照射及び槽内の温度・湿度・水噴霧の条件を変えることで、 自然界では長時間要する製品・部品・材料の屋外使用によって生じる劣化の加速試験が可能です。
ネジ・ボルトなど小型部品～大型ギアの狭面部まで！幅広く対応
測定部位に当てるだけ、結果はモニター側に大きく表示されるので、分かりやすい操作性になっています。 UCI方を採用し、試験力の設定、複数の硬さスケールへの換算などが可能です。 ※詳しくは下記の「PDFダウンロード」からカタログをご覧下さい。 「お問い合わせ」からお見積り依頼も可能です。お気軽にどうぞ。
回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を高速、高精度に計測！
『RTm-100シリーズ』は、J-RAS株式会社製の多CH導通信頼性評価装置です。 回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を高速、高精度に計測します。 50m秒／CHのスキャン処理で多チャンネル計測でも高速サイクル試験に追従。 連動可能・CHスキャンの4端子網切替えには半導体リレーを採用し、 機械式リレー方式に対し大幅に長期信頼性を向上しました。 また、240CHまで増設可能な小型筐体は場所を選ばず設置でき、移動も簡単・ 熱電対を接続して温度データの表示・収録が可能（オプション）です。 【特長】 ■高精度・高速計測 ■50msec/CH の高速スキャン：高速ヒートショックチャンバーに追従 ■高精度＆低ノイズ：信頼性の高いデータアウトプット ■4端子計測ケーブル：ツイストペア／CH 別カラー仕上げ ■高い信頼性：機械式リレーを使わない ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
数十nsecの高速検出回路を全chに搭載！低ノイズ計測可能なテスター
『HVUαシリーズ』は、J-RAS株式会社製の高電圧絶縁信頼性評価装置です。 数十nsecの高速検出回路を全CHに搭載し、より進化した信頼性試験を実現します。 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出。 CH個別電源搭載＆CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能です。 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し。 トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現します。 【特長】 ■100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出 ■CH個別電源搭載＆CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加 ■短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従 ■専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能 ■5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
透過も反射もこれ一台、写像性をすばやく測定。長寿命のVI-LED光源
『ICM-2』は、塗装面などの物体の表面に写る像の写り具合や、透明 フィルム・プラスチック等を透過して見ることのできる像の鮮明度を 測定する写像性測定器です。 1台で透過測定、反射測定(45°、60°)の3条件に対応。試料台と 受光器の位置と角度を、簡便かつ正確に切り替えることができます。 また、パソコン用の専用ソフト(Windows11対応)で測定器の操作や 測定結果の表示などが可能です。 【特長】 ■測定時間を大幅に短縮(PAT.) ■透過・反射兼用 ■長寿命のVI-LED光源 ■パソコンから操作 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
