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【特注品（コンセプトモデル）】測定時間”1秒”圧倒的な速さを実現
開発の背景 ガラスの厚さを非接触で測定したい。簡単に測定する手法はないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 当社では様々な非接触測定技術を応用し、製品開発を行っております。厚さ測定センサもその技術を使用した一つです。非接触で、測定時間1秒以内の製品を開発いたしました。 特長 ・高精度センサによる確実な非接触測定 ・セルフキャリブレーション機能（自動原点割り出し） ・お客様の製品とアプリケーションに合わせた自由な構築が可能 測定投光部、受光部のみを装置に組み込んで装置化、治具の一体化に対応可能 測定物サイズ、装置サイズともにお客様のご要望で製作可能 ・付属ソフトで簡単測定（for Windows)
クリップ式でスマートデバイスにラクラク取り付け！多様な場所で活躍
『Ami-Tサーモ』は、お手持ちのスマートデバイスに取り付けて使用する 安価な軽量、小型のクリップ式体温測定センサーです。 非接触･非対面で体温測定が可能。 勤怠管理、給与管理など、様々な場面で活用できます。 また、SDK(ソフトウェア開発キット)を使えば測定結果を 自社開発アプリに連携できます。 【特長】 ■お手持ちのスマートデバイスを活用 ■クリップ式で取り付けラクラク ■SDKを使えば測定結果を自社開発アプリに連携 ■非接触･非対面で体温測定が可能 ■簡単CSV出力 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高速サンプリング。加工中のモニタリング用途に最適。
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。 新製品『CHRocodile 2 SX』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。最大5kHzと高速サンプリングが可能なため、インラインでも適用できます。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。特に、ウエハグラインディング中に厚みモニタリングしたい場合には、Siウエハで200um~0.5umまで測定ができます。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富なプローブラインナップで、 厚みは、光学長で薄膜（数2um)～厚膜(1000um) Siで0.5~200umまで対応。 ■高分解能（サブミクロン 最小3nm @ 光学長） ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。
コスト重視におすすめな安価なタイプ。厚み測定、距離測定用センサ。ウエハ検査用途にも。
『CHRocodile C』は、安価な光学式シングルポイントセンサです。高速・高精度は他のラインナップと変わらず、nm分解能の距離測定 最大4表面、3層厚みを同時測定できる厚みセンサとして使用できます。また、プローブと本体が一体の手のひらサイズとコンパクトで、組込み時に省スペースを実現し、インラインでの使用もお勧めです。粗面、鏡面、色付き材料など全ての表面に対応し、測定レンジの範囲も広いセンサーです。また、グラファイトコーティングの厚み測定にも使用が可能です。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富なプローブラインナップで、厚みは（数um)～厚膜(10mm)までカバー。 ■高分解能（サブミクロン Zは最小8nm～） ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 ■多業界で豊富な実績 半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
