プローブテスタのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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プローブテスタ - メーカー・企業4社の業務用製品ランキング | イプロスものづくり

プローブテスタの製品一覧

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの特徴とは？

インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの特徴とは？

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

タカヤAPTシリーズは、超高速検査で実装基板のあらゆる不良を各自に検出し、世界トップシェアの圧倒的実力を誇るフライングプローブ式のインサーキットテスタです。 インサーキットテスタは、電気部品と基板の接続信頼性を検査する装置です。動作電流よりも小さい信号を印加し検査を行うため、部品・基板を破損させることなく、不良個所の特定や定数間違いを検出できます。外観検査（AOI）では発見することのできない電気的な不良を発見し、品質保証レベルを高めることで、お客様からの信頼を得られやすくなることが特徴です。 最新のAPTシリーズでは、高速駆動モーターと通信制御の改良により、従来モデルと比べ、プローブ移動速度を最大1.5倍にアップし、最速0.02秒ステップの高速検査を実現しました。検査時間を従来モデルより30％以上短縮、さらなる検査コストの削減にも貢献致します。 トライアル/テストも相談賜ります。 実装基板の検査でお困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

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【導入事例】治具式インサーキットテスタからの置き換え

【導入事例】治具式インサーキットテスタからの置き換え

治具作成不要でランニングコストを90％以上削減！！

治具式（プレス式）テスタからの置き換えで、フライングプローブテスタを導入いただいた事例をご紹介します。 ＊課題 ・高密度実装基板の場合、狭い部分は治具の作成が困難なため治具式テスタでは検査できない部品があった。 ・量産終了後の保守パーツなど少数生産の場合、治具代が割高になり、メンテナンス含めたコスト面の負担が増えていた。 ・治具保管スペースの確保が必要で、管理の手間もかかっていた。 ＊導入効果 ・治具式ではできなかった狭ピッチ間部品が検査でき、信頼性を高められた。 ・治具の製作が不要となり、メンテナンスなどのランニングコストも発生しなくなった。 ・治具保管用の倉庫スペースも不要となり、管理の手間がなくなった。 フライングプローブテスタの詳細につきましては、PDFカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【LEDの自動発光検査】実装LED検査でお困りではありませんか？

【LEDの自動発光検査】実装LED検査でお困りではありませんか？

独自のカラーセンサーでLEDの発光色/輝度を数値化測定！！ 【LEDカラーテストシステム】

LEDの発光色/輝度の検査に手間がかかり、お困りではありませんか？ タカヤのフライングプローブテスタには、LEDの発光色/輝度をカラーセンサーで測定できるオプション機能がございます。 この機能を用いて、目視検査をフライングプローブテスタによる検査に切り替えて頂いた事例がございます。実際の導入効果をご紹介致します。 1：目視検査員の不可ゼロ LEDの発光色を直視すると作業者の目にダメージを与えますが、フライングプローブテスタに切り替えることで負担をゼロにできます。 2：測定基準の明確化 目視点灯検査は、検査員によって良否判定基準が異なるためばらつきをおこす危険性があります。カラーセンサーの検査では数値比較による明確な判定基準がありますので安定した検査が可能です。 3：治具製作費不要 フライングプローブテスタのLED検査の場合、専用の治具を作成する手間がありません。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。

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海外へのフライングプローブテスタ導入もお任せください！！

海外へのフライングプローブテスタ導入もお任せください！！

46か国以上の国々で導入実績多数！！世界から認められているタカヤのテスタです。

海外拠点へのフライングプローブテスタ導入/現地立ち上げも是非タカヤへお任せください。 タカヤは伊藤忠商事株式会社様と海外販売に関する代理店契約を結んでおり、アメリカ・ヨーロッパ・中国・東南アジア各地に販売/サービス拠点を設置、46か国以上の国々にて多数販売実績がございます。 日本のみならず、世界各国のあらゆる企業・業界で認められたタカヤのフライングプローブテスタを是非、ご活用ください。 ＊詳細情報は、下記関連リンクページをご覧ください。

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世界で活躍するタカヤフライングプローブテスタの歴史を紹介します

