【特徴】 ■0.05mm 点の検知は毎分30m のラインに対応 →0.5mm 点であれば、視野幅が14mに広がり、毎分300m の高速ラインに対応します。 ■立体形状物や対象物がたわんだ状態でも目視以上の自動検査が可能 →被写体深度（ピントの深さ）が0.05mm 点の検知時にプラスマイナス20cm と、CCD カメラに比べ6600 倍です。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

• 外観検査装置
• 欠陥検査装置

【掲載内容】 ◯脳神経細胞（ニューロ）と視神経細胞の解説 ◯目のニューロの高層ビル効果、人間の目の問題点、テクノスの解決方法 ◯目のニューロの実験 ◯人間の機能の組合わせ ◯高精度のひみつ ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• センサ

【特徴】 ◯電気フィールドの糊による変化を確実に捉える電場スキャン方式を新開発 　活性化した糊のみを検出するため、センサ部に付着し、乾いた糊の影響を受けない ◯従来の静電容量方式で問題となっていた湿度による影響を解消 　これにより、つゆ時や雨模様でも安心して使用可能 ◯糊に色を着けずに検出することが可能 　着色の手間を除くのと同時に、着色によるカビや血と誤認されることを解消 ◯従来装置の欠点である速度による感度変化がない 　定常運転中はもちろん、増減速中にも確実に糊切れを検出可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯画面の縦横比が３：４（テレビと同じ比率）のエリアセンサは 　非接触検出のため、固体、半固形状、液体、気体の検出も可能 ◯縦と横の２次元平面に、明度をあらわす高さを加えた、 　３次元の膨大な情報をアナログ処理 ◯差動のエリアセンサであるため、ラインの振動・対象物のズレも許容 　また投光ランプの消耗による減光、セードの透過率低下、投光反射鏡の反射率劣化、 　レンズ塵埃による透過率の劣化や、部分的なくもりに影響を受けにくい ◯従来のテレビカメラ方式の３００倍以上のスピードをもち、 　生産及び検査ラインのスピードを気にせず使用できるため、 　従来のテレビカメラ方式やラインセンサを使用できなかった高速ラインにも適用可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• ハイスピードカメラ

【特徴】 ◯画素ばらつきの影響を皆無にし、 　超高精度検査を実現する「時空トライアングル・プロセス」 ◯目視の116.5倍の検出精度に加え、 　ヒビなどの線欠陥・スジムラを強力に検出する「進化したトレモア・プロセス」 ◯鉄鋼や自動車などの大きなものから、半導体のウエハなどのサブミクロンオーダーの検査まで、 　枚葉物から長尺物、円筒形状、円盤、立体形状まで、 　対象物の大きさや形にとらわれず検査することが可能 ◯カメラ１台で1,200mmの視野幅を一括検査（50μm検出時） ◯豊富な総合管理ソフトウェアがオペレータをサポート ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯検査ニーズに合わせてシステムを構成することが可能 ◯シンプルなコンポーネントシステムなので、 　既存のライン上に超高精度カメラを設置するだけで自動検査システムを構築可能 ◯人間の目の機能を電子回路化した国際特許の独自ロジックにより、 　検査対象物のアプリケーションが飛躍的に拡大 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯被写界深度が深く、立体形状の上面を撮像しながら、鏡を使用し側面も同時に検査 ◯成型品の複数面を一括で検査が可能なため、高速検査が可能 ◯異物・ピンホールなどの微細欠陥とコータームラなどの 　低コントラスト欠陥を同時並列に検出することが可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯従来方式の6000倍（50μm欠陥検出時）の被写界深度により、 　表面から内部、裏面を一度で検査 ◯目視でも確認しづらいコーティングムラや脈理、ヤケなどの検査が可能 ◯ワークを回転させ検査を行うことで安定した光学条件で検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯毎分１００００メートルで流れる製紙ラインでも検査が可能 ◯アクティブ・ナビ機能を搭載することにより、周期欠陥を発見 ◯不織布や、合成繊維などの地合変化が著しい対象物であっても安定して検出可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯被写界深度が深く、立体形状の容器の底面から内面を被写界深度があった状態で検査が可能 ◯容器の中の液中の異物検査が可能 ◯繊維状の布の製品から細い糸（例：手術糸）の検査が可能 ◯テクノスの確実性の原理により、欠陥を見逃さず検査 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯焼き具合による製品毎のばらつきがある中で、ヒビ、クラックの検査が可能 ◯ヒビ、クラックの微細欠陥から、シミや汚れのコントラストの低い欠陥を同時並列に検出 ◯異物、欠け、ヒビ、汚れ、白点、など様々な欠陥を検出可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯従来方式の6000倍（50μm欠陥検出時）の被写界深度により、 　表裏から内部異物を一度で検査 ◯成膜ガラスに発生するムラや、樹脂板などに発生する液ダレなどの 　低コントラスト欠陥の検査が可能 ◯表面加工（例：マット加工）されたガラスや樹脂板などの、 　地合変化が著しい対象物であっても安定して検出可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯巨大な対象物をカメラ１台で一括検査でき、検査時間を短縮 ◯石油備蓄タンクなど、人が検査する事が危険で困難な場所でも遠方から検査が可能 ◯道路表面の画像データを長距離にわたり保存し、観察、検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯被写界深度が深く、立体形状の車のボディやシリンダの内面検査が可能 ◯ワン・パス・センシング機能を搭載することで、金属表面のテカリに影響されず検査が可能 ◯タイヤに発生する黒地に黒欠陥などの低コントラスト欠陥を検出 ◯ミラーやランプの反射板など鏡面の検査にも使用可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯プラテン（ゴムロール）のような黒色の対象物から黒欠陥を確実に検出 ◯圧延ロールの再研磨後に行われる研磨キズの検査 ◯被写界深度が深いため、ラインの芯振れの影響を受けにくい ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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• 欠陥検査装置

