Probeのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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Probe - メーカー・企業41社の製品一覧とランキング

更新日： 集計期間:Aug 27, 2025～Sep 23, 2025
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

Probeのメーカー・企業ランキング

更新日： 集計期間:Aug 27, 2025～Sep 23, 2025
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  1. サンケイエンジニアリング Kanagawa//Manufacturing and processing contract 本社
  2. 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 Tokyo//Testing, Analysis and Measurement （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社
  3. ヴァイサラ Tokyo//Testing, Analysis and Measurement
  4. 4 ブルーム-ノボテスト Aichi//Testing, Analysis and Measurement
  5. 5 精研 Tokyo//Electronic Components and Semiconductors 本社
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Probeの製品ランキング

更新日： 集計期間:Aug 27, 2025～Sep 23, 2025
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  1. Contact Probe CP Series (General Purpose) サンケイエンジニアリング 本社
  2. Connection terminal TA series サンケイエンジニアリング 本社
  3. Insulation resistance voltage test contact probe (supports 3kV!) サンケイエンジニアリング 本社
  4. 4 Probe Mounting Adapter Socket AS Series サンケイエンジニアリング 本社
  5. 5 Flexible electric wire with terminal for connection (normal temperature specification) サンケイエンジニアリング 本社

Probeの製品一覧

421～435 件を表示 ／ 全 658 件

表示件数
Sensor probe

Sensor probe

Sensor probe

**Overview** A current pulse is applied from the top of the probe, generating a magnetic field around the entire probe. By installing a float with a powerful magnet on the probe, it distorts the magnetic field in the vicinity. This distortion occurs only at the moment the current pulse is applied and propagates as a mechanical elastic wave towards both ends of the probe. The time of this propagation is measured to display the absolute position of the float.

  • Piping Materials

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Tungsten probe

Tungsten probe

Ideal for the collection of "falling and adhering foreign substances" under a microscope.

■This is a tungsten probe (needle) optimized for handling micro-sized objects. ■You can choose the size according to the condition of the sample, ensuring stable operation at all times. ■Probes with a tip diameter of less than 1μm are particularly optimized for use with micromanipulators. ■It also has flexibility, allowing the tip to be bent for use. *For bending, the use of a probe bender is recommended. *For more details, please contact us via the link below.

  • Other electronic parts

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Sampling probe (glass tool)

Sampling probe (glass tool)

Ideal for FIB processed thin film lift-out.

■It is a glass precision probe. ■It is optimized for the lift-out of thin sections for TEM processed by FIB. *For more details, please contact us via the link below.

  • Other electronic parts

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Freely move the collected 2μm-sized foreign matter to a disk for analysis.

Freely move the collected 2μm-sized foreign matter to a disk for analysis.

Optimal for the collection of "falling and adhering foreign substances" under a microscope.

■This is a tungsten probe (needle) optimized for handling micro-sized objects. ■You can choose the size according to the condition of the sample, ensuring stable operation at all times. ■Probes with a tip diameter of less than 1μm are particularly optimized for use with micromanipulators. ■It also has flexibility, allowing the tip to be bent for use. *For bending, the use of a probe bender is recommended. *For more details, please contact us via the link below.

  • Other electronic parts

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[For those in the semiconductor and electronic equipment industry] Product catalog for short probes and other items.

[For those in the semiconductor and electronic equipment industry] Product catalog for short probes and other items.

We will introduce product information by genre for various precision tools and fixtures used in semiconductor manufacturing, as well as individual product specifications.

This catalog features probes and other products handled by Rika Electronics. It includes a lineup of products designed primarily for inspecting semiconductor packages, such as the "short probe," as well as "IC sockets" that achieve a short conduction length with low-resistance contacts. You can choose according to your application. [Featured Products] ■ Short Probes ■ IC Sockets ■ Probe Guards for WLCSP ■ Test Fixtures ■ RDK Bonding Tools *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

  • Semiconductor inspection/test equipment
  • Other semiconductors
  • Printed Circuit Board

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Fine Pitch Probe "RI-010HA-05-PDH"

Fine Pitch Probe "RI-010HA-05-PDH"

Introducing fine pitch probes for wafer inspection compatible with a 0.15mm pitch!