世界で活躍するタカヤフライングプローブテスタの歴史を紹介します

46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数！！

タカヤは、フライングプローブテスタにおいて世界トップシェアを誇る実装基板検査機業界のリーディングカンパニーです。 1987年に、世界初のフライングプローブテスタを開発後、翌1988年にはドイツでの技術展示会に出品。現地の電機業界より高評価を受け、欧州市場での拡販をスタートさせました。 1990年には、同じ工業先進国であるアメリカでの販売を開始。1995年には、世界で最も革新的な検査機に贈られる賞　『TEST INNOVATION OF THE YEAR』　を受賞するなど、その性能を広く世界中で認められております。 現在も、アメリカ・ヨーロッパ・中国・東南アジア各地に販売/サービス拠点を設置、46か国以上の国々にて多数の販売実績がございます。様々なメーカーからの高いご要求に応えるべく、新たなモデル/画期的な新機能を日々追加し、販売網も拡大し続けております。 実装基板の電気検査でお困りのことがありましたら、ぜひタカヤへお問い合わせください。

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの活用事例

インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの活用事例

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。活用事例を紹介します。

■量産品の検査 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化、無人検査が可能です。 　　　　　　　　　　 ■多品種少量基板の検査 専用治具製作コスト不要です。ファンクションテストでは不良個所の特定が難しいですが、インサーキットテストであれば特定可能です。 ■試作基板の検査 設計変更に即応できます。基板に電圧を印加し、回路動作（ON/OFF）の確認や直流電流の測定など、ファンクションテストも可能です。 ■機種切り替え時の実装確認検査 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時のマウンタへの部品セット間違いの確認を確実に短時間で行えます。 ■不良解析検査 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析に使用可能です。修理時間の大幅な短縮と、廃棄基板の削減ができます。 他にも、様々なご用途でタカヤのテスタをご活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。

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フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストとの連携

フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストとの連携

ICTとBSTの相互補完によって、新たな価値を創造します。

フライングプローブテスタによるインサーキットテストは、アナログ回路における実装電子部品の電気特性検査を得意としております。しかし、プロービングできない部品は電気的検査が困難で、デジタル回路の機能検査は難しいです。一方、バウンダリスキャンテストは、LSIピン間の相互接続検査・FPGA等へのオンボードプログラミングが短時間で行えますが、バウンダリスキャン規格に準拠しているIC周辺のデジタル回路のみ検査可能で、接続に専用の治具を要するという課題もあります。 タカヤ株式会社では、バウンダリスキャンテストで必要となる4～5本のスキャン対応ピンと計測器を繋ぐ治具の代わりに、フライングプローブを用いる技術を保有しております。これによって、バウンダリスキャン準拠ICの相手先が 非バウンダリスキャン準拠IC・受動部品(コネクタ等)であっても、フライングプローブを仮想バウンダリスキャンセルとして機能させることで、バウンダリスキャンテストを行っていただくことが可能です。 フライングプローブテスタ一台で、デジタル/アナログ回路の両方を一括検査できるなど、今まで以上に検査効率を高められる技術です。

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実装技術専門誌 エレクトロニクス実装技術 特集記事公開

実装技術専門誌 エレクトロニクス実装技術 特集記事公開

国内唯一の実装技術専門誌『エレクトロニクス実装技術』に掲載された特集記事の公開許可を頂きました。こちらよりご覧いただけます。

特集内容 　■ＢＧＡ実装基板検査の最新動向 　　フライングプローブテスタとＪＴＡＧテストのハイブリッド検査 　　　アンドールシステムサポート株式会社　／　谷口　正純 氏 　　　タカヤ株式会社　／　柳田　幸輝 概要 BGA（Ball Grid Array）部品は、民生品から産業機器、近年では車載機器まで、あらゆる電子機器に使用されるようになった。一方でBGA部品が実装された基板（以下、BGA実装基板と呼ぶ）を確実に検査する方法は確立されていない。これはどのような検査手法にもメリットとデメリットが存在し、1つの検査手法のみで完全なテストを行うことはできないためである。したがって現在、多くの企業でBGA実装基板の検査が課題となっている。今回はそれに対する1つの解として、フライングプローブテスタとJTAG（ジェイタグ）バウンダリスキャンを組み合わせたハイブリッド検査についての最新の技術動向を紹介する。 1，はじめに 2，BGA実装基板の検査と課題 3，電気検査の可能性 4，インサーキットテスト 5，JTAGバウンダリスキャンテスト 6，ハイブリッドテスト 7，まとめ

