測定・分析の製品一覧
- 分類：測定・分析
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アイソレーターをお持ちの方へ。高い薬品耐性と作業性を実現。低価格、短納期も実現可能なグローブボックス・アイソレーター用グローブ
- 作業用手袋
【2026年5月20日(水)～22日(金)】「インターフェックスWeek東京」出展のご案内
株式会社イトーは、幕張メッセで開催される「インターフェックスWeek東京」に出展致します。 当展示会は、世界25の国と地域から医薬品・化粧品・再生医療の研究・製造に関するあらゆる製品・サービスが出展する展示会として、日本最大の規模で開催。 世界中から医薬品・化粧品メーカー、再生医療企業が来場します。 当社ではTron Power社製「グローブボックス/アイソレーター用グローブ」を出展致します。皆様のご来場をお待ちしております。
全国各地 セメント サービスステーション 無駄な作業を削減！
- レベル計・レベルスイッチ
- 距離関連測定器
- 液面レベルセンサー
株式会社共和工業所は、搬送機・コンベヤ及び自動化専用機械の設計・製造、材料販売と機械加工などお客様の幅広いニーズに対応します。
- 高圧洗浄機
- 欠陥検査装置
- ミキサー・攪拌器
ここまで来た、次世代ディスプレイ用MTF測定装置紹介セミナー
加飾フィルムの選定から空中像の解像度まで測定できる最新のディスプレイ用MTF測定装置（DT-8031）とは？ ディスプレイの解像度（MTF）を測る手段として、最近ラインベース法なる方法がNHK財団の正岡博士から提唱され実用化されました。この方法は測定精度、測定時間共に現時点では最高のパーフォーマンスを示す事が分かり、国際機関であるIEC62977-3-6でMTF測定方法として現在審議されており、標準化に向けて確実に進んでいます。 本セミナーではラインベース法を搭載したDT-8031を使った 加飾フィルムの評価、空中像の測定事例といった今まで測定が困難であった対象物への測定事例を交えながら正確なMTF測定のバリエーションをご紹介いたします。
AI がモーターを24時間監視・診断。しきい値管理が不要で誤報が少ないソリューションです。
- その他安全機器
- 分析機器・装置
- その他モータ
【評価ソフトの貸出可能】3次元の色域を明度間隔で輪切りにし、平面に引き延ばし、リンク状に配置！※3次元の色域を2次元で可視化
- 光学測定器
防爆・クリーンルーム向け静電気除去装置を多数掲載した総合カタログを進呈中！産業用静電気管理製品、静電気管理について詳しく解説！
- EMC・静電気測定器
- 電源
- その他クリーンルーム用機器・設備
静電気除去装置の総合カタログを進呈中！産業用およびクリーンルーム環境用の包括的な静電気除去装置シリーズです！
- EMC・静電気測定器
- 電源
- その他クリーンルーム用機器・設備
水接触接触角の完全自動測定装置。ダイン値にとって代わる、表面エネルギー（濡れ性）を測定します。
- 分析機器・装置
- その他検査機器・装置
人体と環境の安全性を考慮した水ベースの配合を特徴としています。表面エネルギーのテストがかつてないほど安全かつ簡単になりました。
- その他計測・記録・測定器
高速、簡単、正確、非破壊の表面接触角分析装置。 ダイン値にとって代わる、表面エネルギー（濡れ性）を測定します。
- 分析機器・装置
- その他計測・記録・測定器
無料デモ機貸出し中 MSJ5000 見当マーク専用監視装置
ラベル印刷で使用される、透明ニスの位置ずれを、透明ニス専用のこの見当マーク監視装置でニス印刷位置の見当を監視できます。 透明ニスのトンボマークを検知できるこの特殊カメラを採用するだけで透明ニスの見当監視が可能 ！！ 現在のグローバル化したマーケットにおいて印刷競争力を保持する為には、最高の印刷スピード、無駄の最小減化、時間の短縮化、印刷品質の向上化を手助けする強力な設備が必要です。 Video Web MSJ5000 は、その為のシステムです。 この洗練された、しかも手ごろな価格の透明ニス見当監視装置はラベル印刷機や幅狭または幅広のウェブに対応します。
「M831TB-85Gシリーズ」の防水仕様の温度ロガーです。周囲を食品グレードのシリコーンでコーティングしています。
- データロガー
パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧：最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流：最大14mA ■試験数量：最大8個（電源独立） ■対応モジュール：TO-247､TO-220 等（その他のパッケージは接続方法など要相談） ■測定内容：リーク電流のモニタリング ■温度範囲：最大200℃（高温高湿の場合85℃/85％）
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
- 受託解析
- その他半導体
- その他受託サービス
Talos F200E導入のお知らせ
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。
CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性を評価する、ラッチアップ試験サービスをご提供いたします。
- 受託検査
- その他受託サービス
- その他検査機器・装置