【特徴】 ◯被写界深度が深いため、セパレータのように凹凸形状であっても安定した検査が可能 ◯欠陥検査だけでなく、電極部や外形などの寸法検査も可能 ◯地合変化が著しい対象物であっても安定して検出 ◯電極などの黒地の物の、スジやピンホールの検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯薄膜・結晶シリコン素材はもちろん各種パネルの検査 ◯セル、モジュール、アレイなど各種工程での検査 ◯太陽電池のカバーガラスや、ITO成膜ガラスなども検査可能 ◯トレンド・センシング技術によって、エンボス加工の影響を受けずに検査可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯光沢の影響や全体の反りの影響を受けずに微細欠陥の検出が可能 ◯地合変化のばらつきを押さえ微細欠陥を強調、安定検査 ◯淡色濃色問わず、独自の画像処理技術で検査 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯撮像素子等で使われる、マイクロレンズアレイに発生した 　９０ナノメータのクラック検査に実績あり ◯チップ状態の検査では素子面、ガラス面それぞれの検査が可能 ◯顕微鏡で見ている画像を、広範囲に撮像することが可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯300mmウェハを１面4秒で検査可能 ◯ソーマークも安定して検出可能 ◯端面エッジのクラック、カケも検査可能 ◯表面はもちろん粗目面も対応可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯外壁材などに使用されるエンボス加工されたものでも、安定した検査が可能 ◯素材の地合の影響を受けずに、微妙な光沢のムラを検出 ◯カメラを遠方に設置できるので熱の影響を受けずに検査可能 ◯光沢面の検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯従来方式の6000倍（50μm欠陥検出時）の被写界深度で、 　フィルムのバタツキに影響されず安定した検出が可能 ◯アクティブ・ナビ機能を搭載することにより、周期欠陥を発見することが可能 ◯薄膜のオングストローム単位の薄ムラを検出可能 ◯人間の100倍以上の精度でムラやスジを検出 ◯フィルムに発生するフィッシュアイの検査が可能 ◯色の付いたフィルムも検査が可能（例：透明、乳白色、白、黒 等） ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【特徴】 ◯異物・ピンホールなどの微細欠陥と、コータームラなどの低コントラスト欠陥を 　同時並列に検出することが可能 ◯被写界深度が深く、搬送中の反りの影響を受けにくく、表面と裏面を同時に検査 　内部に発生する欠陥の検出も可能 ◯テクノスの国際特許技術「チェスマジック」により、モアレを極小化して安定した検査が可能 ◯素材からパネルまで各工程の検査が可能 ◯スピンコーターやダイコーターで発生するコータームラの検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【掲載内容】 ○脳のニューロと目のニューロ ○目のニューロの高層ビル効果 ○目のニューロの実験 ○人間の機能の組み合わせ ○高精度のひみつ ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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◆製品特徴◆ 〜人間の目の神経細胞機能を電子回路に応用した、従来の検査装置とは 　全く異なる原理を持つ最高精度の自動外観検査システム〜 　・人間の検知能力の１００倍を超える精度 　・人間の目の固視微動（トレモア）を電子回路化することにより驚異的な検出精度を実現 　・カメラ１台で１，２００ｍｍの視野幅を一括検査（５０ミクロン検出時） 　・ＣＣＤラインセンサーカメラ(４，０００画素相当)２４台分の性能に匹敵 　・視野幅を狭めることにより、０．０９ミクロンの欠陥をも検出可能 　・圧倒的な被写界深度 　・立体形状物の検査が可能 　・低照度でも確実検出 　・微妙な色ムラ、塗布ムラの検出が可能 　・既存の生産・検査ラインに簡単インストール 　・イージーオペレーション 　・豊富な総合管理システムサポート 　・メンテナンスフリー

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