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欧州電子業界雑誌「EPP」特集記事のご紹介

欧州電子業界雑誌「EPP」特集記事のご紹介

欧州電子業界雑誌「EPP」に タカヤフライングプローブテスタの特集記事を掲載いただきました。

2023年10月に発行されました欧州の電子業界雑誌「EPP」に、タカヤ フライングプローブテスタの紹介記事を掲載頂きました。 タカヤ株式会社および欧州代理店のシステック・ヨーロッパ社は、ドイツ シーメンス社様と長年にわたるパートナーシップを結んでおります。 シーメンス社様の世界フラッグシップ工場「SIEMENS Karlsruhe」では、現在12台のタカヤ フライングプローブテスタが稼働しており、実装基板の信頼性を確保しています。 APT-1600FD-Aの両面同時検査、新ソフトウェアによる検査プログラムの自動セットアップ、自律型搬送システムAMR（Autonomous Mobile Robot）を用いた基板の自動搬送によって 5日/24時間の完全無人検査を実現されています。 また、OPC UAなどの最新インターフェース規格に対応しており、MESシステムとの連携はもちろんのこと 稼働率のモニタリング・不良統計に基づいた検査プログラム自動切り替え環境を構築されております。 関連リンク、ダウンロードページより是非ご覧ください。

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低抵抗測定モード（0.1mΩ～）【開発中】

低抵抗測定モード（0.1mΩ～）【開発中】

タカヤフライングプローブテスタのご紹介です。低抵抗（0.1mΩ～）の測定にチャレンジしています。

タカヤでは、お客様からのさらなるご要望にお応えするため フライングプローブテスタの印加パラメータを調整し、 より低抵抗（0.1mΩ～）を測定できる 独自モードの開発を進めております。＊分解能：0.001ｍΩ フライングプローブテスタは、手で測るタイプの低抵抗計と比較すると 測定プローブから本体までの測定線が長い（5メートル程度）ため、 外部ノイズの影響を考慮したマシン設計が必要ですが、我々は、この点において知見がございます。 また、手でプローブを持って測る場合は、 測定対象にプローブコンタクトする際の力加減・角度・位置が一定ではないため 測定結果のばらつきが発生したり、対象物に与える打痕・ダメージが課題になる可能性がありますが、 弊社のプローブシステムは、ダメージレスコンタクト・高精度コンタクトに定評がございます。 手作業による測定の不確かさを払しょくしたい・測定に手間がかかりすぎているなど、 お困りごとがありましたら 是非お声掛けください。テストトライから喜んでお受けいたします。

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【展示会情報】第38回 ネプコン ジャパン 出展製品のご紹介

【展示会情報】第38回 ネプコン ジャパン 出展製品のご紹介

「第38回 インターネプコン ジャパン」エレクトロニクス製造・実装展 ご来場ありがとうございました。

当日出展しておりました製品の情報をこちらよりご覧いただけます。 〇産業機器事業部 　・フライングプローブテスタ　APT-1600FD-A（実装基板検査装置） 　　前後装置を連動させた無人連続検査 　　OPC-UA（OPC Unified Architecture） 　　MES（製造実行システム）と連動 　　稼働状況をリアルタイム情報収集・管理 〇RF事業部/ソリューション事業部 　・RFID持出管理システム 　・RFID UHF帯 常時監視システム 　・RFIDを活用した作業実績収集/半導体ICタグ読取 　・RFID×IoT データデバイス「RFID 実績収集システム」 　・バーコードから簡単置換え HIDリーダ・キー入力ツール

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第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料を公開しています。

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会は、2024年3月13日（水）～ 15日（金）に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。 当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。 その際の発表資料を公開しましたので、下記、関連カタログのページより是非ご覧ください。 -------- 内容　-------- 実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。

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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD

デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD

基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現！

APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える 次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。 テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。 高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 2025年7月31日（木）、東京都千代田区大手町の経団連会館にて開催された 「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」贈賞式において、 本製品が「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞いたしました。 審査委員より「検査効率と信頼性を両立した設計思想が素晴らしい」との講評をいただき、 当社の技術力と製品デザイン力が広く認められる機会となりました。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD

フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD

【エレクトロニクス実装学会 2025年度 技術賞 受賞！】【第55回 機械工業デザイン賞 IDEA 受賞！】

タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出する フライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。 微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる 最先端クラスの検査技術を搭載し、 わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。 また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、 変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、 リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。 さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、 特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも 高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性

【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性

EMS企業様が抱える課題をタカヤのフライングプローブテスタが解決します。

【EMS企業様への導入実績】 ・基板の試作段階から電気的な検査を行うことで、量産前の品質保証を実現。 ・基板設計や部品選定の最適化を早期に行い、後工程での不良削減に寄与。 【お客様がかかえられていた課題】 治具の再作成コスト: 治具式テスタでは、試作や設計変更のたびに専用の治具を再作成する必要がある。 設計変更のたびに治具の修正が求められ、コストや時間が大幅に増加していた。 設計変更への対応力不足: 従来の検査方法では柔軟な設計変更対応が難しい。 リードタイムが長く、試作段階での迅速な検証が難しい場合があった。

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【導入事例】医療機器向け大型基板の検査

【導入事例】医療機器向け大型基板の検査

医療機器向け大型基板の検査（バウンダリースキャンとの連携）に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

外観検査・非接触スキャン・物理プロービングを組み合わせた検査体制で、医療機器分野での厳しい信頼性基準を満たし、品質向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・インライン検査での全数検査を実現し、製品品質を保証。 ・バウンダリースキャン技術との連携により、大型基板や複雑な設計基板での不良検出能力を強化。 【お客様がかかえられていた課題】 APT単体での限界: フライングプローブテスタは電気特性検査に優れるが、BGAやQFPなどピン接続が隠れた部品ではプローブの物理的アクセスが困難。 高密度基板ではプロービングだけでカバーしきれない部分が発生。 AOIでの制約: BGAや大型コンポーネントの下部にある不良（ハンダブリッジや接続不良）を検出できない。 多層基板の内部接続や微小短絡は検知できない。 大型基板では視野を超える部分が発生し、全域を効率的に検査するのが難しい。 大型基板や複雑設計の課題: 大型基板では、AOI・APTの双方で検査時間が増加しやすく、生産性が低下。 高密度実装基板での全数検査には、物理プロービングや非接触検査を組み合わせた効率的な検査体制が必要。

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【導入事例】ライティング（LED照明）向け基板検査

【導入事例】ライティング（LED照明）向け基板検査

ライティング（LED照明）向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

カラーセンサーを活用した自動検査により、目視検査の限界を克服し、品質安定化と効率化を実現します。自動化により作業者の負担を軽減し、一貫性のある検査基準を確立することで、製品の信頼性向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・目視検査から自動検査への移行を実施。 ・カラーセンサーを用いた精密な自動検査で、品質の安定化を達成。 【お客様がかかえられていた課題】 作業者の負担: 目視検査では作業者のスキルや経験に依存するため、長時間作業に伴う疲労や集中力低下が問題。 作業者の負担が増大すると、検査精度が低下するリスクが高まる。 判定基準のばらつき: 目視検査では、人による主観的な判定が混在し、品質基準にばらつきが生じる。 一貫性のない判定が、不良品の流出や過剰検査を引き起こす原因となる。 LED特性の確認難易度: LEDの色味や輝度など、微細な特性の判定が目視では困難。 正確な数値基準に基づく検査が求められる。

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i-PRO株式会社様公式ウェブサイトにご掲載いただきました。

i-PRO株式会社様公式ウェブサイトにご掲載いただきました。

装置内部の状態を“見える化”。高精細ネットワークカメラで保守支援を効率化

このたび、i-PRO株式会社様の公式ウェブサイトにて、タカヤ株式会社の事例をご紹介いただきました。 当社では、フライングプローブテスタの開発において、装置内部の状況を遠隔から把握し、トラブル発生時の初動対応を迅速化する仕組みの構築を課題としておりました。 この課題を解決するため、最新モデルであるAPT-2400FおよびAPT-2600FDには、i-PRO株式会社製ネットワークカメラを標準搭載しています。 カメラの搭載により、装置内部の状態をリアルタイムで監視できるため、トラブル対応の迅速化や、検査工程における品質管理の高度化を実現しました。 今回の事例では、 カメラ標準搭載に至った背景 製品選定の理由 運用上の工夫 搭載による効果 について、開発担当者の視点から詳しくご紹介いただいております。 下記関連リンクよりご覧ください。

