【応用】 ■各種発光素子の偏光消光比の測定解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【応用】 ■高出力レーザ・高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 　・LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 　・レーザプロジェクタや照明用途光モジュールの開発 　・生体認証用レーザモジュールの開発 　・その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび 　　高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【応用】 ■高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布（FFP）計測・解析 　・LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 　・レーザプロジェクタや照明用途光モジュールの開発 　・生体認証用レーザモジュールの開発 　・その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび 　　高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【応用】 ■ポリマー光配線導波路・各種光導波路の挿入損失測定 　・ポリマー光配線導波路、光コネクタ、スプリッター、Siフォトニクス導波路等 ■ポリマー光配線導波路・各種光導波路の出射光ビームの状態や端面状態の観察 ■ポリマー光配線導波路・各種光導波路の光学伝播特性の解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【「Optometrics BA Standard」詳細】 ■光ビームプロファイル計測に必須の光ビームパラメータ計測機能 ■【光パワー分布解析機能】 　EF（エンサークルドフラックス）/EAF（エンサークルドアンギュラーフラックス）解析機能 ■【新機能：光パワー分布解析機能】D86幅解析機能 ■【新機能/光パワー分布解析機能】4σ法によるXY軸幅・長短径幅・傾き計測解析機能 ■光強度プロファイル計測のみに機能を限定したOptometrics BA Basicも選択可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【応用】 ■ポリマー光配線導波路の量産検査（相対損失測定・導通のOK/NG判定等） ■ポリマー光配線導波路のコアピッチ・コア位置の量産検査 ■ポリマー光配線導波路内蔵45度ミラーの傾き計測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【応用】 ■VCSEL等の発光素子の電気・光学特性のウエハレベル解析 　・I-V-L特性、発光ビームプロファイル（NFP・FFP）解析、偏光特性、発光スペクトル解析等 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【応用】 ■各種発光素子のIVL特性の解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

【製品の応用】 ■高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布（FFP）計測・解析 ■LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 ■生体認証用レーザモジュールの開発 ■その他、医療用、ディスプレイ機器用、エレクトロニクス機器用、固体レーザ励起用、 　印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの放射角度分布（FFP）計測・解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 光学測定器

【その他の特長】 ■オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能 ■光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア 　Optimetrics BA Standard使用 ■Optimetrics BA Standardは、EF/EAF計測機能にも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

【仕様（抜粋）】 ■方式：ビームサンプラー（対物レンズ後方2段）搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式 ■測定対象入射光量：1～10W ■減光方式：2段ビームサンプラーにより約99.99％減光（反射光はビームダンパーにより遮蔽）、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式（最大2枚まで同時挿入可能） ■測定対応波長域 　・M-Scope type HS/BL:400nm-450nm 　・M-Scope type HS/NIR:850nm・940nm 　※上記以外の計測波長対応に関してはご相談ください ■偏光依存性補償：ビームサンプラー内蔵減衰ミラー2段直交配置による偏光依存性補償 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• その他電子計測器
• その他解析

【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■各種光モジュール・光学モジュールのNFP計測・ビームプロファイル計測 ■GI型マルチモード光ファイバのエンサークルドフラックス計測 ■その他、可視~近赤外域の汎用ビームプロファイル計測一般 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 光学測定器

【応用】 ■発光素子の電気・光学特性のウエハレベル解析 ・VCSEL等発光素子のI-V-L特性、発光ビームプロファイル解析、発光波長解析、 変調周波数特性解析等 ■各種受光素子の電気・光学特性のウエハレベル解析 ・フォトダイオード等受光素子のI-V特性、光感度、暗電流、容量、変調周波数 特性、立上り・立下り、トレランス、クロストーク等 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• マイクロスコープ
• その他計測・記録・測定器
• 光学測定器

【仕様（抜粋）】 ■光ファイバポート ・測定光照射機能：光ファイバ計測ポートに接続された光ファイバのコア相当径の測定光を1：1でサンプル面に照射 ・受光測定機能：光ファイバ計測ポートに接続された光ファイバのコア相当径の測定光を1：1でサンプル面から受光、光ファイバに結合 ・上記照射・受光径比率は10倍対物レンズ使用時（標準） ■照射・受光径 ・10倍対物レンズ使用時：光ファイバコア相当径を1：1で照射・受光 ・20倍対物レンズ使用時：光ファイバコア相当径の1/2で照射・受光 ・50倍対物レンズ使用時：光ファイバコア相当径を1/5で照射・受光 ・100倍対物レンズ使用時：光ファイバコア相当径を1/10で照射・受光 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• レーザ部品
• その他電子計測器
• その他計測・記録・測定器

【仕様（抜粋）】 ■方式：ビームサンプラー搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式 ■測定対応波長域：400nm-1100nmの計測対応波長範囲から計測波長を選択 ■測定可能入射光量：～5W（標準）（応相談） ■対物レンズ倍率：10倍 ■N.A.：0.28 ■中間レンズ倍率：1倍（標準）、2倍（オプションの中間レンズ2倍仕様時）ほか ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• レーザ部品
• その他電子計測器
• その他計測・記録・測定器

【メリット】 ■各種プローバとの組み合わせができる ■各種測定器との組み合わせによる統合測定環境を提案できる ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

【ソフトウェア解析機能】 ■エンサークルドフラックス解析機能 　・数値データ出力 　・グラフ表示出力 ■表示機能 　・画像表示機能：取得画像表示、取得データの重ね合わせ表示 　・エンサークルドフラックスグラフ ■データ保存 　・データ保存：CSV保存 　・画像保存 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

【主な仕様】 〔コリメータ計測光学系〕 ■焦点距離：150mm（打ち合わせにより変更可能） ■計測角度：約±1.2°（横）×約0.9°（縦） ■測定角度分解能：約0.01° ■レンズマウント：Cマウント 〔ソフトウェア解析機能〕 ■画像取込・処理機能 　・ライブ画像表示 　・画像積算 　・暗電流補正 　・画像データ保存・読出 ■測定機能 　・ピーク位置及び輝度値の表示 　・光強度プロファイル表示機能 　・プロファイル平均化 　・計測幅表示 　・実寸換算表示 　・円近似　など ■表示機能 　・画像上へのピーク位置表示 　・プロファイル 　・半値幅　など ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

【光ビーム観察・計測光学系 M-Scope typeS 主な仕様】 ■対物レンズ切替：手動レボルバ（対物レンズ4本同時装着可能） ■対物レンズ：市販対物レンズ使用可能 ■中間レンズ倍率：1倍または2倍（発注時に選択） ■総合倍率：最大200倍（対物レンズ100倍×中間レンズ2倍使用時） ■減光方法：NDフィルタ挿入による ■カメラマウント：Cマウント ■同軸照明：LED照明 【光ビーム解析ソフトウェア Optometrics BA／Liteの主な機能】 ■画像取込・処理機能 　・ライブ画像表示 　・画像積算 　・暗電流補正 　・画像データ保存、読出 ■測定機能 　・ピーク位置及び輝度値の表示 　・光強度プロファイル表示機能 　・プロファイル平均化 　・計測幅表示 　・実寸換算表示 　・円近似　　など ■表示機能 　・画像上へのピーク位置表示 　・プロファイル 　・半値幅　　など ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

【掲載製品】 ■光ビーム観察・計測用光学系ラインアップ 　・光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」 　・コリメート光観察・計測光学系「M-Scope typeC/コリメート光調整システム」など ■システム・コンポーネントセレクションガイド 　・各種サンプル対応機器セレクション 　・光学系セレクション 　・データ処理装置　など ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• その他