シナジーオプトシステムズの製品・サービス一覧

『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体での使用の他、プローバへの 搭載・組合せによって、VCSEL等のウエハレベル偏光測定にも使用できます。 【特長】 ■高速かつ高い分解能・再現精度で偏光消光比測定が可能 ■パルス回転ステージにより偏光子の回転を制御、高い角度精度 ■対物レンズの装着が可能 ■光ファイバの他、各種レーザやVCSEL等の空間光測定も可能 ■大口径ビームの測定が可能（φ10mmコリメート光まで測定可能）　など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS、 高パワー耐性型対物レンズの装着による近視野像（NFP）の計測が可能。 また、対物レンズを介さない状態で計測することで、狭角角度範囲での 放射角度分布（FFP）計測も可能です。 【特長】 ■ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS ■高機能光ビーム解析システム「光ビーム解析モジュールAP013」 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布（FFP：ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■出力～10Wクラス高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFを使用 ■光検出器は1インチ高精度CMOS検出器ISA061を使用（専用） ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが 　セットになった光ビーム解析モジュールAP013 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯（光パワー調芯）を併用、 超微細導波路の挿入損失を高速かつ高い再現性で効率的に測定可能です。 【特長】 ■当社製汎用型偏光対策光計測用光学系M-Scope type J/PFを搭載 ■光ファイバ調芯方式と共役条件での挿入損失測定 ■専用の画像処理・自動調芯ソフトウエアを準備 ■電動位置決めステージとの組み合わせにより、画像処理・自動調芯による 　高速・高再現性自動測定が可能　など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視～近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 【特長】 ■解析装置（PC本体）・解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データの 　セットで直ちに使用可能 ■【Optometrics BA Standard】さまざまな光ビームプロファイル計測に 　対応した高機能光ビーム計測解析ソフトウエア ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）』は、光配線基板用の 多チャンネルポリマー光導波路各チャンネルの導通を高速・高精度で検査する装置です。 測定光一括照射方式と高速導通検査ソフトウエアにより、複数チャンネルの 光導波路の光導通を一度にかつ迅速に測定することが可能です。 これにより、従来のファイバ調芯による損失測定方式では実現できなかった 光配線導波路量産段階における高速光導通テストが可能となりました。 【特長】 ■測定光一括励振方式による無調芯・高速測定 ■測定光一括励振光源ユニット・高N.A.検出光学系・高速画像処理アルゴリズムにより、 　量産検査にも対応可能な高速・高精度・高再現性高速導通・相対損失測定 　・専用ソフトウエアにより光導波路の導波伝搬信号のみを抽出・処理・判定 ■電動ステージとの組み合わせによるデフォーカス測定モード・測定の自動化にも対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『ウエハレベル発光素子光学特性測定装置』は、VCSEL等各種発光素子の 電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。 VCSELの特性計測に必要な電気的特性測定のほか、発光ビームプロファイル計測・ FFP計測（放射角度分布計測）・IVL計測・偏光計測等の光学的な特性測定を ウエハレベルで行うことが可能です。 【特長】 ■マニュアルプローバ・セミオートプローバとの組み合わせにより、 　VCSEL等の発光素子のさまざまな電気・光学特性測定をウエハレベルで測定可能 ■フォームファクター社製セミオートプローバシステムとの連動機能により、 　各種測定の自動化・高速化・省力化を実現 ■当社製光計測・解析ソフトウエアOptometrics Customized Version for LDを搭載　など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sの 対物レンズレボルバにも装着が可能です。 また、プローバへの搭載・組合せによって、 VCSEL等のウエハレベルIVL測定にも使用できます。 【特長】 ■18mm角大型Siフォトダイオードを使用、広いN.A.をカバー ■減光フィルタの併用で広い測定パワーレンジ ■当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sの手動レボルバ部に装着が可能 ■プローバシステムへの装着と使用が可能 ■ウェハレベルでVCSELのIVL計測に対応可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学測定器

『M-Scope type HF』は、1～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系＋2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■1W～10W出力クラスハイパワーレーザの放射角度分布（FFP）を 　リアルタイム測定 ■ビームサンプラー（対物レンズ後方2段）と減光フィルタの組合せにより 　高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■計測対象光束径約3mmφ、計測角度範囲約±43°の計測対象エリア 　拡大型 ■FFP測定専用光学系＋画像処理方式によるFFP像のリアルタイム計測 ■長作動距離設計により、ワーキングディスタンスは約4mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 光学測定器