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【展示会】第40回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

【展示会】第40回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

新モデルのフライングプローブテスタ-APT-T400J-国内初公開　全事業部（産業機器・RF・ソリューション・EMS）の合同出展

タカヤ株式会社は、2026年1月21日(水) ~ 23日(金)に東京ビックサイトで開催される、「第40回 ネプコンジャパン-エレクトロニクス開発・実装展」に出展いたします。 <産業機器事業部> 【新モデル】フライングプローブテスタ <APT-T400J シリーズ> 【ハイエンドモデル】フライングプローブテスタ <APT-2600FD シリーズ> ※新モデル「APT-T400J」を国内初公開 <RF事業部 / ソリューション事業部> 【新製品】実績収集用タッチパネル端末 【新製品】UHF帯高出力リーダライタ <EMS事業部> ・システムと自動化技術を融合、省人化を図り高品質で低コストなモノづくりを実現する実装ライン 本展示会へ入場する際には、 下記、URLへ進んでいただき「来場者バッチ」の登録をお願いいたします。 https://www.takaya.co.jp/fa/news/event/nepcon2026/ 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 展示ブースでは、製品のデモンストレーションも実施予定です。ぜひお立ち寄りください。

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【展示会】第40回ネプコン ジャパン 出展のご報告

【展示会】第40回ネプコン ジャパン 出展のご報告

東京ビッグサイトにて開催された、「第40回[東京]ネプコン ジャパン　エレクトロニクス製造・実装展」へ出展いたしました。

会期中には、ネプコンジャパン40thの記念パーティへご招待いただき、長期連続出展の表彰を賜りました。 これもひとえに、日頃よりご支援・ご高配を賜っている皆様のおかげと、心より感謝申し上げます。 今回は 産業機器事業部・RF事業部・ソリューション事業部・EMS事業部の4事業部が初めて合同で出展し、 基板検査・RFID・ソフトウェア・受託製造など、開発〜量産を一気通貫で支援できるトータルソリューションをご紹介いたしました。 「既存設備の更新」「検査工程の効率化」「生産ラインの自動化」「EMSの外注化」などのご興味のある企業様は、ぜひお気軽にお問い合わせください。 貴社のものづくりに最適なソリューションをご提案いたします。

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【産業機器事業部】展示会出展のご案内（上海）

【産業機器事業部】展示会出展のご案内（上海）

productronica China 2026 出展のご案内（上海）

タカヤ株式会社は、2026年3月25日（水）〜 3月27日（金）の期間、 アジアを代表する電子製造技術展「 productronica China 2026 」にて、フライングプローブテスタを展示します。 本展示会は、電子製造の最先端技術が一堂に集まる国際展示会であり、 上海新国際博覧センター（SNIEC） にて開催されます。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。

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インサーキットテスト　フライングプローブテスタ FA1240

インサーキットテスト　フライングプローブテスタ FA1240

治具レスによりランニングコスト・データ作成時間を激減させるインサーキットテスタ　不良ビューワが画像検査のように不良個所を指示

治具制作が不要のフライングプローブタイプのインサーキットテスタ 接触不良による疑似エラーを減らし、ワンパス率を改善します。 ・少量多品種検査に適した、高速・高精度・高信頼性の実装基板検査機です。4 端子測定機能によりIC リードの足浮きはもちろんのこと、電気的に導通のある疑似接触検出が可能です。 ・さらに従来の検査では難しかった、FET、リレー、3端子レギュレータのアクティブ検査を可能としました。オプション検査で、簡易ファンクション測定、バウンダリスキャン計測、水晶発振器の周波数測定なども可能です。

  • 基板検査装置
  • プローブテスタ

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ICのリード浮き、BGAのボール浮きを電気的に検出しませんか？

ICのリード浮き、BGAのボール浮きを電気的に検出しませんか？

TAKAYA独自のICオープンテストシステム

※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※ TAKAYAのフライングプローブテスタには、独自開発のセンサプローブを用いて、 BGA, QFP, SOJなどのICリード浮き不良、ハンダ不良を高速検出するシステムを搭載できます。 IC本体にダメージを与えることなく、狭ピッチICのリード浮き不良や、BGAのボール浮き不良を電気的に検出が可能です。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

