サブナノの分解能をもち、最大800 µm動作、高速・高精度PIFOC(R)フォーカススキャナ
P-725.xCDE2 はフレクシャガイド構造と PICMA(R) ピエゾを採用した対物レンズ用フォーカススキャナです。 静電容量センサーが サブナノメートル分解能と0.02 % リニアリティを実現し、100 / 400 / 800 µm の長ストロークでも高精度を維持します。 摩耗部ゼロ・潤滑剤不要で長寿命。共焦点・多光子顕微鏡や半導体検査の Z ステップ高速化に貢献します。 ※詳しくはPDFをダウンロード、もしくはお問合せください。
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基本情報
・ストローク:100µm、400µm、800µm ・静電容量センサー内蔵 ・高剛性によりハイダイナミクス動作にも最適 ・ケーブルの柔軟性 ・幅広い設置方法 ※詳しくはPDFをダウンロード、もしくはお問合せください。
価格帯
納期
用途/実績例
・各種顕微鏡(共焦点、ライトシート、超解像度、2光子など) ・3Dイメージング ・スクリーニング ・干渉計測機 ・高精度測定 ・オートフォーカスシステム ・バイオテクノロジー ・半導体検査など
ラインアップ(3)
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| P-725.1CDE2 | PIFOC piezo nanofocusing system for long travel ranges and fast step-and-settle, 100 µm, capacitive sensors, D-sub connectors |
| P-725.4CDE2 | PIFOC piezo nanofocusing system for long travel ranges and fast step-and-settle, 400 µm, capacitive sensors, D-sub connectors |
| P-725.8CDE2 | PIFOC piezo nanofocusing system for long travel ranges and fast step-and-settle, 800 µm, capacitive sensors, D-sub connectors |
カタログ(2)
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Physik Instrumente(PI)は、ドイツ・カールスルーエに本社を置く精密位置決め技術のグローバルリーディングカンパニーです。産業オートメーション、フォトニクス、半導体、顕微鏡・ライフサイエンスなどの分野に向けて、高精度ポジショニングシステムおよびピエゾテクノロジーを提供しています。 50年以上にわたり、世界中の企業や研究機関に採用されており、欧州・北米・アジアに9つの生産拠点と16の営業・サービス拠点を展開。500件以上の特許を保有し、開発・製造・品質検査までを自社で一貫して行うことで、高い技術力と品質を支えています。 日本法人は30年以上にわたり国内で事業を展開しており、技術相談から導入サポートまで、日本のお客様のニーズに合わせた高精度モーションソリューションを提供しています。