The "RI-010HA-05-PDH" is a fine pitch probe for wafer inspection. It is compatible with a 0.15mm pitch and is suitable for vertical inspection. Multiple options are available for the plunger material as well. In addition, we offer a wide range of special probes for high-frequency applications, high-temperature applications, and Kelvin applications. 【Materials】 ■A Plunger: Pd Alloy ■Barrel: Ni / Inner Au ■Spring: SWP / Au-Plated ■B Plunger: SK / Au-Plated *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

  • probe

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Probe "RI-028LA-03-A2"

Probe "RI-028LA-03-A2"

We also have a round conical type available! A probe with a frequency characteristic of 41.5GHz.

The "RI-028LA-03-A2" is a probe with excellent high-frequency characteristics. It has a frequency characteristic of 41.5GHz. Additionally, it can accommodate multiple materials for the plunger. We also offer the round conical type "RI-028IA-01-A2." 【Materials】 ■A Plunger: BeCu / Au-Plated ■Spring: SWP / Au-Plated ■B Plunger: BeCu / Au-Plated *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

  • probe

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Fine Pitch Probe 'RI-A90HA-01-PDH'

Fine Pitch Probe 'RI-A90HA-01-PDH'

Introducing fine pitch probes for wafer inspection compatible with a 0.13mm pitch!

The "RI-A90HA-01-PDH" is a fine-pitch probe for wafer inspection. It is compatible with a pitch of 0.13mm and is suitable for vertical inspection. In addition, we offer a variety of special probes for high-frequency applications, high-temperature applications, and Kelvin applications. 【Materials】 ■A Plunger: Pd Alloy ■Barrel: Ni / Inner Au ■Spring: SWP / Au-Plated ■B Plunger: BeCu / Au-Plated *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

  • probe

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DisplayPort analysis probe

DisplayPort analysis probe

DisplayPort analysis probe

DisplayPort Analysis Probe for Logic Analyzers ■ Capable of measuring DisplayPort packet data!! ■ Supports X1, X2, X4 DisplayPort ■ Data measurement up to 2.7 GT/s ■ Includes software for logic analyzers ■ Displays the status of the DisplayPort ■ Compatible with both display data and AUX channel

  • Other measurement, recording and measuring instruments

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High Current Probes

High Current Probes

High Current Probes

Supports up to 600A; compatible with fine pitch (from a pitch of 0.5mm).

  • Other processing machines

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Fine Pitch Probes

Fine Pitch Probes

Fine Pitch Probes

Ideal for fixtures requiring ultra-fine pitch for the inspection of wafers, electronic components, substrates, panel displays, etc., where high-density and high integration are further advancing. Supports pitches from 0.3mm.

  • Other processing machines

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Comprehensive Catalog of Spring Contact Probes

Comprehensive Catalog of Spring Contact Probes

We are currently offering a free comprehensive catalog of spring contact probes!

Free catalog of spring contact probes available now!! ★If you are interested, please contact us★ ★Some catalogs can be viewed via download★ 【Overview】 The exclusive distributor in Japan for FEINMETALL, the world's largest manufacturer of wire harness testing probes (Germany). We provide a one-stop solution with a wide range of product lineup. Custom specifications are also accepted. For anything related to probes, including high current, high frequency, rotation, switches, non-magnetic, and heat-resistant... feel free to consult us. 【Product Examples】 ◆ Switch probe with an outer diameter of 1.0mm ◆ High current probe capable of handling up to 600A ◆ High frequency probe capable of handling up to 20GHz ◆ Semiconductor probe with a diameter of 0.20mm, total length of 3.3mm, spring pressure of 60g, and a lifespan of over 1 million cycles

  • Terminal Blocks

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General-purpose probes (Normal Probes)

General-purpose probes (Normal Probes)

General Probes (Normal Probes)

This series excels in cost-effectiveness and offers various shapes for probe tips and socket colors.

  • Other Connectors
  • Printed Circuit Board
  • Sensors

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Probe for implementation board inspection

Probe for implementation board inspection

Probe for implementation board inspection

This is a series of probes for in-circuit testing and functional testing. We offer long-stroke specifications and probes that can adjust the height from the circuit board surface.

  • Sensors
  • Circuit Board Inspection Equipment

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Lead-free compatible probe

Lead-free compatible probe

Lead-free compatible probe

This is a probe with a sharper tip and a higher initial load, featuring a special coating on the tip, ensuring reliable contact with lead-free solder pads and fillets.

  • Sensors
  • Other electronic parts

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