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欧州業界紙 PRODUCTRONIC にて紹介いただきました！！

欧州業界紙 PRODUCTRONIC にて紹介いただきました！！

46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数！！世界で高評価を得ているタカヤのフライングプローブテスタです。

欧州で発行されている実装業界の情報誌「PRODUCTRONIC 2021」2月号に、大手センサーメーカーでの弊社テスタ導入記事を掲載いただきました。 こちらのメーカーでは、年間約1,000万枚のプリント基板と8億個の部品を取り扱っており、タカヤのフライングプローブテスタを約20年前からご使用いただいています。今回は、最新モデルのAPT-1600FDシリーズを導入いただいた際のコメントです。 基板実装工程の後に直接でインサーキットテストを実施されており、エラーを非常に早く、確実に検出することができる点、また、開発中にアセンブリの内容が変更されても、プログラムの修正だけで簡単に検査を変更することができる点で高評価を頂きました。 治具作成が不要になることで費用対効果も高まるとともに、治具式テスタ使用時にに比べて、約2～2.5倍の検査速度を実現されたとのことです。 日本のみならず、世界各国のあらゆる企業・業界で認められたタカヤのフライングプローブテスタを是非、ご活用ください。 ＊詳細情報は、下記関連リンクページをご覧ください。

  • 基板検査装置
  • プローブテスタ

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世界が認めた、タカヤのフライングプローブテスタ。その理由とは？

世界が認めた、タカヤのフライングプローブテスタ。その理由とは？

信頼と革新で世界46か国以上が導入。少量試作から量産まで、あらゆる現場に応える検査のベストパートナー。

業界をリードするノウハウ タカヤは、少量試作から量産まで対応可能な柔軟な検査システムを確立。長年にわたる経験と実績により、あらゆる基板検査において高精度かつ低コストを実現しています。 進化し続けるイノベーション 常に時代のニーズを先取りし、検査スピードの向上や新たな検査領域の開拓に挑戦。高品質・技術革新・柔軟性を兼ね備えた製品開発で、変化の激しい業界を支えています。 信頼の“Made in Japan”品質 すべての装置は日本国内で製造。厳格な品質管理のもと、長期間にわたる精度と安定性を維持し、航空宇宙・医療・自動車など高信頼性が求められる分野でも活躍しています。 グローバル対応のサポート体制 設置からトレーニング、定期メンテナンス、検査プログラム作成まで、専門スタッフが一貫してサポート。お客様の検査パートナーとして、世界中の製造現場を支えています。 導入実績：世界46か国以上 タカヤのフライングプローブテスタは、アジア・欧州・北米をはじめとする世界46か国以上で導入。その信頼性と柔軟性が、グローバル企業から選ばれる理由です。

  • Custom Interconnect Limited イギリス.jpeg
  • IFM ドイツ.jpg
  • シーメンス ドイツ.jpg
  • シーメンス ドイツ2.jpg
  • 基板検査装置
  • プローブテスタ

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの導入効果

インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの導入効果

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。その導入効果を紹介します。

■ 品質の向上 外観検査やファンクション検査では検出が難しい不良を検出し、テスト結果と集計データから実装工程全体の品質を改善できます。微小チップ部品やファインピッチIC/コネクタにもピンコンタクト可能ですので、高密度基板の検査でも、治具検査に比べて検出率が大幅に向上します。 ■ 検査コスト削減 高額な専用検査治具を必要とせず、試作基板や少量/中量生産基板において大幅に検査コストを削減します。設計変更があった際にも、治具の改造費用は不要です。 ■ 不良解析時間の短縮 不良箇所が特定できるため（基板画像に不良箇所を表示）、不良解析や部品交換作業が容易になり、修理時間を大幅に短縮します。 ■ トレーサビリティ管理 部品の測定値や検査日時などを基板検査毎に保存し、品質管理の資料として手軽に検索や編集ができます。 ■ ライン稼働時間の短縮 量産開始までの待ち時間を大幅に短縮し、実装工程の稼働率を向上します。LCRメーター測定や目視検査によるオペレーターの負担を軽減し、ヒューマンエラーを排除します。 より詳しい情報については営業担当までお問い合わせください。