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。 光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステム構築が可能です。 【特長】 ■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用 ■専用光学系＋画像処理解析方式で、測定も迅速で調整も容易 ■ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが 　セットになった光ビーム解析モジュールAP013を搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。 これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの 発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。 【特長】 ■ビームサンプラー（対物レンズ後方2段）と減光フィルタの組合せにより 高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能 （M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ） ■コリメート光計測が可能（対物レンズ無装着状態） ■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置（オプション）との 　組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• その他電子計測器
• その他解析

『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系（簡易型NFP計測光学系も使用可能） を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビーム プロファイル計測・解析に使用することができます。 また光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで さまざまなシステム構築が可能です。 【特長】 ■高機能NFP計測光学系　M-Scope type Sを使用 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、 さまざまな光デバイスの計測・解析が可能 ■低価格でシステム構築も可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 光学測定器

『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。 また、セミオートプローバとの組み合わせにより、ウエハの自動測定に対応することも可能です。 【特長】 ■発光素子・受光素子のさまざまな電気・光学特性測定をウエハレベルで測定可能 ■各種測定の自動化・高速化・省力化を実現 ■当社製光計測用光学系M-Scopeシリーズ各種光学系を搭載可能 ■光計測・解析ソフトウエアOptometrics Customized Versionを搭載 ■個別素子の測定からインライン使用まで幅広く対応可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• マイクロスコープ
• その他計測・記録・測定器
• 光学測定器

『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測ユニットを容易に構築することが可能です。 測定対象や測定に使用する波長にあわせて最適なレンズや光学部品を選択・ 装着することができ、これにより、最適な光学条件で各種測定を行うことが 可能です。 【特長】 ■光計測用光ファイバ接続用ポートを搭載 ■同軸画像観察ポートを搭載 ■測定光のサンプルへの導入位置、受光位置を同軸観察カメラで直接観察可能 ■光ビームプロファイル計測も可能 ■ビームプロファイル計測等の光ビーム計測用途にも使用可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• レーザ部品
• その他電子計測器
• その他計測・記録・測定器

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に 移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置（オプション）との組合せで顕微鏡画像観察・実像に よる位置合わせが可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP 計測システムの構築が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

• レーザ部品
• その他電子計測器
• その他計測・記録・測定器

シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL／LED用ウエハレベル 発光素子計測システム」は、VCSEL／LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で 解析するシステムです。 各種測定器との組み合わせにより、発光素子のさまざまな電気・光学特性を ウエハレベルで測定するシステムを構築することが可能です。 お客様の要望仕様により、プローバの選定、測定光学系・測定ソフトウエアの カスタマイズ等の対応が可能です。 フォトダイオード等受光素子の電気・光学特性測定をウエハ状態で測定可能な、 ウエハレベル受光素子計測システムもあります。 【特長】 ■各種プローバへの対応が可能 ■各種測定器との組み合わせによる統合測定環境の提案が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・ 結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP（ニアフィールドパターン）を解析することにより、 マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。 また、オプションにより、当社製限定空励振光学系との組み合わせにより、 照射N.Aや照射ビーム径を変更することが可能です。 【特長】 ■標準化パラメータ測定機能 ■照射条件可変機能（オプション） ■近赤外域（1.3μm帯）における測定が可能（オプション） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

『M-Scope typeC／コリメート光調整システム』は、専用光学系と、 画像解析による、LDモジュール等コリメート光調整用光学システムです。 本光学系および処理装置を応用し、各種精密位置決めステージと組み合わせた 各種モジュール調整装置の提案をすることも可能です。 検出器の選択により、可視・近赤外まで対応が可能です。 【特長】 ■検出器の選択が可能 ■可視・近赤外まで対応可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

『M-Scope typeS／NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光学倍率（対物レンズ100倍使用時）で、微小スポットの観察・ 解析にも対応しています。 独自開発の高機能光ビーム解析ソフトウェアOptometricsにより、 光ビームパターン解析から光モジュールの実装組立まで幅広く応用が可能です。 【特長】 ■手動レボルバ搭載 ■複数の対物レンズの切り替えが可能 ■光学倍率最高200倍（対物レンズ100倍使用時） ■微小スポットの観察・解析にも対応 ■実像による位置合わせが可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

『シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ』は、主に光学機器や 精密機器の開発製造・販売を行うシナジーオプトシステムズ株式会社の 「光ビーム観察・計測光学系光ビーム測定システム」の総合カタログです。 光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」をはじめ、 その応用システムである「エンサークルドフラックス計測システム」など、 可視・光通信用近赤外レーザダイオードや各種光学モジュールのビーム観察・ 評価・組立調整に最適な光学系・システムを掲載しています。 【掲載内容】 ■光ビーム観察・計測用光学系ラインアップ ■システム・コンポーネントセレクションガイド ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• その他