原子間力顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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原子間力顕微鏡(力測定) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年09月24日~2025年10月21日
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原子間力顕微鏡の製品一覧

1~15 件を表示 / 全 28 件

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原子間力顕微鏡(AFM)

研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能な原子間力顕微鏡(AFM)のご紹介

当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を 簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡(AFM)』を取り扱っています。 アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、 専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行える コンパクト設計の「NaioAFM」などのモデルをラインアップ。 研究現場向けの小型仕様から、生産現場向けの大型ステージ仕様、 品質管理用の自動化システムといったカスタマイズ対応が可能です。 【ラインアップ(抜粋)】 ◎卓上型原子間力顕微鏡「CoreAFM」  ■アクティブ防振機構・風防を採用  ■32種類の測定オプションを搭載可能 ◎小型原子間力顕微鏡「NaioAFM」  ■コントローラ、XYステージ・風防・防振機構が一体化  ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載 ※当社が取り扱う走査型プローブ顕微鏡をまとめたカタログを配布中。  詳しい内容は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。

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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム

『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡 「ステージ付AFM」

非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡

原子間力顕微鏡「ステージ付AFM」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なAFM装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 電子顕微鏡

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原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹介!

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000%向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラーで正確且つ高スループットなCMP計測を実現 ■非常に正確で、チップーチップ間のバラツキも最小にしたサブÅ表面粗さ計測 ■原子間力プロファイラー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 電子顕微鏡

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【アプリケーション例】原子間力顕微鏡(AFM)の実験

8チャネルのSpectrum製DigitizerNETBOXがAFMの進化を推進するために必要な高い精度を提供。総合カタログ付き

イギリス・ニューカッスル大学 プレシジョンメカトロニクス研究室での 原子間力顕微鏡(AFM)の実験のアプリケーション例についてご紹介いたします。 原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope)は、材料科学における重要な ツールであり、表面の機械的スキャンに使用されます。 表面の原子とナノスコピック針の先端の間に作用する力が測定・計算され、 ナノメートルの何分の1かのオーダーの分解能が得られます。 【概要】 ■AFMテクノロジー ■高精度のマルチチャンネルデジタイザ ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

  • その他電子部品

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原子間力顕微鏡 「ハンディAFM」

何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に15cmの超小型AFM

原子間力顕微鏡「ハンディAFM」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー(特許取得済み)を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にAFMで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 電子顕微鏡

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【分析事例】ミクロトーム法で作製した毛髪断面の機械特性評価

ソフトマテリアル内部構造の弾性率評価が可能です

物質の内部構造の評価にあたっては、切削や研磨等の断面加工技術により内部構造を保ったまま露出させることが求められます。本資料では加工ダメージの影響が比較的小さなミクロトーム法を用いて毛髪断面を作製し、内部構造のAFM観察、および弾性率評価を行った事例を紹介します。 ミクロトーム法はゴム材料や生体試料等のソフトマテリアル分野で幅広く用いられている切削加工技術であり、本アプローチによってこれらの材料に対して内部構造の機械特性評価が可能となりました。 【測定法・加工法】 [AFM]原子間力顕微鏡法 [AFM-MA・AFM-DMA]機械特性評価(弾性率測定・動的粘弾性率測定) ウルトラミクロトーム加工 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • img_c0670_3_Microtome_Modulus_DMT_JKR_Hair_diagram.jpg
  • 受託測定
  • 受託解析

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原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』 

最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能  およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を  ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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AFM 原子間力顕微鏡 ナノオブザーバー 2

老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現

柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定(KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。

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【分析事例】AFM-MAによる食品(ロースハム)の機械特性評価

食感を機械特性パラメータで定量化

食感を決める因子には、硬さ、凝着力など様々な要素があります。一般的に、食品の食感はテクスチャーアナライザー等による応力の評価で行いますが、微小領域の測定や薄い試料の測定は困難です。 AFM-MAは表面の凹凸の形状の評価に加え、機械特性の硬さを表すヤング率、質感のパラメータの凝着力、および、エネルギー散逸のデータを微小領域で計測することが可能です。このため、食感等に関係する物理特性を極微小な領域で評価するために有効です。

  • AFM像.png
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  • エネルギー散逸像.png
  • 受託測定

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原子間力顕微鏡『ハンディAFM』

圧倒的な分解能を実現!今まで隠れていた微少な現象を測定

『ハンディAFM』は、SEMや高倍率の3次元光学顕微鏡の変わりに使用 することができる原子間力顕微鏡です。 サイズは、奥行き幅共に15cmの超小型。 走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、交換も瞬時に 行えます。 【特長】 ■プローブの交換が数秒で実施可能 ■カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能 ■オプションで小型の自動ステージやインライン全自動機に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他計測・記録・測定器

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AFMプラットフォーム 光学顕微鏡付き

高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。

光学顕微鏡を備えたAFMプラットフォームです。光学顕微鏡観察をしたエリアを狙い、原子間力顕微鏡によるイメージングが可能。 垂直光路設計を採用し、気液両用プローブホルダーは空気中でも液体中でも同時に使用可能。(要 液中測定オプション) ※詳しくはお問い合わせください。

  • プローブ

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200mm大型試料対応AFM/SPM Jupiter XR

非常に優れた分解能、スピード、操作性、柔軟性を備えた、大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPM(原子間力顕微鏡)

Jupiter XR 原子間力顕微鏡は、スキャナを交換することなく、単一スキャナで「超高分解能」「高速イメージング」「広域スキャン」に対応した業界初の大型試料対応AFM/SPMです。試料ステージは200 mm試料全域へのアクセスを可能にし、Cypher AFM (2007年発売) で培われた卓越した基本設計と操作性、さらに光熱励振 『blueDrive』を踏襲しました。分析分野や産業R&D・学術研究分野など、多様なサンプル・アプリケーションが要求される用途において、高いレベルでバランスの取れたJupiter XRは最良の選択です。

  • マイクロスコープ

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【分析事例】PDMSのAFMによる動的粘弾性評価

粘弾性率の面内分布評価及び周波数依存性評価についてご紹介!

弊団では、PDMSのAFMによる動的粘弾性測定を承っております。 高分子材料の研究・開発において重要な要因である 力学特性を示す粘弾性挙動を調べる方法として、 動的粘弾性測定(DMA:Dynamic Mechanical Analysis)は有効な手段。 また、AFMの機構と組合せることで、 面内分布測定や局所領域での評価が可能となります。 本事例ではAFM-DMAを用いて、高分子であるPDMS(ジメチルポリシロキサン)の 粘弾性率のマッピング及び周波数依存性スペクトロスコピー評価を ご紹介いたします。 【測定法・加工法】 ■[AFM]原子間力顕微鏡法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』

SEMとAFMを組み合わせた相関分析!材料表面の理解がより深化

『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚染のリスクを排除 ■2DSEM像を3Dに拡張 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他検査機器・装置

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