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タカヤ独自の４ヘッド＆６フライングプローブシステム（垂直降下）

タカヤ独自の４ヘッド＆６フライングプローブシステム（垂直降下）

タカヤフライングプローブテスタ独自のシステムで不良検出能力を拡大！！

本システムによって、標準4本の傾斜プローブに、2本の垂直プローブを追加することで、高い部品の間にあるコンタクトポイントや、ビア・スルーホール・上向きコネクタなど、従来アクセスできなかったポイントへのコンタクトが可能となり、不良検出能力をより高められます。 検査対象の形状に合わせ、最適なコンタクト方法を選定できるよう、先端形状の異なるプローブを数種類用意しています。 さらに、２種類の異なる垂直プローブを、検査プログラムに合わせ自動的に切り替えるデュアルZ軸オプションを追加することで、手作業によるプローブ交換が不要となり、効率的な検査を行うことも可能です。

  • 狭小.jpg
  • スルーホール.jpg
  • コネクタピン.jpg
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【導入事例】初回確認、ライン切り替え時の確認検査

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両面テープを貼付した試し打ち基板や、実装スタート直後の実装基板初回検査を自動化できます

プリント基板の部品実装工程において、機種切り替え時のマウンタ装置における部品セット間違い/実装プログラム間違いによるミスは、発見が遅れるとロット単位での不良（ロットアウト）となり、大損失につながります。 この様なミスを防ぐために、両面テープを貼ったベアボードの上に部品を仮実装し、一つ一つをLCRメータで測定/目視照合検査をされるケースがあります。 この検査は「一号機チェック」「段取り替えチェック」「試し打ち検査」と呼ばれますが、検査が終わるまではライン停止させなければならず時間がかかるため、ライン稼働率が下がる要因となってしまいます。 また、高密度に実装された基板上で、細かい部品をすべて手作業確認する場合、人的ミスを完全に無くすことは難しいです。 弊社では、この作業をより簡単かつ楽に行っていただける方法として、フライングプローブテスタによる自動検査をおすすめしております。ライン切り替え後の確認作業を正確かつ短時間に行うことが可能です。 実装機の切り替え時間短縮による稼働率向上・人件費の削減・不良品発生リスク低減を考えられているお客様はぜひ導入をご検討ください。

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【展示会】第37回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

【展示会】第37回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

【出展パネル公開】超高速検査で実装基板の不良を検出するフライングプローブテスタ（基板検査装置）・業務改革に貢献するRFID製品

2023年1月25日（水）～27日（金）に　東京ビッグサイトで開催されました「第37回　インターネプコン ジャパン」にて、弊社ブースにお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 今回出展製品の資料・展示パネルを公開しております。期間中 会場にお越しいただけなかった方も、当ページより登録いただければ資料を閲覧頂けますので是非、ご活用ください。 今回、産業機器事業部では アンドールシステムサポート株式会社様の共同で、フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストのデモを実施したこともあり、大変多くのお客様にご興味を持っていただくことができたことを嬉しく思っております。 また、今回が初となる産業機器事業部・RF事業部のコラボ出展で、たくさんの方々に弊社製品を知っていただけたのではないかと思います。 今後もタカヤ株式会社はお客様のご期待に応えられるよう、精一杯努力してまいります。これからもご愛顧賜りますよう何卒よろしくお願い申し上げます。

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フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承ります

フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承ります

最大30kgの大型重量基板を自動搬送できるオリジナルのユニットを製作。特殊仕様の製作もお任せください。

タカヤでは、お客様の多様なニーズにお応えするため フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承っております。 一例ですが「最大30kgの大型・重量基板を自動搬送したい」というご要望にお応えするため 専用の自動搬送ユニットを製作致しました。 人力では持ち運び困難な非常に重たい基板も 安全・正確にハンドリング頂けます。 また、インサーキットテストと並行して特殊な検査を行うため テスタ本体内に特殊検査装置を納めるスペースを設けるなど、 柔軟なカスタマイズを行うことが可能です。 標準規格に収まらないような特殊製品の検査でも、カスタム対応で解決させていただきます。 まずは一度、営業担当までご相談ください。

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