Testerの製品一覧

  • 分類:Tester

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Reduce the workload from handling heavy objects! Here are five case studies that solved customer challenges! We are also accepting free consultations and tests tailored to your work!

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  • Other conveying machines

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Presentation of explanatory materials on JIS and ISO standards. We propose suitable safety barriers from a rich product series! Free rental of demo kits.

  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - FastGuard_Ipros_2023_JP_2.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • Other safety and hygiene products

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One unit compatible with LIV·EA·spectrum — fully automatic, ultra-high efficiency tester, essential for mass production.

  • CT8201 2.png
  • CT8201 3.png
  • Tester

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A smart test system optimized for mass production screening of silicon photonics.

  • sCT9002.png
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Overwhelming mass production capability at 4000 UPH. Automatic for dynamic, static, and high-temperature conditions.

  • Tester

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Compatible with SFP112/QSFP112! Can be mounted in the compact FTB-1 HPDC chassis.

  • ネットワークテスター『FTBx-8848x』シリーズ2.png
  • Tester

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Customize the optical integrated circuit you want to measure! Introducing our testing solutions.

  • 8d0ff5c23f816e4c6280ca4032d391db.png
  • Tester

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Starting the 800GbE point-to-point test, also supporting breakout tests with 2x400GbE and 8x100GbE!

  • 800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ2.png
  • 800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ3.png
  • 800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ4.png
  • Tester

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A modular measurement platform for testing optical passive components 24 hours a day, 365 days a year!

  • 光コンポーネントテスタ『CTP10』2.png
  • Tester

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Full support for testing transmission standards of 800G/400G/200G/100G!

  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』2.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』3.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』4.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』5.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』6.png
  • Tester

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Introduction to Theoretical Analysis of Wire Probe Wear

  • probe
  • Tester
  • Semiconductor inspection/test equipment

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The layout and operability of the NS series remain unchanged, achieving stable low-temperature measurements.

  • Tester
  • Other semiconductor manufacturing equipment

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Changing the common sense of testing. AMB5600, an innovative platform that supports diverse ICs.

  • AMB5600-img01-1024x882.png
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  • Tester
  • Testing Equipment and Devices

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Supports up to 4096 channels, a multi-site open short tester that achieves the fastest test time in the industry.

  • AMB1831-img02-768x539.png
  • Tester
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High-end model: A handler that thoroughly pursues excellent stability and significant reduction in working hours.

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Middle Range Model: A handler that thoroughly pursues excellent stability and significant reduction in work time.

  • Tester
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It can handle various bonding strength tests in the assembly process of various semiconductor components and electronic parts, as well as in the mounting process on substrates, all with one machine!

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The versatile bond tester DAGE4000 has been completely redesigned, becoming more multifunctional and achieving higher precision, thus being reborn!

  • Tester

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If you do not perform a proof test, it can also be used as a regular winding machine!

  • Tester
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Started operations as a major supplier of high-precision pressure calibration equipment to government agencies around the world.

  • 2022-03-09_15h08_01.png
  • 2022-03-09_15h08_04.png
  • 2022-03-09_15h08_09.png
  • Calibration and repair
  • Tester
  • Other measurement, recording and measuring instruments

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Power semiconductor tester for low-voltage discrete devices at Si level. Increases throughput by testing 16 sites simultaneously.

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ProductSmall51677.jpg

Exhibited at SEMICON Japan 2021 Hybrid.

Our company will be exhibiting at "SEMICON Japan 2021 Hybrid," which will be held at Tokyo Big Sight from December 15 (Wednesday) to December 17 (Friday), 2021. We are a semiconductor inspection equipment manufacturer headquartered in China. The company was established in 2008 in China, and we began full-scale sales activities in Japan in October 2020. This will be our first exhibition at SEMICON Japan. We look forward to your visit.

Micro-capacity inspection with high resolution! Capable of inspecting various products such as thin-film RF filters and accelerometers.

  • Tester

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Compatible with flat cables! Equipped with automatic mechanisms, manual mechanisms, and desktop mechanisms, etc.

  • Tester

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Easily achieve communication tests for 1553 signals! DBT300 Network Tester

  • Tester

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Minimize aggressiveness towards the rim! There are plenty of clamp options available, compatible with various rims and vehicles.

  • Tester

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Easy panel operation allows for the implementation of standard tests! A tester for conducting leakage current tests.

  • Tester

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The standard measurement target is the thick aluminum wire bond in the post-process of power semiconductor manufacturing.

  • Tester

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Manual measurement laser bond tester specifically for thick aluminum wire bonds! It can be used for all bond inspections.

  • Tester

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We will introduce products that can be used for efficient sampling inspections and full bond inspections of medium lots.

  • Tester

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We will introduce products that can be used for efficient sampling inspections and full bond inspections of medium lots.

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Standard feature for correcting to optimal measurement positions! It can be used for efficient sampling inspections and full bond inspections of medium lots.

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Non-contact, non-destructive, and instantaneous measurement is possible! You can specify the optimal measurement position.

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Powerful eddy current testing in your hands! A handheld tester that flexibly adapts to a wide range of operating modes.

  • Tester
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Removable test lead! Equipped with a tote band meter that can withstand a 1m drop.

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Automatic insertion of all probe pins. Exchange of any specified pins is also possible.

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DCRF mixed probe (power and high-frequency mixed probe)

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