エレクトロマイグレーションの検証方法と最新動向
安達新産業株式会社 本社
電子デバイスの微細化が進む中で、エレクトロマイグレーションは重要な課題として注目されています。この現象は、金属配線に高電流密度が加わることで原子が移動し、デバイスの性能低下や故障を引き起こすものです。この現象は、電子デバイスの寿命や信頼性に直接関わるため、検証方法は非常に重要なテクノロジーと言っても過言ではありません。検証方法の概要と2025年2月時点での最新技術の動向について説明します。
1. 検証方法
(1) 実験的手法
(2) シミュレーション技術
2. 最新動向
(1) 新材料の開発
(2) スパッタリング薄膜技術の活用
(3) 微細化プロセスの工夫
(4) AIと機械学習の活用
続きは当社HPをご覧ください。
このニュースへのお問い合わせ
Webからお問い合わせこのニュースの詳細・お申し込み
詳細・お申し込み