Webセミナー：高付加価値な機能性フィルムに不可欠な評価法と測定例　（2025年4月24日）

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

「ラインスキャン膜厚計(インラインタイプ)」は、インラインでの フィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせる ことで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの 膜厚測定が可能。 また、膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポートや、バタつきに 強い光学系を採用しているなどといった特長が備わっております。 【特長】 ■ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■高速・高精度に測定が可能 ■バタつきに強い光学系を採用 ■幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定　目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

『MINUK』は、目視では見えない透明フィルム表面を可視化・定量化できる 光波動場三次元顕微鏡です。 nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得可能。ワンショットで 深さ方向の情報も併せて取得することにより、目視では見えない透明フィルム 表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することができます。 高速で広範囲をマッピングし情報を得ることができるスティッチング機能に より、観察したい場所を素早く見つけ、詳細情報を取得することが可能です。 【特長】 ■nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ■1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ■フォーカス不要で高速測定が可能 ■非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ■任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学顕微鏡

希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・ゼータ電位測定　さらに固体表面、分子量の評価まで

『ELSZneo』は、ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液から濃厚溶液での粒子径・ゼータ電位測定に加え、 分子量測定を可能にした装置です。また、粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用し、 粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。 平板のゼータ電位測定が可能な平板セルユニットは、新開発した高塩濃度対応 コーティングにより、生理食塩水などの生体模擬環境下での測定が可能です。 【特長】 ■希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の 　粒子径・ゼータ電位測定が可能 ■多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ■平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ■静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ■動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

サブミクロン～数百ミクロンの構造を評価できる！卓上タイプで実験室に設置可能

『PP-1000』は、小角光散乱法(SALS)を用いて、高分子やフィルムの構造を リアルタイムに、連続的に評価できる装置です。 光源に可視光を使用している為、小角X線散乱や、小角中性子散乱装置と比べ、 より大きな構造(マイクロメートルオーダー)の評価が可能。 また、偏光板を用いたHv散乱測定からは、光学異方性の評価や結晶構造の 解析ができ、Vv散乱測定からはポリマーブレンドの評価や、配向特性の解析が 行えます。 【特長】 ■散乱角度0.33～45°の測定を最短10msecで測定可能 ■サブミクロン～数百ミクロンの構造を評価 ■専用のセルで溶液サンプルも測定可能 ■Hv散乱、Vv散乱測定をソフト上で簡単に切り替え可能 ■卓上タイプで実験室に設置可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他 計測・測定機器

これまでの膜厚測定のお悩みをこれ1台で解決。1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能でとにかく使いやすい顕微分光膜厚計

顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚測定と光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。 測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。 【これまでの膜厚測定装置のお悩み】 ■接触式／非接触式どちらでも測定が難しい素材がある ■操作や解析に経験が必要 ■今までよりも高範囲・高精度な測定を求められるようになった ■測定用途に合わせて様々な機器が必要になる ※そんな膜厚測定装置のお悩みを「OPTMシリーズ」1台で完全解決します！ 【特長】 ■膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約！ ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ■エリアセンサーによる安全機構　など ※詳しくはＰＤＦ資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 膜厚計

持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！サンプルを傷つけることもなく測定可能

『SM-100 series』は、1.1kgと軽く、持ち運びも簡単な膜厚計です。 膜厚を測定するときの「測りたい“その場”ですぐに測れない」「人によって バラつく測定結果」「測定精度が悪い」といったお困りごとを解決。 最薄0.1μmまで検量線不要で測定可能で、基材(ガラス・プラスチック)を 選ばず、形状のあるサンプルも非破壊で測ることができます。 【特長】 ■持ち運び可能なハンディタイプ ■高精度測定＆簡単測定 ■多層膜も対応 ■非破壊・非接触測定 ■様々なサンプルを測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

光干渉法による膜厚測定の原理

光干渉法と自社製高精度分光光度計により、非接触・非破壊かつ高速高精度での膜厚測定を可能にしました。 光干渉法は、分光光度計を利用した光学系によって得られた反射率を用いて光学的膜厚を求める方法です。 図１のように金属基板上にコーティングされた膜を例にとると対象サンプル上方から入射した光は膜の表面で反射します（R1）。さらに膜を透過した光が基板（金属）や膜境界面で反射します（R2）。この時の光路差による位相のずれによっておこる光干渉現象を測定し、得られた反射スペクトルと屈折率から膜厚を演算する方法が光干渉法です。

• 分析機器・装置

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

半導体の研究開発や生産現場において、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定できる装置です。 独自の分光干渉法と新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、12inchウェーハの面内分布を高速に測定することが可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

全面を高速かつ高精度に測定可能！膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート

「ラインスキャン膜厚計(オフライン)」は、フィルムなどの研究開発や 品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な 装置です。 フィルムなどの面内膜厚ムラを検査することができ、全面を高速かつ高精度 に測定可能。 また、測定範囲は0.1～300μmで、測定幅は250mm。ハード・ソフト共に オリジナル設計となっております。 【特長】 ■フィルムなどの面内膜厚ムラを検査可能 ■全面を高速かつ高精度に測定可能 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■分光測定による高精度な膜厚測定 ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

独自の分光器だからできる高精度測定！かんたんソフトウェアで操作性大幅UP

『RETS-100nx』は、OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差 フィルム付偏光板など、多種多様なフィルムに対応したリタデーション測定 装置です。 超高Re.60000nmに対応の高速・高精度測定を実現し、フィルムの積層状態を "剥がさず、非破壊"で測定することが可能。 さらに、操作面でもかんたんソフトウェアや、サンプルの置き直しによる ズレに対応した補正機能を搭載し、手軽に高精度な測定ができます。 【特長】 ■独自の分光器だからできる高精度測定 ■超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる ■剥がさず、非破壊でさまざまなフィルムの積層状態を測定できる ■サンプル設置がズレていても手軽に再現性良く測れる ■測定時間と処理時間が大幅短縮 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他 計測・測定機器

2025年5月28日(水)～5月30日(金)に東京ビッグサイトで開催される「ワイヤレスジャパン 2025×ワイヤレス・テクノロジー・パーク (WTP) 2025」に、アイ・ビー・エス・ジャパン株式会社とEkahau Inc.が共同出展いたします。優れたWi-Fiネットワークの設計、検証、維持、トラブルシューティングに必要なすべてが揃ったEkahauのソリューションをメインに、弊社が取り扱う産業のDXを推進するワイヤレスソリューションを展示いたします。 サイトサーベイってどうやるの？専門知識がないと難しいのでは？…そんなお客様必見！会場にて今年も「サイトサーベイ体験企画」を実施いたします！Wi-Fi 7対応の高速・高精度Wi-Fi診断/測定デバイスSidekick 2を肩からさげて会場内を歩いて実際にサーベイを行い、電波収集速度や、優れた可視化・解析で最適なWi-Fi環境へ導くEkahauのソリューションをぜひ体感してください！ ※事前申込制となりますので、「サイトサーベイ体験のお申し込みはこちら」から詳細をご確認いただきお申込みください。

次世代型ハイパワー・ハイブリッドクーラントシステム smartec社Aeroforceのデモ実演を見どころにした展示を予定しております！ その他にも、Nine9社のTDチャンファーミルや大好評のFXコーティングを施した7leaders社の最新エンドミルなど… 生産現場の加工を効率化する革新的な切削工具をご用意し、皆さまのご来場を心よりお待ちしております！ 詳細はこちら https://toolde.co.jp/?p=5317

FTIR・ラマン分光法の基礎とソフトウエアの活用法、異物分析のためのサンプリング、解析ノウハウについて、皆さまの日ごろのお仕事に役立つ実践的な情報をご紹介する無料セミナー、FTIR・ラマン分光法の基礎・異物分析セミナー 2025を全国10カ所で開催します。 日常の分析において必要な基礎知識、プロが教える実践的な異物分析テクニック、実機を用いたワークショップやさまざまな業界における異物分析の測定事例など、多様な情報をご提供いたします。また、日ごろの分析業務でのお困りごとなどを、当社スタッフに直接ご相談いただけます。皆さまのご参加を心よりお待ち申し上げております。

貴社におかれましては益々ご盛栄のこととお慶び申し上げます。 弊社は以下の展示会に出展し、新製品を含め多数の製品をご紹介させていただきます。 ご多忙中のところ大変恐縮でございますが、この機会に是非ともご来場いただきたくご案内申し上げます。 【 展示会名 】 第27回インターフェックスWeek 東京 https://www.interphex.jp/tokyo/ja-jp.html 【 会 期 】 2025年7月9日（水）～ 11日（金） 10:00 ～ 17:00 【 会 場 】 東京ビッグサイト

貴社におかれましては益々ご盛栄のこととお慶び申し上げます。 弊社は以下の展示会に出展し、新製品を含め多数の製品をご紹介させていただきます。 ご多忙中のところ大変恐縮でございますが、この機会に是非ともご来場いただきたくご案内申し上げます。 【 展示会名 】 人とくるまのテクノロジー展 2025 YOKOHAMA https://aee.expo-info.jsae.or.jp/ja/yokohama/ （会期中およびその前後の期間、"オンライン展示会" も開催されます） 【 会 期 】 2024年5月21日（水）～ 23日（金） 10:00 ～ 18:00 ※最終日は 9:00 ～ 16:00 （オンライン展示会 ： 5月14日（水）～ 6月4日（水）） 【 会 場 】 パシフィコ横浜 （神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1） ブース番号 「コンコース 505」